Образцовый клин к устройствам для измерения толщины изделий

 

№ 100771

Кг!ясс 42}), } }

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

И. А. Городинский

ОБРАЗЦОВЫЙ КЛИН К УСТРОЙСТВАМ ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ

ТОЛЩИНЫ ИЗДЕЛИЙ

Заявлено I октября 1952 г. аа,Л ..)0451 5765 450002 и .Чии) атеретBo червон металлургии CCCP

Извес!Пы устройства для измсре

HHR тол!ципы различных мягсриалов (В I(IСТНОСТИ, 31(.. Тcl;I, 1()В), О"НОВ

H(l Прос!3е !И ванин Пх })P)f ГГPHOI)CI

Толщина измеряемого материала определяется по степени поглощения им лучей, иными словами, по интенсивности прошсдп!его через материал ост!!Точного излучения, которое измеряется каким-лиоо прибором, реагирующим на рентгеновские или радиоактивные лучи.

Одним из наиболес целесообразHbfx способов измерения толщины матер!!Ялов является спос00 сравнения, при котором сравнивают интенсивности излучений (от одного и rol 0 we источника), прошедших через измеряемый материал н через эталонный образец того же материала известной тол!пины. Если эталонный образец взят той то:пцины, которая должна быть получена в процессе производства, то прибор будет непосрсд тз .Пгэ указывать отклонение

И 3 3 С }Э Я С lf 0 f (Т0.1 ЩИ Н Ы В ТМ И. И;1}1 гуl<) с TOр О )у от ном инала.

Если выпс IHHTb эталонный образец не в виде плоской пластинки, я в Видс клина, то, перемещая посл()дний НO пути лучей, можно уравня ь их шпе!ГОHBHocTb с кппснсивностьк) лу !с)}, п})о!Не..(пп!х через 1|змепясмый

3!!!тер)1;), 1. Т !1,)ll К03)пе|!саино,п)ы)11

СПО ()О ИЗМЕ})ЕНИ51 ТОЛ)ПИНЫ ИЗДЕЛИЙ д!)еТ НЯ ИОО 1е(ТО IHble }Зезу"IbT<1Tbl, В i СТРОЙСТВ!)х д,)H Осуll(PCT)3.1 HHH подобного спосооа основной тр дностью яВляется создан Ie клина, кОтОрый с большой точностью Воспроизвод!п бы абсолютно !павиане изменение толщины материала.

1(як показала практика, изготовление такого клина путем механической обработки является весьма трудной задачей и нс обеспечивает получения треб3емых метрологических точностей.

В ряде случаев требуется также создание клина с переменным угло наклона, например, в тех сг!учаях, когда шкала прибора должна быль растянута в опреде !енных участках.

Предметом настоящего изобретения яв,)яется конструктивное выполнение образцозого клина (эталона), допмскаюlц((значите:16Hoe упрсп(сн и с т с х н 0 л 0 Г и: (. Г о и 3 Г o T o )3;I e ?1 ) 1 я .

СHГ:)ясно из() Орет(H 0lo, ООр азцовы и

КЛИН ВЫПОЛНЕН и ДИД IIHOO}) I КЯЛ:.!О})ОВЯН|1Ъ|Х П. !(I CT!3! l, СЛОЖЕНН Ы В П(!IОЗТ (.О СДВИГ03! !10 ДЛИНЕ ОДН!! OTHOC1(Т(-. .. |ЬНО Д}ЭЧ! 01! ДГ!Я СТ ПСПЧЯ 1 ОГО ИЗМ(HPHIIH ТОЛП(ННЬ) КЛПНЯ.

С целью получения требу;мого за) 0!|я 13318HPH И Я TO ° IЩII H Ы Iс.пlпаl ПО № 100771 его дл!!Не пакет может быть собран из пластин неодинаковой толщины.

На фиг. 1 — 5. показано несколько вариантов выполнения предложенного образцового клина.

На фиг. 1 и 2 показан и двух проекциях клин, состоящий пз калиброванных пластин, сложент!ых в пакет.

Пластины сдвинуты по длине одна относительно другой и их торцы расположены перпендикулярно длине клина.

Хотя толщина такого клина меняется по длине ступенчятообразно, однако, имеется возможность Ilo.÷óчить при его движении в направлении, перпендикулярном к направлению лучей, абсол1отно плавное измене и!е интеч.-ивности луч» и степени его поглощения в матерна,че клина.

Для этой цели длины отдельных

ПЧс!СТ1!Н JO, IÆÍhf ОЫТЬ !1ОДОО!Чс! ПЬ! T»ким образом, чтобы д,пщ» и кяждои ступени 1, 2, 8... бы. гя во всех сг!у !аях меньше ширины б освс !в»смой лучом площадки при его пересечении с и<1верхно тью клина. При соблюдении этого условия перемещение клина и направлении стрелки вызыв»ет плав ное увеличение в зоне луча участка ступени 1 (меньшей толщины) II одновременно уменьшение участк» ступени 3 (бог!ьшс1! толщины). Участки ступени 1 и 8, находящиеся и зоне луча в положении, изображенном на фиг. 1, заштрихованы.

Таким образом, средняя толщина участка клина, пронизываемого лучом, плавно уменьшается по мере перемещения клина вправо и увеличивается при его перемещении влево (по чертежу) .

Образцовый клин может быть вы.полнен с любым средним углом наклона. Возможно также полу !ить клин переменной по длине толщины, изменяющейся по любому закону.

Для этой цели можно изменять длину ступеней в нужном участке клина, как это изображено на фиг. 1 и 2 (раз. !еры ступеней клина уменьшаются по направлению к концам клина) . Увеличивая длину ступеней, можно растянуть шкалу на нужном участке. Тот же эффект может быть достигнут путем изменения толщины пластин ня нужном участке клина, к1!к это показано на фиг. 2, где ()vK вой К обозначены пластины меньшей толщины, чем остальные.

Применяя для набора клина тонкие калиброванные пластины, ч1ожно создавать клин, проницаемость которого просвечивающим лучом будет меняться по .побой заданной характеристике.

Подгонку собранного клина и его калибровку по заданной шкале можно легко осуществлять также путем удлинения или укора IHB»ния отдельHbIx. И.частин клине!.

Предложенный клин может быть выпо;шен прямолинейным, как это показано на фиг. 1 и 2, пли же в виде цилиндра, для чего необходимо точько изогнуть весь пакет г1ластин ьокруг цилиндрической оправки.

Кроме того, клин может быть выполнен в форме диск», сложенного из секторов различной угловой величины, образующих ряд ступеней (фиг. 3). Перемещение такого клина осуществляется вращением его вокруг оси. Для пояснения спссооя изготовления дискового клина на фиг. 4 представ. чена его вторая проекция, пз которой видно расположение отделы1ых II;I»cTIIII. Кроме того, на фиг. 5 приведены формы отде !ы1ых пластин кли;!а i 1, 2 и 8), соответствующие пластинам, обозначенным темп же номерами на собранном клине, изображенном на фиг. 3.

Для ПО Ix ченил плавного нзмснсния интенсивности излучений, прохо д;пцих через клин нрн его вращс:нш, псобходпмо как !! в случае прямолинейного клина, чтобы ширина б пучка лучей была больше наибольшей ширины а ступени клина.

Предмет изобретения

1. Образцовый клин к устройствам для измерения толшины изделий путем просвечивания их рентгеновскими или радиоактивными лучами и определения степени поглощения этих лучей по методу сравнения интенсивности лучей, прошедших через контро.чируемое изделие и через образцовый к.чин, отличающийся тем, что, с целью упрощения технологии изготовления клина, он выполнен в виде набора калиброванных пластин, сложенных в пакет со сдви¹ 100i 7{

Фиг. 1

Фиг. 2 л{ гом Но длине одна относительно другой для ступенчатого изменения толщины клина.

2. Образцовый клин по п. 1, о тл и чающий с я тем, что, с целью получения треоуемого закона измен ния толщины клина по его длине, пакет собран из пластин неодинаковой толщины.

3. Образцовый клин по и. 1, от л ич а ю шийся тем, что расстояния между концами соседник пластин (длины ступеней) в пакете выполнены различными, Ло 100771 с1)нг. 4

Фиг. 5

Отв. р ;LBKTop И. В. Макаров ,!1106673 от 2!пй1 1955 r. Стапдартгиз. Об пега (),25 и. л. 1 правя 400, Цена оО кон.

Типография изд-ва «Московская правда», Погаповскпй пер., 3„3, Зак. 3)91

Образцовый клин к устройствам для измерения толщины изделий Образцовый клин к устройствам для измерения толщины изделий Образцовый клин к устройствам для измерения толщины изделий Образцовый клин к устройствам для измерения толщины изделий 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)

Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес подвижных составов

Изобретение относится к бесконтактным методам определения толщины покрытий с помощью рентгеновского или гамма-излучений и может быть использовано в электронной, часовой, ювелирной промышленности и в машиностроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического бесконтактного измерения износа толщины реборды железнодорожных (ЖД) колес подвижных составов

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля, а именно к радиоизотопным приборам для измерения толщины или поверхностной плотности материала или его покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля тепловыделяющих элементов (твэлов) ядерных реакторов, изготовленных в виде трехслойных труб различного профиля и предназначено для автоматического измерения координат активного слоя, разметки границ твэлов, измерения равномерности распределения активного материала по всей площади слоя в процессе изготовления

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для определения толщины стенок, образованных криволинейными поверхностями (цилиндрическими, сферическими и др.) в деталях сложной несимметричной формы

Изобретение относится к неразрушающему контролю с использованием рентгеновского излучения и может быть использовано для контроля материалов и изделий радиационным методом в различных отраслях машиностроения

Изобретение относится к устройствам для рентгеновской типографии объекта и может быть использовано для определения структуры сложного неоднородного объекта контроля и идентификации веществ, его составляющих

Изобретение относится к области радиационной техники, в частности к способам поперечной компьютерной томографии
Наверх