Способ получения модулированных по интенсивности рентгеновских лучей

 

106О58

Класс 21g, 18

4211, 20„

СССР ффффф

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Б. A. Финагин

СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ МОДУЛИРОВАННЫХ ПО

ИНТЕНСИВНОСТИ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ

Зеив-ено 18 внреви 1955 т. вв М 6573/454б68 в Министерство влектвоте; нической .-ромв|шленности СССР предмет изобретения

Изобретение относится и способам получения модулированных по интенсивности рентгеновских лучей и их монохроматизации.

Известно, что в рентгенс-струкT ðHoì анализе, например, ри исследовании структуры ооразцов, находящихся в периодически изменяюшемся динамическом режиме, пользуются специальными тру бками, дающими модулированный по интенсивности пучок рентгеновских лучей.

Настоящее изобретение озво. ляет использовать рентгеновские трубки, дающие немодулированное излучение, содержащее лучи разных длин волн. Согласно предложенному способу, пучок таких лучей направляют под соответствующим углом на модулятор †пьсзоэлектрический монокристалл, приводимый в колебание «растяжение-сжатие» переменным напряжением, От этс го монокристалла модулированный по интенсивности пучок лучей отразится на неподвижный монокристалл— фильтр, выделяющий (также путем отражения) лучи одной .",лины

ВОЛНЫ.

На чертеже показана схема устройства для осуществления предложенного способа.

Немодулированное излучение из окна Т рентгеновской трубки проходит через коллиматор К в направлении S, и попадает под соответствующим углом на пьезоэлектрический монокристалл модулятор П, питаемый переменным напряжением от генератора Г. При колебании монокристалла П отраженный от него в направлении S., модулированный по интенсивности пучок параллельных лучей с разными длинами волн попадает на неподвижный монокристалл М, служащий фильтром. От него в направлении

S, отражается только луч одной

ДЛИН 61 ВОЛ НЫ.

Способ получения модулированных по интенсивности рентгеновских лучей и их монохроматизации, отличающийся тем, что, с целью использования обычных рентгеновских трубок, дающих немодулированные лучи разных длин волн № 10б ..158

Ъ

Ъ

Отв. редвктор П. Ю. Мазуренко

Ствпдартгпз. Подп. к печ. 27, 3с-1457 г. Объе l f0125 и, д. Тii,l a i 11но. !епв 25 коп.

ГОР, ArrarbfPb, THII0PPa(PHB _#_a 2 NHBHCТЕРЕТВД HJЛВТУР с ЧУВВП1CKOH АССР. 3Гск. 3121 для получения модулирова ык по интенсивности лучей од ой длинь: волны, пучок обычных рентгеновских лучей направляют под соотве.-ствующим углом на модулятор— пьезоэлектрический монокрпстал,:., приводимый в колебание «растяжение-сжатие» поданным па пего псое:;: ..:=:. .;лскт1ричсс1 им напряжс- -НЕ. .: :. 1 Рсажен11ЫЙ ОТ ЭТО! О 1ОНО1i -:..„.".а:;одулирозанньш по Hll-:-.1скззясстн пучок лучей аправляю-,::.:.; епо JBHiKlfbIH монокристалл, П Н i " сЗ > ЕМ Ы11 Б Кс1ЧС СТВС (11ИГ1Ы р а для выделения путем отражения

; У-,.:": «, ;1О11 ДЛПНЫ ВОЛНЫ,

Способ получения модулированных по интенсивности рентгеновских лучей Способ получения модулированных по интенсивности рентгеновских лучей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к рентгеновской оптике, в частности, к устройствам для отражения, поворота, деления, фокусировки и монохроматизации потока рентгеновского излучения и может быть использовано для проведения процессов рентгеновкой литографии, рентгеновской микроскопии, рентгеновской спектроскопии, а также в астрономии, физике, биологии, медицине и других областях технике, где используется рентгеновское излучение

Изобретение относится к технике и технологии обработки микроструктур и может быть применено в производстве изделий микроэлектроники

Изобретение относится к средствам для дефектоскопии и диагностики в технике и медицине, использующим излучение в виде потока нейтральных или заряженных частиц, в частности рентгеновское излучение, а также к средствам, в которых указанное излучение используется в лечебных целях или для контактной либо проекционной литографии в микроэлектронике

Изобретение относится к способу сдвига мозаичного рассеяния высокоориентированного пиролитического графита (ВОПГ) в заданный узкий интервал

Изобретение относится к приборам для визуально-теневой гамма-рентгеновской интроскопии и может быть использовано в промышленности и в медицине

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к средствам для получения рентгеновского излучения, в частности к средствам, предназначенным для использования при исследовании веществ, материалов или приборов

Изобретение относится к проекционной микроскопии с использованием радиационных методов, более конкретно к средствам для получения увеличенной теневой проекции объекта, включая его внутреннюю структуру, с использованием рентгеновского излучения

Изобретение относится к области рентгенодифракционных и рентгенотопографических методов исследования при неразрушающем исследовании структуры и контроле качества материалов и предназначено для формирования рентгеновского пучка, в частности, пучка синхротронного излучения (СИ), с помощью кристаллов-монохроматоров

Изобретение относится к рентгеновской оптике, в частности к устройствам для отражения, фокусировки и монохроматизации потока рентгеновского излучения

Изобретение относится к устройствам формирования спектра рентгеновского излучения при размещении фильтра рентгеновского излучения между источником излучения и детекторной системой

Изобретение относится к экспериментальной ядерной физике и может быть использовано на высокопоточных источниках нейтронов на базе ускорителя , мезонной фабрики или ядер кого реактора
Наверх