Способ прослеживания следов заряженных частиц в слоях эмульсионной камеры

 

% !2!202

Класс 21@, 35

СССР

1 с

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Ф. Г. Лепехин

СПОСОБ ПРОСЛЕЖИВАНИЯ СЛЕДОВ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ

В СЛОЯХ ЗМУЛЬСИОННОЙ КАМЕРЫ

Заявлено 24 февраля 1958 г. за № 593118/26 в Комитет по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 14 за 1959 г.

При известных способах прослеживания следов заряженных частиц используют для наблюдения обычный микроскоп, под объектив которого последовательно устанавливают различные слои эмульсии. Такой спо-соб исключает возможность сравнения следов в двух слоях эмульсии путем их одновременного рассматривания, что может привести к переходу на след другой частицы при наблюдении последующего слоя.

Предлагаемый способ позволяет устранить указанйый недостаток и обеспечить одновременное наблюдение следов в двух последующих слоях эмульсии. Это достигается тем, что два последующих слоя эмульсий устанавливают под объективами сравнительного микроскопа, .взаимно ориентируют их по имеющимся на слоях рентгеновским меткам и, наблюдая одновременно следы частицы на.обоих слоях, видимые в поле зрения микроскопа, судят об их тождестве.

На чертеже изображена схема прослеживания следов заряженных частиц по предлагаемому способу.

Два последовательных слоя эмульсии i-й слой и 1 -1-й располагают каждый под одним из объективов 1 и 2 микроскопа так, чтобы были видны метки, нанесенные на обоих слоях пучками рентгеновских лучей.

Объективы 1 и 2 укреплены на жестком основании и дают изображения следов в i-ом и i 1-ом слоях в одном окуляре, разделенном на две части. При этом в сопряженных точках полуполей микроскопа будут видны следы одной и той же частицы в разных слоях эмульсии. Если перефокусировать объективы 1 и 2 (один вверх, а другой вниз) на одну и ту жв величину bZ„то можно отчетливо наблюдать в обоих полу полях непрерывный след частицы. № l21202

Предмет изобретения

Способ прослеживания следов заряженных частиц в слоях эмульсионной камеры, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения надежности прослеживания, два последующие слоя эмульсий устанавливают под объективами сравнительного микроскопа, взаимно ориентируют их по имеющимся на слоях рентгеновским меткам и, наблюдая одновременно видимые в поле зрения микроскопа следы частицы на обоих слоях, судят об их то)кдестве;

Комитет по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССР

Редактор Н. С. Кутафина Гр. 97,Информационно-издательский отдел.

Объем 0,17 п. л. . Зак, 5079

Подп. к печ. 15.VII-59 r.

Тираж 1100 Цена 25 коп.

Типография Комитета по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССР

Москва, Петровка, 14.

Способ прослеживания следов заряженных частиц в слоях эмульсионной камеры Способ прослеживания следов заряженных частиц в слоях эмульсионной камеры 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерений ядерных излучений

Изобретение относится к ядерной физике, а точнее, к способам получения изображений различных объектов с использованием мюонов космических лучей и предназначено для мониторинга состояния и процессов в окружающей среде

Изобретение относится к ядерной физике и технике и может быть использовано при создании трековых детекторов заряженных частиц для исследования в области ядерной физики и техники, для контроля радиоактивности окружающей среды, а также для создания приборов, используемых в качестве учебных пособий в средней школе и высших учебных заведениях
Изобретение относится к области ядерной физики и техники и может быть использовано при создании детекторов для контроля радиоактивности окружающей среды
Изобретение относится к ядерной физике и технике и может быть использовано для создания детекторов, контролирующих радиоактивность окружающей среды
Наверх