Способ защиты кристаллов кремния

 

Класс 12h, 1

121, 38 № 137893

СССР

f,»1 иг

Т Хп11™

° 1) / .i1

БИБ 1ИОТЫд

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ и

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписные группы ММ 43 и 4а

В. Г. Мельник, Л, А. Дубровский и Л. Л. Одинец

СПОСОБ ЗАЩИТЫ КРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ

Заявлено 17 иктня 1960 г ва,Л" 670386 23 в Комитет по делам изобретений и открытий ири Совете Министров СССР

Опубликовано в «Б|оллетене изобретений» М 9 ва 1961 г.

Известен способ защиты кристаллов кремния от внешних химических воздействий созданием на их поверхности оксидного защитного слоя. С этой целью кристаллы кремния подверга1от электрохимпческом окислению в растворах солей, кислот или основанп11. Однако вследствие того, что при электрохимическом окислении слой окисла содержит H себе элементы, входящие в состав электролита, данный способ непригоден для получения чистых окпсных пленок, необходимы.; для защиты кристаллов кремния полупроводниковых приборов. Кроме того, применение мHîãîкомпонентных электрохиMè÷åñêèх растворов связано со сложной задачей предварительной очистки исходных реактивов.

B отличие от известного, предлагаемый способ предусматривает элекртохимическое окисление кремния в чистой обессоленной воде с применением кремниевого катода. Спосоо обеспечивает необходимую чистоту и достаточну|о толщину оксидного покрытия.

Практическое осуществление способа заключается в следующем. На дне сосуда из органического стекла монтируют кремниевый катод высокой степени чистоты, после чего параллельно ему на расстоянии 5 — 10 лл в специальной ячейке закрепляют кремппевып анод, подлежащий покрытию оксидной пленкой. Вода, используемая для электролиза, предварительно очищается ионнообменным способом и имеет удельное сопротивление 1 — 1,5 лгол. сл, После того как электрохимическая ячейка собрана и залита водой, на электроды подают ток напряжением 20 — 30 в. В процессе оксидпро№ 137893 вания ток непрерывно падает (особенно сильно в начальный период> до достижения насыщения, что соответствует толщине оксидной пленки порядка 2000 А. Толщину пленки определяют емкостным методом, предполагая, что диэлектрическая проницаемость пленки равна диэлектрической проницаемости кварца. Тангенс угла диэлектрических потерь для окисленного кристалла равен 0,1.

Предмет изо бр етения

Редактор С. А, Барсуков Техрсл А. А. Камыгиникоза Корректор Ю. Рябцова

Формат бум 70Х 108 /ig

Тираж 650

ПЬТИ прп Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, И Черкасский пер., д, 2/6

Объем 0,17 усл. п, л.

Цена 3 коп

Полн, к печати 18/3 --61

1055

Киржа нская гипография отдела издательств и полиграфической промышленности

Владимирского областного Управления культуры.

Способ защиты кристаллов кремния, например, полупроводниковых приборов, от внешних химических воздействий путем создания оксидной пленки электрохимическим окислением, отличающийся тем, что, с целью упрощения окисления, его проводят в чистой, например, обессоленной воде, и используют в качестве катода кремний.

Способ защиты кристаллов кремния Способ защиты кристаллов кремния 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области гальваностегии и может быть применено для выращивания нитевидных кристаллов путем электроосаждения металлов из электролита
Изобретение относится к материаловедению, а именно к методам получения монокристаллов для кристаллографии, оптики и электроники

Изобретение относится к области гальванопластики и может быть применено для изготовления деталей устройств нанотехнологического оборудования, использующих метод сканирующего зонда, например, кантилеверов

Изобретение относится к электрохимии и может быть использовано для 1фисталлизэдии редких и дорогостоящих вещеста белкоа пептидов биоорганичес а« соединений

Изобретение относится к оптоэлектронике , в частности к созданию элементов интегральной оптики и запоминающих устройств Обеспечивает исключение разрушающего воздействия воды, увеличение степени ориентации молекул в пленке, регулирование ее толщины и увеличение производи гельности процесса Используют метод электрофореза Осаждение ведут из водной суспензии бактериородопсина на вертикально установленную подвижную подложку при напряженности электрическою поля между подложкой и электродом 20-40 В/см и вытягивании подложки со скоростью 60- 720 мм/ч Возможно получение однородных пленок толщиной от 5 до 120 мкм и большой площади

Изобретение относится к способу получения медьсодержащих нанокатализаторов с развитой поверхностью, который заключается в том, что сначала из раствора электролита на металлический носитель методом электроосаждения наносят медь, затем носитель с нанесенным активным металлом подвергают термообработке. Процесс электроосаждения ведут так, чтобы на металлической подложке с коэффициентом теплопроводности меньше 20 Вт/(м⋅K) вырастить монослой икосаэдрических малых частиц из меди, имеющих микронные размеры от 5 до 15 мкм и обладающих 6-ю осями симметрии пятого порядка, или слои микрокристаллов с дефектами дисклинационного типа в кристаллической решетке, затем проводят их отжиг в воздушной атмосфере при температурах 300-400°C и времени выдержки 4 часа до формирования у малых частиц развитой поверхности в виде нановискеров или при температурах 500-600°C и времени выдержки 2-3 часа до формирования у малых частиц развитой поверхности в виде нанопор, или внутренних полостей, или гофрированного рельефа. Технический результат заключается в получении нанокатализатора с высокой удельной поверхностью, хорошей адгезией к носителю, высокой механической прочностью и низким гидродинамическим сопротивлением. 2 з.п. ф-лы, 8 ил.
Изобретение относится к области тонкопленочной технологии и предназначено для использования в микроэлектронике и интегральной оптике
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов, в частности к способам получения пленок, содержащих бор на поверхности полупроводниковых материалов
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов, в частности к способам получения пленок, содержащих бор и фосфор на поверхности полупроводниковых материалов
Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых приборов, в частности к способам получения пленочных диэлектриков, из которых наиболее широко используемым является окись тантала (Ta2O5)

Изобретение относится к микро- и наноэлектронике и может быть использовано в производстве СБИС, полевых нанотранзисторов, а также устройств оптической волоконной связи
Наверх