Способ определения структуры поверхности объектов


G01N1/28 - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание

 

Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способам микроскопического изучения поверхности твердых тел, и позволяет упростить способ и повысить долю пригодных реплик поверхности объектов, труднодоступных для непосредственного наблюдения. На анализируемую поверхность объекта однократно наносят плешсообразную композицию, в качестве которой используют 4,8-6%-ный раствор фторопласта в ацетоне, отделяют образующуюся пленочную реплику и изучают с помощью оптического микроскопа . I з.п. ф-лы, I табл. сл 00 00 О5

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„Я0 „„ IOßß64 (5!) 4 G 01 N 1/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4012346/31-26 (22) 22,01.86 (46) 07.05,87. Бюл. !1- 17 (71) Институт общей и неорганичес-., кой химии АН БССР (72).А .В.Герасимов, М,Н,Бондарев, С.И.Пытлев и С.И,Журавский (53) 543.062 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

1!4 819612, кл. G 01 N 1/00, 1978.

Горшков В .С., Савельев В.Г., Тимашев В.В. Методы физико-химического анализа вяжущих веществ, M.:

Высшая школа, 1981, с. 1!9. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТРУКТУРЫ

ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТОВ (57) Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способам микроскопического изучения поверхности твердых тел, и позволяет упростить способ и повысить долю пригодных реплик поверхности объектов, труднодоступных дпя непосредственно †. го наблюдения. На анализируемую по— верхность объекта однократно наносят пленкообраэную компоэицчю, в качестве которой используют 4,8-67-ный раствор фторопласта в ацетоне, отделяют образующуюся пленочную реплику и изучают с помощью оптического микроскопа, 1 э,п. ф-лы, 1 табл.

Формула изобретения.2. Способ по п.1, о т л и ч а ю— шийся тем, .что используют

4,8-6,0%-ный раствор фторопласта в ацетоне.

Концентрация Доля прираствора годных фтор опл ас- реплик, та, % %

Способ определения структуры поверхности объектов

Известный

Предлагаемый 4,6

4,8

5 0

98

100

100

5,5

5,8

6,0

100

100

6,5

100

7,0

Составитель Г.Цой

Редактор С,Патрушева Техред И.Попович

Корректор С. Черни

Заказ 1789/33 Тираж 777

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подпи сно е

Производственно-полиграфическое предприятие, r. Ужгород, ул. Проектная, 4

1 130886

Изобретение относится к аналитической химии, а именно к способам микроскопического изучения поверхности твердых тел труднодоступных для непосредственного наблюдения. 5

Цель изобретения — упрощение способа (благодаря однократному нанесению пленочной композиции ) и повышение доли пригодных реплик, На участок поверхности бетонного 10 изделия с пористой структурой поверхности размером 1х2 см наносят пленкообраэующую композицию, представляющую собой 5,0%-ный раствор фторопласта в ацетоне. После улетучивания ацетона производят отделение реп- . лики. В таблице приведены различные концентрации фтороппаста в ацетоне, определяющие долю пригодных реплик.

Как следует иэ таблицы, увеличение концентрации фторопласта в ацетоне выше 6% нецелесообразно. Предлагаемый способ позволяет упростить процесс получения реплик благодаря

4 2 однократному нанесению пленкообразующей композиции и увеличить долю пригодных реплик.

1. Способ определения структуры поверхности объектов, включающий нанесение на его поверхность пленкообразующей композиции, отделение полученной реплики и последующую количественную регистрацию имеющихся дефектов с помощью оптического микроскопа, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа из-за однократного нанесения пленочной композиции и повышения доли пригодных реплик, в качестве пленкообразующей композиции используют раствор фторопласта в ацетоне.

Способ определения структуры поверхности объектов Способ определения структуры поверхности объектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике измерений и испытаний, в частности к устройствам для отбора высокотемпературных расплавов, например, чугуна , выпускаемого из доменной печи и содержащего нерастворимые включения, может быть использовано в черной и цветной металлургии, позволяет повысить достоверность и сократить время отбора проб, Устройство для отбора жидкометаллических проб содержит установленный на плите 1 разъемный корпус 2 с полостью 3 образца, размещенной в горизонтальной плоскости на одной половине 4 корпуса 2 и сообщенной при помощи поперечного щелевого канала 5 и продольного дополнительного канала 6 с литником 7

Изобретение относится к устройствам для отбора проб жидкости и может найти применение для серологического и микробиологического микроанализов

Изобретение относится к устройству для аналитического контроля жидкости, может быть использовано в системах отбора проб для фотометрических анализаторов и позволяет повысить точность измерения

Изобретение относится к устройствам для отбора глубинных проб пластовьпс нефтей в скважине и позволяет отбирать одновременно несколько проб с одного горизонта и увеличить срок хранения пробы без нарушения ее физико-механических свойств

Изобретение относится к реактивам для электролитического травления микрошлифов нержавеющих высококремнистых сталей аустенитного класса и их сварных соединений

Изобретение относится к первичной пробоподготовке веществ к рентгенофлуоресцентному анализу в системах автоматизированного аналитического контроля технологических процессов при переработке калийного и других видов сырья

Изобретение относится к медицине , точнее к гистологии

Изобретение относится к медицине, а именно к анатомии, топографической анатомии, патологической анатомии и может быть использовано для изучения лимфоидных узелков в тотальных анатомических препаратах макромикроскопическом поле видения в норме, в возрастном аспекте, в эксперименте и патологии

Изобретение относится к анализу экологического состояния и мониторинга окружающей среды, в частности воздушного бассейна

Изобретение относится к технике отбора проб сжатых газов и воздуха при контроле в них содержания примесей масла, влаги, окиси углерода, двуокиси углерода и других примесей преимущественно линейно-колористическим методом с использованием индикаторных трубок

Изобретение относится к медицине, а именно к нейрогистологическим методам исследования

Изобретение относится к медицине, а именно к нейрогистологическим методам исследования
Изобретение относится к медицине, точнее к технике изготовления гистологических образцов различных тканей, и может быть использовано при дифференциальной диагностике патологических состояний организма

Изобретение относится к цитологии
Наверх