Устройство для расшифровки спектров при визуальном эмиссионном спектральном анализе

 

Изобретение относится к области эмиссионного спектрального анализа ,с фотографической регистрацией спектров . Целью изобретения является повьшение точности и производительности визуального анализа за счет одновременного рассмотрения спектрограмм исследуемой и эталонной фотопластинок на экране однолучевого спектропроектора. С помощью ручки 9 дополнительно введенный предметный столик с закрепленной на нем эталонной пластиной 13 перемещается относительно предметного столика 4 для совмещения исследуемых и эталонных спектрограмм. Соприкосновение чувствительных слоев эталонной фотопластинки 13 и исследуемой фотопластинки 6 позволяет настраивать спектропроектор на резкое изображение спектров как на эталонной , так и на исследуемой фотопластинках , что позволяет одновременно исследовать эталонный и исследуемый спектры и в свою очередь, приводит к повышению скорости обработки спектров . 4 ил. i (Я SuffS 1S о) ® Ф Ф VJ срие.З

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУ БЛИН.

9 А1 (19) (И) (51) 4 С 01 J 1 52. 3/40

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Ф » «

« р

ФС

С, у;„.„

««Я

« ,«««

ЖФ,, Ф

«.-..

&Рб

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

Н А ВТОРСНОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3910298/24-25 (22) 13.06.75 (46) 15.06.87. Бюл. № 22 (71) Комплексная экспедиция Всесоюзного научно-исследовательского института минерального сырья (72) В.Н.Аполицкий и А.Я. Слесарев (53) 535.242 (088.8) (56) Основы качественного спектрального анализа руд и минералов, 1978, с.84-91.

Спектропроектор SP-2. (Проспект фирмы Карл Цейсс ЙЕНа, 1973). (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ РАСШИФРОВКИ СПЕКТРОВ ПРИ ВИЗУАЛЬНОМ ЭМИССИОННОМ

СПЕКТРАЛЬНОМ АНАЛИЗЕ (57) Изобретение относится к области эмиссионного спектрального анализа с фотографической регистрацией спектров. Целью изобретения является повьппение точности и производительности визуального анализа эа счет одновременного рассмотрения спектрограмм исследуемой и эталонной фотопластинок на экране однолучевого спектропроектора. С помощью ручки 9 дополнительно введенный предметный столик с закрепленной на нем эталонной пластиной 13 перемещается относительно предметного столика 4 для совмещения исследуемых и эталонных спектрограмм.

Соприкосновение чувствительных слоев эталонной фотопластинки 13 и исследуемой фотопластинки 6 позволяет настраивать спектропроектор на резкое изображение спектров как на эталонной, так и на исследуемой фотопластинках, что позволяет одновременно исследовать эталонный и исследуемый спектры и в свою очередь, приводит к повьппению скорости обработки спектров. 4 ил.

1317289

Изобретение относится к эмиссйонному спектральному анализу с фотографической регистрацией спектров и может найти применение при проведении визуального спектрального анализа.

Цель изобретения — повышение точности и производительности визуального анализа за счет одновременного рассмотрения спектрограмм исследуемой и эталонной фотопластинок на экране однолучевого спектропроектора и четкой фиксации положения спектров эталонной фотопластинки, что позволяет автоматизировать процесс выдачи результатов анализа.

На фиг.1 изображено устройство, общий вид на фиг.2 — вид А на фиг.1; на фиг.3 - вид Б на фиг.1; на фиг.4 - держатель эталонной фотопластинки, Вид снизу, Устройство для расшифровки спектров при визуальном эмиссионном спектральном анализе содержит станину 1, осветительную 2 и проекционную оптическую системы, проекционный экран 3 и предметный столик 4, механизм 5 перемещения предметного столика с исследуемой фотопластинкой 6. На станине 4 расположен второй предметный столик, состоящий из направляющей 7 с ползуном 8 и ручкой 9, установленной шарнирно с осью вращения 10 в горизонтальной плоскости, причем один конец ручки 9 шарнирно связан с ползуном 8, а другой конец ручки 9 является стрелкой и расположен над шкалой градуировки

11. На исследуемой фотопластинке 6 под объективом 12 проекционной оптической системы установлена эмульсией вниз эталонная фотопластинка

13 с держателем 14 в виде бруска со сквозным отверстием 15, через которое проходит световой поток и через которое можно спроектировать на экран 3 спектры. На нижней поверхности держателя 14 выполнено ребро 16, вшсота которого меньше толщины эталонной фотопластинки 13, и установлена плоская пружина 17. Между реб— ром 16 и плоской пружиной 17 размещена эталонная фотопластинка 13, а держатель 14 соединен с ползуном 8 упругой пластинкой 18.

Ус тр ой с тв о р а б о та е т следующим образом. 5 фотопластинки 6. При этом спектры

5

Для проведения анализа спектры исследуемых проб и эталонов фотографируются на фотопластинках на расстоянии друг от друга несколько большим высоты спектра. Ширина эталонной фотопластинки 13 значительно меньше исследуемой фотопластинки 6 и определяется количеством спектрограмм эталонов, используемых при расшифровке спектров. На предметный столик 4 закрепляется исследуемая фотопластинка р вверх эмульсионным слоем, а в держатель 14 вставляется вниз эмульсионным слоем эталонная фотопластинка 13 между ребром 16 и плоской пружиной 17, под действием которой держатель 14 прижимает эталонную фотопластинку 13 к исследуемой фотопластинке 6, сближая их эмульсионные слои. Устройство настраивается на резкое изображение спектрограмм обеих фотопластинок, это оказывается возможным за счет близкого расположения (соприкосновения) эмульсионных слоев исследуемой и эталонной фотопластинок. При этом на экране 3 видны одновременно спектры обеих пластинок.

В силу того, что спсктрограммы эталонной и исследуемой фотопластинок снимаются на одном и том же спектрографе и в одинаковых условиях, для совмещения их спектров достаточно совместить края фотопластинок (концы спектрограмм) или производить совмещение спектрограмм по наиболее ясно выделяющимся характерным линиям спектров Fe, Mg и т.п., рассматривая одновременно все спектрограмьы исследуемой и эталонной фотопластинок. Затем с помощью ручки 9, шарнирно связанной с ползуном 8, перемещают держатель 14 с эталонной фотопластинкой

13 и подводят к спектру исследуемой эталонной фотопластинки 13 необходимо располагать по обе стороны от исследуемого спектра так, чтобы почернение аналитической линии в одном из эталонов было меньше, чем в исследуемом спектре, а в другом больше. Та- . кой метод оценки почернения аналитической линии позволяет по положению ручки 9 над шкалой градуировки 11 однозначно определить какой спектр эталонной фотопластинки 13 подведен к исследуемому спектру и оценить содержание того или иного элемента в исследуемой пробе.

3 1З17

Формула изобретения

Устройство для расшифровки спект-. ров при визуальном эмиссионном спек.тральном анализе содержащее станину

Э э 5 осветительную систему и расположенные по ходу излучения предметный столик, на котором помещена исследуемая фотопластинка, проекционную оптическую систему, проекционный экран, при-1О чем исследуемая фотопластинка расположена чувствительным слоем в сторону проекционной системы, о т л и ч аю щ е е с я тем, что, с целью повы289 4 шения точности и производительности визуального анализа, устройство дополнительно содержит второй предметный столик с эталонной фотопластинкой, расположенный между первым предметным столиком и проекционной системой, с воэможностью перемещения параллельно плоскости первого столика

В и шкалу отсчета перемещений, жестко связанную со станиной, причем эталонная фотопластинка расположена таким образом, что ее чувствительный слой соприкасается с чувствительным слоем исследуемой фотопластинки.

1317289

ЮиР A

Составитель С.Заводов

Техред А.Кравчук

Корректор М.Демчик

Редактор В. Ковтун

Заказ 2412/36

Тираж 776 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, r.Óæãîðoä, ул.Проектная,4