Способ юстировки плоского фацетного зеркала

 

Изобретение относится к гелиотехнике и позволяет повысить точность юстировки. Угол визирования определяется поворотом зрительной трубы контрольного теодолита 3 до совмещения центра сетки нитей с серединой юстируемой фацеты 5. После отклонения оси визирной трубы теодолита 4 на угол a разворачивают гелиостат 1 до совпадения отраженного от базовой фацеты 2 светового пучка с исходным путем совмещения автоколлимационного блика от фацеты 2 с центром сетки нитей теодолита 4. 1 ил.

Изобретение относится к гелиотехнике и может быть использовано при юстировке составных плоских зеркал гелиостатов. Целью изобретения является повышение точности юстировки. Способ заключается в следующем. Исходный пучок направляют на базовую фацету юстируемого зеркала. Разворотом исходного пучка осуществляют угловое совмещение его оси с осью пучка, отраженного базовой фацетой. В этом положении ось исходного пучка будет совпадать с направление нормали базовой фацеты. Затем разворачивают исходный пучок на угол, при котором он будет попадать на юстируемую фацету. Измеряют величину этого угла и разворачивают составное зеркало как целое на такой же угол, но взятый с обратным знаком. Разворот исходного пучка и составного зеркала осуществляют в одной плоскости. При этом контроль зеркала осуществляют по положению нормали базовой фацеты автоколлимационным способом. В результате этих разворотов исходный пучок будет падать на юстируемую фацету, а его ось будет параллельна нормали базовой фацеты. Юстировку фацеты осуществляют путем ее разворота до совмещения отраженного ею светового пучка с исходным. Затем разворачивают исходный пучок так, чтобы он падал на следующую фацету, и повторяют весь цикл операции. Способ может быть реализован по схеме, изображенной на чертеже. На оси юстируемого гелиостата 1 напротив базовой фацеты 2 устанавливают два автоколлимационных теодолита 3, 4, один - на расстоянии не меньшем, чем половина максимального размера гелиостата, для обеспечения контроля фацет всего гелиостата, а другой - в непосредственной близости от гелиостата. Первоначально визирные оси теодолитов выставляют перпендикулярно плоскости базовой фацеты. Затем зрительную трубу контрольного теодолита 3 поворачивают на угол , при котором пучок света от его коллиматора будет отражаться юстируемой фацетой 5. Этот угол можно заранее рассчитать для каждой фацеты и поворачивать теодолит 3, наблюдая в нем изображение гелиостата, до совмещения центра сеток нитей трубы теодолита с серединой юстируемой фацеты. По лимбам теодолита 3 измеряют угол поворота его визирной трубы. Затем поворачивают ось визирной трубы теодолита 4 на такой же угол. Наблюдают в теодолит 4 автоколлимационный блик от базовой фацеты. Разворачивают гелиостат до совмещения этого блика с центром сетки нитей теодолита 4. В результате этих операций ось теодолита 3 будет расположена перпендикулярно плоскости базовой фацеты и будет проходить через юстируемую фацету. Собственно юстировку фацеты осуществляют ее разворотом до совмещения автоколлимационного блика, наблюдаемого в теодолит 3, с центром сетки нитей. Затем переходят к юстировке следующей фацеты, и цикл операций повторяют.

Формула изобретения

СПОСОБ ЮСТИРОВКИ ПЛОСКОГО ФАЦЕТНОГО ЗЕРКАЛА, заключающийся в освещении базовой фацеты пучком света от контрольного устройства, развороте ее до совмещения отраженного пучка с падающим и последующих разворотах пучка и фацетного зеркала относительно двух взаимно перпендикулярных осей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности, направление пучка света на базовую фацету принимают за исходное, закрепляют его на местности, измеряют величину угла визирования на юстируемую фацету из точки установки контрольного устройства относительно исходного направления и поворачивают фацетное зеркало на величину измеренного угла, при этом угол поворота зеркала контролируют по базовой фацете.

РИСУНКИ

Рисунок 1

MM4A Досрочное прекращение действия патента Российской Федерации на изобретение из-за неуплаты в установленный срок пошлины за поддержание патента в силе

Дата прекращения действия патента: 14.01.1995

Номер и год публикации бюллетеня: 36-2002

Извещение опубликовано: 27.12.2002        




 

Похожие патенты:

Микроскоп // 1323995
Изобретение относится к экспериментальной физике-элементарных частиц и может быть использовано при исследовании свойств элементарных частиц

Изобретение относится к изучению свойств материалов и может быть использовано при контроле качества поверхностей , неразрушающем контроле изделий и при реализации метода фотостимулированной экэоэлектронной эмиссии

Изобретение относится к оптическому приборостроению и позволяет повысить качество изображения за счет уменьшения кривизны поверхности изображения и астигматизма

Изобретение относится к гелиоэнергетике, в частности к солнечным фотоэлектрическим модулям с концентраторами солнечного излучения для получения электричества и тепла
Наверх