Способ ультразвукового контроля изделий

 

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и может быть использовано для определения типа обнаруживаемых дефектов. Целью изобретения является повьш1ение точности контроля путем выбора нового информативного параметра. Согласно способу ультразвукового контроля изделия в последнем возбуждают ультразвуковые импульсы с широким спектром частот, принимают сигналы, отраженные от дефекта, измеряют их амплитуду АО, анализируют спектр.этого сигнала и измеряют амплитуду Ал максимальной составляющей этого спектра , принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности, измеряют амплитуду АЗ этого сигнала, анализируют его спектр, измеряют амплитуду А максимальной составляющей его спектра , а тип дефекта определяют по отношению Afl,-A,/AcL А,. , 1 ил. | сл

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (51) 4 G 01 N 29/04

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ4ЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4119725/25-28 (22) 26.06.86 (46) 30.01 ° 88. Бюл. В 4 (71) Научно-производственное объединение по технологии машиностроения

1!ЦНИИТИАШ11 (72) О.Н.Жуков, А.Х.Вопилкии и В.Г.Стасеев (53) 620.179.16(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

1(607137, кл. G Ol N 29/04, 1976. . Дефектоскопия, 1985, У 2, с.79-80. (54) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОГО КОНТРОЛЯ

ИЗДКЛИЙ (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и мо жет быть использовано для определения типа обнаруживаемых дефектов. Целью изобретения является повышение точности контроля путем выбора нового информативного параметра. Согласно способу ультразвукового контроля изделия в последнем возбуждают ультразвуковые импульсы с широким спектром частот, принимают сигналы, отраженные от дефекта, измеряют нх амплитуду А, анализируют спектр этого сигнала и измеряют амплитуду А>, максимальной составляющей этого спектра, принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности, измеряют амплитуду Аэ этого сигнала, анализируют

его спектр, измеряют амплитуду А максимальной составляющей его спектра, а тип дефекта определяют по отно. шению AI, A /A A ° 1 ил

1370548

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов и может быть использовано для определения типа обнаруживаемых дефектов.

Целью изобретения является повышение точности контроля путем выбора нового информативного параметра для определения типа дефекта.

На чертеже приведена эксперимен- 1п тальная кривая зависимости коэффициента формы Д дефекта от отношения максимальных амплитуд спектров сигналов.

Способ ультразвукового контроля 15 изделий осуществляют следующим обраSOM °

С помощью широкополосного преобразователя в изделие излучают последовательность ультразвуковых импульсов с широким спектром частот и принимают отраженные сигналы, по которым определяют наличие дефекта. Измеряют величину А амплитуды сигнала от 2g дефекта, затем получают частотный спектр сигнала от дефекта, выделяют частотную составляющую с максимальной амплитудой и измеряют ее величиAÆ « ° 30 ну А . Определяют отношение — =- К

)(° А

Известно, что сигналы, отраженные от объемных дефектов, имеют монотонно изменяющиеся спектры с равномерным распределением энергии по составляющим, 35 а сигналы, отраженные от наклонно ориентированных дефектов, имеют осциллирующие спектры, т.е. вследствие интерференционных явлений происходит перераспределение энергии в спектре 4О отраженного сигнала по различным частотным составляющим. Причем амплитуда отдельных составляющих спектра сигнала, отраженного от плоскостного дефекта, может превышать амплитуду составляющих спектра сигнала от объемного дефекта в несколько раэ при одинаковой величине амплитуды сигналов. Затем принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности. При контроле изделий прямыми преобразователями целесообразно использовать в качестве эталонной поверхности донную поверхность самого иэделия или угол, образованный двумя перпендикулярными поверхностями, или одну из донных поверхностей ступенчатого образца, расположенную на той же, что и дефект, глубине. При контроле изделий наклонным преобразователем в качестве эталонной поверхности используется наклонная поверхность клинового образца. Измеряют величину его амплитуды Аэ . Получают частотный спектр этого сигнала. Выделяют для него частотную составляющую с максимальной амплитудой, измеряют ее величину А и находят соотношение

А

Аэ

Затем находят отношение

Кю .с Аэ

К

К2 Аф Аэс и по кривой определяют коэффициент т.е. тип дефекта. В практической работе для упрощения процесса обработки можно устанавливать сигналы, отраженные от дефекта и эталонной поверхности, одинаковой амплитуды, и тогда тип дефекта определяют по отношению

К = — " Аэс формула изобретения

Способ ультразвукового контроля изделий, заключающийся в том, что в контролируемом изделии возбуждают ультразвуковые импульсы с широким спектром частот, принимают сигналы, отраженные от дефекта, анализируют спектр этих сигналов и по параметрам спектра определяют тип дефекта, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения точности контроля, измеряют амплитуду А сигнала от дефекта и амплитуду А, максимальной составляющей его спектра, дополнительно принимают сигнал, отраженный от эталонной поверхности, измеряют

его амплчтуду А» анализируют частотный спектр этого сигнала и измеряют амплитуду А максимальной составляющей его спектра, а тип дефекта определяют с учетом соотношения

А с А

А Аэс

1370548

D3

Составитель Г.Федоров

Редактор А.Маковская Техред М.Ходаннч Корректор А.Зимокосов

Заказ 414/44 Тираж 847 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4