Способ обнаружения дефектов сегнетоэлектрического носителя информации

 

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля однородности сегнетоэлектрических пластин при изготовлении носителей информации. Цель изобретения - повышение достоверности способа. Способ основан на регистрации формы интерференционных полос прошедшего через монодоменизированную сегнетоэлектрическую пластину монохраматического излучения до и после переполяризации сегнетоэлектрика и идентификации дефектов с деформацией формы интерференционных полос, что позволяет выявить дефекты сегнетоэлектрика различной физической природы. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (19) (1И

А1 (51)5 G 11 С 11/22

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

4й 4

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 3835874/3 1-24 (22) 04.01.85 (46) 15.04.90. Бюл, В 14 .(71) Уральский государственный университет им. А.M.Ãoðüêoão (72) В.Я.Шур, Н.В.Коровина и А.Л.Груверман (53) 681.327(088.8) (56) ФТТ, 1977, т.19, В 8, с.1238—

1244.

J. of Appl. Plys, 41, В 6, 1970, р.2321-2325. (54) СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ

СЕГНЕТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО НОСИТЕЛЯ ИНФОРМАЦИИ (57) Изобретение относится к вычисИзобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для контроля однородности сегнетоэлектрических пластин при изготовлении носителей информации на их основе.

Цель изобретения — повышение достоверности способа обнаружения дефектов сегнетоэлектрического носителя информации.

На фиг.! и 2 приведены графики.

Физическая сущность способа основана на том, что при монодоменизации сегнетоэлектрической пластины вблизи областей, имеющих дефекты электрической природы, возникают объемные заряды, создающие при переключении поляризации связанные внутренние поля, вызывающие, в свою очередь, локальные изменения двулуче2 лительной технике и может быть использовано для контроля однородности сегнетоэлектрических пластин при изготовлении носителей информации. Цель изобретения — повышение достоверности способа. Способ основан на регистрации формы интерференционных полос прошедшего через монодоменизированную сегнетоэлектрическую пластину монохроматического излучения до и после переполяризации сегнетоэлектрика и идентификации дефектов с деформацией формы интерференционных полос, что позволяет выявить дефекты сегнетоэлектрика различной физической природы. 2 ил. преломления и, как следствие, деформацию интерференционных полос прошедшего через носитель монохроматического излучения.

Монодоменизацию пластины осуществляют электрическим полем с напряженностью, достаточной для переключения поляризации во всем объеме, после чего регистрируют форму и положение интерференционных полос. 3атем к пластине прикладывают электрическое поле противоположного направления и повторно регистрируют форму и положение полос. Деформация полос свидетельствует о наличии дефектов в исследуемом объеме сегнетоэлектрика.

Предложенный способ обладает боль.rueA достоверностью по сравнению с известными, так как позволяет выяв1557587 лять дефекты носителя информации различной природы.. формула изобретения

Способ обнаружения дефектов сегнетоэлектрического носителя информации, включающий регистрацию формы интерференционных полос прошедшего через монодоменизированную сегнетоэлектрическую пластину монохроматического излучения, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повышения его достоверности, монодоменизированную сегнетоэлектрическую пла5 стиву переполяриэуют, а наличие дефектов идентифицируют с деформацией формы интерференционных полос прошедшего через пластину монохроматического излучения до и после переполяриэации.

1557587 дб,яка

ХОО

Составитель В.Костин

:Редактор Т.Федотов Техред М;Ходанич Корректор М. Шароши

Заказ 719 Тираж 485 Подписно

ВНИИПИ Государственного комитета о изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035 Москва, %-35, Рауаская наб., д. 4/5Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Способ обнаружения дефектов сегнетоэлектрического носителя информации Способ обнаружения дефектов сегнетоэлектрического носителя информации Способ обнаружения дефектов сегнетоэлектрического носителя информации 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в сегнетоэлектрических накопителях информации

Изобретение относится к вычислительной технике, в частности к пьезокерамическим запоминающим устройствам, и может быть использовано в перепрограммируемых накопительных устройствах

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в перепрограммируемых накопительных устройствах

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в запоминающих устройствах вычислительных машин

Изобретение относится к вычис, 1ительной технике и может быть использовано при изготовлении и эксплуатации запоминающих устройств

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в полупостоянных запоминающих устройствах вычислительных машин

Изобретение относится к средствам создания оптической памяти и может быть использовано для осуществления в оптической среде

Изобретение относится к устройствам обработки и/или хранения данных с активной или пассивной электрической адресацией

Изобретение относится к способу выполнения операций записи и считывания в памяти с пассивной матричной адресацией, образованной набором ячеек памяти, содержащих электрически поляризуемый материал, обладающий свойством остаточной поляризации, и к устройству для осуществления указанного способа

Изобретение относится к способу управления набором ячеек памяти или дисплеем с пассивной матричной адресацией, содержащими электрически поляризуемый материал, обладающий гистерезисом, преимущественно ферроэлектрический материал

Изобретение относится к запоминающему устройству на основе энергонезависимой матричной памяти

Изобретение относится к способу определения логического состояния ячейки памяти в запоминающем устройстве, к устройствам для сопоставления фаз, к неразрушающему считыванию содержимого ячеек памяти, содержащих поляризуемый материал

Изобретение относится к Ферроэлектрическому запоминающему контуру и способу его изготовления

Изобретение относится к ферроэлектрическому или электретному запоминающему контуру (С) с повышенной стойкостью к усталости

Изобретение относится к устройствам хранения и/или обработки данных, основанным на использовании тонких ферроэлектрических пленок, в частности к ферроэлектрическому или электретному трехмерному запоминающему устройству
Наверх