Патент ссср 160864

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ

ИЗОБ PETEH ИЯ

K АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

¹ 160864

Кл".ññ

42Е1, 34;, чriK

G 02d

Заявлено 18.IV.1963 (М 831755, 26-10) ГОСУДАРСТВЕН Н Ы и

КОМИТЕТ ПО ДЕЛАМ

ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ

СССР

Опубликовано 26.11.1964. Бюллетень 1 е 5

Подписная группа № 1б8

;:?Г .1

1, E,, З - . ° °

В. П. Коронкевич, Г. А. Ленкова и Н. А. Калинин

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП

Известны интер ференционпые микроскопы с разделенным полем интерференции.

Предлагаемый интерференционный микроскоп отличается от известных тем, что мел ду ооъективом и окуляром его установлена плосковогнутая линза, плоская поверхность которой покрыта отражающим слоем. Это отличие позволяет увеличить точность измерений без значительного усложнения конструкции микроскопа.

На чертеже представлена оптическая схема предлагаемого интерференционного микроскопа.

Микроскоп включает объектив 1, в перед„.!ем отрезке которого размещен разделительный кубик 2, зеркала 8 и 4, одно из них (нагример, зеркало 4) связано с исследуемым

ooüåêòîì (на чертеже не показан). Б фокальной плоскости объектива 1 микроскопа размещена отрицательная плосковогнутая л!Г1за 5, фокусное расстояние которой равно оптической длине тубуса микроcêîïà. Плоская поверхность (не обозначена) плосковогнутой линзы покрыта отражающим слоем.

Линза 5 установлена таким образом, чтобы она перекрывала половину апертурной диафрагмы 0 микроскопа. Перед неподвижным зеркалом 8 установлен непрозрачный экран 7, перекрывающий половину говерхности зеркала 8. В фокальной плоскости окуляра 8 размещена штриховая шкал» 9. Микроскоп ссвец!а!От через вхо у!О диафрагму 10, позади которой уста,!Овлeп» ill?!3» 11. . !ПкрОскоп IocTIIph IOT т»к, !тООы пзоб!?!1?кс;!Пе входной диафрагмы 1!! проект»ров»лось

II» От!1»?каюшмlo поверх!!Ость Отрпце!течь)!Ог! плосковогнутой л!Пизы 5. Тогда весь световой поток, Зьlходящий из Ооъсктпв", 1, Оудет 303грашен отражающей поверхностью плосковогнутой линзы 5 обратно и после вторично"0 отра?кения от зеркал 8 и -1 пост ппт В микроскоп, проходя мимо линзы 5. Полученная при этом 3 голе зрс!!пя м»кросколл и!!тепферепцио и!»я картина позго зяб т новьic !ть точ !Осгь !!Змсреппй, так как О 1l!!l !3 c! IcTc !I п01 чсп! .! >I .", П О,! О С О C Т» Е Т С и ! »! 0 1 В ! Ж;! О!! ! С.! 3 Ж И Т и,",ексом, с которым cc â÷ctö» .oò при измерен»ях начало отсчета штр,хочой школы 1, рас-юложенпой в фокальпой и.!Оскостп окуляГ?а h.

Предмет изооретенпя

Интерференционный микпоскоп с разделенным полем интерференции, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышечия точности измерений, между объективом и окуляром его установлена плосковогнутая линза, плоская поверхность которой покрыта отражающим слоем, ¹ 1б0864

Составитель В. Ф, Ванторин

Рсдактор Б. С. Нанкина Техред T. П. Курилко Корректор T. Д. Хромцева

Поди. к печ. 23/III — 64 г. Формат бум, 60X90 /а Объем 0,23 изд. л.

Заказ 606/12 Тираж 550 Цена 6 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2

Патент ссср 160864 Патент ссср 160864 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к вспомогательной аппаратуре для спектральных приборов и предназначен для измерения расстояний между спектральными линиями (далее СЛ) в единичном спектре и между СЛ и интерференционными полосами (далее ИП), расположенными в смежных спектрограммах, спектроинтерферограммах протяженных длин (3 м и более)
Наверх