Способ контроля качества линз и объективов

 

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля качества линз и объективов в производстве, занятом их изготовлением , Цель изобретения - повышение чувствительности контроля за счет увеличения контраста интерференционных полос. На одной оси устанавливают диффузный рассеиватель. контролируемый объект и регистрирующую среду. Освещают объект через диффузный рассеиватель сходящейся сферической волной когерентного излучения и прошедшее излучение записывают на голограмму. После этого смещают рассеиватель и объект в одном и том же направлении в своих плоскостях и вновь записывают прошедшее излучение на голограмму. Путем пространственной фильтрации с помощью объектива формируют интерференционную картину, по которой осуществляют контроль качества. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5!)5 6 01 В 9/04, 11/24

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4711137/28 (22) 10.05.89 (46) 30.04.91. Бюл. ¹ 16 (71) Сибирский физико технический ститут им. В.Д. Кузнецова при Томском государственном университете им. В.В. Куйбышева (72) В.Г. Гусев (53) 531.717.8 (088.8) (56) Гусев В,Г, и Кондренчук Л.Н. — Иэв. вузов. Приборостроение, 1987, т. 30, ¹ 8, с. 57. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ЛИНЗ

И ОБЪЕКТИВОВ (57) Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля качества линз и

Изобретение относится к контрольно— измерительной технике и может быть использовано, в частности, для контроля качества линз и обьективов в производстве, занятом их изготовлением.

Целью изобретения является повышение чувствительности контроля за счет увеличения контраста интерференционных полос.

На чертеже изображена одна из возможных схем устройства, реализующего предлагаемый способ, Устройство включает когерентный источник света 1, светоделитель 2, зеркало 3. коллимирующую систему линз 4, 5, линзы 6, 7, матовое стекло 8 с механизмом 9 его сдвига, узел 10 крепления контролируемого объекта с механизмом 11 его сдвига, регистрирующую среду (фотопластинку) 12, Я2 1645809 А1 обьективов в производстве, занятом их изготовлением. Цель изобретения — повышение чувствительности контроля эа счет увеличения контраста интерференционных полос. На одной оси устанавливают диффузный рассеиватель, контролируемый объект и регистрирующую среду. Освещают обьект через диффузный рассеиватель сходящейся сферической волной когерентного излучения и прошедшее излучение записывают на голограмму. После этого смещают рассеиватель и объект в одном и том же направлении в своих плоскостях и вновь записывают прошедшее излучение на голограмму. Путем пространственной фильтрации с помощью обьектива формируют интерференционную картину, по которой осуществляют контроль качества. 1 ил. апертурная диафрагма 13 объектива 14 и регистратор интерферограммы 15.

Способ реализуется следующим образом, Когерентное излучение от источника 1 с помощью светоделителя 2 делится на два канала: канал формирования опорного пучка и объектный канал. В канале формирования опорного пучка излучение, отразившись от зеркала 3, расширенное колимирующей системой линз 4. 5, направляется на фотопластинку 12. В канале формирования объектной волны с помощью линз 6, 7 формируется фронт сходящейся сферической волны с радиусом кривизны в плоскости матового стекла 8, равным расстоянию 11 от него до главной плоскости контролируемого обьекта, помещенного в узел 10 крепления.

Расстояние I> выбирают из условия f

1i — где f фокусное расстояние контролируемого объекта, Записывают голограмму за время первой экспозиции. Перед второй экспозицией сдвигают матовое стекло 8 с помощью механизма 9 его сдвига и узел 10 крепления контролируемого объекта с помощью механизма 11 его сдвигна в одном направлении перпендикулярно оптической оси на вели, чины, удовлетворяющие соотношению

1! а = — Ь, где а — величина сдвина матового

f стекла 8; Ь вЂ” вели ина сдвиГа узла 10 крепления контролируемого объекта. После проявления и закрепления фотопластинки 12 восстанавливают голограмму и с помощью обьектива 14 с апертурной диафрагмой 13, установленных на расстоянии

f11

I = — 12 от голограммы, строят изоl1 — f бражение зрачка контролируемого объекта в плоскости регистратора интерферограммы 15 и регистрируют интерферограмму сдвига при проведении пространственной фильтрации с помощью апертурной диафрагмы 13, по которой осуществляют контроль качества исследуемого объекта.

По сравнению с прототипом предлагаемый способ позволяет повысить чувствительность контроля. Так как чувствительность контроля пропорциональна величине сдвига контролируемого объекта, то в предлагаемом способе выполнение условия f< 2f способствует увеличению величины сдвига.

Это объясняется тем, что в способе — прототипе с увеличением величины сдвига контролируемого объекта увеличивается требуемая величина сдвига матового экрана, следовательно, и величина сдвига между фронтами волны его освещения, что приводит к возрастанию частоты интерференционных полос, локализующихся в плоскости проведения пространственной фильтрации.

Это обстоятельство в свою очередь приводит к необходимости yMeíüøåíèÿ диаметра апертурной диафрагмы в плоскости пространственной фильтрации, а следовательно, к возрастанию размера спекла в плоскости регистрации интерферограммы, соответствующей контролируемому объек5

50 ту, Увеличение же размера спекла приводи к падению контрастности интерференцион ной картины. 8 предлагаемом способе при увеличении масштаба интерференционной картины, локализующейся в плоскости проведения пространственной фильтрации, увеличивается необходимый диаметр апертурной диафрагмы, следовательно, уменьшается размер спекла в плоскости регистраци,. что позволяет увеличить величину сдвига контролируемого объекта, -ем самым увеличить чувствительность контроля, Формула изобретения

Способ контроля качества линз и объективов, заключающийся в том, что устанавлиеаег на одной оси диффузный рассеиватель, контролируемый объект и регистрирующую среду. освещают контролируемый объект через диффузный рассеиватель сходящейся сферической волной когерентного излучения с радиусом кривизны ее фронта в плоскости рассеивателя, равным расстоянию от рассеивателя до главной плоскости контролируемого объекта, записывают на регистрирующей среде голограмму прош .дшего через контролируемый объект излучения, смещают в одном и том же направлении рассеиватель и контролируемый объект в плоскостях их размещения, записывают на той же регистрирующей среде голограмму прошедшего излучения и с помощ .-e объектива регистрируют при восстановлении двухэкспозиционной голограммы интерференционную картину, по которой судят о качестве контролируемого объекта отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности контроля, при установке расст яние I> от рассеивателя до главной плоскости контролируемого объекта и расстояние 12 от главной плоскости контролируемого объекта до регистрирующей среды выбирают из соотношений 1<1 < 2f, 12/(1! - f), где f— фокусное расстояние контролируемого объекта, а при регистрации интерференционной картины осуществляют пространственную фильтрацию с помощью апертурной диафрагмы объектива на расстоянии !от голограммы, удовлетворяющем соотношению

f l1

1= — 12

I) — f

1645809

Составитель В. Бахтин

Редактор 3. Ходакова Техред М.Моргентал Корректор М. Шароши

Заказ 1552 Тираж 395 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ контроля качества линз и объективов Способ контроля качества линз и объективов Способ контроля качества линз и объективов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам, позволяющим измерять рельеф поверхности, и может быть использовано для контроля качества обработки поверхности, контроля однородности тонких пленок, измерения толщины тонких пленок, исследования неоднородяостей показателя преломления

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптическом производстве для интерференционного технологического и аттестационного контроля оптических деталей и систем, в том числе с асферическими поверхностями, формирующих сферический волнлвой фронт

Изобретение относится к оптике, а именно к калибровке коноскопа поляризационного микроскопа по эталонному анзиотропному минералу, и может быть использовано при проведении минералого-петрографических исследований

Изобретение относится к конструкциям велотренажеров, используемых на спортивных базах, стадионах и велотреках

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к машиностроению и предназначено, в частности , для измерения параметров радиусных сопряжений поверхностей деталей

Изобретение относится к измерительной технике, к измерению размеров чувствительных площадок приемников электромагнитного излучения

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения рельефа поверхности объекта

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля вогнутых эллипсоидов и параболоидов с рабочей центральной зоной и большими относительными отверстиями

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы шлифованных и полированных сферических и ас-- ферическпх поверхностей

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля формы поверхности изделий для определения их отклонения от заданной

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в авиаи судостроении

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для контроля формы поверхности вогнутых асферических зеркал крупных телескопов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля крупногабаритных объектов, в частности в авиационной промышленности и судостроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть применено для проверки плоскостных фотошаблонов в микроэлектронике

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к способам определения геометрических параметров объектов и оптическим устройствам для осуществления этих способов
Наверх