Вакуумный дефектоскоп обнаружения непроклеев
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля (дефектоскопии) клееных изделий. Цель изобретения - уменьшение погрешностей и повышение достоверности контроля. Устройство устанавливается на участок контролируемой клееной поверхности, под чашей устройства создается вакуум. Зоны непроклея прижимаются к матрице светоприемников и затемняют светоприемники, находящиеся над зоной непроклея. Светоприемники координатно сопряжены со светоиндикаторами световой панели, устройство снабжено блоком электронной обработки сигналов. В качестве светочувствительного элемента использован фотодиод и/или фоторезистор. Изменение светового потока регистрируется светоприемником, сигнал с которого поступает на электронный блок. Дефектоскоп обеспечивает повышение достоверности обнаружения дефектов, в том числе дефектов малой площади. При диаметре чаши, равном D, может быть обнаружен дефект значительно меньших в Vm раз размеров за счет увеличения количества (т) светоприемников в полости чаши. 1 ил. Ј
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ 0с ОЧ Ъ 0л (Л К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 3913704/63 (22) 17.06.85 (46) 07.06.91. Бюл. hk 21 (72) П,В.Панченко, В.Е,Григорьев и С.В.Волков (53) 621.792.052 (088.8) (56) Ковальчук Л.M., Горбунов А.И. Контроль качества склеивания многослойных иэделий вакуумным методом. — М,: ГОСИНТИ, 1967, гв 2 — 67 — 105.20, с.б, (54) ВАКУУМНЫЙ ДЕФЕКТОСКОП ОБНАРУЖЕНИЯ НЕПРОКЛЕЕВ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля (дефектоскопии) клееных изделий, Цель изобретения— уменьшение погрешностей и повышение достоверности контроля. Устройство устанавливается на участок контролируемой клееной поверхности, под чашей устройства Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для обеспечения неразрушающегося контроля дефектоскопии клееных изделий. Цель изобретения — уменьшение погрешностей и повышение достоверности контроля, На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого дефектоскопа, Дефектоскоп включает корпус 1, пластину 2 для размещения светоприемников, матрицу 3 светоприемников, источники 4 света, световую панель 5, соединительный жгут 6 из электрических проводников, воздуховод 7 со штуцером для подключения к вакуумнОй линии и отключения от нее при помощи вентиля 8. Каждый из светоприемников матрицы 3 через блок 9 электронной обработки однозначно сопряжен с соответ,, Ж,, 1654650 А1 создается вакуум. Зоны непроклея прижимаются к матрице светоприемников и затемняют светоприемники, находящиеся над зоной непроклея. Светоприемники координатно сопряжены со светоиндикаторами световой панели, устройство снабжено блоком электронной обработки сигналов, В качестве светочувствительного элемента использован фотодиод и/или фоторезистор. Изменение светового потока регистрируется светоприемником, сигнал с которого поступает на электронный блок. Дефектоскоп обеспечивает повышение достоверности обнаружения дефектов, в том числе дефектов малой площади. При диаметре чаши, равном D, может быть обнаружен дефект значительно меньших в у ГП раэ размеров за счет увеличения количества (m) светоприемников в полости чаши. 1 ил, ствующим светоиндикатором на поле световой панели 5. Пластина 2 размещена вблизи выходного отверстия так, что между пластиной и контролируемой поверхностью образуется зазор, подсвечиваемый источниками 4 света, Дефектоскоп работает следующим образом. Установив корпус отверстием на контролируемую клееную поверхность и включив вакуум, наблюдают за показаниями светового индикатора. Если дефекты отсутствуют и клееная поверхность не отстает от конструкции детали, на световой панели индикаторы не светятся, Если имеется дефект, то обшивка отслаивается и приподнимается, устраняя зазор между отслоившейся поверхностью и светоприемником, Освещенность светоприемника падает, со, 1654650 При диаметре корпуса, равном О, может быть обнауужен дефект значительно меньших в Ч г11 раз размеров за счет увеличения количества (m) светоприемников в полости чаши. Использование предлагаемого дефектоскопа значительно улучшает технологичСоставитель А. Семин Техред М,Моргентал Корректор М. Пожо Редактор И. Шулла Заказ 1944 Тираж 392 Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул,Гагарина, 101 ответственно, уменьшается сигнал с затененного светоприемника. Сигнал усиливается в электронном блоке и преобразуется таким образом, чтобы на световой панели высвечивались световые индикаторы, сопряженные с затемненными светоприемниками. Количество чувствительных светоприемников выбирается исходя из требования выявления дефектов с заданными размерами— чем меньше размер выявляемого дефекта, тем больше светоприемников устанавливается нэ пластине. ность процесса контроля и повышает достоверность выявления дефектов и производительностьь контроля. Формула изобретения 5 Вакуумный дефектоскоп обнаружения непроклеев, включающий корпус в виде полой чаши с выходным отверстием, средство вакуумирования и индикатор непроклея, о т— л ича ющийс я тем, что, с цельюумень10 шения погрешностей и повышения достоверности контроля, индикатор непроклея выполнен в виде источников света, расположенных по внутренней боковой поверхности стенок чаши со стороны выходного 15 отверстия, пластины с полем светоприемников, обращенных светочувствительной поверхностью в сторону выходного отверстия, и световой панели с полем светоиндикаторов, каждый из которых координатно сопря20 жен с соответствующим светоприемником.
