Устройство для исследования фазовых объектов

 

Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к приборам для голографической интерферометрии. Цепь изобретения - увеличение точности измерений. В устройстве обработки голограмм между опорной и объектной голограммами установлен модулятор фазы световой волны, причем минимальная величина фазооой задержки модулятора A Imin п d, где п - показатель преломления модулятор.: d -- ero толщина, связана с сщей частотой Уна голограммах соотношением: Л Imin (iM - (Mf- 1) А/2, где Я- длина волны источника света. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕ.СКИХ

РЕСПУБЛИК

rsiis G 01 В 9/021

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЬ ТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4621802/25 (22) 19,12,88 (46) 15.06.91. Бюл,t+ 22 (71) Гродненский государственный университет (72) И.С.Зейликович, А.М,Ляликов и

Е.Л.Петровский (53) 772.99 (088.8) (56) Кулдышев В.П., Ракушин Ю.А. Гетеродинный метод регистрации и анализа голографических и спекл-интерферограмм:—

Прикладные вопросы голографии. Материалы XIV Всесоюзной школы по голографии, 1982, Лияф, с.123 — 127, Авторское свидетельство СССР

N 1368851, кл. G 03 Н 1/04, 1987, Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к приборам для голографической интерферометрии, Цель изобретения — увеличение точности измерений.

На чертеже представлена оптическая схема устройства.

Устройство содержит осветительную систему, включающую источник света 1, телескопическую систему, образованную отрицательной линзой 2 и положительной линзой 3, жидкокристаллический модулятор

4 фазы световой волны, опорную и объектную голограммы 5, 6 установленные последовательно, между которыми размещен жидкокристаллический модулятор 4.

Приемная система устройства включает телескопическую систему, образованную объективами 7, 8, узел фильтрующей диафрагмы 9, установленный в фокальной пло,» Ы .. 1656317 А1 (54) YCTP0li1CI В0 ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ

ФАЗОВЫХ ОБЪЕКТОВ (57) Изобретение относится к оптическому приборостроению, в частности к приборам для голографической интерферометрии.

Цель изобретения — увеличение точности измерений. В устройстве обработки голограмм между опорной и объектной голограммами установлен модулятор фазы световой волны, причем минимальная величина фазоаой задержки модулятора Л Imi> =

= и . d, где и — показатель преломления модулятор,";: d -- е о.. то",ùèíà,,связана с н.-о. щей частотой v на гологра:. мах соотношением: AImin(1/Й вЂ” (>) — ") =Л/ 2, гдеЛ— длина волны источника света. 1 ил. скости объектива 7, и матрицу фотоэлементов 10, которая оптически сопряжена с объектной голограммой. Матрица фотоэлементов 10 соединена с электронной системой 11 измерения разности фаз электрических сиг- О налов. (Я

Устройство работает следующим обра- О, зом. (л)

С помощью источника света 1 (например, гелий-неонового лазера) и телескопической системы формируется коллимированный пучок света и освещается голограмма 5 (например, опорная голограмма). На голограмме 5 свет дифрагирует в нулевой (пря- а мопрошедший пучок) и в первый (пучок, распространяющийся по нормали ). Дифрагированные пучки проходят жидкокристаллический модулятор 4 под различными углами, Жидкокристаллическим модулятором осуществляют модуляцию фазы перво1656317 ной точке интерференционной картины и в невозмущенной точке интерференционной картины, Применение жидкокристаллического модулятора фазы световой волны позволяет исключить вибрации и колебания узлов устройства тем самым, устранить вибропомехи и увеличить точность измерений. Устранение трущихся деталей в устройстве позволяет повысить эксплуатационную стойкость устройства, го и второго пучков света, причем минимальную величину фаэовой задержки определяют согласно выражению

Л Imin 1 = il/2, лограммах соотношением

1 — (Лм) где Л вЂ” длина волны излучения источника света.

Составитель А.Н.Королев-Коротков

Техред M,Moðãeíòàë Корректор О.Кравцова

Редактор В.Ковтун

Заказ 2044 Тираж 388 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 1Ц1 г где А — длина волны излучения источника света; A lmi> =- и d; n — показатель преломления жидкокристаллического модулятора; !

d — его толщина; v — несущая частота полос 10 на голограммах 5, 6.

Пучок света, дифрагированный на голограмме 5 в нулевой порядок, дифрагирует . на голограмме 6 (например, объектной голограмме) в первый порядок и распространя- 15 ется по нормали к голограмме 6. Второй пучок света, дифрагированный на голограмме 5 в первый порядок, дифрагирует на голограмме 6 в нулевой порядок и распространяется по нормали к голограмме 6, С 20 помощью объектива 7 и узла фильтрующей диафрагмы 9 выделяются пучки света, дифрагированные в первый и нулевой порядок дифракции на голограмме 6. Объективом 8 пучки света коллимируются и в плоскости 25 матрицы фотоэлементов 10 наблюдается интерференционная картина, освещенность в которой меняется во времени согласно закона модуляции фазы жидкокристаллического модулятора 4.Обычно фазу 30 модулируют так, чтобы освещенность интерференционной картины менялась по синусоидальному закону. Матрица фотоэлементов 10 преобразует световой сигнал в электрический, а с помощью электронной 35 системы 11 измерения разности фаз электрических сигналов измеряют разность фаз следования световых сигналов в произвольФормула изобретения

Устройство для исследования фазовых объектов, содержащее последовательно установленные осветительную систему, включающую источник света, телескопическую систему, опорную и объектную голограммы, и и рием ную систему, включающую телескопическую систему с узлом фильтрующей диафрагмы, матрицу фотоэлементов, соединенную с электронной системой измерения разности фаз электрических сигналов, о тл и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью увеличения точности измерений, между опорной и объектной голограммами установлен модулятор фазы световой волны, причем минимальная величина фазовой задержки модулятора Лl i„= n d, где и — показатель преломления модулятора; d — его толщина, связана с несущей частотой м полос на го

Устройство для исследования фазовых объектов Устройство для исследования фазовых объектов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения и контроля неоднородности прозрачных объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля плоскостности оптических деталей

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для записи голограмм на фототёрмопластике

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для неразрушающего контроля формы поверхности изделий для определения их отклонения от заданной

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения перемещений точек поверхности деформируемых непрозрачных объектов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров напряженно-деформированного состояния бандажированных валков

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения перемещений точек поверхности методом спекл-интерферометрии

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к двухэкспозиционной голографической интерферометрии, и может быть использовано при исследовании вибраций объектов, в том числе вращающихся, и других процессов

Изобретение относится к области оптических измерителей перемещений и может быть использовано для высокоточного бесконтактного интерференционно-голографического измерения перемещений объектов

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области бесконтактного оптического измерения формы поверхности оптических изделий, например, сферических и асферических зеркал или линз в условиях оптического производства и лабораторных исследований

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при контроле и испытаниях оптических изделий и исследованиях оптических неоднородностей в прозрачных средах, в частности в газодинамических и баллистических экспериментах, в широком спектральном диапазоне от вакуумного ультрафиолета до дальнего инфракрасного

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения напряженно-деформированного состояния магистральных газопроводов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может найти применение для бесконтактного определения рельефа поверхности, например, при контроле деталей на производстве, при исследовании различных физических и медико-биологических объектов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для определения перемещений методом голографической интерферометрии
Наверх