Способ контроля контактирования микросхем

 

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования микросхем в коммутирующих приспособлениях. Целью изобретения является расширение области применения за счет возможности контроля коммутационньк матриц, содержащих М рядов и N столбцов. Для достижения цели объединяют группы входных и выходных клемм для подключения объекта контроля в М рядов и N столбцов, соединяют электрические М выходы объекта контроля в каждом из N столбцов через резисторы между собой, к общей точке которых присоединяют первый выход суммирующего резистора столбца, второй вывод которого соединяют с нулевой точкой, подают входные воздействия последовательно на М рядов и параллельно на N столбцов, принимают падение напряжения на суммирующем резисторе столбца за суммарный информативный параметр, получают М-М информационных слов, содержащих N разрядов. 2 ил. с Ј (Л

СОЮЗ СОВЕтСНИХ

РЕСПУБЛИН (51)5 " О! к 31/ .

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

По ИЗОВ ЕтЕНИЯМ И <ЛНРЫтИЯМ

ГРИ ГННТ СССР (21) 4376889/21 (22) 10.02.88 (46) 15. 10. 91. Бюл. 1rr 38 (72) А.П.Воронов (53) 621. 317. 799 (088. 8) (56) Патент ФРГ Г - 2704783, кл, С 01 R 31/02, 1978.

Авторское свидетельство СССР

М 1594457, кл G 01 Г 31/28, 1987. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КОНТАКТИРОВАНИЯ

МИКРОСХЕМ (57) Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования микросхем в коммутирующих приспособлениях. Целью изобретения является расширение области применения эа счет возможности контроля

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования микросхем в коммутирующем приспособлении.

Целью изобретения является расши" рение области применения за счет возможности контроля коммутационных матриц, содержащих Г1 рядов и N столбцов.

Сущность способа поясняется на примере работы устройства, изображенного на фиг.1, временные диаграммы работы которого представлены на фиг,2, Устройство (фиг.1) содержит коммутационную матрицу 1, содержащую M

„„SU„„1684754 А 1

2 коммутационных матриц, содержащих

M рядов и N столбцов. Для достижения цели объединяют группы входных и выходных клемм для подключения объекта контроля в М рядов и N столбцов, соединяют электрические M выходы объекта контроля в каждом иэ N столбцов через резисторы между собой, к общей точке которых присоединяют первый выход суммирующего резистора столбца, второй вывод которого соединяют с нулевой точкой, подают входные воздействия последовательно на Г1 рядов и параллельно на Г1 столбцов, принимают падение напряжения на суммирующем резисторе столбца за суммарный информативный параметр, получают М+1 информационных слов, содержащих Ы разрядов. 2 ил. рядов и N столбцов,,клеммы для подключения объекта контроля 2, формирователь входных воздействий 3, блок

4 обработки и управления электронновычислительной машины, Г » N-резисторов 5,11-5.NM, N суммирул их резисторов 6. 1-6 ° N, N компараторов 7. 1-7.N, циФроаналоговый преобразователь (ЦАП) 8, выход которого соединен со

1 входом эталонного сигнала всех N компараторов 7, информационный вход которых соединен с общей точкой резисторов 5.11-5.NM и резисторов 6.1—

6.N, а выход — со входами блока 4 обработки и управления электронно-вычислительной машины (3BM), первые выходы которого соединены со входа1684754 ми цАП 8, а вторые — со входами формирователя входных воздей ствий

3, выходы которого соединены со входными клеммами для подключения объекта контроля. Вторые выводы резисторов 5 соединены между собой и с первыми выводами суммирующих резисторов 6. 1-6.N вторые выводы которых соединены с нулевой точкой устройства.

Устройство работает следующим абра эом.

20

Устанавливаются контролируемьte микросхемы в коммутационное устройство, задается 11 „на компараторы

7.1-7.N по входу эталонного сигнала от цифроаналогового преобразователя

8. Затем последовательно подаются входные воздействия на ряды микросхем от блока 4 через формирователь

3 (согласно временным риаграммай на фиг.2а,б,в), получают выходные

Реакции на выходных клеммах для порклю-25 чения объекта контроля (фиг.2, г, д..е,ж), на резисторах 6.1-6.N получают суммарный информативньФ параметр результата контроля N-столбца (дьиг, 2 э, и, к), который сравнивается на компараторах 7. 1-7.N с эталонным значением, результат сравнения с последних поступает на входы блока 4 обработки и управления ЭВМ, где они преобразуются в М+1 информационных N-раэряд35 ных слов, полученный массив информации анализируют и по результатам анализа судят о дефектных позициях в контактирукв1ем приспособлении.

Фор мула иэ обр е те ния

Способ контроля контактирования микросхем, в соответствии с котарым подают входные воздействия на клеммы для подключения объекта контроля, снимают выходные реакции, сравнивают полученный информативный параметр с эталонным, преобразуют результат контроля в N-разрядное слово, анализируют полученный массив информации, по результатам анализа судят о дефектных позициях в контактирующем приспособлении, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения эа счет возможности контроля коммутационных матриц, содержащих

М рядов и У ссттооллббццоовв, объединяют группы входных и выходных клемм для подключения объекта контроля в Y. рядов и N столбцов, соединяют электрические М выходы объекта контроля в каждом из N столбцов через Резисторы между собой, к общей точке которых присоединяют первый выхоп суммирующего резистора столбца, второй вывод которого соединяют с нулевой точкой, поцают входные воздействия последовательно на М рядов и параллельно на

N столбцов, принимают падение напряже .ия на суммирующем резисторе столбца за суммарный информативный параметр, получают М+ 1-информационных слов, содержащих N разрядов.

1j>g4>54 сигналы,мосх -11, Z-21, 2-Л сигналд. v/ñë 2-12,2-22,2- JZ

t сигналы,н/сх 2-13 2-23, 2-33

t х сигналь м/сх P-11, Г Р1

t мхсигналы и сх Г-Q, 2 -3Г

Р ксигнал м/сх 2Ю, 2-Л

t х.сигнал м/сх 2-Л х сигнал м/сх 2- 13 2-31 гнал но Вхсфе комааратора l-1

t уммарный сигнал ат мосх

2-11 2-12 2-13) у I . t гнал на бхаде компаратара 7-Г уммарныи сигнал жл м/сх

2-21, 2-22, 2-23) гнал на Входе камларагпора 7-.У цммщ)ный сигнал ат м/сл.

2-31 2- Уг, 2-Л) Iy

) ф

1 I g1

Составитель Е,Строкань

Техред Л.Сердюкова Корректор И.Эрдейи

Редактор Н. Каменская

Заказ 3506 Тирах Подпис ное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Иосква, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

Способ контроля контактирования микросхем Способ контроля контактирования микросхем Способ контроля контактирования микросхем 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к системам контроля радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля настройки и приемосдаточных испытаний цифровых, цифро-аналоговых и аналоговых узлов РЭА

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля и управления технологическими процессами изготовления двухканальных аналоговых усилителей на интегральных схемах

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля вентильных преобразователей, например, используемых на железнодорожном транспорте

Изобретение относится к контролю интегральных схем и может быть использовано для отбраковки дефектных ТТЛ интегральных схем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано для контроля качества полупроводниковых структур при производстве интегральных микросхем

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля работоспособности акустических извещателей и сигнализаторов

Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в системах автоматического контроля интегральных схем, а также цифровых блоков и устройств при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к радиоэлектронике , в частности к электроизмерительной технике

Изобретение относится к контролю контактных электрических соединителен

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может использоваться в устройствах ввода информации

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике

Изобретение относится к пайке соединений и может быть использовано при контроле качества монтажа печатных плат

Изобретение относится к области автоматики и контрольно-измерительной технике и может применяться для контроля интегральных схем и логических узлов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для контроля контактирования логических блоков с установками тестового контроля

Изобретение относится к технике неразрушающего контроля качества и прогнозирования надежности контактных соединений радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано преимущественно при контроле микроэлектронных приборов

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано для оценки качества контактных соединений при эксплуатации электрооборудования, в том числе судового

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для допускового контроля паяных соединений на печатных платах

Изобретение относится к технике связи и может использоваться для идентификации порта коммутационной панели, через который осуществляет соединение сетевое устройство
Наверх