Способ измерения диаметров малых отверстий
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машинои приборостроении при изготовлении миниатюрных подшипников, часовых камней, фильер и т.п. Цель изобретения - повышение точности и производительности измерений. На станке оптического прибора, например микроскопа, размещают прозрачную пластину с растровой шкалой и совмещают один из центральных штрихов шкалы с визирной линией прибора. Затем на пластину устанавливают деталь с измеряемым Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении и приборостроении, преимущественно при изготовлении миниатюрных подшипников, часовых камней, фильер и т.д. Известен способ измерения диаметров малых отверстий при помощи оптического прибора, заключающийся в том, что устанавливают деталь с измеряемым отверстиотверстием и наблюдают в поле зрения прибора изображения штрихов растровой шкалы, отраженные от поверхности измеряемого отверстия. Если штрих шкалы лежит в диаметральном сечении отверстия, то он отражается без искривления, т.е. его изображение остается прямолинейным, если штрих смещен относительно диаметрального .сечения отверстия, то изображение штриха искривлено в поле зрения, причем форма и величина искривления зависят от того, с какой стороны и на каком удалении относительно диаметрального сечения расположены штрихи. Совмещают прямолинейный отраженный штрих растровой шкалы с визирной линией прибора и определяют диаметр отверстия вдоль прямолинейного штриха. Повышение точности измерений достигается за счет того, что штрихи отражаются от цилиндрической поверхности изделия, а не от его кромки, а совмещение линии измерения с диаметральным сечением производится по объективному критерию: по форме отраженных штрихов. Центрирование по растровой шкале позволяет повысить точность измерений. 2 ил. ем на столик оптического прибора, находят диаметральное сечение отверстия, совмещают с ним визирную линию прибора и определяют диаметр отверстия. Недостатками известного способа являются невысокая точность измерений из-за кривизны цилиндрической поверхности отверстий , большая трудоемкость процесса измерений, обусловленная сложностью поиска диаметрального сечения отверстия. fe Ы vj СЛ О СО о CJ
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ
РЕСПУБЛИК
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ПАТЕНТУ М 4 (Л (21) 4844937/28 (22) 28.06.90 (46) 07.11,92. Бюл. N 41 (71) Научно-производственный кооператив "Индикатор" при Всесоюзном научно-исследовательском институте средств измерения в машиностроении (72) Г.Б.Кайнер (73) Научно-производственный кооператив "Индикатор" (56) Иванов А.Г. Измерительные приборы в машиностроении. M.: Издательство стандартов, 1981, с. 289-291. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИАМЕТРОВ МАЛЫХ ОТВЕРСТИЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано 8 машино- и приборостроении при изготовлении миниатюрных подшипников, часовых камней, фильер и т,п. Цель изобретения— повышение точности и производительности измерений. На станке оптического прибора, например микроскопа, размещают прозрачную пластину с растровой шкалой и совмещают один из центральных штрихов шкалы с визирной линией прибора. Затем на пластину устанавливают деталь с измеряемым Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении и приборостроении, преимущественно при изготовлении миниатюрных подшипников, часовых камней, фильер и т,д. Известен способ измерения диаметров малых отверстий при помощи оптического прибора, заключающийся в том, что устанавливают деталь с измеряемым отверсти. Ж 1775039 АЗ отверстием и наблюдают в поле зрения прибора изображения штрихов растровой шкалы, отраженные от поверхности измеряемого отверстия. Если штрих шкалы лежит в диаметральном сечении отверстия, то он отражается без искривления, т,е. его изображение остается прямолинейным, если штрих смещен относительно диаметрального сечения отверстия, то изображение штриха искривлено в поле зрения, причем форма и величина искривления зависят от того, с какой стороны и на каком удалении относительно диаметрального сечения расположены штрихи. Совмещают прямолинейный отраженный штрих растровой шкалы с визирной линией прибора и определяют диаметр отверстия вдоль прямолинейного штриха. Повышение точности измерений достигается за счет того, что илрихи отражаются от цилиндрической поверхности изделия, а не от его кромки, а совмещение линии измерения с диаметральным сечением производится по обьективному критерию: по форме отраженных штрихов. Центрирование по растровой шкале позволяет повысить точность измерений. 2 ил. ем на столик оптического прибора, находят диаметральное сечение отверстия, совмещают с ним визирную линию прибора и определяют диаметр отверстия. Недостатками известного способа я вляются невысокая точность измерений иэ-эа кривизны цилиндрической поверхности отверстий, большая трудоемкость процесса измерений, обусловленная сложностью поиска диаметрального сечения отверстия. 1775039 Цель изобретения — повышение точности и производительности измерений. Цель достигается тем, что перед установкой детали размещают на столике оптического прибора прозрачную пластину с растровой шкалой и совмещают один из центральных штрихов растровой шкалы с визирной линией прибора, устанавливают деталь на прозрачной пластине, наблюдают в поле зрения прибора изобретения штрихов растровой шкалы, отраженные от поверхности измеряемого отверстия, выбирают из совокупности наблюдаемых штрихов прямолинейный штрих, совмещают его с визирной линией прибора и определяют диаметр отверстия вдоль выбранного штриха, На фиг. 1 изображена принципиальная схема оптического прибора, реализующего предлагаемый способ; на фиг. 2 — вид совокупности изображений штрихов, наблюдаемых в поле зрения оптического прибора. Оптический прибор содержит источник .света 1, конденсор 2, столик 3, на котором размещают прозрачную пластину 4 с растровой шкалой 5 и деталь 6 с измеряемым отверстием 7, визирную сетку 8 и окуляр 9, Способ измерения диаметров малых отверстий осуществляется следующим образом. На столик 3 оптического прибора, например, универсального или инструментального микроскопа, размещают прозрачную пластину 4 с растровой шкалой 5 с мелким шагом, например, 20 мкм, таким образом, чтобы один из центральных (серединных) штрихов, шкалы 5 был совмещен с визирной линией визирной сетки 8, Это обеспечивает совмещение штрихов растровой шкалы 5 пластины 4 с линией измерения прибора, После этого на пластину 4 устанавливают деталь 6 с измеряемым отверстием 7, при этом в поле зрения окуляра 9 появляются отраженные изображения штрихов растровой шкалы 5 (фиг. 2). Это связано с тем, что, как правило, прецизионные отверстия имеют высокое качество обработки цилиндрической поверхности отверстия, благодаря чему такая поверхность имеет хорошие отражательные свойства. Поэтому от цилиндрической поверхности отверстия 7 (но не от фаски отверстия) отражаются штрихи растровой шкалы 5, при этом проявляется важное свойство; если штрих шкалы 5 лежит в диаметральном сечении отверстия 7. то штрих отражается без искривления; если штрих незначительно смещен относительно диаметрального сечения отверстия 7. то иэо бражение штриха искривлено в поле зрения, причем форма и величина искривле5 35 ния зависят от того, с какой стороны и на каком удалении лежат штрихи относительно диаметрального сечения, что позволяет точно и легко совместить центральный штрих растровой шкалы 5 с диаметральным сечением отверстия 7, так как во-первых, штрих, совмещенный с диаметральным сечением отверстия 7, отражается от поверхности отверстия 7 беэ искажения его формы, т.е, прямолинеен, во-вторых, по обе стороны от этого штриха лежат штрихи, концы которых изогнуты симметрично в разные стороны, что облегчает оценку именно того одного штриха, который совмещен с диаметральным сечением отверстия 7. После этого пластину 4 с деталью б перемещают таким образом, чтобы прямолинейный отраженный штрих растровой шкалы 5 совместился с визирной линией сетки 8, затем производят измерение диаметра отверстия 7 вдоль прямолинейного штриха шкалы 5. Данный способ измерения диаметров малых отверстий обеспечивает повышение точности измерений эа счет того, что штрихи отражаются от цилиндрической поверхности отверстия, а не от его кромки, а совмещение линии измерения с диаметральным сечением производится по объективному критерию: по форме отраженных штрихов. При необходимости точность измерения диаметра отверстий может быть повышена за счет применения растровых шкал с более мелким шагом. Центрирование по растровой шкале позволяет повысить производительность измерений, Формула изобретения Способ измерения диаметров малых отверстий при помощи оптического прибора, заключающийся в том, что устанавливают деталь с измеряемым отверстием на столик оптического прибора, находят диаметральное сечение отверстия, совмещают с ним визирную линию прибора и определяют диаметр отверстия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и производительности измерений, перед установкой детали размещают на столике оптического прибора прозрачную пластину с растровой шкалой и совмещают один из центральных штрихов растровой шкалы с визирной линией прибора, устанавливают де аль на прозрачной пластине, наблюдают в поле зрения прибора изобретения штрихов растровой шкалы, отраженные от поверхности измеряемого отверстия, выбирают иэ совокупности наблюдаемых штрихов прямолинейный штрих, совмещают его с визирной линией прибора и определяют диаметр отверстия вдоль выбранного штриха. 1775039 Составитель С.Грачев Техред М.Моргентал Корректор О,Кравцова Редактор С.Кулакова Заказ 3947 Тираж Подписное ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5 Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101
