Способ определения межэлементной неравномерности яркости свечения экрана электронно-лучевой трубки высокого разрешения

 

Назначение: испытание электронно-лучевых трубок. Сущность изобретения: осуществляют однострочную развертку электронного пятна на экране трубки при подаче на модулятор асинхронных с разверткой строки импульсов подсвета с длительностью , равной времени прохождения пятном одного элемента строки. При воспроизведении электрического сигнала на осциллографе подсвечивают участки осциллограммы, соответствующие максимальной яркости свечения возбужденного элемента строки. 3 ил. СО с

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИ1

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

О

О

О (21) 4871478/21 (22) 08.10.90 (46) 23.01.93. Бюл. N. 3 (71) Львовское конструкторское бюро "Эротрон" (72) Б.И,Вийтович, T.М.Дужий и Ю.В.Назарчук (56) Вишневский В.Н. и др. Измерение межэлементной неравномерности яркости мелкоструктурных катодолюминесцентных экранов, — Электронная техника, Серия 4, Электронно-лучевые и фотоэлектрические приборы. 1971, вып. 2, с, 110 — 114, Отраслевой стандарт ОСТ 11 335,818.683. Метод измерения ме>кэлементной неравномерности яркости экрана. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МЕЖЭЛЕМЕНТНОЙ НЕРАВНОМЕРНОСТИ ЯРКОСТИ СВЕЧЕНИЯ ЭКРАНА ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВОЙ ТРУБКИ ВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ

Изобретение относится к электронной технике; в частности, к измерениям светотех:;ичеСких параметров электронно-лучевых трубок высокого разрешения.

Межэлементная неравномерность яркости определяется неоднородностью структуры люминофорного покрытия экрана, соизмеримой с размерами электронного пятна, Известными способами межэлементная неравномерность яркости измеряется при однострочной развертке сфокусированного на экран электронного пятна, причем светящееся изображение строки преобразуется с помощью фоточувствительного элемента в электрический сигнал, который анализиру„„. Ы„„1790010 А1 (57) Назначение: испытание электронно-лучевых трубок. Сущность изобретения: осуществляют однострочную развертку электронного пятна на экране трубки при подаче на модулятор асинхронных с разверткой строки импульсов подсвета с длительностью, равной времени прохождения пятном одного элемента строки. При воспроизведении электрического сигнала íà осциллографе поДсвечивают участки осциллограммы, соответствующие максимальной яркости свечения возбужденного элемента строки. 3 ил. ется с помощью осциллографа, Известные способы позволяют осуществлять проверку электронно-лучевых трубок с люминофорами только короткого послесвечения, Целью изобретения является расширение области применения за счет получения возможности измерений параметров трубок с люминофорами длительного послесвечения, Поставленная цель достигается тем, что однострочную развертку электронного пятна осуществляют при подаче на модулятор трубки асинхронных с разверткой строки импульсов подсвета, длительность которых равна времени прохождения пятном одного элемента строки, а при воспроизведении

1790010

50

55 электрического сигнала от исследуемой строки на осциллографе выделяют(высвечивают) только те участки осциллограммы, которые соответствуют максимальной яркости свечения возбужденного пятном элемента строки, для чего подают на осциллограф дополнительные импульсы подсвета, сдвинутые относительно импульсов подсвета трубки на время возгорания люминофора, 10

На фиг, 1 .показана полная осциллограмма свечения одиночной точки люминофора длительного послесвечения, выделенной из строки импульсом подсвета, где: t> — тг — время возгорания люминофора; 72 - сз — время максимального свечения люминофора, которое должно быть высвечено; з — т4 — время послесвечения люминофора, На фиг, 2 показана осциллограмма из- 20 мерения межэлементной неравномерности яркости люминофора длительного послесвечения при реализации способа, где: 0мэ— размах сигнала помехи, обусловленной ме>кэлементной неравномерностью яркости; U<р — среднее значение размаха полезного сигнала. Пунктиром показан

"отсеченный" на осциллограмме участок

Формула изобретения

Способ определения межэлементной неравномерности яркости свечения экрана 35 электронно-лучевой трубки высокого разрешения, включающий однострочную развертку сфокусированного электронного пятна на экране трубки, преобразование светового сигнала от элемента строки в электрический 40 сигнал, воспроизведение и измерение электрического сигнала на экране осциллографа и оценку межэлементной неравномерности яркости, отличающийся тем, что, с целью расширения области применения за 45 счет трубок с люминофорами длительного электрического сигнала от послесвечения одной точки строки.

На фиг. 3 дана блок-схема установки для реализации способа, где: 1 — блок испытываемой трубки; 2 — генератор развертки строки; 3 — блок фоточувствительного элемента; 4 — осциллограф; 5 — генератор импульсов подсвета с линией задержки, Испытываемая трубка устанавливается в блок 1, юстируется в отклоняющей системе и фокусируется для достижения заданного размера электронного пятна, после чего включается генератор развертки 2 и устанавливается Требуемая длина строки, После этого включаются блок фоточувствительного элемента 3 и осциллограф 4. Затем включается генератор импульсов подсвета 5, который настраивается на длительность импульса в один элемент разложения строки, равный диаметру электронного пятна. Линия задержки генератора 5 настраивается для подачи дополнительных импульсов подсвета на осциллограф сдвинутых на время возгорания примененного в трубке люминофора. Преобразование в электрический сигнал изобра>кение элементов строки воспроизводится на экране осциллографа в виде характеристики, приведенной на фиг. 2. послесвечения, развертку электронного пятна осуществляют при подаче на модулятор трубки асинхронных с разверткой строки импульсов подсвета, длительность которых выбирают равной времени прохождения пятном одного элемента строки, а при воспроизведении электрического сигнала на осциллографе выделяют участки осциллограммы, соответствующие максимальной яркости свечения возбужденного элемента строки подачей на осциллограф дополнительных импульсов подсвета, сдвинутых относительно импульсов подсвета трубки на время возгорания люминофора, 1790010

Составитель Б.Вийтович

Реда кто р Т. Ш а го ва Техред М.Моргентал Корректор Н.Милюкова

Заказ 351 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101

Способ определения межэлементной неравномерности яркости свечения экрана электронно-лучевой трубки высокого разрешения Способ определения межэлементной неравномерности яркости свечения экрана электронно-лучевой трубки высокого разрешения Способ определения межэлементной неравномерности яркости свечения экрана электронно-лучевой трубки высокого разрешения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электронной технике, в частности к методам изготовления металлопористых катодов (МПК) для электронных приборов СВЧ

Изобретение относится к технологии из j готовления приэкранного фильтра для устройств отображения информации, Сущность: перед металлизацией осуществляют равномерное натяжение нитей сетеполотна, а измеряемую величину плотности тока в процессе металлизации выбирают из интервала 0,5-12,0 А/дм2

Изобретение относится к устройствам передачи движения различным исполнительным механизмам в герметизированный объем

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в процессе ресурсных испытаний газоразрядных ламп (ГЛ) при их производстве и эксплуатации

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при изготовлении карбидированных катодов

Изобретение относится к устройству для впаивания и конкретно, касается устройства для впаивания электронного прожектора для фиксированного впаивания электронного прожектора в горловину баллона электронной лучевой трубки
Изобретение относится к способам безотходной переработки люминесцентных ламп

Изобретение относится к способам восстановления деталей от бывших в употреблении горелок натриевых ламп высокого давления для повторного их использования

Изобретение относится к испытаниям электровакуумных приборов, в частности к электрическим испытаниям высоковольтных мощных титронов в импульсных квазидинамических режимах, и может найти применение при разработке и производстве мощных электровакуумных приборов
Наверх