Двухкристальный монохроматор синхротронного рентгеновского излучения

 

Двухкристальный монохроматор синхротронного рентгеновского излучения, содержащий основание с опорной базовой плитой, платформу, снабженную осью наклона и двумя взаимно перпендикулярными направляющими линейного перемещения с установленными на них входными и выходными кристаллодержателями для кристаллов-монохроматоров, отличающийся тем, что, с целью ускорения юстировки и повышения радиационной безопасности, устройство содержит дополнительную платформу, установленную под основанием с возможностью поворота по ней основания вокруг вертикальной оси с помощью привода, узел наклона основания относительно горизонтальной оси, параллельной оси наклона платформы, выполненной в виде регулируемой по высоте опоры с приводом, направляющую линейного перемещения дополнительной платформы в направлении, параллельном оси наклона платформы, входное щелевое устройство, юстировочную щель и детектор излучения, установленные за входным щелевым устройством на одной оси с ним.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике и технологии обработки микроструктур и может быть применено в производстве изделий микроэлектроники

Изобретение относится к технической физике и предназначено для формирования квазипараллельных пучков рентгеновского излучения

Изобретение относится к способам изготовления фокусирующих кристаллов-анализаторов из монокристаллов гидрофталатов щелочных металлов

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано в рентгенографических исследованиях, а также в экспериментальной физике

Изобретение относится к устройствам управления рентгеновским излучением и может применяться в рентгеноспектральном и рентгеноструктурном анализе, рентгеновской микроскопии и астрономии

Изобретение относится к области рентгеновской оптики и позволяет получить монохроматический пучок рентгеновских лучей, коллимированный в двух взаимно перпендикулярных плоскостях с расходимостью порядка угловой секунды

Изобретение относится к области рентгенотехники и может использоваться для получения резонансных монохроматических пучков рентгеновского излучения

Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрической аппаратуре для анализа кристаллических веществ

Изобретение относится к рентгенодифракционному анализу приповерхностных слоев монокристаллов и может быть использовано для анализа воздействий на образец различных технологических процессов

Изобретение относится к области рентгеноструктурного анализа твердых тел пентинодифракционными методами

Изобретение относится к способам рентгеноструктурного анализа объектов с неоднородной текстурой

Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрии

Изобретение относится к технике точного спектрального приборостроения

Изобретение относится к рентгеновской дифрактометрической аппаратуре для исследования монокристаллов

Изобретение относится к области металловедения и физики металлов, в частности к определению характеристик деформируемости металлов
Наверх