Импульсная голографическая установка

Авторы патента:

ХЕСИН ГЕННАДИЙ ЛЬВОВИЧ

САХАРОВ ВЛАДИМИР НИКОЛАЕВИЧ

ЖАВОРОНОК ИГОРЬ ВЛАДИМИРОВИЧ

ЕВСЕНЕВ ВИКТОР СЕМЕНОВИЧ

ХЕ ВАЛЕРИЙ ИКИЧ

G01B9/04 - измерительные микроскопы (микроскопы вообще G02B 21/00)

Изобретение относится к исследованию динамического напряжённо-деформированного состояния сооружений и конструкций методом фотоупругоети. Цель изобретения - повышение производительности исследований за счет получения голограммы для трех моментов времени при одном импульсном воздействии на обьект с одной экспозиций. Установку включает чё- Тырехимпульсный источник света и три оптических затвора в опорных пучках, после каждого из которых установлено по одному расширителю. Оптические затворы управляются через схему диодной развязки синхронизирующим устройством, связанным с импульсным источником света и устройст- . вом Динамического воздействия на объект. Через заданные задержки времени производится экспонирование фотопластинки, После проявления и закрепления которой получают голограмму волновых процессов для трех заданных моментов времени, 2 ил. ел С

. Я2 1796893 А1

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) (sl)s G 01 В 9/04

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Изобретение относится к области исс- . напряжения, приложенного к пьезокерамиледования динамического напряженно-де- ческаму основанию одного из зеркал. Устаформируемого состояния сооружений и . навка обладает несколькими недостатками, конструкций методОм фатоупругости.. главными из которых .являются неадекватИзвестна киноголаграфическая уста- ность восстановленного изображения фикнавка, основанная на применении световых сируемаму предмету и сложность создания линий задержки. Установка предназначена .многаимпулъснаго ступенчатога напряжедля высокаскорОстной регистрации быстро- ния. воздействующего на пьезокристалл инпротекающих процессов с интервалом меж--. терфераметра ФАБРИ-ПЕРО. ду кадрами. около 40 нс и не может быть Наиболее близким является двухим-: испальзована для регистрации процессов в пульсная голографическая установка для испределах10-500мкс. Кроме тога.установка следования быстропротекающих сложна в настройке и требует больших пла- процессов. Содержащая два маноимпульсщадей для установки оптической линии за- ных источника света. связанных синхранидержки (да 20 м в длину). зирующим устройствам, поляризацианный

Известна мнагокадравая голографиче- и два обычных светаделителя, оптические ская система регйстрации быстропротекаю- элементы для формирования предметного и щих процессов, основанная на принципе: двух опорных пучков, направленных на фоформирования динамического опорного топластину (ФП). пучка с помощью интерфераметра ФАБРИ-: Недостаткам известной установки являПЕРО, база которого изменяется путем из- ется низкая точность и производительность мененйя, величины импульсного из-за невозможности получения голограмм

1 (21) 4884759/28 (22) 20.12.90 (46) 23,02.93. Бюл. М 7 (71) Московский инженерно-строительный институт им, В.B.Куйбышева (72) Г.Л.Хесин, B.Н.Сахаров, И.В.Жаворонок, В.С.Евсенев и В.И.Хе .(56) Power Erign. Sec., Юп ег Meet, New-)ой, Лап. 30 вЂ” Feb, 4. 1972, рр. 7,1-7.8, (54) ИМПУЛЬСНАЯ ГОЛОГРАФИЧЕСКАЯ

УСТАНОВКА (57) Изобретение относится к исследованию динамического напряженно-деформированного состояния сооружений и конструкций методом фотоупругости. Цель . изобретения вЂ” повышение произвадитель2 ности исследований за счет получения голограммы для трех моментов времени при одном импульсном воздействии йа объект с одной экспозиции, Установка включает четырехимпульсный источник света и три оптических затвора в опорных пучках, после каждого из которых установлено по одному расширителю. Оптические затворы управ-. ляются через схему диодной развязки синх- ронизирующим устройством, связанным с импульсным источникам света и устройст. вом динамического воздействия на объект..

Через заданные задержки времени производится экспонирование фотопластинки. после проявления и закрепления которой получают голограмму волновых процессов . Б для трех заданных моментов времени. 2 ил.

1796893 для трех и более моментов времени при мического воздействия на объект c блока одном импульсном воздействии на объект, синхронизации 11 через диодную развязку: э также высокая стоимость установки из-за 1.2 подаются. управляющие импульсы íà описпользования двух импульсных источни- тическиезатворы7,8,9. ков света, 5 . Таким образом осуществляется первая

Целью изобретения является йовыше- экспозиция фотопластины 5 одновременно ние точности и производительности уста- с динамическим воздействием на объект.4, новки за счет получения голограмм для трех когда волна только начала свое перемеще. моментов времени при одной экспозиции и ние к исследуемой области. одном импульсном воздействии на объект и "0 Через заданное время задержки с блока снижение ее стоимости за счет сокращения .. синхронизации поступает управляющий им- . числа дорогостоящих иМпульсных источни-: пульс нз источник света 1 и через развязку ков света, .: .: 12 на оптический затвор 7, осуществляя втоУказэннзя цель достигается тем, что в рую экспозицию фотопластины 5, когда волимйульсную голографическую установку 15 на уже вошла в исследуемую зону объекта, для .динамических исследований, содержа- .Через заданную задержку времени прихо-. щей импульсный источник света поляризэ- . дит третий импульс нз источник Света 1 от ционный и обычйый светоделители, блокаСинхронизэцийичерездиоднуюразоптические элементы, фотопластинку и блок . вязку 12 поступает на оптический затвор 8, . синхройизэции дОполйительно устэновле 20 ОсущестВляя третbio зкспОзифФ» фотсиыаа- . йы после светоделителя в опорном пучке два стины 5 и с приходом четвертого импульса полупрозрачных и одно обычное зеркало, от блока синхронизации11 через время за.после каждого из которых перед расшири-: держки йа источник.света1 ичерездиодную телями установлены ячейки Поккельса c nci- развязку 12 на оптическйй затвор 9 осуще-,. ляроидами; причем ячейки Поккельса 25 ствляется четвертая зксйоэиция фотопласвяэайы через диоды и синхрониэирующее стины 5, устройство с оптическим затвором много- .: 8 результате нз фотоплзстине после

@мпульсного источника света,, ..., проявления и закрепления получаем голо-

На фиг.1. и 2-изображена предлагаемая . граммы волновых процессов для трех заданустановка.: ......, . 30 ных моментов времени. .На фиг.2 представлена блок-схема им- Экспериментальные исследования заЙульсной голографической установки для являемой импульсной голографической усисследования динамического напряженно- та новки . показами, что точность деформируемого состояния сооружений и исследования напряжений в обьекте увеликонструкцийметодомфотоупругости. 35 чилась эа счет получения голограмм для

Устайовхз содерЖит четырехимпульс- трех моментов времени нз 15% по сравне- ныйисточниксветэ1,светоде.-ители2, кол-, нию с протОтипом, производительность в лиматор 3, исследуемый обьект 4, три раза, а стоимость установки уменьшифртоплэстинку 5, зеркало б, оптические зэ- лась нэ 30%. творы, включающие в себя ячейку Поккель- 40, се и поляроид 7,8,9, расширители 10, блок . Ф о р мул а и э о бр е те н и я синхронизации 11, диодную развязку 12 и: Импульсная голографическая установка устройство:динамического воздействия на для динамических исследований, содержэисследуемых объект 13..: . щая импульсный источник света, располоУстанОвка работает следующим обра- 45 женный по ходу излучения светоделитель, зом.: . установленные по ходу одного иэ рззделенПервзя экспозиция фотопластины 5 - ныхпучков света держательобъекта и фотопроизводится первым световым импульсом пластинку, установленные по ходу другого вертикальной поляризации от источника . иэ разделенных пучков света зеркало и рассвета 1, возбуждаемого импульсом от блока 50 ширитель пучка, и блок синхронизации, о тсинхронизации 11, одновременно с подачей л.и ч з ю щ а я с я тем, что, с целью повышеимпульса через устройство динамического ния производйтельности исследований, она воздействия 13 на объект исследования 4.. снабженадвумяполупроэрачньичиэеркалаПризтомчэстьсветовогопучкачерезсве- ми, расположеннйми последовательно по делители 2, зеркало 6, оптическйе затворы ® ходу излучения между светоделителем и

7, 8, 9 и расширители 10 в качестве трех зеркалом тремя дополнительными расши.опорныхпучковвертикальной поляризации рителями пучка, установленными по ходу также поступают на фотоплзстину 5, При пучков, отраженных соответственно от перэтом одновременно с первым световым им- ного и второго полупрозрачных зеркал, трепульсом источника света и импульсом дина- . мя оптическими затворами, размещенными

1796893 йС1

Составитель Г, Хесин

Техред М,Моргентал Корректор С. Шекмар

Редактор Т. Иванова

Заказ 643 Тираж . Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина; 101 по ходу излучения между соответственно зеркалами и расширителями пучков и вы,полненными в виде ячейки Поккельса и по. I

6 ляроида, входы которых электрически свя-заны с блоком синхронизации, а источник света выполнен четырехимпульсным,

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля размеров деталей в процессе их изготовления, а также для измеренных деформации деталей (образцов ), находящихся под нагрузкой

Фотоэлектрическое устройство для наведения на границу света и тени // 1758418

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в ковровом производстве текстильной промышленности

Способ определения величины износа рабочих поверхностей зубчатых колес // 1702174

Изобретение относится к измерительной технике, к определению износа рабочих поверхностей зубчатых колес различных машин и механизмов

Голографический интерферометр // 1651092

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для получения топографических интерферограмм, и может быть использовано при изучении объектов, испытывающих температурное нагружение

Способ контроля качества линз и объективов // 1645809

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для контроля качества линз и объективов в производстве, занятом их изготовлением , Цель изобретения - повышение чувствительности контроля за счет увеличения контраста интерференционных полос

Дифференциальный оптический сканирующий микроскоп // 1629751

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам, позволяющим измерять рельеф поверхности, и может быть использовано для контроля качества обработки поверхности, контроля однородности тонких пленок, измерения толщины тонких пленок, исследования неоднородяостей показателя преломления

Измерительный микроскоп для контроля качества оптических деталей и систем // 1580159

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптическом производстве для интерференционного технологического и аттестационного контроля оптических деталей и систем, в том числе с асферическими поверхностями, формирующих сферический волнлвой фронт

Способ получения интерферограммы вращающегося объекта // 1568678

Фотоэлектрическое устройство для наведения на границу света и тени // 1462099

Способ калибровки коноскопа поляризационного микроскопа // 1354032

Изобретение относится к оптике, а именно к калибровке коноскопа поляризационного микроскопа по эталонному анзиотропному минералу, и может быть использовано при проведении минералого-петрографических исследований

Способ оптической томографии трехмерных микрообъектов и микроскоп для его осуществления // 2145109

Микроскоп сравнения (варианты) // 2190246

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при сравнительном анализе объектов, в частности для идентификационных исследований в области криминалистики

Бесконтактный способ измерения линейных размеров, износа и устройство для его осуществления // 2252394

Изобретение относится к бесконтактным способам измерения линейных размеров, износа, а также к устройствам для их осуществления

Способ устранения ошибки увеличения отсчетного микроскопа // 2024822

Устройство обнаружения скрытых объектов // 1840514

Изобретение относится к области спецтехники и может быть использовано для обнаружения и опознавания скрытых объектов по тепловому излучению в полевых условиях как в дневное, так и в ночное время

Способ формирования изображения микрообъекта (варианты) и устройство для его осуществления (варианты) // 2525152

Изобретение относится к микроскопии. Согласно способу формирование изображения микрообъекта реализуют при помощи конфокального сканирующего микроскопа. При этом в процессе фокусировки излучения на плоскость исследования и в процессе фокусировки излучения на приемной щелевой диафрагме обеспечивают изменение размеров дифракционного максимума изображения каждой точки в плоскости фокусировки, сужая его в одном направлении по отношению к другим направлениям. Производят дополнительное сканирование исследуемого микрообъекта в нескольких различных направлениях, одновременно регистрируя координаты перемещения исследуемого микрообъекта и фотоэлектрические сигналы. Ориентацию направления сужения дифракционного максимума и щелевых диафрагм оставляют неизменной относительно направления сканирования. Производят совместную электронную обработку фотоэлектрических сигналов, зарегистрированных в первичном и дополнительных направлениях сканирования, и соответствующих им координат перемещения исследуемого микрообъекта. Технический результат - улучшение детализации (повышение разрешения) изображения исследуемого микрообъекта. 4 н. и 16 з.п. ф-лы, 4 ил.

Система и способ для связанной со временем микроскопии биологических организмов // 2548597

Изобретение относится к микроскопии отдельных биологических организмов в жидком образце. Изображения, на которых могут быть идентифицированы отдельные биологические организмы, объединяют для создания наборов оптических срезов биологических организмов, и наборы оптических срезов анализируют для определения значения по меньшей мере одного параметра, описывающего микробную активность указанного отдельного биологического организма в каждом контейнере для образца. Техническим результатом является уменьшение времени исследования, повышение надежности и экономической эффективности результата. 2 н. и 23 з.п. ф-лы, 23 ил.

Многоканальный конфокальный микроскоп (варианты) // 2574863

Микроскоп содержит осветительный блок, в котором из коллимированного света формируется квадратная матрица лучей дифракционным оптическим элементом, фокусирующим эти лучи в плоскость матрицы конфокальных диафрагм и направляющим их через светоделительный кубик, модуль сканирования и фокусирующую оптику на объект. Отраженные от объекта лучи возвращаются в обратном направлении, отклоняются кубиком и попадают в регистрирующий блок на матрицу фотодетекторов через дополнительную матрицу конфокальных диафрагм, модуль сканирования и фокусирующую оптику. Модуль сканирования содержит две преломляющие плоскопараллельные пластины, установленные на ортогональных осях роторов. Движение пластин синхронизировано с движением пластин аналогичного модуля сканирования регистрирующего блока. Во втором варианте дифракционный оптический элемент фокусирует световые лучи в плоскость матрицы диафрагм через светоделительный кубик, а отраженные от объекта лучи отклоняются кубиком и попадают на матрицу фотодетекторов через светофильтр, модуль сканирования и фокусирующую оптику. Технический результат - устранение эллиптичности сечения лазерного луча и упрощение конструкции при сохранении высокого разрешения и точности. 2 н.п. ф-лы, 7 ил.

Лазерный автоколлимационный микроскоп // 2630196

Микроскоп может быть использован при юстировке оптических систем, а также для контроля погрешностей центрирования линз. Микроскоп содержит два измерительных канала. Первый канал содержит размещенные по ходу луча источник излучения с длиной волны λ1, первый коллимирующий объектив, первый светоделитель, в отраженных лучах которого расположены первый спектроделитель и фокусирующий объектив, в предметной плоскости которого расположена контролируемая поверхность. В преломленных лучах первого светоделителя в обратном ходе от контролируемой поверхности расположен первый объектив и первый многоэлементный приемник излучения. Второй канал состоит из источника излучения с длиной волны λ2 и размещенных по ходу луча второго коллимирующего объектива, второго спектроделителя, в отраженных лучах которого расположен второй светоделитель, а в преломленных лучах в обратном ходе от контролируемой поверхности расположен второй объектив и второй многоэлементный приемник излучения. В отраженных лучах второго светоделителя расположен первый спектроделитель. Технический результат - возможность высокоточных угловых и линейных измерений на одном приборе и минимизация габаритов. 22 з.п. ф-лы, 9 ил.