Сканирующий туннельный микроскоп

 

Использование: сканирующий туннельный микроскоп относится к электронным приборам для исследования физических свойств поверхностей твердых тел с разрешающей способностью порядка размеров атома. Сущность изобретения: микроскоп содержит станину, узел позиционирования образца и узел перемещения измерительной иглы, один из которых включает три, а другой один трубчатый пьезодвижитель. Пьезодвижитель узла перемещения иглы и по крайней мере один пьезодвижитель узла позиционирования образца выполнены с возможностью пошагового изменения своей высоты путем введения упругоподжатых инерционных подвижных штоков, которые могут быть выполнены в виде кварцевых трубок с опорными винтами. Корпуса пьезодвижителей целесообразно выполнять в виде стаканов с поперечными прорезями, симметрично расположенными по окружности и последовательно сдвинутыми по высоте стакана. 6 ил. (/

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)л Н 01 J 37/285

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 4

О 4 а ф

О (21) 4806273/21 (22) 27.03.90 (46) 23,02,93. Бюл. М 7 (71) Институт физических проблем АН СССР (72) В,С.Эдельман, В,Э,Григоров, И.И.Смольянинов, А.П.Володин и М.С,Хайкин (56) Авторское свидетельство СССР

M 1453475, кл. Н 01 J 37/26, 1989.

Besocke К. An easily operable зсапп1пц

tunneling microscope.,— Surface Science.

1987, 181, р.145 — 153. (54) СКАНИРУЮЩИЙ ТУННЕЛЬНЫЙ МИКРОСКОП .(57) Использование: сканирующий туннельный микроскоп относится к электронным приборам для исследования физических свойств поверхностей твердых тел с разреПредполагаемое изобретение относится к электронным приборам, предназначенным для исследования фиэических свойств поверхностей твердых тел с разрешающей способностью порядка размеров атома.

Известны сканирующие туннельные микроскопы, в которых применяются различные пьезоэлементы. например, микроскоп Биннигэ и Рорера; микроскоп Хайкина, Наиболее близким к заявляемому устройству по технической сущности и достигаемому результату (прототипом} является сканирующий туннельнцй микроскоп, содержащий станину с закрепленными на ней узлом позиционирования образца в виде трех независимых трубчатых пьезокерамических двухкоординатных движителей и уз„„5U„„1797149 А1 шающей способностью порядка размеров атома. Сущность изобретения; микроскоп содержит станину, узел позиционирования образца и узел перемещения измерительной иглы, один из которых включает три, а другой один трубчатый пьезодвижитель.

Пьезодвижитель узла перемещения иглы и по крайней мере один пьезодвижитель узла позиционирования образца выполнены с возможностью пошагового изменения своей высоты путем введения упругоподжатых инерционных подвижных штоков, которые могут быть выполнены в виде кварцевых трубок с опорными винтами. Корпуса пьезодвижителей целесообразно выполнять в виде стаканов с поперечными прорезями, симметрично расположенными по окружности и последовательно сдвинутыми по высоте стакана. 6 ил. лом перемещения по трем взаимно перпендикулярным координатам измерительной иглы, выполненным в виде пьезбтрубки, на верхнем торце которой размещена игла.

Этот микроскоп позволяет позиционировать образец в горизонтальной плоскости и сканировать выбранное место на поверхности образца площадью порядка 1 мкм с разрешающей способностью порядка размеров атома.

Недостатком прототипа является его

f функциональная ограниченность, заключающаяся в том, что максимальные высоты сканируемых выступов на исследуемых участках поверхности образца не должны превышать 3 мкм. Сканирование более высоких выступов на микроскопе-прототипе невоз1797149 можно. Такое функциональное ограничение диапазона измерений высот выступов является основным недостатком прототипа, который сочетается со вторым его недостатком . невозможностью проведения сканирования с прежним разрешением поверхностей тех образцов, масса которых превышает 5 г.

Первый недостаток обусловлен тем, что максимальная деформация пьеэотрубки составляет порядка нескольких микрометров, а измерительная игла относительно нее жестко фиксирована.

Второй недостаток обусловлен тем, что жесткость конструкции прототипа не может быть произвольно повышена, поскольку при увеличении массы конструкции, ее собственная частота колебаний уменьшается, что отрицательно сказывается на разрешающей способности микроскопа. 20 в центре станины трубчатого пьезодвижителя с закрепленной на его верхнем торце 40 измерительной иглой, согласно изобрете- . нию, узел позиционирования образца дополнительно содержит кольцо для крепления образца, а верхняя часть одного из трех его пьеэодвижителей конструктивно 45 ля иглы и выполнена в виде опирающейся .своим кольцеобразным выступом на верхний торец пьезотрубки втулки, в которой размещена кварцевая трубка с вставлен- 50 ным в нее нерезьбовой частью опорным стенке втулки на кварцевую трубку опирается пластинчатая пружина, à в нижней части 55 пьезодвижителя иглы предусмотрена опирающаяся на нижний торец гайки изолирующая втулка, удерживаемая цилиндрической пружиной. Все четыре трубчатые пьезодвижитеЦелью изобретения является ликвидация указанных недостатков прототипа, а именно, расширение его функциональных возможностей путем использования принципа инерционных шаговых движителей как в узле позиционирования образца, так и в узле перемещения измерительной иглы., Указанная цель достигается тем, что в заявляемом сканирующем туннельном микроскопе, содержащем станину с закрепленными на ней узлом позиционирования образца в виде трех независимых трубчатых пьезодвижителей с закрепленными опорными шариками на их верхних торцах и узел перемещения по трем взаимно перпендикулярным координатным осям измерительной иглы, выполненный в аиде расположенного совпадает с верхней частью пьеэодвижитевинтом и зафиксированным гайкой в его реэьбовой части. Через отверстие в боковой ля зажаты в металлические стаканы с

35 поперечными прорезями. выполненными в их боковой цилиндрической поверхности.

На фиг,1 схематически, в аксонометрии, вне масштаба и с условно поднятым кольцом для крепления образца (для удобства изображения) приведена конструкция заявляемого микроскопа (общий вид); на фиг.2— плоская проекция в разрезе по осисимметрии двухкоординатного пьезодвижителя; на фиг,3 — аналогичная проекция трехкоординатного пьезодвижителя; на фиг,4 — аналогичная проекция " центрального пьезодвижителя, предназначенного для позиционирования измерительной иглы; на фиг.5- вне масштаба четыре пьезодвижителя, рассеченные горизонтальной плоскостью, (Детали, размещен ные в пьезотрубках для удобства изображения на чертеже не показаны); на фиг.6 — принципиальная электрическая блок-схема управления CTM.

Конструкция заявляемого туннельного микроскопа состоит из станины 1 (фиг.1), представляющей собой плоский титановый диск, на котором укреплены на равных расстояниях (порядка 2 см) от центра и расположенных на радиусах, составляющих между собой углы 120О, два двухкоординатных пьеэодвижителя 2 и один трехкоординатный пьеэодвижитель 3. На верхних торцах всех трех пьезодвижителей размещены опорные шарики 4, на которые опирается кольцо 5 с закрепленным на нем исследуемым образцом 6, В центре станины

1 установлен центральный пьезодвижитель

7, выполняющий функции узла перемещения потрем взаимно перпендикулярным координатным осям измерительной иглы 8.

Двухкоординатный пьезодвижитель 2 (фиг,2) представляет собой пьеэокерамическую трубку 9, заключенную в титановый корпус, состоящий иэ основания корпуса 10 и ввернутого в него стакана 11. Основание корпуса 10 в своей нижней части имеет цилиндрический хвостовик с резьбой, при помощи которого пьезодвижитель крепится в соответствующем отверстии станины 1. На внутренней и внешней цилиндрической поверхности пьезотрубки 9 нанесено токопроводящее покрытие. Причем такое покрытие на внешней поверхности пьеэотрубки для осуществления возможности трехмерного перемещения образца выполнено в виде трех изолированных секторов а,Ь и с (фиг.5).

Боковая цилиндрическая поверхность стакана 11 имеет три прорези в горизонтальных плоскостях шириной 0,5 мм, верхняя иэ которых расположена на расстоянии 5 мм от верхнего торца стакана, а вторая и третья прорези расположены ниже на расстояниях

1,5 и 3 мм от первой прорези соответствен1797149 но. Длина каждой прорези равна 140 дуговых градусов. а оси их симметрии расположены друг относительно друга под углами

120О. Эти прорези уменьшают жесткость боковой поверхности стакана 11 и таким образом позволяют деформировать жестко сопряженную с ним пьезотрубку 9 в любом направлении при подаче напряжения на ее тонкопроводящее покрытие, Приводимые размеры прорезей были подобраны экспериментально и зависят от физических свойств материала стакана 11.

Трехкоординатный пьезодвижитель 3 (см. фиг.3) также представляет собой пьезокерамическую трубку 9, заключенную в титановый корпус, состоящий из основания корпуса 12 и ввернутого в него стакана 13.

Боковая цилиндрическая поверхность стакана 13 имеет точно такие же прорези, как и соответствующая поверхность стакана 11, которые выполняют те же функции. На верхний торец пьеэокерамической трубки 9 опирается своим кольцеобразным выступом втулка 14, в которой размещена кварцевая трубка 15. Через изолирующую прокладку 16 в кварцевую трубку 15 своей нереэьбовой частью вставлен опорный винт

17, который фиксирован гайкой 18. На боковой поверхности втулкй 14 закреплена пластинчатая пружина 19, которая через отверстие в боковой стенке втулки 14 опирается на кварцевую трубку 15. Применение пластинчатой пружины в данной конструкции обусловливается необходимостью увеличения силы трения при перемещении кварцевой трубки 15 относительно втулки

14, что в свою очередь диктуется выбором оптимальных условий для осуществления шагового перемещения движущейся части (детали 4, 15, 16, 17, 18) данного пьеэодви-. жителя.

Конструкция центрального пьезодвижителя 7 (фиг,4) полностью совпадает с конструкцией пьеэодвижителя 3, однако дополнительно включает два элемента. Под нижний торец гайки 18 подведена изолирующая втулка 20, удерживаемая цилиндрической пружиной 21, которая своим нижним витком упирается в дно основания корпуса

12, А вместо опорного шарика на верхнем торце опорного винта уКреплена измерительная игла 8, Необходимость создания дополнительного усилия на нижний торец гайки 18 обусловливается тем, что, компенсируя силу тяжести деталей 15, 16, 17 и 18, создаются условия для шагового перемещения измерительной иглы вертикально вверх.

Кроме того, токопроводящее покрытие внешней цилиндрической поверхности пьеэокерамической трубки 9А выполнено в виде четырех изолированных секторов е, f, g u

h, поскольку в этом случае обеспечивается наиболее оптимальное перемещение от деформации пьезотрубки по трем взаимно перпендикулярным осям, Электрическая блок-схема СТМ (фиг.6) СОСТОИТ ИЗ; источника постоянного напряжения, (ИПН), создаваемого в цепи между острием

10 измерительной иглы и поверхностью образца; предварительного усилителя (ПУ) туннельного тока; блока обратной связи (БОС) по туннельному току; генератора пилообразного напряжения (ГПН); источника постоянного высокого напряжения(ИВН), регулируемого в диапазоне от

-200 В до+200 В: блоков электрических переключателей

А, В, С и D и условно обозначенных изолированных секторов токопроводящих покрытий (7. 7е,...,2е).

Микроскоп работает следующим образом. С помощью источника постоянного напряжения ИПН (фиг,б) межцу

25 измерительной иглой и образцом подают постоянное напряжение в диапазоне 0,001—

1 В и начинают приближать образец к изме30 рительной игле.

Переключатель В (фиг,6) устанавливают пьеэотрубки 9 пьеэодвижителя 3 в один внешний электрод, Внутренним электродом служит сплошное токопроводящее покрытие 3 на внутренней поверхности той же

40 пьезотрубки 9, Переключатель D устанавливают в положение 2 и, таким образом, на вышеназванные внешний и внутренний электроды пьезотрубки 9 пьеэодвижителя 3 (фиг,1 и фиг.3) подают пилообразное напряжение амплитудой 250 В и частотой 50 Гц от генератора пилообразного напряжения

ГПН (фиг.6), (При этом переключатели А и С устанавливают в произвольное положение) За один период подаваемого напряжения опорный узел, состоящий из деталей 4, 15, 16, 17, 18, благодаря пьезоэффекту (в данном случае эффекту сжатия пьезотрубки под воздействием линейно возрастающего при55 ложенного напряжения) опускается вниз.

Таким образом, кольцо 5, опирающееся на три опорных шарика 4, поворачивается вокруг оси, проходящей через опорные шарики двух двухкоординатных пьезодвижителей 2, и поворачивается так. что образец 6 приблив положение 1, чтобы соедини ь три изоли35 рованных сектора За,Зв и Зс(фиг 5) токопроводящего покрытия внешней поверхности

1797149

15

40

С кольцо 5 с закрепленным на нем образцом 45

6 при включении подачи пилообразного на50

55 жается к игле 8 на расстояние 0,2 мкм. При практически мгновенном падении напряжения до нуля сила инерции опорного узла превышает силу трения покоя между сопряженными поверхностями деталей 14 и 15 (фиг.Ç), в результате чего опорный узел не меняет положения в пространстве (остается на месте); а пьезотрубка 9 и опирающаяся на нее втулка 14 перемещается вверх, то есть возвращаются в исходное положение

При частоте пилообразного напряжения, равной 50 Гц, средняя скорость перемещения центра образца 6 к острию иглы 8 составляет 0,01 мм/с. При появлении тока между измерительной иглой и образцом блок обратной связи БОС (фиг.6) вырабатывается сигнал, прекращающий подачу пилообразного напряжения. Таким образом, образец оказывается на расстоянии от острия измерительной иглы, не превышающем

1 мкм, что является необходимым условием работы CTM. Так завершается первый этап подготовки микроскопа к рабате, то есть грубого сближения образца с острием иглы, На втором этапе подготовки микроскопа к работе выбирают исследуемый участок поверхности образца и приближают к нему острие иглы следующим образом. Смотря в оптический микроскоп. выбирают интересующий исследователя участок на поверхности образца и определяют способ и направление перемещения к нему измерительной иглы, Переключатель В переводят в положение 2 и, таким образом, электрически соединяют одноименные (обоэначенные одной и той же буквой) секторы токопроводящих покрытий всех трех пьезотрубок 9. Переключатель С устанавливают, например, в положение 1, а переключатель переводят в положение 3, что обеспечивает подачу пилообразного напряжения на две группы секторов: (2a+3a) и (2б+Зб+2Ь+ЗЬ+2с+Зс}. В зависимости от номера положения (1, 2 или 3) йереключателя пряжения от ГПН перемещается в одном из трех направлений в горизонтальной плоскости; образующих между собой угол 120О.

Это происходит следующим образом

Под воздействием линейно возрастающего приложенного напряжения три пьезотрубки пьезодвижителей 2 и 3 благодаря пьезоэффекту изгибаются одинаковым образом в одном из трех направлений, что ведет к горизонтальному смещению кольца с образцом в том же направлении. При практически мгновенном падении напряжения до нуля три пьезодвижителя быстро выпрямляются, а.кольцо с образцом благодаря

25 своей инерции проскальзывает относительно опорных шариков и сохраняет свое положение в горизонтальной плоскости. 3а один период пилообразного напряжения кольцо с образцом смещается в горизонтальной плоскости на расстояние 0,5 мкм. Положение образца относительно измерительной иглы контролируется с помощью оптического микроскопа, С помощью серии последовательных перемещений кольца с образцом в горизонтальной плоскости выбранный для изучения участок поверхности образца подводят к измерительной игле на расстояние

1 мкм. Так заканчивается второй этап подготовки CTM к работе, то есть этап грубого выбора исследуемого участка на поверхности образца.

После этого начинают исследование образца. Для этого с помощью центрального пьезодвижителя измерительную иглу подводят к выбранному участку поверхности образца на расстояние 10 А, Для подведения иглы переключатель A устанавливают в положение 2. а переключатель 0 в положение 4.. При этом пилообразное наггряжение от ГПН подается на внешний электрод пьезотрубки 9А пьезодвижителя 7, образованный соединенными электрически секторами

7е,, 7f, 79 и 7h токопроводящего покрытия пьезотрубки. Внутренним электродом служит внутренняя поверхность 70 токопроводящего покрытия той же пьезотрубки, При таком положении переключателей происхо- . дит шаговое перемещение вверх опорного узла, состоящего из сопряженных деталей

8, 15, 16, 17; 18. Работа центрального пьезодвижителя при этом полностью аналогична работе пьезодвижителя 3. описанной выше.

При появлении тока между измерительной иглой и образцом блок обратной связи

БОС (фиг,6) вырабатывает сигнал, прекращающий подачу пилообразного напряжения, После этого переключатель А устанавливают в положение 1, а переключатель С в положение 4. При этом. положение переключателей на все три пьезодвижителя узла позиционирования образца подают регулируемое в диапазоне от -200 В до +200 В постоянное напряжение от источника высокого напряжения ИВН (фиг.б), под действием которого деформации пьезокерамических трубок . обеспечивают вертикальные перемещения кольца с образцом в диапазоне + 1 мкм. На секторы внешнего токопроводящего покры- . тия пьезотрубки 9А пьезодвижителя 7 подают электрические сигналы развертки ot .60С. Эти сигналы представляют собой изменяющиеся во времени равные и противоположные по знаку электрические

1797149 напряжения, подаваемые на пары секторов

7е и 7g, 7f и 7h, под действием которых пьезодвижитель 7 изгибается по осям Х и Y

Предварительный усилитель тока ПУ (фиг.б) измеряет туннельный ток между измерительной иглой и образцом, который стабилизируется с помощью блока обратной связи БОС, вырабатывающей электрическое напряжение обратной связи, подающееся на электрод 7 центрального пьезодвижителя. Напряжение обратной связи регистрируют как функцию сигналов развертки и, таким образом, получают карту рельефа изучаемой поверхности.

После завершения исследований переключатель А устанавливают в положение 2. а переключатель D в положение 1 и включают ГПН. При этом измерительная игла 8, закрепленная в опорном узле центрального пьезодвижителя удаляется от поверхности образца.

Авторы считают уместным отметить отсутствие клееных и паяных соединений в конструкции заявляемого микроскопа, а также легкость манипулирования исследуемыми образцами, что дает возможность исФормула изобретения

1, Сканирующий туннельный микро-. скоп, содержащий станину с закрепленным на ней узлом позиционирования образца в виде трех независимых трубчатых пьезодвижителей с опорными шариками, закрепленными на их верхних торцах, и узел перемещения измерительной иглы по трем взаимно перпендикулярным координатным осям, выполненный в виде расположенного в центре станины дополнительного трубчатого пьезодвижителя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности и воспроизводимости условий исследований, пьезодвижитель узла перемещения измерительной иглы и по крайней мере один пьезодвижитель узла позиционирования образца выполнены с возможностью пошагового изменения своей высоты путем введепользовать заявляемый СТМ в сверхвысоковакуумных установках.

Использование изобретения позволит получать геометрические профили поверх5 настей металлов и полупроводников, а также карты их электронных свойств в произвольной газовой среде и в условиях сверхвысокого вакуума на участке площадью 1 мкм с атомным разрешением в

10 плоскости XY. Разрешение по оси может о достигать 0,1 А. При этом на поверхности образца площадью 1 см можно выбрать интересующий исследователя .участок и подвести к нему измерительную иглу на расстояние 0,5 мкм. Эта способность заявляемого CTM особенно важна для технологических применений.

В Институте физических проблем АН

СССР разработаны рабочие чертежи заявляемого микроскопа, по которым был изготовлен один опытный образец, используемый в настоящее время при проведении научных исследований, В эксплуа25 тации созданный микроскоп зарекомендовал себя как надежный, эффек. тивный и удобный в обслуживании прибор. ния упругоподжатых инерционных подвижных штоков, установленных во втулках во внутренних полостях пьезодвижителей, при этом каждая втулка опирается своим кольцеобразным выступом на верхний торец пьезотрубок, а в боковой стенке втулок выполнено отверстие, в котором размещена пластинчатая пружина.

2, Микроскоп по п,1, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что подвижные штоки пьезодвижителей выполнены в виде кварцевых трубок, в которые вставлены опорные винты фиксированные гайками, опирающимися на цилиндрические пружины.

3. Микроскоп rio п.1, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что корпуса пьезодвижителей выполнены в виде стаканов с поперечными прорезями, симметрично расположенными по окружности и последовательно сдвинутыми по высоте стакана.

1797149

1797149

1797149

1797149

1797149

1797149

Составитель С.Ильчук

Техред M. Моргентал Корректор О,Кравцова

Редактор Т.Шагова

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 655 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп Сканирующий туннельный микроскоп 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к исследованию поверхности методом туннельной микроскопии

Изобретение относится к структурным исследованиям поверхности с использованием туннельного эффекта

Изобретение относится к туннельной микроскопии и может быть использовано для микроанализа поверхности твердых тел

Изобретение относится к электронной технике, в частности к микрозондовым приборам, в которых для исследования поверхности используется тунельный ток

Изобретение относится к электронным вакуумным приборам, в частности к эмиссионным микроскопам и видеоусилителям, и раскрывает способ визуализации и увеличения изображений исследуемых объектов

Изобретение относится к области электронной микроскопии

Изобретение относится к области электронных приборов, в частности к эмиссионным видеоустройствам

Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также для изучения физико-технологических свойств твердых тел

Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано для получения топографии проводящих поверхностей, а также изучения физико-технологических свойств твердых тел

Изобретение относится к исследованию микрорельефа как проводящих, так и непроводящих поверхностей образцов твердых тел

Изобретение относится к области нанотехнологий, в частности к измерению температуры одной проводящей (металлической или полупроводниковой) наночастицы с помощью сканирующего туннельного микроскопа, работающего в режиме наноконтакта и использование эффекта Зеебека в наноразмерной контактной области

Изобретение относится к эмиссионной электронике и предназначено главным образом для изготовления микроострий-зондов для туннельных микроскопов, а также точечных автоэлектронных источников и образцов для автоэмиссионной микроскопии
Наверх