Коллимирующий монохроматор рентгеновского излучения

 

Монохроматор содержит монохроматизирующий монокристалл 4 и отклоняющие монокристаллы 1 и 2, каждый из которых расположеч под углом Брэгга по отношению к своему участку пучка. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я) G 21 К 1/Об (1011) ГОСУДАРСТВЕНЮЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (I OCflATEHT СССР) К .АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 е (21) 4848664/25 (22) 12.06.90 (46) 07.05.93. Бюл. Q 17 (71) Институт прикладных проблем физики

АН АрмССР (72) А.P.Ìêðò÷ÿí.Â.Ê. Мирзоян и С.Н.Нореян (56) Пинскер 3.Г. Рентгеновская кристаллооптика. Наука, 1982, с. 225.

Авторское свидетельство СССР

Ь 873281, кл; G 21 К 1/06, 1983.

5U 1814G84 А1 (54) КОЛЛИМИРУЮЩИЙ МОНОХРОМАТ0Р РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ (57) Монохроматор содержит монохроматизирующий монокрйсталл 4 и отклоняющие монокристаллы 1 и 2, каждый из которых расположен под углом Брзгга по отношению к своему участку пучка. 2 ил.

1814084

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу, в частности к монохроматорам рентгеновского излучения.

Цель изобретения — повышение степени коллимации.

На фиг. 1 схематически показан монохроматор; на фиг. 2 — то >ке, вариант.

Для получения монохроматического излучения использован рентгенофрактометр

УРС вЂ” 50 с трубкой БС — 6 с молибденовым анодом, на который подается напряжение

30 кВ, анодный ток равен 10 мА. Кварцевые пластины 1 и 2 толщиной 0,7 мм каждая имеют возможность поворота вокруг вертикальной и горизонтальной осей автономно и обеспечивают условие отражения для атомных плоскостей (1011) в геометрии Лауэ из разных угловых участков падающего на них пучка. Для этого они закреплены на гониометре. Одновременно на пластинах 1 и 2 создается условие полной переброски посредством нагревателей 3. Монохроматический пучок, проходя через кристаллы 1 и

2, коллимируется фактически без прикосновения к какой-либо щели. Кристалл 4 монохроматора может быть выполнен не только иэ кварца, но и из других (германий, кремний) кристаллов с большим коэффициентом отражения, Подбором толщины кристаллов 1 и 2 можно минимизировать потери интенсивности при монохроматизации и коллимации. С целью упрощения юстировочной работы и изготовления более компактного

Ф коллиматора кристаллы 1 и 2 можно изготовить на одном основании в виде диблока (фиг. 2). При изготовлении диблоков блоки дезориентируются друг относительно друга во время механической обработки. Угол дезориентации блоков для атомных плоскостей (1011) кварца составляет порядка 15угловых секунд отклонения нормали к отражающим атомным плоскостям от перпендикуляра к основанию диблока, Формула изобретения

Коллимирующий монохроматор рентгеновского излучения, содержащий два монокристалла. расположенные последовательно по ходу рентгеновского пучка, первый из ко-: торых расположен в геометрии Брэгга под брэгговским углом к коллимируемому рентгеновскому пучку, отличающийся тем, что, с целью повышения степени коллима20 ции путем отклонения участков пучка с обеих сторон коллимируемого пучка, коллимирующий монохроматор дополнительно содержит третий монокристалл и расположенную за ним щель, второй и третий монокристаллы снабже- . ны нагревателями, причем второй монокристалл расположен под брэгговским углом в геометрии Лауэ к одному из отклоняемых участков пучка, третий монокристалл расположен под брэгговским углом в геометрии Лауэ .

30 к второму отклоняемому участку пучка, а ширина щели выбрана большей ширины выделяемого участка и меньшей суммарной ширины выделяемого пучка и двух отклоняемых участков пучка.

Коллимирующий монохроматор рентгеновского излучения Коллимирующий монохроматор рентгеновского излучения 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике и технологии обработки микроструктур и может быть применено в производстве изделий микроэлектроники

Изобретение относится к технической физике и предназначено для формирования квазипараллельных пучков рентгеновского излучения

Изобретение относится к способам изготовления фокусирующих кристаллов-анализаторов из монокристаллов гидрофталатов щелочных металлов

Изобретение относится к технической физике и может быть использовано в рентгенографических исследованиях, а также в экспериментальной физике

Изобретение относится к устройствам управления рентгеновским излучением и может применяться в рентгеноспектральном и рентгеноструктурном анализе, рентгеновской микроскопии и астрономии

Изобретение относится к рентгеновской оптике, в частности, к устройствам для отражения, поворота, деления, фокусировки и монохроматизации потока рентгеновского излучения и может быть использовано для проведения процессов рентгеновкой литографии, рентгеновской микроскопии, рентгеновской спектроскопии, а также в астрономии, физике, биологии, медицине и других областях технике, где используется рентгеновское излучение

Изобретение относится к технике и технологии обработки микроструктур и может быть применено в производстве изделий микроэлектроники

Изобретение относится к средствам для дефектоскопии и диагностики в технике и медицине, использующим излучение в виде потока нейтральных или заряженных частиц, в частности рентгеновское излучение, а также к средствам, в которых указанное излучение используется в лечебных целях или для контактной либо проекционной литографии в микроэлектронике

Изобретение относится к способу сдвига мозаичного рассеяния высокоориентированного пиролитического графита (ВОПГ) в заданный узкий интервал

Изобретение относится к приборам для визуально-теневой гамма-рентгеновской интроскопии и может быть использовано в промышленности и в медицине

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к средствам для получения рентгеновского излучения, в частности к средствам, предназначенным для использования при исследовании веществ, материалов или приборов

Изобретение относится к проекционной микроскопии с использованием радиационных методов, более конкретно к средствам для получения увеличенной теневой проекции объекта, включая его внутреннюю структуру, с использованием рентгеновского излучения

Изобретение относится к области рентгенодифракционных и рентгенотопографических методов исследования при неразрушающем исследовании структуры и контроле качества материалов и предназначено для формирования рентгеновского пучка, в частности, пучка синхротронного излучения (СИ), с помощью кристаллов-монохроматоров

Изобретение относится к рентгеновской оптике, в частности к устройствам для отражения, фокусировки и монохроматизации потока рентгеновского излучения
Наверх