Способ выявления неоднородностей

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

l9l98l

Союэ Саеетснин

Социалистичеснин

Ресау0лин

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 16.VI.1965 (№ 1013098/22-2) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 26.1.1967. Бюллетень ¹ 4

Дата опубликования описания 15.III.1967

Кл. 48а, 1/06

МПК С 23Ь

УДК 621.357.7:621.315. .592.3 (088.8) Комитет по делам иэобретеиий и открытий ари Саэетв Мииистраа ссср

Авторы изобретения

Л. Я. Кроль, В. С. Векшина и Л."Г. Еланская

Заявитель

СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ

В РАСПРЕДЕЛЕНИИ ПРИМЕСЕЙ В МОНОКРИСТАЛЛАХ

ПОЛУПРОВОДНИКОВ

Способ выявления неоднородностей и распределении примесей в монокристаллах полупроводников путем аиодного травления известен.

Особенностью предложенного способа является то, что травление осуществляют в электролите, состоящем из насыщенного хлористым аммоиием раствора одного объема концентрированной соляной кислоты в трех об.ьемах воды в течение 8 — 10 л ин при плотности тока 180 — 220 а/см- . Это дает возможность выявить неоднородности в распределении примесей в кристаллах антимонида галлия.

По описываемому способу травлению подвергали монокристаллы антимонида галлия, ограниченные плоскими поверхностями, или образцы, шлифованные окисью алюминия. Исследуемый образец и пластинку из тантала, служащу10 катодом, по(ружали В электролит, представляющий собой насыщенный хлориcTbIM аммонием раствор одного объема концентрированной соляной кислоты в трех обьемах воды. Травление производили при плотности тока 180 — 220 лта/слт - в течение d—

10 мин при комнатной температуре, после чего образцы промывали водой.

Предмет изобретения

10 Способ выявления неоднородностей в распределении примесей в моиокристаллах полупроводников путем анодного травления, 0Тличающийся тем, что, с целью определения неоднородностей в кристаллах антимонида

15 галлия, образцы антимонида галлия подвергают травлению в насыщенном хлористым аммонием растворе одного объема концентрированной соляной кислоты в трех объемах воды в течение 8 — 10 мин при плотности то20 ка 180 — 220 лта/сле.

Способ выявления неоднородностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к получению полупроводниковых соединений А3В5, используемых для изготовления подложек GaN, GaAs, GaP и др

Изобретение относится к области выращивания монокристаллов методом вертикальной направленной кристаллизации и может быть использовано в технологии выращивания монокристаллов полупроводниковых соединений для получения объемных монокристаллов с высокой степенью совершенства структуры

Изобретение относится к технологии полупроводниковых соединений АIIIВV

Изобретение относится к технологии полупроводниковых соединений типа AIIIBV

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии получения монокристаллов разлагающихся полупроводниковых соединений А3В 5 методом Чохральского, в частности при выращивании монокристаллов фосфидов галлия и индия и арсенида галлия из-под слоя борного ангидрида

Изобретение относится к области микроэлектроники и может быть использовано в технологии получения монокристаллов фосфида индия методом Чохральского из-под слоя борного ангидрида под давлением инертного газа

Изобретение относится к технологии получения полупроводниковых материалов и может быть использовано для создания оптоэлектронных приборов, работающих в спектральном диапазоне 0,59-0,87 мкм

Изобретение относится к технологии производства материалов электронной техники и может найти широкое применение в технологии получения полупроводниковых соединений, преимущественно группы А3В5

Изобретение относится к области неорганической химии, конкретно к легированным марганцем и цинком антимонидам индия, которые могут найти применение в спинтронике, где электронный спин используется в качестве активного элемента для хранения и передачи информации, формирования интегральных и функциональных микросхем, конструирования новых магнито-оптоэлектронных приборов
Изобретение относится к области изготовления оптических элементов и может быть использовано в инфракрасной технике

Изобретение относится к микроэлектронике, в частности к способам приготовления атомно-гладких поверхностей полупроводников
Изобретение относится к способам обработки массивных (диаметром до 200 мм) оптических элементов из селенида цинка, используемых в качестве пассивных оптических элементов высокомощных СО 2-лазеров и других приборов, работающих в ИК-диапазоне длин волн

Изобретение относится к области электронной техники, а именно к способам обработки подложек из оксидов, в частности из фианита, и может быть использовано в производстве эпитаксиальных структур, преимущественно с соединениями ВТСП (высокотемпературных сверхпроводников)
Изобретение относится к способу гидротермального травления, обеспечивающему возможность создания экологически чистой методики травления монокристаллов метаниобата лития, используемых в электронной технике
Изобретение относится к способу гидротермального травления, обеспечивающего возможность создания экологически чистой методики травления монокристаллов танталата лития, используемых в электронной технике
Наверх