Способ расшифровки эмиссионных спектров

 

Использование: исследование химических или физических свойств веществ при эмиссионном спектральном анализе для решения экологических и различных технических задач. Сущность изобретения: берут искусственные образцы, содержащие различные химические элементы, и снимают известным способом на фотопластинку эмиссионные спектры. Изготавливают из них эталонный спектр. Далее над и под спектральными линиями этого спектра на эмульсию фотопластинки наносят метки с символами химических элементов и соответствующие длины волн спектральных линий. С другой пластины также снимают эмиссионные спектры исследуемых образцов. Фотопластинку с исследуемым спектром образцов помещают на предметный столик под объектив оптической системы эмульсией вверх. На нее накладывают фотопластинку с эталонным спектром эмульсией вниз. Совмещают спектральные линии указанных спектров под объективом путем перемещения фотопластинок относительно друг друга. При совпадении отдельных спектральных линий и полос в спектрах по меткам и длинам волн в эталонном спектре судят о наличии спектральных линий в спектре исследуемого образца. 1 ил.

Изобретение относится к исследованиям химических и физических свойств веществ и может быть использовано при эмиссионном анализе для решения экологических и различных технологических задач.

Известен способ расшифровки спектральных линий в спектре с помощью точного определения расстояния в спектре от реперной линии, используя измерительный микроскоп [1] Однако этот способ сложен, длителен и обладает невысокой точностью.

Наиболее близким к изобретению является способ расшифровки эмиссионных спектров, включающий изготовление эталонной фотопластинки путем фотографирования спектров эталонных образцов на светочувствительную эмульсию эталонной пластинки, фотографирование спектров анализируемого образца на светочувствительную эмульсию исследуемой фотопластины, совмещение эталонной и исследуемой спектрограмм под объективом оптической системы путем наложения эталонной фотопластинки на исследуемую при соприносновении эмульсионных слоев исследуемой и эталонной фотопластин и расшифровку исследуемого спектра [2] Недостатком такого способа является его невысокая точность.

Технической задачей изобретения является повышение точности анализа.

Для этого в способе расшифровки эмиссионных спектров, включающем изготовление эталонной фотопластинки путем фотографирования спектров эталонных образцов на светочувствительную эмульсию эталонной пластинки, фотографирование спектров анализируемого образца на светочувствительную эмульсию исследуемой фотопластины, совмещение эталонной и исследуемой спектрограмм под объективом оптической системы путем наложения эталонной фотопластинки на исследуемую при соприкосновении эмульсионных слоев исследуемой и эталонной фотопластин и расшифровку исследуемого спектра, при изготовлении эталонной фотопластинки фотографируют спектры не менее двух искусственных образцов, содержащих легколетучие, средне- и труднолетучие элементы, при этом фотографирование проводят с использованием гармановской диафрагмы, на светочувствительную эмульсию эталонной пластины над линиями эталонного спектра и под ними наносят метки с символами химических элементов и соответствующие длины волн спектральных линий и после совмещения спектрограмм, при совпадении спектральных линий химических элементов в исследуемом и эталонном спектрах, проводят расшифровку исследуемого спектра по меткам и длинам волн спектральных линий эталонного спектра.

Сущность предложенного способа заключается в следующем.

Берут искусственные образцы, содержащие различные химические элементы и снимают известным способом на фотопластинку эмиссионные спектры. Изготавливают из них эталонный спектр. Далее над и под спектральными линиями этого спектра непосредственно на эмульсию фотопластинки наносят метки с символами химических элементов, содержащихся в искусственных образцах, и соответствующие длины волн спектральных линий. Затем берут другую фотопластинку и также снимают эмиссионные спектры исследуемых образцов. Фотопластинку с исследуемым спектром образцов помещают на предметный столик под объектив оптической системы эмульсией вверх. На нее располагают фотопластинку с эталонным спектром эмульсией вниз. Совмещают спнектральные линии указанных спектров под объективом путем перемещения фотопластинок относительно друг друга. При совпадении отдельных спектральных линий и полос в спектрах по меткам и длины волн в эталонном спектре судят о наличии спектральных линий в спектре исследуемого образца.

П р и м е р. Берут образец, содержащий легколетучие элементы, например As, Pb, Sn, Tl, Jn и др. и образец, в котором имеются средне- и труднолетучие элементы, например Аl, Nb, Sc, Тi, Fe, Ta и др. Для каждого из образцов снимают спектры на фотопластинку (например, на спектрографе ДФС-8-1) встык с использованием гармановской диафрагмы. Высота этих спектров 0,2-0,3 мм. В полученных спектрах определяют с помощью известных способов (например, используя атлас спектральных линий) спектральные линии имеющихся химических элементов в образцах, показанные на чертеже, и отмечают непосредственно над и под линиями на эмульсии фотопластинки точками и надписями химические элементы и соответствующие длины волн. Полученную (эталонную) фотопластинку обрезают стеклорезом по высоте так, чтобы остались сделанные надписи и отметки, ширина фотопластинки составляет 10-15 мм. Затем берут исследуемые образцы и с помощью спектрографа ДФС-8-1 снимают спектры на вторую фотопластинку при расстоянии между ними 0,2-0,3 мм. Эту фотопластинку располагают под объективом на предметном столике микроскопа типа МБС-9 эмульсией вверх. На нее накладывают эталонную фотопластинку эмульсией вниз.

Например, необходимо определить спектральные линии свинца 283,306 нм и олова 286,332 нм в спектре исследуемого образца. Тогда после наложения эталонной фотопластины на исследуемую визуально просматривают общие спектры на этих пластинах и по характерным спектральным интенсивным линиям или полосам производят совмещение спектров эталонной и исследуемой фотопластин.

При этом, если спектры эталонной и исследуемой фотопластин снимались на спектрографе ДФС-8-1 с одинаковым положением барабана длин волн, то для этого достаточно только совместить края фотопластин. Затем таким образом совмещенные фотопластины располагают на предметном столике микроскопа МБС-9 и при среднем увеличении производят точное совмещение спектров путем перемещения фотопластинок относительно друг друга. По длинам волн, указанным на эталонной фотопластине, в центральную часть видимого поля микроскопа при совмещенных фотопластинках выводят исследуемый участок спектра: область 288,5-283,0 нм. Далее по отметкам и символам химических элементов в области спектра 288-283 нм эталонной фотопластинки судят о наличии в спектре исследуемого образца спектральных линий элементов свинца и олова. Так, на эталонной фотопластинке в области 288-283 нм отмечены: одна линия свинца (длина волны линии свинца 283,306 нм искомая линия) и две линии олова 286,633 нм и 286,332 нм (последняя линия искомая). В исследуемом участке спектра совпадают спектральные линии свинца эталонной и исследуемой фотопластин и отсутствуют совпадения обеих линий олова.

Таким образом, в исследуемом спектре определены спектральные линии свинца 283,306 нм и отсутствие спектральных линий 286,332 нм олова.

Предложенный способ позволяет ускорить процесс анализа и повысить точность его и может быть использован как при проведении полуколичественного анализа под микроскопом, так и для количественного анализа непосредственно в процессе фотометрирования с использованием микрофотометра.

Формула изобретения

СПОСОБ РАСШИФРОВКИ ЭМИССИОННЫХ СПЕКТРОВ, включающий изготовление эталонной фотопластинки путем фотографирования спектров эталонных образцов на светочувствительную эмульсию эталонной пластинки, фотографирование спектров анализируемого образца на светочувствительную эмульсию исследуемой фотопластины, совмещение эталонной и исследуемой спектрограммы под объективом оптической системы путем наложения эталонной фотопластинки на исследуемую при соприкосновении эмульсионных слоев исследуемой и эталонной фотопластин и расшифровку исследуемого спектра, отличающийся тем, что при изготовлении эталонной фотопластинки фотографируют спектры не менее двух искусственных образцов, содержащих легколетучие, средне- и труднолетучие элементы, при этом фотографирование проводят с использованием гармановской диафрагмы, на светочувствительную эмульсию эталонной пластины над линиями эталонного спектра и под ними наносят метки с символами химических элементов и соответствующие длины волн спектральных линий и после совмещения спектрограмм при совпадении спектральных линий химических элементов в исследуемом и эталонном спектрах проводят расшифровку исследуемого спектра по меткам и длинам волн спектральных линий эталонного спектра.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к атомному эмиссионному спектральному анализу материалов и сплавов

Изобретение относится к источникам возбуждения спектров и может быть использовано в области спектрального анализа, а именно в комплекте со спектральным прибором для обнаружения и количественного анализа содержания в газах паров и аэрозолей металлов и других вредных веществ

Изобретение относится к физико-химическим способам анализа, а именно к способам пробоподготовки при определении примесей металлов в арсине, и может быть использовано в производстве эпитаксиальных структур арсенида галлия
Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности к эмиссионному спектральному анализу минеральных порошковых проб, и может быть использовано при геологических, экологических и технологических исследованиях природных и техногенных объектов

Изобретение относится к спектральному анализу

Изобретение относится к области металлургии, в частности к спектральному анализу металлических сплавов на квантометрах

Изобретение относится к спектральному анализу

Изобретение относится к атомно-эмиссионному спектральному анализу
Наверх