Способ регистрации спектров при эмиссионном спектральном анализе

 

Использование: в спектральном анализе. Сущность изобретения: при эмиссионном спектральном анализе порошковых проб излучение источника возбуждения пропускают через спектрограф так, чтобы получить узкий по высоте, менее 0,2 мм, спектр. Фотопластинку равномерно перемещают со скоростью более 1 мм/с. Получают пространственно разделенные спектры отдельных частиц.

Изобретение относится к области измерения интенсивности, скорости или спектрального состава и может быть использовано при геологических, технологических и других исследованиях порошкового материала.

Известен способ анализа фазового состава порошка твердого вещества [1] включающий введение пробы в плазму источника возбуждения, возбуждение спектра, пропускание излучения от источника возбуждения через спектрограф и регистрацию спектра путем дробного экспонирования и накопления сигнала на движущуюся фотопластину.

Наиболее близким по технической сущности к предложению является способ регистрации спектров при эмиссионном спектральном анализе [2] заключающийся в том, что в плазму источника возбуждения спектров вводят исследуемую пробу, возбуждают спектр, излучение источника разлагают в спектр и регистрируют его путем экспонирования и накопления сигнала на равномерно перемещаемый светочувствительный материал.

Недостатком известных технических решений является невозможность регистрации отдельных спектров, когда излучение вещества исследуемой пробы, попадающей в плазму источника возбуждения спектров, составляет миллисекунды, например, при сцинтилляционном элементном или фазовом анализах.

Технической задачей предложения является повышение отношения сигнал/шум и эффективности анализа.

Поставленная задача достигается за счет того, что по способу регистрации спектров при эмиссионном спектральном анализе, заключающемуся в том, что в плазму источника возбуждения спектров вводят исследуемую пробу, возбуждают спектр, излучение источника разлагают в спектр и регистрируют его путем экспонирования и накопления сигнала на равномерно перемещаемый светочувствительный материал, регистрируют спектр высотой менее 0,2 мм, а светочувствительный материал перемещают со скоростью более 1 мм/с.

Сущность данного способа заключается в следующем. Берут порошковую пробу и просыпают ее через плазму источника возбуждения. В зависимости от типа частиц минералов исследуемой пробы, попадающих в источник возбуждения, меняется его излучение. Излучение источника возбуждения пропускают через спектрограф так, чтобы получить узкий по высоте (менее 0,2 мм) спектр. Разложившееся в спектр излучение попадает на эмульсию, например фотопластинку, которая равномерно перемещается со скоростью более 1 мм/с. Получают пространственно разделенные спектры отдельных частиц исследуемой пробы, регистрируемые на эмульсии фотопластинки. Далее спектры по известной методике используют для проведения фазового или элементного эмиссионного спектрального анализа.

Пример конкретной реализации способа. Берут порошковую пробу, например, крупностью 40-22 мкм, размещают ее на ленточном транспортере установки типа "Полюс-2", применяющейся для выполнения эмиссионного спектрального анализа методом просыпки вдувания, узкой дорожкой. Включают транспортер и просыпают частицы пробы через плазму дуги, например четырехполюсную постоянного тока. Излучение от плазмы дуги направляют с помощью оптической системы на щель спектрографа типа, например, ИСП-30. Высота щели 0,1 мм. Одновременно с включением транспортера включают движение кассеты спектрографа, в которой установлена, например, фотопластинка (или фотопленка) с чувствительностью 1500 ед. ГОСТа. Скорость движения кассеты 3 мм/с. Регистрация частиц пробы длится 30 с. Далее останавливают транспортер и отключают дуговой разряд и движение кассеты, вынимают фотопластинки, проявляют их и получают пространственно разделенные спектры отдельных частиц пробы, излучение которых составляет 0,5-2 мс. Полученные спектры используют затем для проведения фазового или элементного спектрального анализа по известным методикам.

Таким образом, за счет кратковременности регистрации спектра каждой частицы повышается отношение сигнал/шум, исключается наложение спектральных линий различных элементов в спектре за счет пространственного разделения спектров частиц и повышается эффективность анализа.

Формула изобретения

СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ ПРИ ЭМИССИОННОМ СПЕКТРАЛЬНОМ АНАЛИЗЕ, заключающийся в том, что в плазму источника возбуждения спектров вводят исследуемую пробу, возбуждают спектр, излучение источника разлагают в спектр и регистрируют его путем экспонирования и накопления сигнала на равномерно перемещаемый светочувствительный материал, отличающийся тем, что регистрируют спектр высотой менее 0,2 мм, а светочувствительный материал перемещают со скоростью более 1 мм/с.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к аналитической химии горных пород, минералов, других многокомпонентных образований и может быть использовано в геохимии, экологии для изучения изоморфизма, процесса обогащения руд и др

Изобретение относится к исследованиям химических и физических свойств веществ и может быть использовано при эмиссионном анализе для решения экологических и различных технологических задач

Изобретение относится к атомному эмиссионному спектральному анализу материалов и сплавов

Изобретение относится к источникам возбуждения спектров и может быть использовано в области спектрального анализа, а именно в комплекте со спектральным прибором для обнаружения и количественного анализа содержания в газах паров и аэрозолей металлов и других вредных веществ

Изобретение относится к физико-химическим способам анализа, а именно к способам пробоподготовки при определении примесей металлов в арсине, и может быть использовано в производстве эпитаксиальных структур арсенида галлия
Изобретение относится к области исследования химических и физических свойств веществ, в частности к эмиссионному спектральному анализу минеральных порошковых проб, и может быть использовано при геологических, экологических и технологических исследованиях природных и техногенных объектов

Изобретение относится к спектральному анализу

Изобретение относится к области металлургии, в частности к спектральному анализу металлических сплавов на квантометрах

Изобретение относится к спектральному анализу

Изобретение относится к атомно-эмиссионному спектральному анализу
Наверх