Спектральный прибор

 

2I2 573

ОПИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союэ Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 08.XII.1966 (№ 1117314/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 29.13.1968. Бюллетень № 9

Дата опубликования описания ЗО.IV.1968

Кл. 42h, 20/01

В!ПК G 02d

УДК 535.853.31 (088.8) Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

Л. Б. Кацнельсон

Заявитель

Ленинградское оптико-механическое объединение

СПЕКТРАЛЬНЫЙ ПРИБОР

В известных спектральных приборах для контроля зз работой и градуировки применяется вспомогательная оптическая система

Предлагаемый спектральный прибор имеет более простую систему контроля и юстировки. Прибор выполняется с дифракционной решеткой и особенность его заключается в том, что каждьш и-й штрих, например четвертый, продолжен на незаштрихованную погерхность так, что совокупность продолжений образует контрольную заштрихованную г оверхность.

На чертеже показана оптическая схема прибора.

Дифракционная решетка 1 изготавливается таким образом, что каждый и-й штрих, например четвертый, продолжен на незаштрихованную поверхность 2. Совокупность продолжений образует контрольную заштрихованную поверхность 8, которая освещается через входную щель 4 источником 5 монохроматического излучения с длиной волны Ло.

Диспергированный на поверхности 8 свет гопадает при определенных углах поворота решетки 1 в выходную щель 6, за которой расположен приемник 7 лучистой энергии.

5 Работа прибора контролируется по отметкам длин волн, роль которых выполняют изображения линии Ло в нескольких порядках вспомогательной решетки 8.

В зависимости от типа спектрального при10 бора и поставленной задачи отметка может регистрироваться фотоэлектрически, фотографически и визуально одновременно с рабочим спектром.

Предмет изобр етения

Спектральный прибор с дифракционной решеткой, отличающийся тем, что, с целью упрощения системы контроля и юстировки в нем, каждый и-й (например четвертый) штрих

20 решетки продолжен на незаштрихованную поверхность так, что совокупность продолжений составляет контрольную заштрихованную поверхность.

212573

Составитель Л. Гойхман

Текред Л. Я. Бриккср Корректоры: С. А. Башлыкова и Н. В. Боса я икая

Редактор П. Шлайн

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 907/16 1 ираки 530 Подписное

ЦНИИПИ 1(омптета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Спектральный прибор Спектральный прибор 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к устройствам разделения оптического сигнала по длинам волн и может быть использовано для пирометров различного типа

Изобретение относится к спектральному приборостроению

Изобретение относится к оптическому приборостроению и касается зеркального спектрометра. Спектрометр состоит из входной щели, первого зеркала, дифракционной решетки, второго зеркала, фотоприемного устройства. Входная щель смещена относительно оптической оси. Первое и второе зеркала выполнены в виде внеосевых фрагментов вогнутых сферических зеркал, обращенных вогнутостью к входной щели. Дифракционная решетка является выпуклой сферической и расположена осесимметрично на оптической оси. Штрихи дифракционной решетки параллельны длинной стороне входной щели. Фотоприемное устройство смещено с оптической оси и расположено со стороны, противоположной входной щели. Входная щель и фотоприемное устройство наклонены в меридиональном сечении на небольшие углы. Центры кривизны сферических поверхностей лежат на одной общей оси, являющейся оптической осью спектрометра. Технический результат заключается в увеличении относительного отверстия, улучшении качества изображения, уменьшении размеров и массы и упрощении юстировки спектрометра. 4 з.п. ф-лы, 5 ил., 1 табл.

Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается дифракционного полихроматора со скрещенной дисперсией. Полихроматор включает в себя входную щель, решетку эшелле, вогнутую дифракционную решетку - разделитель порядков, матричный приемник излучения. Дифракционная решетка эшелле выполнена вогнутой с переменным шагом нарезки. Коэффициент неравномерности определяется по формуле А=(COSβ2-COSβ1)/(SINβ2-SINβ1), где β1 и β2 - углы дифракции, соответствующие крайним положениям длин волн в строке, А=μ⋅R, где μ - линейная составляющая коэффициента неравномерности шага решетки, R - радиус кривизны вогнутой решетки. Технический результат заключается в повышении светопропускания устройства. 1 ил.
Наверх