Рентгеновский дифрактометр

 

Рентгеновский дифрактометр относится к области рентгенографической аппаратуры и может быть использован при определении напряжений, текстуры и фазового состава материалов конструкций и изделий. Рентгеновский дифрактометр состоит из источника рентгеновского излучения и анализатора, при этом по меньшей мере два источника излучения совмещены с анализатором, а также из защитной пластины с диафрагмой, размещенной в экваториальной области анализатора. Источники излучения расположены в отверстиях полусферического анализатора, одно из которых выполнено в зоне полюса по оси симметрии дифрактометра, а другое в области экватора. Рентгеновский дифрактометр представляет собой моноблок-анализатор, в котором источники рентгеновского излучения соединены в единое целое с анализатором. Изобретение позволяет упростить конструкцию рентгеновского дифрактометра при обеспечении возможности его ручного переноса и измерений в реальных условиях параметров материала деталей, узлов и конструкций. 1 ил.

Изобретение относится к области рентгенографической аппаратуры, к рентгеновским дифрактометрам и может быть использовано при определении напряжений, текстуры и фазового состава конструкции и изделий.

Известен рентгеновский дифрактометр - быстродействующая установка АРД-1 с высоким разрешением для регистрации рентгеновских лучей, состоящая из блока источников питания, рентгеновской трубки, гониометрического устройства, детектора дифрагированного излучения и системы сбора и обработки информации [1].

Наиболее близким к изобретению является рентгеновский дифрактометр, состоящий из источника излучения и анализатора [2].

Оба известных устройства не обеспечивают возможности проведения измерений параметров материалов узлов и деталей машин при наличии наклоняемого гониометра и неподвижного детектора.

Задачей изобретения является упрощение конструкции рентгеновского дифрактометра, при обеспечении возможности его ручного переноса и измерений в реальных условиях параметров материала деталей, узлов и конструкций.

Технический результат достигается тем, что в рентгеновский дифрактометр, состоящий из источника рентгеновского излучения и анализатора, введены, по меньшей мере, один источник рентгеновского излучения и защитная пластина с диафрагмой, причем анализатор выполнен полусферическим, источники рентгеновского излучения совмещены с анализатором и расположены в отверстиях анализатора, одно из которых выполнено в зоне полюса по оси симметрии дифрактометра, а другое - в области экватора, а защитная пластина с диафрагмой размещена в экваториальной части анализатора.

Изобретение поясняется чертежом, на котором представлена структурная схема устройства. На нем 1, 2 - источники излучения, 3 - анализатор, 4, 5- отверстия в анализаторе, 6 - бериллиевое окно анализатора, 7 - деталь, 0 - 0 - ось симметрии дифрактометра, P-P - ось отверстия, расположенного в области экватора, 8 - пластина с диафрагмой.

Рентгеновский дифрактометр состоит из источников излучения 1 и 2, совмещенных с анализатором 3, причем источники излучения 1 и 2 расположены в отверстиях 3 и 4 полусферического анализатора 3, которые выполнены в зоне полюса по оси симметрии 0-0 и в области экватора по оси отверстия P-P. В экваториальной части анализатора размещается защитная пластина с диафрагмой 8.

Нижняя поверхность пластины является плоскостью фокусировки, то есть именно на ней расположен общий центр 0 всех полусферических поверхностей.

Рентгеновский дифрактометр работает следующим образом.

Моноблок-анализатор располагают на излучаемой поверхности так, чтобы диафрагма пластины 8 находилась над исследуемым участком. Первичные пучки рентгеновских лучей от источников излучения 1 и 2 попадают в центр исследуемого участка, совпадающей с точкой 0, дифрагируют на кристаллической решетке материала изделия и регистрируются анализатором. При этом направление первичных и дифрагированных пучков рентгеновских лучей всегда совпадают с радиусами, проведенными из этого центра, поскольку вершины всех конусов дифракций совпадают с центрами сфер Эвальда.

Совместное использование двух источников рентгеновского излучения предполагает последовательное включение каждого из источников и последовательную идентификацию рефлексов. Применение источников с разной жесткостью излучения позволяет получить и обработать наибольшее количество рефлексов с различными индексами, необходимыми для определения напряженного состояния, текстуры и фазового состава материала изделия.

Изобретение по сравнению с известными техническими решениями обеспечивает возможность его ручного переноса и измерений в реальных условиях параметров материала, узлов и конструкций.

Литература 1. Анисимов Ю.С., Заневский Ю.В., Иванов А.Б. и др. Автоматическая быстродействующая установка АРД-1 с высоким разрешением для регистрации рентгена. Кристаллография. - 1981, вып. 26 N 6, с. 1305 - 1311.

2. Могульская Т.Д., Кузев С.В. и др. Измерительная система для рентгеноструктурных исследований на основе многоканальных дифрактометров АРГУС. Кристаллография. - 1982, вып. 27, N 4 c. 775 - 784.

Формула изобретения

Рентгеновский дифрактометр, состоящий из источника рентгеновского излучения и анализатора, отличающийся тем, что в него введены по меньшей мере один источник рентгеновского излучения и защитная пластина с диафрагмой, причем анализатор выполнен полусферическим, источники рентгеновского излучения совмещены с анализатором и расположены в отверстиях анализатора, одно из которых выполнено в зоне полюса по оси симметрии дифрактометра, а другое - в области экватора, а защитная пластина с диафрагмой размещена в экваториальной части анализатора.

РИСУНКИ

Рисунок 1



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах управления технологическими процессами

Изобретение относится к горной технике и предназначено для оценки напряженно-деформированного состояния горных пород и диагностики массива

Изобретение относится к испытательной технике, а именно к способам контроля пластической деформации материала

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для рентгеновских измерений деформаций

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к средствам измерения деформаций на поверхности деталей, подвергающихся циклическому нагружению

Изобретение относится к неразрушающим методам контроля напряжений и может быть использовано для пластических поликристаллических металлических материалов

Изобретение относится к измерительной технике и позволяет повысить точность измерений

Изобретение относится к исследованию напряжений и деформаций физическими методами

Изобретение относится к области контроля сверхгладких поверхностей с манометровым уровнем шероховатости

Изобретение относится к области контроля сверхгладких поверхностей с манометровым уровнем шероховатости

Изобретение относится к области сканирующей туннельной и атомно-силовой микроскопии, а точнее к устройствам, обеспечивающим градуировку зондов сканирующих зондовых микроскопов (СЗМ)

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах управления технологическими процессами

Изобретение относится к горной технике и предназначено для оценки напряженно-деформированного состояния горных пород и диагностики массива

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля, а именно к радиоизотопным приборам для измерения толщины или поверхностной плотности материала или его покрытия

Изобретение относится к области рентгенотехники и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности полупроводниковых шайб, дисков магнитной и оптической памяти, а также других объектов в виде пластин и дисков, полученных полировкой и другими методами финишной обработки, обеспечивающими зеркальную гладкость поверхности
Наверх