Способ освещения входной щели спектрального прибора

 

Изобретение относится к оптической спектроскопии. Способ включает проецирование изображения шнура дугоразрядного источника на плоскость входной щели прибора. Входную щель прибора устанавливают перпендикулярно направлению шнура дугоразрядного источника в области дугового или искрового разряда, при этом длину регистрируемого участка входной щели выбирают не менее размера области излучения нестабильного в пространстве дугоразрядного источника, а ее ширину - не более размера области излучения нестабильного в пространстве дугоразрядного источника. Входную щель прибора устанавливают с возможностью параллельного перемещения вдоль шнура разряда. Техническим результатом изобретения является повышение повторяемости значений амплитуды сигналов при измерении одинаково приготовленных образцов и точности результатов измерения. 1 з.п. ф-лы 2 ил.

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, в частности к приборам для определения химического состава веществ, например, к высокоточным спектрометрам.

В настоящее время при производстве наиболее ответственных узлов и агрегатов в машиностроении особо актуальной является задача контроля качества используемых материалов. Так, например, при изготовлении тепловыделяющих элементов (ТВЭЛ) для атомных электростанций актуальной является задача непрерывного контроля атомного состава примесей в основном веществе, содержащемся в ТВЭЛе, путем проведения атомно-эмиссионного спектрального анализа. Контроль осуществляется одновременно по нескольким десяткам элементов, а данные анализа сохраняются на время работы ТВЭЛа и могут быть проверены в случае возникновения нештатной ситуации. Качество проводимого спектрального анализа во многом зависит от способа освещения входной щели спектрального прибора, который должен обеспечить ряд жестких условий, таких как: - воспроизводимость результатов параллельных измерений, то есть повторяемость значений амплитуды сигналов при измерении одинаково приготовленных проб; - правильность результата измерения за счет возможности выбора области исследования в шнуре аналитического искрового или дугового разряда.

Известен способ освещения входной щели спектрального прибора (см. "Техника оптической спектроскопии", В.В. Лебедева, Москва, Московский университет, 1986 г., стр. 182, рис. 7.8а), обеспечивающий непосредственное освещение входной щели спектрального прибора дугоразрядным источником светового излучения, расположенным перед ней. Основным недостатком известного способа является то, что регистрируется только очень малая часть светового потока (менее одного процента), при этом световое излучение собирается со всей области нестабильного в пространстве дугового или искрового разряда, включая область свечения раскаленных электродов.

Кроме того, известный способ не позволяет выбрать для анализа наиболее информационную часть шнура дугового или искрового источника света, а значит достигнуть правильности результата измерения. Попытка локализовать для измерения аналитическую часть шнура разряда с помощью дополнительного щелевого коллиматора приводит к еще более катастрофической потере света.

Известен способ освещения входной щели спектрального прибора, позволяющий локализовать для измерения аналитическую часть шнура разряда с помощью линзы (см. "Техника оптической спектроскопии", В.В.Лебедева, Москва, Московский университет, 1986 г., стр. 182, рис.7.8б), включающий проецирование с помощью линзы изображения шнура дугоразрядного источника на плоскость входной щели спектрального прибора. Основным недостатком известного способа является низкое качество проводимых измерений, т.к. при нестабильном в пространстве источнике света (например, дуговом или искровом разряде в воздухе) изображение шнура разряда уходит со щели, что не позволяет достигнуть стабильности измерения.

Технической задачей, решаемой заявляемым изобретением, является устранение указанного недостатка, а именно, повышение качества спектральных измерений за счет повышения стабильности измерения при сохранении высокой интенсивности сбора светового потока.

Указанная задача в способе освещения входной щели спектрального прибора, включающем проецирование с помощью линзы изображения шнура дугоразрядного источника на плоскость входной щели спектрального прибора, достигается тем, что входную щель устанавливают перпендикулярно направлению шнура дугоразрядного источника в области вышеуказанного разряда, при этом длину регистрируемого участка входной цели выбирают не менее размера области пространственной нестабильности излучения дугоразрядного источника, а ее ширину - не более длины шнура излучения дугоразрядного источника.

Расположение входной щели перпендикулярно направлению шнура дугоразрядного источника в области дугового или искрового разряда позволяет получить изображение всей области пространственной нестабильности дугового или искрового разряда и одновременно выбрать нужную для исследования область шнура разряда по его длине.

Путем выбора длины регистрируемого участка входной цели не менее размера области пространственной нестабильности излучения дугоразрядного источника, а ее ширину - не более длины шнура излучения дугоразрядного источника, достигается стабильность регистрируемых величин, за счет того, что оптическая информация от каждого искрового или дугового разряда попадает на регистрируемый участок входной щели спектрального прибора независимо от положения дуги или искры в пространстве.

Обеспечение возможности параллельного перемещения щели вдоль шнура разряда позволяет выбрать для спектрального анализа излучение части шнура дугового или искрового источника света по его длине, обеспечивающую правильность результата измерения за счет проецирования изображения наиболее информативного участка шнура разряда на входную щель спектрального прибора.

Указанный способ позволяет получать стабильные и одновременно правильные результаты спектрального анализа за счет пространственного выбора области исследования по длине шнура искрового или дугового разряда при одновременном эффективном сборе света со всего выбранного участка дугового или искрового разряда, что не имеет аналогов в технике спектроскопии, а значит удовлетворяет критерию "изобретательский уровень".

На фиг. 1 и 2 представлена оптическая схема, поясняющая заявляемый способ освещения входной щели спектрального прибора, где 1 - электроды источника дугового или искрового разряда, 2 - разрядный шнур, 3 - оптическая линза, 4 - плоскость входной щели спектрального прибора, 5 - оптическое изображение источника дугового или искрового разряда, 6 - входная щель спектрального прибора, 7 - участок щели спектрального прибора, информация с которого поступает на приемники.

Пример 1.

Рассмотрим пример измерения концентрации содержания примесей атомов в электродах, являющихся одновременно образцом (фиг. 1).

В качестве электродов используются специально подготовленные для анализа цилиндры из анализируемого материала диаметром 5 мм с плоскими торцами. Электроды устанавливают так, чтобы между плоскими торцами было расстояние 2 мм. Для создания изображения в плоскости щели спектрального прибора использована оптическая линза диаметром 20 мм с фокусным расстоянием 250 мм. Высота входной щели равна 20 мм, размер участка щели спектрального прибора, информация с которого поступает на приемники, составляет 10 мм. Ширина щели составляет 15 мкм. Щель установлена с возможностью параллельного перемещения вдоль шнура разряда.

При измерении в режиме дуги переменного тока, оптимального по правильности результата, удалось достичь при установке щели в середине шнура дугового разряда при высокой стабильности получаемого результата (среднеквадратичное отклонение результата в параллельных измерениях уменьшилось в 3,2 раза).

В случае дугового разряда постоянного тока или искрового разряда целесообразно устанавливать положения щели на расстоянии 2/3 зазора между электродами от положительно заряженного электрода, при этом достигается максимальная правильность результатов измерения при высокой стабильности получаемого результата (среднеквадратичное отклонение результата в параллельных измерениях уменьшилось в 2,5 раза).

Пример 2.

Рассмотрим пример измерения концентрации содержания примесей атомов в порошковых образцах, помещенных в графитовый цилиндрический электрод внешним диаметром 6 мм. Противоэлектродом является графитовый электрод конической формы (фиг. 2).

Электроды устанавливают так, чтобы расстояние между острием противоэлектрода и плоским торцом электрода, содержащего образец, составляло 2 мм. Для создания изображения в плоскости щели спектрального прибора использована оптическая линза диаметром 20 мм с фокусным расстоянием 250 мм. Высота входной щели равна 20 мм, размер участка щели спектрального прибора, информация с которого поступает на приемники, составляет 10 мм. Ширина щели составляет 15 мкм. Щель установлена с возможностью параллельного перемещения вдоль шнура разряда.

При измерении в режиме дуги переменного тока, оптимального по правильности результата, удалось достичь при установке щели в середине шнура дугового разряда при высокой стабильности получаемого результата (среднеквадратичное отклонение результата в параллельных измерениях уменьшилось в 3,4 раза).

В случае дугового разряда постоянного тока устанавливать положения щели на расстоянии 2/3 зазора между электродами от положительно заряженного электрода, при этом достигается максимальная правильность результатов измерения при высокой стабильности получаемого результата (среднеквадратичное отклонение результата в параллельных измерениях уменьшилось в 3,2 раза).

Таким образом, заявляемый способ позволяет значительно повысить воспроизводимость результатов параллельных измерений, то есть повторяемость значений амплитуды сигналов при измерении одинаково приготовленных образцов и правильность результатов измерения, за счет возможности выбора области исследования в шнуре аналитического искрового или дугового разряда.

Формула изобретения

1. Способ освещения входной щели спектрального прибора, включающий проецирование с помощью линзы изображения шнура дугоразрядного источника на плоскость входной щели спектрального прибора, отличающийся тем, что входную щель спектрального прибора устанавливают перпендикулярно направлению шнура дугоразрядного источника в области дугового или искрового разряда, при этом длину регистрируемого участка входной щели выбирают не менее размера области излучения нестабильного в пространстве дугоразрядного источника, а ее ширину - не более размера области излучения нестабильного в пространстве дугоразрядного источника.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что входную щель спектрального прибора устанавливают с возможностью параллельного перемещения вдоль шнура разряда.

РИСУНКИ

Рисунок 1, Рисунок 2



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к магнитным измерениям, исследованию состава веществ путем определения их магнитных, магнито-оптических и спектральных характеристик и может найти применение для качественного и количественного контроля состава пород, технологических продуктов, биологических объектов и т.п

Изобретение относится к аналитической химии и может быть использовано для установления содержаний примесных компонентов в пробах и при аттестации стандартных образцов и аналогичных им по назначению веществ, в частности при определении малых содержаний компонентов (примесей) в твердых монолитных веществах и материалах

Изобретение относится к измерительной технике

Изобретение относится к геологическим, экологическим, технологическим и др

Изобретение относится к области нелинейной оптики, а именно к спектральной измерительной технике, и может быть использовано для исследования структуры различных веществ, в том числе биологических объектов, по полученным эмиссионным спектрам в ИК (инфракрасном) среднем диапазоне

Способ содержит следующие этапы: стальную полосу с покрытием приводят в движение по дугообразной траектории на наружной поверхности (813) барабана (8), вращающегося вокруг оси (51), с цилиндрической стенкой, контактно направляющей полосу, абляционный лазерный луч направляют в полости внутри цилиндрической стенки таким образом, чтобы его оптическое падение происходило по оси нормали (41) к наружной поверхности барабана в точке-мишени (11) контакта полосы и барабана, прохождение луча через стенку происходит через отверстие (811) стенки, прозрачное для луча. Плазменное спектральное излучение от лазерной абляции в точке контакта отбирают за счет оптического отражения в направлении оси нормали (41) к наружной поверхности барабана и через отверстие, после чего направляют в блок спектрального измерения. Ось нормали (41) к наружной поверхности, соответствующей оптическому падению и отражению, приводят во вращение синхронно с барабаном. Технический результат - обеспечение измерения при спектральном анализе слоя металлического покрытия, наносимого на поверхность стальной полосы, находящейся в движении и имеющей разные форматы и разные скорости движения, потенциально превышающие 1 м/с. 3 н. и 12 з.п. ф-лы, 8 ил.
Изобретение относится к области материаловедения и может быть использовано при оценке влияния структуры стали на аналитический сигнал при проведении эмиссионного спектрального анализа элементного состава. способ включает измерение интенсивностей входящих в состав стали химических элементов эмиссионно-спектральным методом на исходных и термообработанных образцах, что позволяет обеспечить высокую точность и информативность контроля элементного состава и структуры стали. 2 з.п. ф-лы, 2 табл.
Изобретение относится к области аналитической химии элементного анализа и может быть использовано для лазерно-искрового эмиссионного определения лантана, церия, празеодима, неодима в металлических сплавах и порошках. Способ основан на воздействии на поверхность исследуемого образца сфокусированного лазерного излучения с энергией импульса 0,12-0,9 Дж и длительностью импульса 0,02-240 мкс. Проводят анализ свечения лазерной искры, что позволяет выделить спектральные линии паров определяемых элементов и идентифицировать спектральные линии. Для определения каждого из элементов используются экспериментально установленные наиболее чувствительные линии лазерной эмиссии элементов в следующих спектральных диапазонах для: лантана 390-415 нм, церия 400-425 нм, празеодима 410-425 нм, неодима 400-415 нм.

Изобретение относится к области материаловедения и может быть использовано при оценке влияния структуры магниевого сплава на аналитический сигнал. Способ контроля структурных изменений в магниевом сплаве включает измерение интенсивностей входящих в состав магниевого сплава химических элементов эмиссионно-спектральным методом на исходных и термообработанных в специальных контейнерах образцах, что позволяет обеспечить высокую точность и информативность контроля элементного состава и структуры магниевого сплава. 3 з.п. ф-лы, 2 табл.

Изобретение относится к области спектрометрии и касается искрового оптико-эмиссионного спектрометра. Спектрометр содержит искровой источник, входную щель, тороидальное зеркало для направления света через входную щель, несколько дифракционных решеток и матричный приемник. Тороидальное зеркало предназначено для направления света через входную щель таким образом, чтобы свет из разных областей в искровом источнике был пространственно разделен на отображении света на дифракционных решетках. При этом первая дифракционная решетка предпочтительно освещается светом из первой области искрового источника и одновременно вторая дифракционная решетка предпочтительно освещается светом из второй области искрового источника. Технический результат заключается в повышении точности измерений. 2 н. и 9 з.п. ф-лы, 9 ил.

Изобретение относится к области спектрального анализа и касается способа и устройства атомно-эмиссионного анализа нанообъектов. Способ включает в себя испарение нанообъектов лазерным пучком и анализ нанообъектов по их свечению. Нанообъекты помещают на поверхность прозрачной подложки. На поверхность с нанообъектами изнутри подложки направляют под регулируемым углом, большим угла полного внутреннего отражения, импульс лазерного излучения с энергией, достаточной для хотя бы частичного испарения нанообъектов. Излучение пара подвергают спектральному анализу. Устройство содержит подложку с нанообъектами на поверхности и излучатель. Излучатель обеспечивает интенсивность излучения, достаточную для испарения нанообъектов, причем по обе стороны подложки или с одной ее стороны в потоке свечения нанообъектов установлен спектроанализатор, содержащий коллиматор, который входной апертурой обращен к нанообъектам. Подложка выполнена из материалов, прозрачных для излучения излучателя и которые могут быть прозрачными для собственного излучения нанообъектов. Технический результат заключается в упрощении способа измерений. 2 н. и 2 з.п. ф-лы, 2 ил.
Наверх