Устройство для анализа поляризованного света

 

Вс оо ту@ енгно -, О П И O À" Í И Е

2432!4

Союз Советских

Социалистических

Республик

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВЙДЕТЕЛЬСТВУ

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Заявлено 24Х1.1966 (№ 1087110/26-25) Кл. 42h, 21 с присоединением заявки №

МПК G 02Ь

УДK 535.511(088.8) Приоритет

Опубликовано 05 V.1969. Бюллетень № 16

Дата опубликования описания 15.IX.1969

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

Автор изобретения

Г. Б. Райс

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ АНАЛИЗА ПОЛЯРИЗОВАННОГО СВЕТА

Настоящее устройство касается кристаллооптических систем для анализа поляризованного света изучения естественных и искусственных двупреломляющих веществ.

Известны устройства для анализа поляризованного света в виде поляризационных призм типа призм Николя, Глана-Томпсона, Аренса и др., состоящих из двух или трех частей, склеенных канадским бальзамом или другими прозрачными клеями. Под влиянием мощного излучения они расклеиваются, что ведет к их порче.

Предложенное устройство обладает повышенной термостойкостью. Оно отличается тем, что двупреломляющий кристалл содержит двойниковую прослойку, а плоскость сдвига, в которой лежаг оптические оси исходной и сдвойникованной частей кристалла, перпендикулярна плоскости падения поляризованного света.

На фиг. 1 изображена пластинка двупреломляющего кристалла с двойниковой прослойкой внутри (плоскости двойникования

ABCD и А1В,С,D;. Плоскость М, Е, F, N, N, Г,, Еь М,— плоскость сдвига, в которой лежат оптические оси исходной и двойниковой частей кристалла); на фиг. 2 — плоскость сдвига (стрелки указывают направления оптических осей в исходной и двойниковой частях кристалла); на фиг. 3 — плоскость падения поляризованного света, перпендикулярная плоскости сдвига кристалла, где n — нормаль к плоскости двойникования, ао — угол падения обыкновенного луча (1о) на плоскость двойникования, соответствующий его полному внутреннему отражению, Воо — прошедший обыкновенный луч, если угол падения отличается от ао или поляризация падающего луча не совпадает с поляризацией обыкновенного луча внутри двупреломляющего кристалла.

10 Чтобы получить аналог скрешенных николей, вращают поляризатор до тех пор, пока поляризация луча, вышедшего из поляризатора, не совпадег с поляризацией обыкновенного луча внутри двупреломляющего устройства.

15 Тогда согласно закону Малю в исходной части двойникового кристалла будет только один обыкновенный луч, а поскольку угол падения его на плоскосгь двойникования соответствует углу полного внутреннего отражения, он пол20 ностью отразится, т. е. двойниковый кристалл выполнит функцию анализатора света.

Предмет изобретени я

Устройство для анализа поляризованного

25 света в виде двупреломляющего кристалла, отличающееся тем, что, с целью повышения термостойкости, кристалл содержит двойниковую прослойку, а плоскость сдвига, в которой лежат оптические оси исходной и сдвойникованной частей кристалла, перпендикулярна плоскости падения поляризованного света.

243214

М Е Г )у в, Е, Е, Л

Уиг. Z

А А, Фиг.1

Риг. 3

Составитель Л. Гойхмаи

Техред Т. П. Курилко Корректор А. Б. Родионова

Редактор Б. Б. Федотов

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 2293)2 Тираж 480 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Устройство для анализа поляризованного света Устройство для анализа поляризованного света 

 

Похожие патенты:

Мотбка ' // 185511

Изобретение относится к оптической технике и может быть использовано как элемент оптической развязки

Изобретение относится к выдвижным фильтрам для боковых зеркал, предназначенных для повышения безопасности движения и удобства пользования боковыми зеркалами транспортных средств

Изобретение относится к области физической оптики и может быть использовано в качестве средства исследования взаимодействия электромагнитного поля оптического диапазона волн с веществом, в частности, для исследования возбуждения вторичных электромагнитных волн в оптически прозрачных диэлектрических средах в процессе их нестационарного взаимодействия с электромагнитными волнами

Изобретение относится к оптике, в частности к устройствам для измерения длительности сверхкоротких лазерных импульсов методом регистрации автокорреляционной функции интенсивности

Изобретение относится к оптике, в частности к устройствам для измерения длительности сверхкоротких лазерных импульсов методом регистрации автокорреляционной функции интенсивности

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно, к способам преобразования поляризации лазерного инфракрасного (ИК) излучения, и может быть использовано для преобразования линейно-поляризованного излучения мощных технологических CO2 лазеров в эллиптически- и циркулярно-поляризованное излучение

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в поляризационных приборах для исследования напряжений методом фотоупругости
Наверх