Патент ссср 256096

 

О П И С А Н И Е 256096

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Респуйлин

Зависимое от авт. свидетельства М

Кл. 22gä, 13 22

421>. 12 03

Заявлено 08.1.1968 (№ 1208238/26-25) с присоединением заявки М.ЧП1(Н 011 а 01Ь

УД1", 621.385.002.54 (088.8) Приоритет

Опубликовано 04.Х1.1969. Бюллетень A" 34

Дата опубликования описашгя 24.111.1970

Комите по делам изобретеиий и открытий при Совете Министров

СССР

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ МЕЖЭЛЕКТРОДНЫХ

РАССТОЯНИЙ В АРМАТУРЕ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИХ

СИСТЕМ ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ ТРУБОК

Предлагаемое устройство относится к электровакуумной технике и может быть использовано в электронно-оптических системах электроннолучевых трубок (ЭЛТ), а также в приборах, где требуется точный контроль зазоров при малых измерительных усилиях.

При сборке арматуры электронно-оптических систем ЭЛТ большое значение имеет точная установка межэлектродных расстояний, определяющих основные электрические параметры приборов.

Во многих типах ЭЛТ расстояния между диафрагмами, составляющие 0,2 — 0,5 лл и меньше, устанавливают при сборке арматуры по съемным дистанционным вкладышам. После извлечения вкладышей расстояния между диафрагмами изменяются за счет упругих деформаций электродов и держателей, а также за счет усадки стекла при сборке арматуры на стеклянных изоляторах.

Контроль малых расстояний между электродами сложен и практически в производстве не осуществляется.

Известные приборы для контроля малы: расстояний, такис как оптический проектор и плоские калибры-щупы, не обеспечивают требуемой точности измерений. В первом случае искажения вносятся в результате непараллельности и неплоскостности двух диафрагм, а также из-за отклонений оТ оптической оси прибора. Во втором случае введение щупа с различными усилиями вызывает упругие деформации диафрагм, что приводит к погрешности контроля.

5 Кроме того, необходим контроль расстояний в приосевых област lx, а известные способы позволяют конгролировать размеры зазоров у краев диафрагм. Оба спосооа трудоемки и практически нспримениAII I в условиях произ10 Водства.

VK333HHbIC IIO;IOCT0TKl1 llOITIIOP>li;I3IO IOIl IlPOвсркой образцов разрушающим контролем с заливкой зазоров затвердсвающнм матсриалом и последующим измерением полученных

15 таблеток.

Предлагаемое устройство для ко1ггроля расстояний между металлическими электродами в арма гуре электронно-оптических систем

20 ЭЛТ позвсляет конгролировать зазоры между электродами в любой зоне с высокой точностью.

Для этого измерительный механизм содержит токопроводящпй поворотный измер тсль

25 ный щуп, закрсплс101ь1й на упругом держателе, который связан с устройством для нзмере ния угловых величин.

Электроды, межд1 которыми контролируется зазор, вклю1сны в электрическую цепь, за30 мыкаемую измерительным щупом

256096

На чертеже представлено устройство для контроля межэлектродных расстояний.

Между электродами 1 и 2 арматуры помещен токопроводящий щуп 8, закрепленный на упругом держателе 4, который зажиме измерительного механизма. Последний представляет собой устройство для точного измерения малых угловых величин, например безлюфтовую зубчатую передачу или оптическую систему с поворотным зеркалом 5.

Электроды 1 и 2 во время измерения зазора между ними подключены к индикатору 6 замыкания электрической цепи, например сеточному контакту.

Устройство работает следующим образом.

Щуп 8 усчанавливают в произвольное положение относительно электродов, между которыми измеряют зазор, «соприкосновения с поверхностью электродов 1 и 2. В момент касания .электродов замыкается цепь индикатора 6.

Возможный перебег измерительного механизма компенсируется упругим держателем

4, работающим в этом случае как торсион.

Затем измерительным механизмом поворачивают щуп в обратном направлении до замыкания цепи прот«воположными гранями, что также фиксируется по индикатору. Величина зазора определяется по величине угла поворота измерительного щупа между двумя срабатываниями индикатора.

Возможно также, ITo в начале измерения щуп предварительно устанавливают в положение, при котором замкнута цепь индикатора. Тогда угол поворота отсчитывают от момента размыкания цепи, зафиксированного индикатором, до замыкания ее противоположными гранями щупа.

Профиль измерительного щупа 8 в сечении рабочего участка может быть прямоугольным или со скругленными кромками IIQ радиусу.

Форма измерительного наконечника в плане зависит от конструKIt«H электродов, между которыми измеряетгя зазор. При измерениях зазора между плоскими диафрагмами наконечник должен быть круглым, что исключает погрешность измерения от непараллсльности

1О держателя сторонам зазора. При измерениях зазора между тонкостенными торцами чашеобразпых электродов «ли тонкой кромкой и плоскостью наконечник должен быть прямоугольным.

l5 Точность из»epe««a зазоров с помощью предлагаемого устройства зависит от точности применяемого измерительного Так, при использовании механизма, позволяющего вести отсчет с точностью до одного градуса, 2о можно осуществить контроль зазора номинального размера 0,2.«.п с точностью -i- 2,5 ик.

Предмет изобретения

25 Устройство для контроля межэлектродных расстояний в арматуре электронно-оптических систем электроннолучевых трубок, состоящее из измерительного механизма, устройства для измерения угловых величин и индикатора за30 мыкапия электрической цепи, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, «змеритсльный механизм содержит токопроводящий поворотный измерительный щуп, закрепленный на упругом держателе, который

З5 связан с устройством для измерения угловых величин, а электроды, между которыми контролируется зазор, включены в электрическую цепь, замыкаемую измерительным щупом.

256096

Составитель В. Гришин

Редактор Т. 3. Орловская Тсхред T. П. Курилко

Корректор T. Л. Лбрамова

Типография. пр. Сапунова, 2

Заказ 579, 14 Тираж 480 Подписное

ИНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва 5К-35, Раушская паб., д. 4/5

Патент ссср 256096 Патент ссср 256096 Патент ссср 256096 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к электронной технике и может использоваться в индикаторных приборах с электронно-лучевой трубкой или квантовым генератором, эксплуатируемых в условиях жесткого воздействия динамических факторов

Изобретение относится к области плазменной техники, а именно к ионным системам, и может быть использовано в области ракетно-космической техники, при разработке, изготовлении и сборке ионно-оптической системы (ИОС) ионных двигателей (ИД). Технический результат - упрощение обеспечения соосности между отверстиями в электродах при сборке ИОС; обеспечение регулировки зазора между электродами при сборке ИОС. В способе изготовления и сборки ионно-оптической системы, основанном на обеспечении осесимметричности отверстий в электродах и зазора между этими электродами, согласно изобретению: изготовление отверстий осуществляют от базы, представляющей собой не менее двух базовых отверстий, выполненной в каждом из электродов; базу образуют из не менее двух неравномерно расположенных отверстий; обработку отверстий в электродах выполняют на станке с числовым программным управлением; обработку отверстий в электродах выполняют на станке с числовым программным управлением по одной и той же программе; отверстия в электродах выполняют с помощью электроэрозионной обработки; после получения отверстий в электродах выполняют их электрополировку; соосность отверстий между электродами обеспечивают настройкой соосности базовых отверстий; настройку зазора обеспечивают доработкой или подбором регулировочных шайб, при этом электроды опирают не менее чем на три элемента, представляющих собой сочетание керамических изоляторов и регулировочных шайб. 3 н. и 8 з.п. ф-лы, 5 ил.

Изобретение относится к области плазменной техники, а именно к ионным системам, и может быть использовано в области ракетно-космической техники, при разработке, изготовлении и сборке ионно-оптической системы (ИОС) ионных двигателей (ИД), ионных пушек и ускорителей. Технический результат- : упрощение обеспечения соосности между отверстиями в электродах при сборке ИОС. В способе перфорации отверстий в электродах ионно-оптической системы, основанном на формировании ионных пучков с последующим их воздействием на обрабатываемую поверхность электрода, перед воздействием ионных пучков на обрабатываемую поверхность собирают ионно-оптическую систему, включая эмиссионный электрод, затем формируют разряд, создавая поток ионов, и направляют его через отверстия эмиссионного электрода на обрабатываемую поверхность электрода, где ионы распыляют материал электрода в точках воздействия. 4 ил.
Наверх