Способ определения изотопного отношения делящегося вещества, содержащегося в камере деления

Изобретение касается способа определения изотопного отношения делящегося вещества. Способ определения изотопного отношения делящегося вещества, содержащегося в камере деления, причем делящееся вещество имеет основной изотоп X и по меньшей мере один изотоп-примесь Y, при этом изотопы X и Y характеризуются радиоактивным распадом согласно двум следующим уравнениям:

X->X′, характеризуется λX, FX, и

Y->Y′, характеризуется λY, FY,

где X′ и Y′ соответственно являются «дочерними» изотопами изотопов X и Y, при этом распад изотопа X, соответственно Y, характеризуется испусканием гамма-кванта дочерним изотопом X′, соответственно Y′, с энергией E1, соответственно E2, с вероятностью испускания Iγ(E1), соответственно Iγ2), причем величины λX и λY соответственно являются постоянной радиоактивного распада основного изотопа X и постоянной радиоактивного распада изотопа-примеси Y, a FX и FY соответственно являются коэффициентом разветвления распада изотопа, используемым для измерения радиоактивности основного изотопа, и коэффициентом разветвления распада изотопа, используемым для измерения радиоактивности изотопа-примеси, отличающийся тем, что содержит следующие этапы:

при помощи спектрометрической установки, установленной в заданной конфигурации измерения, измеряют чистую площадь S(E1) первого пика гамма-излучения делящегося вещества с первой энергией E1 и чистую площадь S(E2) второго пика гамма-излучения делящегося вещества с второй энергией E2,

при помощи контрольных точечных источников в заданной конфигурации измерения определяют контрольный коэффициент полного поглощения R O P ( E 1 ) с первой энергией E1 и контрольный коэффициент полного поглощения R 0 P ( E 2 ) со второй энергией E2,

при помощи вычислительного устройства для заданной конфигурации измерения вычисляют интегральный переход T(E1) коэффициента для делящегося вещества с первой энергией E1 и интегральный переход T(Е2) коэффициента для делящегося вещества со второй энергией Е2, и

при помощи вычислительного устройства вычисляют изотопное отношение R делящегося вещества при помощи уравнения:

R = λ X λ Y × S ( E 2 ) S ( E 1 ) × I γ ( E 1 ) I γ ( E 2 ) × R 0 P ( E 1 ) R 0 P ( E 2 ) × T ( E 1 ) T ( E 2 ) × F X F Y .

Технический результат - повышение эффективности определения изотопного отношения делящегося вещества. 5 з.п. ф-лы, 5 ил.

 

Область техники и уровень техники

Изобретение касается способа определения изотопного отношения делящегося вещества.

Измерение при помощи камеры деления позволяет определить мощность ядерного реактора или определить характеристические значения плотности делений нейтронного потока в определенных местах активной зоны в заданной энергетической области (случай миниатюрной камеры деления, используемой, например, в экспериментальном реакторе для измерения ослабления потока по отражению).

Камера деления представляет собой герметичный корпус, заполненный инертным газом с высокой ионизационной способностью. Делящееся вещество помещают внутри камеры деления на элементе, образующем анод, при этом герметичный корпус образует катод. Когда нейтроны, поток которых необходимо измерить, входят в контакт с делящимся веществом, происходит деление и испускание двух осколков деления, которые удаляются друг от друга под углом 180°. Один из двух осколков останавливается в аноде, а другой ионизирует газ, прежде чем достигнет катода. Ионизация газа приводит к образованию электронов в камере деления. Образующиеся при ионизации электроны собираются в катоде и передаются в электронную схему обработки через коаксиальный кабель. Число образующихся электронов прямо пропорционально потоку нейтронов, вызывающему деление.

Для правильной интерпретации измерений чрезвычайно важно знать примеси, присутствующие в камере деления. В случае, когда делящимся веществом является, например, уран 238U, то вполне возможно, что несколько десятков процентов обнаруживаемого сигнала приходятся на примесь уран 235U. Поэтому необходимо как можно точнее знать изотопное отношение 235U/238U, чтобы можно было выделить полезный сигнал из обнаруживаемого сигнала. Следовательно, погрешность, связанная с определением этого изотопного отношения, должна быть как можно меньшей, в идеале порядка нескольких процентов.

На сегодняшний день известно несколько методов для определения этого изотопного отношения. Первый метод состоит в растворении рассматриваемого материала или пробы этого материала и в осуществлении химического анализа растворенного материала. При помощи этого метода можно определить изотопию материала с точностью до одного процента. Основным недостатком этого метода является его деструктивный характер по отношению к материалу. Кроме этого деструктивного действия, еще одним недостатком является образование эфлюентов, которые, в конечном счете, необходимо подвергать обработке.

Другим методом является нейтронное облучение. Преимуществом нейтронного облучения является то, что оно не является деструктивным. Однако недостаток нейтронного облучения состоит в том, что его невозможно осуществлять на малом количестве материала (несколько микрограммов в случае миниатюрной камеры деления).

Известны также и другие методы, например, калибровка относительно эталонной камеры или использование разных спектров и материалов, обладающих особыми нейтронными характеристиками. Недостатком этих других методов является сложность их применения и относительная неточность получаемых результатов.

Изобретение не имеет вышеупомянутых недостатков. Действительно, изобретением предлагается измерять изотопное отношение посредством применения способа, который не разрушает камеру деления и погрешность которого составляет примерно несколько процентов (как правило, менее 10%).

Сущность изобретения

Объектом изобретения является способ определения изотопного отношения делящегося вещества, содержащегося в камере деления, при этом делящееся вещество имеет основной изотоп X и по меньшей мере один изотоп-примесь Y, при этом изотопы X и Y характеризуются радиоактивным распадом согласно двум следующим уравнениям:

X->X′, характеризуется λX, FX, и

Y->Y′, характеризуется λY, FY,

где X′ и Y′ соответственно являются «дочерними» изотопами изотопов X и Y, при этом распад изотопа X (соответственно Y) характеризуется испусканием гамма-кванта дочерним изотопом X′ (соответственно Y′) с энергией Е1 (соответственно E2) с вероятностью испускания Iγ(E1) (соответственно Iγ2)), при этом величины λX и λY соответственно являются постоянной радиоактивного распада основного изотопа X и постоянной радиоактивного распада изотопа-примеси Y, a FX и FY соответственно являются коэффициентом разветвления распада изотопа, используемым для измерения радиоактивности основного изотопа, и коэффициентом разветвления распада изотопа, используемым для измерения радиоактивности изотопа-примеси.

Способ отличается тем, что содержит следующие этапы:

- при помощи спектрометрической установки, установленной в заданной конфигурации измерения, измеряют чистую площадь S(E1) первого гамма-пика делящегося вещества с первой энергией E1 и чистую площадь S(E2) второго гамма-пика делящегося вещества со второй энергией Е2,

- при помощи контрольных точечных источников в заданной конфигурации измерения определяют контрольный коэффициент полного поглощения R O P ( E 1 ) с первой энергией E1 и контрольный коэффициент полного поглощения R 0 P ( E 2 ) со второй энергией E2,

- при помощи вычислительного устройства в заданной конфигурации измерения вычисляют интегральный переход T(E1) коэффициента для делящегося вещества с первой энергией E1 и интегральный переход Т(Е2) коэффициента для делящегося вещества со второй энергией E2, и

- при помощи вычислительного устройства вычисляют изотопное отношение делящегося вещества R при помощи уравнения:

R = λ X λ Y × S ( E 2 ) S ( E 1 ) × I γ ( E 1 ) I γ ( E 2 ) × R 0 P ( E 1 ) R 0 P ( E 2 ) × T ( E 1 ) T ( E 2 ) × F X F Y .

Под спектрометрической установкой, установленной в заданной конфигурации измерения, следует понимать, что различные элементы, образующие спектрометрическую установку, установлены относительно друг друга согласно геометрии, которая не меняется от одного измерения к другому.

Измерения чистой площади осуществляют либо до введения делящегося вещества в камеру деления, либо после введения делящегося вещества в камеру деления. В первом случае измерения осуществляют либо на образце, взятом из блока делящегося вещества, либо на целом блоке делящегося вещества. Во втором случае измерения осуществляют на всей камере деления.

Способ в соответствии с настоящим изобретением обеспечивает легкое и эффективное определение изотопного отношения делящегося вещества на основании измерений гамма-излучений и библиотечных данных.

Предпочтительно измерение чистых площадей осуществляют в течение достаточно длительного времени, которое позволяет добиться низкой погрешности подсчета (действительно продолжительность измерений чистых площадей составляет от одного часа до нескольких недель, например от одного часа до десяти недель).

Краткое описание фигур

Другие отличительные признаки и преимущества изобретения будут более очевидны из нижеследующего описания предпочтительного варианта выполнения со ссылками на прилагаемые фигуры, на которых:

Фиг.1 - принципиальная схема устройства, используемого для осуществления способа в соответствии с настоящим изобретением.

Фиг.2 - принципиальная схема способа в соответствии с настоящим изобретением.

Фиг.3 - детальная схема первого этапа способа в соответствии с настоящим изобретением.

Фиг.4 - детальная схема второго этапа способа в соответствии с настоящим изобретением.

Фиг.5 - детальная схема третьего этапа способа в соответствии с настоящим изобретением.

Подробное описание предпочтительного варианта выполнения изобретения

Согласно описанному ниже предпочтительному варианту выполнения изобретения, делящимся веществом является уран 238U и примеси состоят из урана 235U. Вместе с тем изобретение можно применять для любого другого делящегося вещества, а также для любой примеси, связанной с этим другим делящимся веществом. Например, делящимся веществом могут быть 240Pu, 243Am, 232Th, и соответствующей примесью могут быть 239Pu, 241Am, 233Th.

В случае, когда делящимся веществом является уран 238U и когда примеси образованы ураном 235U, изотопное отношение R получают по следующему уравнению (1):

R = λ U 238 λ U 235 × A U 235 A U 238 ( 1 )

где AU238 и AU235 соответственно являются активностью урана 238U и активностью урана 235U, а λU238 и λU235 соответственно являются постоянной радиоактивного распада урана 238U и постоянной радиоактивного распада урана 235U.

Схему распада урана 238U и урана 235U можно представить следующим образом:

где символ «α» выражает распад с испусканием α-частиц, символ «β» выражает распад с испусканием β-частиц, T1/2 является периодом полураспада рассматриваемого изотопа, FU является коэффициентом разветвления распада изотопа 234mPa в 234U, то есть вероятностью превращения при распаде протактиния 234mPa в уран 234U, a FPa является коэффициентом разветвления распада изотопа 234mPa в 234Ра, то есть вероятностью превращения при распаде протактиния 234mPa в протактиний 234Ра (FU+FPa=1).

При длительном равновесии (называемом также ядерным равновесием) схема распада урана 238U позволяет, таким образом, выразить активность AU238 урана 238U по отношению к активности АРа234m протактиния 234mPA следующим образом:

,

откуда:

Две линии гамма-излучения, традиционно измеряемые для количественной характеристики активности урана 235U и протактиния 234mРа, являются линиями при 185,7 кэВ (интенсивность 57,0%) и при 1001 кэВ (интенсивность 0,839%). Именно эти две линии измеряют в рамках предпочтительного варианта выполнения изобретения.

Активность A любого изотопа вычисляют на основании измерения одной из этих линий его гамма-излучения с энергией Ео по следующей формуле

,

Где - S(E0) является чистой площадью гамма-пика с энергией E0 в заданной конфигурации измерения;

- Ccoinc(E0) является поправкой на истинные совпадения (одновременное обнаружение излучений, испускаемых во время одного и того же радиоактивного распада) в заданной конфигурации измерения;

- Iγ0) является вероятностью испускания или интенсивностью линии гамма-излучения с энергией Е0 для дочернего изотопа рассматриваемого изотопа;

- R 0 P ( E 0 ) является контрольным коэффициентом полного поглощения с энергией Е0, который получают посредством калибровки детектора гамма-квантов при помощи эталонного точечного источника, в заданной конфигурации измерения;

- Т(Е0) является интегральным переходом коэффициента, который позволяет корректировать эффекты телесного угла и матричные эффекты в данной конфигурации измерения (разнородность источников и самопоглощение гамма-излучения, связанные с измерением объекта в конфигурации, отличающейся от конфигурации, используемой во время калибровки);

- Δtact является временем активного измерения, то есть временем измерения с поправкой на время запаздывания электроники.

Из вышеупомянутого выражения A вытекает, что изотопное отношение R для урана 238U можно записать следующим образом:

R = λ U 238 λ U 235 × S ( 185.7 e ^ y A ^ ) S ( 1001 e ^ y A ^ ) × I γ ( 1001 e ^ y A ^ ) I γ ( 185.7 e ^ y A ^ ) × R o P ( 1001 e ^ y A ^ ) R 0 P ( 185.7 e ^ y A ^ ) × T ( 1001 e ^ y A ^ ) T ( 185.7 e ^ y A ^ ) × F U ( 5 ) ,

Где - λU235 является известным значением в международных базах данных (λU235=ln(2)/(2,22102 1016) с-1);

- λU238 является известным значением в международных базах данных (λU235=ln(2)/(1,40996 1017) с-1);

- S(185,7 кэВ) является измеренной величиной;

- S(1001 кэВ) является измеренной величиной;

- Iγ(1001 кэВ) является известным значением в международных базах данных (Iγ(1001 кэВ)=0,00839;

- Iγ(185,7 кэВ) является известным значением в международных базах данных (Iγ(185,7 кэВ)=0,570;

- R 0 P ( 100 к э В ) является величиной, измеренной при калибровке;

- R 0 P ( 185,7 к э В ) является величиной, измеренной при калибровке;

- T(1001 кэВ) является величиной, вычисленной посредством моделирования;

- T(185,7 кэВ) является величиной, вычисленной посредством моделирования;

- FU является известным значением в международных базах данных.

Вышеуказанное уравнение (5) относится к случаю, когда делящимся материалом являются уран 238U (основной изотоп) и примесь уран 235U (соответствующий изотоп-примесь), при этом линиями гамма-излучений, используемыми для количественной характеристики активности основного изотопа и изотопа примеси, соответственно являются линии при 1001 кэВ и 185,7 кэВ.

В общем случае делящегося материала X (основной изотоп) и соответствующей примеси Y (изотоп-примесь) линиями гамма-излучений, используемыми для количественной характеристики активности основного изотопа и изотопа примеси, соответственно являются линия с энергией E1 и линия с энергией Е2, и изотопное отношение R записывают как:

R = λ X λ Y × S ( E 2 ) S ( E 1 ) × I γ ( E 1 ) I γ ( E 2 ) × R 0 P ( E 1 ) R 0 P ( E 2 ) × T ( E 1 ) T ( E 2 ) × F X F Y ( 6 ) ,

Где - λX является постоянной радиоактивного распада основного изотопа делящегося вещества, предназначенного для введения в камеру деления,

- λY является постоянной радиоактивного распада изотопа примеси, связанного с основным изотопом,

- S(E1) является чистой площадью первого гамма-пика делящегося вещества с энергией E1, и S(E2) является чистой площадью второго гамма-пика делящегося вещества с энергией Е2,

- R 0 P ( E 1 ) является контрольным коэффициентом полного поглощения с энергией E1, и R 0 P ( E 2 ) является контрольным коэффициентом полного поглощения с энергией Е2,

- T(E1) является интегральным коэффициентом делящегося вещества с энергией E1 и Т(Е2) является интегральным коэффициентом делящегося вещества с энергией Е2,

- Iγ(E1) и Iγ2) являются соответственно вероятностью испускания полосы гамма-излучения «дочки» основного изотопа с энергией E1 и вероятностью испускания полосы гамма-излучения «дочки» основного изотопа с энергией Е2,

- FX является коэффициентом разветвления распада изотопа, используемого для измерения активности основного изотопа, и

- FY является коэффициентом разветвления распада изотопа, используемого для измерения активности изотопа-примеси.

Как было указано выше, в связи с примером урана 238U и урана 235U, коэффициенты разветвления распада являются известными вероятностями, связанными с режимом распада изотопов. В случае, когда изотоп, используемый для измерения активности, распадается однозначно, коэффициент разветвления распада равен 1, а в случае, когда распад не является однозначным, коэффициент разветвления равен вероятности, связанной с выбранным распадом.

На фиг.1 показана принципиальная схема устройства, используемого для реализации способа в соответствии с настоящим изобретением.

Устройство содержит гамма-спектрометрическую установку Sp и вычислительное устройство K.

Гамма-спектрометрическая установка Sp выдает сигналы Sm измерения, которые поступают в вычислительное устройство K. Спектрометрическая установка Sp представляет собой герметичную камеру E, в которую помещают детектор D. Детектор D, предпочтительно диод из германия высокой чистоты, является детектором гамма-лучей, который отличается высокой эффективностью в широкой энергетической области, например, при значениях энергии от 50 кЭв до 2 МэВ. Предпочтительно детектор D выполнен также с возможностью ограничения эффекта Комптона. В камеру E помещают делящееся вещество. Это делящееся вещество обозначено на фиг.1 буквой B: речь идет либо об образце, взятом из блока делящегося вещества, предназначенного для камеры деления, либо о самом блоке делящегося вещества, либо обо всей камере деления, содержащей блок делящегося вещества. Взаимодействие гамма-лучей, выходящих из делящегося вещества В, с детектором D приводит к ионизации атомов детекторной среды. Возникающие таким образом заряды поступают в источник питания постоянного высокого напряжения, например, в несколько тысяч вольт (на фиг.1 не показан). Предпочтительно камера E является круглой камерой, выполненной из материалов, обеспечивающих очень низкий уровень фонового шума, например из слоев свинца низкой активности, свинца сверхнизкой активности, олова и меди. Охлаждение детектора осуществляет система крио-цикла, которая обеспечивает гибридное охлаждение электричество/жидкий азот. Эта система обеспечивает продолжительность сбора данных в несколько недель без возмущений, связанных с добавлением жидкого азота.

Сигналы Sm измерения, формируемые на основании гамма-излучения, поступают в вычислительное устройство К для обработки. Вычислительное устройство K применяет способы обработки, позволяющие получать искомые величины.

Далее со ссылками на фиг.2-5 следует описание способа в соответствии с настоящим изобретением.

Способ в соответствии с настоящим изобретением (см. фиг.2) содержит этап 1 определения чистых площадей S(185,7 кэВ) и S(1001 кэВ) делящегося вещества, этап 2 определения контрольных коэффициентов полного поглощения R 0 P ( 185,7 к э В ) и R 0 P ( 1001 к э В ) с энергией 185,7 кэВ и 1001 кэВ, этап 3 определения интегральных переходов коэффициента T(185,7 кэВ) и T(1001 кэВ) с энергией 185,7 кэВ и 1001 кэВ и этап 4 вычисления изотопного отношения R на основании результатов этапов 1, 2 и 3 и известных данных D, получаемых из библиотек данных. Данные D являются данными λU238, λU235, Iγ(185,7 кэВ), Iγ(1001 кэВ) и Fu, определение которых было приведено выше.

Этап 1 определения чистых площадей S(185,7 кэВ) и S(1001 кэВ) содержит этап измерения спектра гамма-излучения делящегося вещества B. Измерение спектра гамма-излучения осуществляют при помощи измерительной установки Sp в энергетической области, которая включает в себя полезные линии при 185,7 кэВ и 1001 кэВ. За этапом 1a (фиг.3) следует этап 1b получения при помощи вычислительного устройства К чистых площадей при 185,7 кэВ и 1001 кэВ. Производят также измерение фонового шума гамма-излучения при помощи измерительной установки Sp в той же энергетической области на этапе 1N для измерения возможных гамма-пиков шумового фона при значениях энергии E1 и E2, которые накладывают на пики, определенные при измерении на этапе 1а. На основании результатов, полученных на этапах 1b и 1N, вычислительное устройство вычисляет на этапе 1 с чистые площади S(185,7 кэВ) и S(1001 кэВ). Вычислительной программой, используемой для вычисления чистых площадей, является, например, программа GENIE2000, инструкция по применению которой доступна в сети Интернет по следующему электронному адресу:

.

Можно также использовать любую другую программу, известную специалистам и приводящую к желаемому результату.

На фиг.4 показаны различные элементарные этапы, которые входят в этап 2 определения контрольных коэффициентов R 0 P ( 185,7 к э В ) и R 0 P ( 1001 к э В ) для значений энергии 185,7 кэВ и 1001 кэВ.

Этап 2 определения контрольных коэффициентов полного поглощения R 0 P ( 185,7 к э В ) и R 0 P ( 1001 к э В ) сам по себе является известным этапом. Этап 2 начинается с этапа 2а выбора точечных источников, значения активности которых известны. Каждый точечный источник j характеризуется излучением гамма-квантов с энергией Ej, выбранной в известной энергетической области, например в области 50 кэВ-2 МэВ.

Каждый точечный источник j помещают в герметичную камеру для измерения его активности (этап 2b). Активность A m P ( E j ) каждого точечного источника j измеряют при помощи измерительной установки Sp и вычислительного устройства K. После этого на этапе 2с вычисляют контрольный коэффициент полного поглощения R ' 0 P ( E j ) на основании измеренной активности A m P ( E i ) и активности A o P ( E i ) точечного источника, которая известна заранее. Отсюда следует:

R ' 0 P ( E j ) = A m P ( E j ) / A o P ( E j )

При этом получают кривую контрольных коэффициентов общего поглощения R ' 0 P ( E j ) для разных значений энергии Ej. Затем кривую коэффициентов R ' 0 P ( E j ) корректируют посредством аналитической функции Fa при помощи вычислительного устройства K (этап 2d). Аналитическая функция Fa состоит, например, в выражении неперовского логарифма R ' 0 P в зависимости от многочлена неперовского логарифма энергии. Из скорректированной кривой, полученной на этапе 2d, на этапе 2е выводят значения контрольных коэффициентов общего поглощения R 0 P ( 185,7 к э В ) и R 0 P ( 1001 к э В ) при требуемых значениях энергии 185,7 кэВ и 1001 кэВ.

На фиг.5 показаны различные элементарные этапы, входящие в этап 3 определения интегральных переходов коэффициента.

Этап 3 определения интегральных переходов коэффициента, прежде всего, содержит этап 3а моделирования измерительной установки, оборудованной детектором D, этап 3b моделирования элемента, измеренного на этапе 1 определения чистых площадей (камера деления СН или образец блока делящегося вещества), и этап 3c моделирования условий использования точечного источника, применяемого во время измерения коэффициентов поглощения, в той же конфигурации измерения спектрометрической установки, что и на этапе 3b. На основании данных моделирования, полученных на этапах 3a и 3b, на этапе 3d вычисления вычисляют, например, при помощи метода Монте-Карло для решения уравнения переноса фотонов, относительную активность моделированного элемента, определенную детектором D, моделированным при вычислении с соответствующими значениями энергии 185,7 кэВ и 1001 кэВ, то есть величины A C С Н ( 185,7 к э В ) и A C С Н ( 1001 к э В ) . Точно также, на основании данных моделирования, полученных в результате этапов 3a и 3c, на этапе 3d вычисления вычисляют, например, при помощи метода Монте-Карло, относительную активность точечного источника, определенную детектором D, моделированным при вычислении с соответствующими значениями энергии 185,7 кэВ и 1001 кэВ, то есть величины A C P ( 185,7 к э В ) и A C P ( 1001 к э В ) .

После этапа 3d на этапе 3e вычисления на основании вычисленных значений активности вычисляют величины Т(185,7 кэВ) и Т(1001 кэВ), то есть:

T ( 185,7 к э В ) = A C С Н ( 185,7 к э В ) / A C P ( 185,7 к э В )

T ( 1001 к э В ) = A C С Н ( 1001 к э В ) / A C P ( 1001 к э В )

На основании всех величин, определенных, как было указано выше, и вышеупомянутых библиотечных данных можно определить изотопное отношение R, то есть:

R = λ U 238 λ U 235 × S ( 185.7 e ^ y A ^ ) S ( 1001 e ^ y A ^ ) × I γ ( 1001 e ^ y A ^ ) I γ ( 185.7 e ^ y A ^ ) × R o P ( 1001 e ^ y A ^ ) R 0 P ( 185.7 e ^ y A ^ ) × T ( 1001 e ^ y A ^ ) T ( 185.7 e ^ y A ^ ) × F U

или в общем случае:

R = λ X λ Y × S ( E 2 ) S ( E 1 ) × I γ ( E 1 ) I γ ( E 2 ) × R 0 P ( E 1 ) R 0 P ( E 2 ) × T ( E 1 ) T ( E 2 ) × F X F Y .

1. Способ определения изотопного отношения делящегося вещества, содержащегося в камере деления, причем делящееся вещество имеет основной изотоп X и по меньшей мере один изотоп-примесь Y, при этом изотопы X и Y характеризуются радиоактивным распадом согласно двум следующим уравнениям:
X->X′, характеризуется λX, FX, и
Y->Y′, характеризуется λY, FY,
где X′ и Y′ соответственно являются «дочерними» изотопами изотопов X и Y, при этом распад изотопа X, соответственно Y, характеризуется испусканием гамма-кванта дочерним изотопом X′, соответственно Y′, с энергией E1, соответственно E2, с вероятностью испускания Iγ(E1), соответственно Iγ2), причем величины λX и λY соответственно являются постоянной радиоактивного распада основного изотопа X и постоянной радиоактивного распада изотопа-примеси Y, a FX и FY соответственно являются коэффициентом разветвления распада изотопа, используемым для измерения радиоактивности основного изотопа, и коэффициентом разветвления распада изотопа, используемым для измерения радиоактивности изотопа-примеси, отличающийся тем, что содержит следующие этапы:
при помощи спектрометрической установки, установленной в заданной конфигурации измерения, измеряют чистую площадь S(E1) первого пика гамма-излучения делящегося вещества с первой энергией E1 и чистую площадь S(E2) второго пика гамма-излучения делящегося вещества со второй энергией E2,
при помощи контрольных точечных источников в заданной конфигурации измерения определяют контрольный коэффициент полного поглощения R O P ( E 1 ) с первой энергией E1 и контрольный коэффициент полного поглощения R 0 P ( E 2 ) со второй энергией E2,
при помощи вычислительного устройства для заданной конфигурации измерения вычисляют интегральный переход T(E1) коэффициента для делящегося вещества с первой энергией E1 и интегральный переход T(Е2) коэффициента для делящегося вещества со второй энергией Е2, и
при помощи вычислительного устройства вычисляют изотопное отношение R делящегося вещества при помощи уравнения:
R = λ X λ Y × S ( E 2 ) S ( E 1 ) × I γ ( E 1 ) I γ ( E 2 ) × R 0 P ( E 1 ) R 0 P ( E 2 ) × T ( E 1 ) T ( E 2 ) × F X F Y .

2. Способ по п.1, в котором измерения чистой площади делящегося вещества осуществляют до введения делящегося вещества в камеру деления, на образце, взятом из блока делящегося вещества, предназначенного для помещения в камеру деления.

3. Способ по п.1, в котором измерения чистой площади делящегося вещества осуществляют до введения делящегося вещества в камеру деления, на блоке делящегося вещества, предназначенном для помещения в камеру деления.

4. Способ по п.1, в котором измерения чистой площади делящегося вещества осуществляют после введения делящегося вещества в камеру деления, на всей камере деления.

5. Способ по любому из пп.1-4, в котором основным изотопом является уран 238U и изотопом-примесью является уран 235U.

6. Способ по п.1, в котором продолжительность этапов измерения чистой площади составляет от одного часа до десяти недель.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способам определения направленности радиоактивного излучения. Способ определения направленности радиоактивного излучения включает создание объема метастабильной протянутой текучей среды; размещение объема метастабильной протянутой текучей среды в непосредственной близости от источника радиоактивного излучения; определение положения кавитаций, вызванных радиоактивным излучением, в метастабильной протянутой текучей среде; и определение направления источника радиоактивного излучения на основании кавитаций, вызванных радиоактивным излучением, в метастабильной протянутой текучей среде.

Изобретение относится к способам детектирования нейтронного потока в зоне облучения. Способ регистрации нейтронного потока ядерной установки в широком диапазоне измерений, заключающийся в том, что детектируют нейтронный поток ядерной установки посредством регистрации токового режима камеры деления с последующим измерением и обработкой тока камеры деления вне зоны облучения, при этом одновременно с токовым режимом используют режим счета единичных нейтронов, при этом в диапазоне линейной зависимости скорости счета от нейтронного потока осуществляют прямые измерения актов регистрации нейтронов, причем сигнал, обусловленный единичными нейтронами без предварительного усиления, передают по кабельной линии для регистрации и обработки вне зоны облучения, после чего зависимости плотности потока нейтронов от времени, измеренные камерой деления в счетном и токовом режимах, объединяются.

Изобретение касается способа определения спектрального и пространственного распределения потока фотонов тормозного излучения, по меньшей мере, в одном пространственном направлении (х, у, z).

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к метрологии нейтронного излучения в присутствии фоновых излучений и электромагнитных наводок, и может быть использовано в системах управления и защиты ядерных реакторов, подкритических сборок, импульсных и других источников нейтронов, в научных исследованиях.

Изобретение относится к области регистрации ионизирующих излучений и может быть использовано для определения плотности потока быстрых нейтронов при работе ядерно-физических установок.

Изобретение относится к углеводородной промышленности, более конкретно данное изобретение касается инструментов нейтронного каротажа, используемых при исследовании геологической формации.

Изобретение относится к области ядерной техники, в частности к калибровке эмиссионных детекторов нейтронов для внутризонного контроля распределения энерговыделения в ядерных реакторах.

Изобретение относится к устройству измерения скорости счета камеры деления и устройству калибровки соответствующей камеры деления. .

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к метрологии излучения нейтронного излучения в присутствии фоновых излучений и электромагнитных наводок.

Изобретение относится к полупроводниковым детекторам излучений. Детектор быстрых нейтронов содержит конвертор быстрых нейтронов и поверхностно-барьерный GaAs сенсор, регистрирующий протоны отдачи, при этом сенсор выполнен на подложке арсенида галлия n-типа проводимости, на рабочей поверхности которого выращен эпитаксиальный слой GaAs высокой чистоты толщиной от 10 до 80 мкм, причем и где d - толщина эпитаксиального слоя GaAs высокой чистоты, εп - относительная диэлектрическая проницаемость полупроводника, ε0 - электрическая постоянная, φк - контактная разность потенциалов, q - заряд электрона, ND - уровень легирования полупроводника, µе - подвижность электронов, τе - время жизни электронов, со сформированным на нем платиновым барьером Шоттки толщиной 500 Å, на обратной стороне подложки сформирован омический контакт. Технический результат - повышение эффективности сбора заряда детектора, снижение чувствительности к гамма-фону. 1 ил.

Изобретение относится к области ядерной физики. Способ измерения асимметрии распада поляризованных пучков включает в себя пропускание поляризованного пучка частиц через контролируемую зону, регистрацию заряженных частиц, испускаемых асимметрично относительно спина распадающихся частиц, контрольные измерения при изменении направления поляризации пучка на 180°, при этом исходный поляризованный пучок частиц пропускают через зону контроля с близким к нулю магнитным полем, поток частиц исходного поляризованного пучка ступенчато варьируют с помощью прецизионной управляемой диафрагмы, на каждой ступени потока проводят многократные измерения скорости счета и энергетического спектра испускаемых в зоне контроля заряженных частиц с помощью охватывающего пучок секционированного по углу детектора; по совокупности скоростей счета и их погрешностей строят функционал ошибок для оценок чисел частиц в зоне видимости детектора путем приближений этих чисел шкалой (последовательностью) с шагом 1/μ, значение μ подбирают до наилучшего совмещения минимумов функционалов ошибки для времен жизни τ+ и τ- двух спиновых мод распада и их среднего арифметического значения, причем обработка проводится независимо для двух наборов данных, отличающихся значениями потока, а решение по μ и τ определяется пересечением функционалов этих наборов вблизи минимумов, близких к 1, причем коэффициент спиновой корреляции (асимметрия распада) определяется по формуле где - есть средняя спиральность частиц, испускаемых при распаде, определяемая из измеренного спектра частиц или из табличных данных. Технический результат - повышение точности измерения асимметрии распада нейтронов. 4 ил.

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к метрологии нейтронного излучения, и может быть использовано при калибровке каналов измерения расхода теплоносителя в первом контуре корпусных ядерных реакторов. Способ включает измерение и запись величины плотности нейтронного потока при различных условиях его формирования с помощью ионизационной камеры деления. Согласно изобретению калибровку каналов измерения плотности нейтронного потока производят за пределами реактора, при этом измерение плотности нейтронного потока осуществляют двумя измерительными каналами в два этапа: на первом этапе размещают источник нейтронов напротив датчика первого измерительного канала, предназначенного для установки на трубопроводе первого контура ядерного реактора со стороны выхода теплоносителя из реактора, при этом расстояние l1 от источника нейтронов до этого датчика выбирают таким образом, чтобы скорость счета N1 в первом измерительном канале соответствовала плотности нейтронного потока на трубопроводе, и регистрируют эту скорость счета N1, на втором этапе размещают источник нейтронов напротив датчика второго измерительного канала, предназначенного для установки на трубопроводе первого контура ядерного реактора со стороны возврата теплоносителя в реактор, и выбирают расстояние l2 между источником нейтронов и вторым датчиком по формуле , где v - скорость потока теплоносителя; L - расстояние между датчиками на трубопроводе; τ - период полураспада изотопа 17N, затем настраивают чувствительность второго измерительного канала таким образом, чтобы его скорость счета N2 была равна после чего устанавливают датчики на трубопровод. Технический результат - повышение точности калибровки каналов измерения плотности нейтронного потока и сокращение времени на ее проведение.

Устройство может быть использовано для изготовления цилиндрических трубок из пластика или металлопластика для газонаполненных дрейфовых детекторов ионизирующего излучения. Рабочий орган для ультразвуковой сварки представляет собой сонотрод со сферической рабочей поверхностью и установлен с возможностью его прижатия во время сварки к наковальне. Подающая бобина снабжена регулируемым натяжителем ленты. Упор для формирования ленты в U-образный профиль имеет регулировочный узел для точного позиционирования продольных кромок заготовки трубки относительно сонотрода и наковальни. Фильера имеет средство для точного позиционирования ее относительно наковальни. Устройство снабжено кареткой для закрепления в ней конца трубки, которая имеет возможность перемещения по направляющей для вытягивания трубки. Каретка снабжена соплом для подачи газа под избыточным давлением в сваренную часть трубки. Полученные трубки имеют минимально возможную толщину, обладают достаточной прочностью для эксплуатации при рабочем давлении газа внутри трубки. Максимально увеличена гладкость внутренней поверхности сварного шва за счет исключения свисания его кромки по всей длине. Изготовленные с помощью устройства трубки обеспечивают малое искажение электрического поля внутри, что положительно влияет на эффективность работы детектора. 5 ил.

Изобретение относится к области измерении плотности потока нейтронов с помощью различных типов детекторов, в частности пропорциональных и коронных счетчиков медленных нейтронов, импульсных камер деления. Способ регистрации нейтронов в присутствии гамма-излучения с тактовой процедурой измерений включает измерение постоянного тока Iγ, возникающего в детекторе нейтронов под действием гамма-излучения, при этом порог рабочей дискриминации UДраб для регистрации скорости счета нейтронов устанавливается по двум значениям скорости счета собственных шумов детектора на нерабочей ветви интегрального спектра импульсов, когда в логарифмическом масштабе прямая, соединяющая эти значения - 1-го (NШ1) - максимально высокого в пределах разрешающей способности усилительного тракта, 2-го (NШ2) - низкого, выбранного с соблюдением условия NШ2≥10·Nn, где Nn - ожидаемая скорость счета нейтронов, экстраполируется на ось дискриминаций, имеющую линейный масштаб, и точка пересечения на оси дискриминаций в области NШ≤(10-1-10-2)·Nn принимается в качестве UДраб, при котором можно пренебречь вкладом шумовых импульсов в измеряемую после установки UДраб скорость счета нейтронов Nn, а в канал измерения тока Iγ дополнительно вводятся автоподстройка значений высокого напряжения детектора Uвыс1 (перед автоподстройкой нуля схемы измерения тока Iγ), Uвыс2 (перед измерением тока Iγ) и реперный сигнал с автоконтролем его воспроизводимости. Технический результат - исключение влияния нестабильности работы канала детектирования нейтронов на результаты текущих измерений с обеспечением максимально возможной эффективности детекторов при любых значениях мощности дозы гамма-излучения. 2 ил., 1 табл.

Изобретение относится к полупроводниковым детекторам для регистрации корпускулярных излучений, в частности к алмазным детекторам тепловых нейтронов. Алмазный детектор тепловых нейтронов состоит из алмазной пластины, двух контактных электродов, конвертора тепловых нейтронов и внешних выводов для подачи напряжения смещения и съема выходного сигнала, при этом один из контактных электродов выполнен в виде набора графитовых столбиков, расположенных в объеме алмазной пластины так, чтобы расстояние от торцов графитовых столбиков до второго контактного электрода не превышало 5-10 мкм, при этом основания графитовых столбиков параллельно подсоединены к выводу для подачи напряжения смещения, а конвертор тепловых нейтронов установлен над поверхностью другого контактного электрода. Технический результат - снижение чувствительности к фоновому гамма-излучению. 1 ил.
Изобретение относится к области ядерной техники. Эмиссионный нейтронный детектор содержит коллектор и эмиттер, отделенные друг от друга изоляционным материалом, при этом эмиттер выполнен из порошка двуокиси гафния, заключенного в металлическую оболочку, при этом оболочка эмиттера выполнена толщиной от 0,14 мм до 0,20 мм, а масса двуокиси гафния на 1 м чувствительной части детектора выбрана в диапазоне от 6,4 г до 7,1 г. Технический результат - повышение точности контроля плотности потока нейтронов в ядерном реакторе.

Изобретение относится к области технической физики. Устройство для спектрометрии нейтронов состоит из водородсодержащих замедлителей быстрых нейтронов цилиндрической формы, регистраторов тепловых и медленных нейтронов, расположенных вдоль центральной оси устройства, борного фильтра и цилиндрических углублений на торцевой поверхности замедлителя, обращенной к источнику излучений, при этом в качестве регистраторов нейтронов используют активационные детекторы в кадмиевом чехле и без чехла, которые размещены в контейнере попарно на расстояниях не более длины диффузии тепловых нейтронов в замедлителе, а цилиндрические углубления заполнены вставками, при этом контейнер и вставки выполнены из материала замедлителя. Технический результат - измерение энергетического спектра направленного потока нейтронов в широком диапазоне энергий при высоких уровнях сопутствующего гамма-излучения. 5 ил.

Изобретение относится к области измерения излучений. Устройство для измерения потока нейтронов содержит первичный преобразователь в виде ионизационной двухсекционной трехэлектродной камеры, к общесекционному электроду которой подключен однополярный источник питания, а к разнополярным электродам, к положительному, входящему в состав нейтронной секции, и к отрицательному, входящему в состав компенсационной секции, - блоки измерения тока, которые связаны с блоком обработки выходных сигналов, при этом блоки измерения тока состоят из преобразователя ток-напряжение, выполненного на основе линейного усилителя с переключающимися пределами измерения или на основе логарифмического усилителя, выход которого подключен к входу аналого-цифрового преобразователя, управляемого микроконтроллером, выход которого через интерфейс связи подключен к интерфейсу связи блока обработки выходных сигналов, который имеет возможность подключения к вычислительному устройству более высокого уровня и включает в себя свой микроконтроллер, позволяющий автоматически корректировать с учетом сигнала, полученного от блока измерения тока по гамма-излучению, сигнал, полученный от блока измерения тока по нейтронной составляющей, и производить вычисление потока нейтронов, а однополярный источник питания включает в себя высоковольтный преобразователь напряжения, подключенный к своему микроконтроллеру, позволяющему осуществлять автоматический контроль и коррекцию выходного напряжения и подключенному через интерфейс связи к интерфейсу связи блока обработки выходных сигналов. Технический результат - повышение достоверности и точности результатов измерения и расширение функциональных возможностей устройства. 1 ил.

Автоматизированная система контроля нейтронно-физических параметров исследовательской ядерной установки (ИЯУ) может быть использована для создания систем контроля, управления и измерения в составе систем управления и защиты СУЗ ИЯУ, для обеспечения безопасности работы ИЯУ в импульсном, квазиимпульсном и статическом режимах. Технический результат - повышение точности и надежности мониторинга выходных характеристик ИЯУ при всех режимах работы ИЯУ. Автоматизированная система контроля включает систему измерения физических характеристик, построенную по многоканальному параллельному принципу и содержащую подсистему контроля мощности с токовыми и импульсными ионизационными камерами, подсистему контроля температуры и подсистему накопления и обработки информации, включающую процессоры, работающие по заданным программам, обрабатывающие и преобразующие сигналы датчиков с сохранением данных и передачей их для формирования сигналов аварийной защиты в вычислительное устройство более высокого уровня, кроме этого содержит подсистему контроля параметров импульса ИЯУ и подсистему контроля временных интервалов от момента запускающего сигнала до моментов прихода остальных сигналов. 1 ил.
Наверх