Устройство для получения изображения микрообъектов



Устройство для получения изображения микрообъектов
Устройство для получения изображения микрообъектов

Владельцы патента RU 2531760:

Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт космических исследований Российской академии наук (ИКИ РАН) (RU)

Изобретение относится к оптическим приборам, а именно к устройствам для получения изображения микрообъектов, и может быть использовано в комплексах исследовательского оборудования космических аппаратов. Устройство для получения изображения микрообъектов включает микрокювету, систему освещения, основную систему регистрации в виде ПЗС-матрицы и оптические элементы, образующие микроскоп. Устройство снабжено аналитическим устройством, состоящим из источника когерентного монохроматического излучения, дополнительной системы регистрации и электронного блока. Электронный блок обеспечивает возможность распознавания дифракционных колец и определения местоположения дифрагирующего микрообъекта. Технический результат - расширение функциональных возможностей устройства и, как следствие, обеспечение возможности уменьшения объема регистрируемых с помощью микроскопа данных при значительном увеличении их информативности. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

 

Изобретение относится к оптическим приборам, а именно к устройствам для получения изображения микрообъектов, и может быть использовано в комплексах исследовательского оборудования космических аппаратов.

В космических экспериментах постоянной проблемой является противоречие между необходимостью получения большого объема научной информации и ограниченными техническими возможностями линии связи. Хорошим примером может послужить международный проект исследований спутников Юпитера. Гипотетические микроорганизмы, поиск которых предполагается провести методами телевизионной микроскопии в образцах исследуемого материала, будут находиться, например, в жидкой капле захваченной среды. Ожидается, что их концентрация будет очень низкой, поэтому значительная часть передаваемой информации окажется бесполезной загрузкой радиолинии, в то время как возможности радиолинии для передачи научных данных на Землю крайне ограничены.

При этом в общем случае для поиска микроорганизмов в исследуемой среде микроскопия все же наиболее предпочтительна, т.к. дает прямой, «визуальный» ответ, не допускающий неоднозначное толкование. На аппарате ФЕНИКС (Марс, NASA, 2004-2006) были установлены 2 телевизионных микроскопа для получения и передачи изображения. Для близкого Марса и аппарата с направленной антенной такое решение приемлемо. Но в случае всенаправленной антенны, как на посадочном аппарате для исследования спутников Юпитера, большой размер файла микроскопических изображений предъявляет слишком высокие требования к передаче информации на Землю. Существование густонаселенных колоний микроорганизмов на космических объектах вряд ли можно ожидать, поэтому изображение, полученное с помощью микроскопа, установленного в аппаратуре космического аппарата, может либо не содержать никакой информации, либо полезная информация может составлять ничтожную часть передаваемых данных, что делает перспективу эксперимента сомнительной.

Известно устройство для получения изображения микрообъектов, включающее микрокювету, систему освещения, основную систему регистрации в виде ПЗС-матрицы и оптические элементы, образующие микроскоп (см. заявку WO 2008154869, кл. G02B 21/36, опубл. 24.12.2008). В свете вышеизложенного недостатками известного устройства являются избыточность регистрируемой информации и невозможность идентификации наличия в исследуемой среде микрообъектов.

Известно также техническое решение, а именно статья «Модифицированный лазерный дифрактометр для исследования биологических микрообъектов», Е.Т. Аксенов, Д.В. Мокрова. Письма в ЖКТ, 2008, том 34, вып.20, 26.10.2008, всего - 6 страниц, содержащий микрокювету, систему освещения, основную систему регистрации в виде ПЗС-матрицы, а так же аналитическое устройство, состоящее из источника когерентного монохроматического излучения, дополнительной системы регистрации и электронного блока, обеспечивающего возможность распознавания дифракционных колец (стр.39 строки - 2, 4, стр.40 строка - 2, стр.41 строки - 1-3, стр.43, строки - 2-3, рисунок 1). В этом устройстве для получения изображения микрообъектов не обеспечивается возможность определения местоположения дифрагирующего микрообъекта.

Задачей изобретения является обеспечение возможности автоматически находить исследуемые микрообъекты и направлять для передачи через радиолинию содержательную информацию. Технический результат заключается в расширении функциональных возможностей устройства и, как следствие, обеспечении возможности уменьшения объема регистрируемых с помощью микроскопа данных при значительном увеличении их информативности. Поставленная задача решается, а технический результат достигается тем, что устройство для получения изображения микрообъектов, включающее микрокювету, систему освещения, основную систему регистрации в виде ПЗС-матрицы и оптические элементы, образующие микроскоп, снабжено аналитическим устройством, состоящим из источника когерентного монохроматического излучения, дополнительной системы регистрации и электронного блока, обеспечивающего возможность распознавания дифракционных колец и определения местоположения дифрагирующего микрообъекта, при этом система освещения снабжена автоматическим устройством перемещения, соединенным с диагональным зеркалом, причем автоматическое устройство перемещения по сигналу электронного блока аналитического устройства обеспечивает расположение системы освещения между источником когерентного монохроматического излучения и микрокюветой, а диагонального зеркала - между микрокюветой и дополнительной системой регистрации. Источник когерентного монохроматического излучения и дополнительная система регистрации предпочтительно жестко закреплены напротив микрокюветы с разных сторон от нее.

На фиг.1 представлена схема предлагаемого устройства в момент функционирования аналитического устройства;

на фиг.2 - то же, в момент функционирования микроскопа.

Предлагаемое устройство содержит микрокювету 1, систему получения изображения и аналитическое устройство. Система получения изображения состоит из системы освещения 2 в виде диодной подсветки, диагонального зеркала 3, основной системы регистрации 4 в виде ПЗС-матрицы и оптических элементов 5 (на чертежах показаны условно), образующих микроскоп. Аналитическое устройство (дифрактометр), в свою очередь, состоит из источника когерентного монохроматического излучения (лазера 6 со сканером 7), дополнительной системы регистрации 8 также в виде ПЗС-матрицы и электронного блока (позицией не обозначен), способного по данным системы регистрации 8 распознавать дифракционные кольца и определять местоположение дифрагирующего микрообъекта. В начальном положении лазер 6 и система регистрации 8 жестко закреплены напротив микрокюветы 1 с разных сторон от нее. В случае, если электронным блоком распознана система дифракционных колец, по его сигналу срабатывает автоматическое устройство перемещения (позицией не обозначено) в виде пластинчатого подвеса, управляемого электромагнитом (что позволяет избежать механического скольжения или вращения), которое располагает систему освещения 2 между лазером 6 и микрокюветой 1, а диагональное зеркало 3 - между микрокюветой 1 и системой регистрации 8 (фиг.2).

Работа предлагаемого устройства опирается на оптический принцип, связанный с явлением дифракции (см. Born, М. and Wolf, E., Principles of Optics, 6-th edition, Pergamon Press Ltd., 1980, pp.370-458; Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М., Наука, 1973. Гл. 8-10). Когда когерентное излучение падает на тонкий слой исследуемой среды (например, плоскую микрокювету 1), включенные в нее неоднородности образуют дифракционные кольца на экране, расположенном за исследуемой средой. В предлагаемом устройстве экраном является система регистрации 8. Аналитическое устройство (дифрактометр) работает в качестве детектора объектов, концентрация которых невелика, и определяет их положение и размеры по возникающим кольцам. Если лазерный луч встречает небольшое препятствие в микрокювете 1, в системе регистрации 8 формируется соответствующая дифракционная картина. Если размер микрообъекта D, а длина волны λ=0.9 мкм, то угол Ф, образующий кольцо, есть Ф=1.22λ/D. Соответственно, если расстояние увеличения L=50 мм, а первый дифракционный диск составляет 2R=1.9 мм, угол Ф=1.9/50=3.8·10-2, а размер микрообъекта D=1.22 λL/R=0.028 мм.

Полученное изображение колец передаче по радиолинии не подлежит, но расположение колец используется для программного вычисления координат каждой неоднородности (например, микроорганизма) в исследуемой среде. Одновременно кольца позволяют определить размеры малых объектов, так как чем меньше размер объекта D, тем больше радиус первого кольца дифракции R~1/D. Затем соответствующие малые участки исследуемой среды по найденному их положению подвергаются сканированию с помощью микроскопа, и только полученное микроизображение вместе с его характеристиками передается по радиолинии. Таким образом, удается избежать получения и передачи бесполезной информации. Если неоднородности не найдены, система переходит к следующему циклу измерений.

Таким образом, процесс измерений состоит из двух шагов.

Шаг 1. Выполняется поиск и регистрация возникающих в дифрактометре дифракционных колец. Указанный поиск выполняется путем сканирования образца когерентным параллельным пучком лазера 6 через сканер 7. Кольца регистрируются системой 8 (фиг.1). В эскизном проекте для объекта с размером D=28 мкм (диапазон размеров 0,9-28 мкм примерно соответствует средним размерам земных бактерий) радиус первого дифракционного кольца составляет R=1,9 мм. Изображение с обнаруженными кольцами используется для вычисления координат искомых объектов.

Шаг 2. Выполнятся сканирование выбранных участков изображения микрокюветы 1 с помощью микроскопа. Для этого в канал измерений вводятся система освещения 2 и диагональное зеркало 3. Лазер 6 и дополнительная система регистрации 8 отключаются, действуют оптические элементы микроскопа 5 и основная система регистрации 4 (фиг.2) Система освещения 2 подсвечивает микрокювету 1, оптические элементы 5 строят ее увеличенное изображение на плоскости системы регистрации 4. выбранные фрагменты (микроизображения) заносятся в память и передаются по радиолинии.

Разумеется, обнаруженные объекты не обязательно будут микроорганизмами. Если оснастить прибор программой интеллектуального анализа, можно изображения включений с заведомо неорганической природой не передавать.

Технические характеристики устройства зависят от конкретной задачи. Для миссии к спутникам Юпитера, согласно эскизному проекту, мощность, потребляемая камерой, составит 2 Вт, а масса прибора около 0,6 кг. При использовании программного сжатия изображения размер передаваемого файла может составлять всего 2 кБ.

Таким образом, предлагаемое изобретение позволяет обойти ограничения, накладываемые узкополосной телеметрической системой, и преодолеть противоречия между обнаружением интересных объектов и передачей данных при поиске микроорганизмов методом телевизионной микроскопии.

1. Устройство для получения изображения микрообъектов, включающее микрокювету, систему освещения, основную систему регистрации в виде ПЗС-матрицы и оптические элементы, образующие микроскоп, отличающееся тем, что оно снабжено аналитическим устройством, состоящим из источника когерентного монохроматического излучения, дополнительной системы регистрации и электронного блока, обеспечивающего возможность распознавания дифракционных колец и определения местоположения дифрагирующего микрообъекта, при этом система освещения снабжена автоматическим устройством перемещения, соединенным с диагональным зеркалом, причем автоматическое устройство перемещения выполнено с возможностью обеспечения по сигналу электронного блока аналитического устройства расположения системы освещения между источником когерентного монохроматического излучения и микрокюветой, а диагонального зеркала - между микрокюветой и дополнительной системой регистрации.

2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что источник когерентного монохроматического излучения и дополнительная система регистрации жестко закреплены напротив микрокюветы с разных сторон от нее.



 

Похожие патенты:

Изобретение относится к микроскопии и может быть использовано в биологии, медицине, машиностроении, оптическом приборостроении. Интерференционный микроскоп содержит микроскоп светлого поля для формирования увеличенного изображения объекта в задней фокальной плоскости, 4f оптическую систему из двух фурье-объективов, передняя фокальная плоскость которой совпадает с задней фокальной плоскостью микроскопа светлого поля.

Изобретение относится к микроскопии. Согласно способу формирование изображения микрообъекта реализуют при помощи конфокального сканирующего микроскопа.

Изобретение относится к нелинейному лазерному сканирующему микроскопу для гибкого неинвазивного трехмерного детектирования, в частности на тканях человека и животных, а также на неживой материи.

Микроскоп содержит платформу для размещения образца, выполненную с возможностью перемещения по крайней мере в вертикальном и горизонтальном направлениях, источник лазерного излучения для направления излучения, падающего на исследуемый образец через полуволновую пластинку, установленную на автоматизированной вращающейся платформе, систему зеркал, фокусатор, приемную часть для автоматической настройки положения исследуемой точки поверхности образца в фокусе фокусатора при приеме отраженного от исследуемого образца излучения на частотах второй гармоники и двухфотонной люминесценции.

Изобретение относится к области электронной техники и материаловедению и может быть использовано для неразрушающего контроля структур сложных молекул в реальном времени при исследовании и диагностике микро- и наноструктуры твердотельных объектов применительно к созданию новых полупроводниковых приборов, углеродных нанотрубок, металлов и сплавов, алмазных пленок, керамических материалов и приборов на их основе, а также в медицине и органической химии.

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам измерения с помощью сканирующего зондового микроскопа (СЗМ) рельефа, линейных размеров и других характеристик объектов, преимущественно в биологии, с одновременным оптическим наблюдением объекта в проходящем через объект свете.

Изобретение относится к оптике, а именно к исследовательским микроскопам. .

Изобретение относится к области микроскопии. .

Изобретение относится к микроскопии и может быть использовано в биологии, медицине, оптическом приборостроении. Техническая задача, решаемая настоящим изобретением, состоит в уменьшении фазовых искажений, повышении линейности фазового сдвига и повышении точности измерений. Фазово-интерференционный модуль содержит микроскоп для формирования увеличенного изображения микрообъекта в задней фокальной плоскости этого микроскопа, 4f оптическую систему из двух фурье-объективов, передняя фокальная плоскость которой совпадает с задней фокальной плоскостью микроскопа. В задней фокальной плоскости 4f оптической системы располагается регистратор выходного изображения. Внутри 4f оптической системы до общей фокальной плоскости располагается светоделитель. В общей фокальной плоскости 4f оптической системы размещен фазовый пространственный фильтр Цернике, работающий на отражение, выполненный в виде плоского зеркала, состоящего из неподвижной плоской зеркальной детали с узким отверстием в центре и подвижной плоской зеркальной детали, установленной в этом отверстии с возможностью перемещения в направлении нормали к поверхности неподвижной детали. Центр подвижной плоской зеркальной детали совпадает с оптической осью 4f оптической системы. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

Изобретение может быть использовано в качестве измерительной системы для неинвазивной экспресс-диагностики многокомпонентных биологических сред для определения вирусов, бактерий и других микроорганизмов. Микроскоп содержит источник излучения, фокусирующий объектив, диафрагму и кювету для размещения исследуемого объекта, расположенные вдоль оптической оси, матрицу фотоприемников, электронно-вычислительную систему, включающую блок обработки, программное обеспечение и ПК. Дополнительно до кюветы введен фильтр для сглаживания Гауссового распределения пучка излучения и получения равномерного освещения по сечению пучка. Кювета имеет прозрачное плоское входное окно. Выходное окно кюветы имеет форму полусферы с радиусом, равным расстоянию от входного до выходного окна кюветы. Матрица фотоприемников имеет форму полусферы, которая расположена параллельно выходному окну кюветы, повторяет его форму и жестко с ним связана. Технический результат - сохранение одинаковой светосилы по сечению кюветы и увеличение разрешения ЦГМ. 3 ил.

Изобретение относится к системе оптической микроскопии для ослабления стимулированного излучения (STED) исследуемого объекта. Для фокусировки первого луча возбуждения и второго луча ослабления на объекте используется оптический элемент, который тем самым определяет общий оптический путь для обоих первого и второго лучей. В общий оптический путь введен элемент изменения фазы, который оптически сконфигурирован таким образом, чтобы оставлять по существу неизменным волновой фронт первого луча и изменять волновой фронт второго луча, чтобы создавать представляющую интерес неослабленную область на объекте. Первый и второй лучи имеют общий оптический путь, и элемент изменения фазы изменяет волновой фронт или фазу таким образом, что он не оказывает никакого влияния на первый луч, в то время как во втором луче он вносит опережение в волновой фронт или в фазу, что приводит к образованию ослабленной области в объекте в фокальной плоскости. Технический результат - упрощение конструкции оптических элементов для STED-микроскопии. 3 н. и 9 з.п. ф-лы, 5 табл., 12 ил.

Микроскоп содержит осветительный блок, в котором из коллимированного света формируется квадратная матрица лучей дифракционным оптическим элементом, фокусирующим эти лучи в плоскость матрицы конфокальных диафрагм и направляющим их через светоделительный кубик, модуль сканирования и фокусирующую оптику на объект. Отраженные от объекта лучи возвращаются в обратном направлении, отклоняются кубиком и попадают в регистрирующий блок на матрицу фотодетекторов через дополнительную матрицу конфокальных диафрагм, модуль сканирования и фокусирующую оптику. Модуль сканирования содержит две преломляющие плоскопараллельные пластины, установленные на ортогональных осях роторов. Движение пластин синхронизировано с движением пластин аналогичного модуля сканирования регистрирующего блока. Во втором варианте дифракционный оптический элемент фокусирует световые лучи в плоскость матрицы диафрагм через светоделительный кубик, а отраженные от объекта лучи отклоняются кубиком и попадают на матрицу фотодетекторов через светофильтр, модуль сканирования и фокусирующую оптику. Технический результат - устранение эллиптичности сечения лазерного луча и упрощение конструкции при сохранении высокого разрешения и точности. 2 н.п. ф-лы, 7 ил.

Изобретение относится к методикам измерения наноразмерных объектов и более конкретно к оптической измерительной системе и соответствующему способу измерения для определения критического размера (CD) для наноразмерных объектов. Оптическая измерительная система на основе оптического микроскопа для измерения CD содержит оптический модуль, выполненный с возможностью освещения образца и регистрации дефокусированных изображений наноструктурированной поверхности образца, модуль управления параметрами оптической системы, модуль измерения комплексной оптической передаточной функции (OTF); модуль вычисления дефокусированных изображений, модуль оценки CD наноструктуры, выполненный с возможностью сравнения зарегистрированных и вычисленных дефокусированных изображений наноструктурированной поверхности и возвращения значения CD наноструктуры в результате упомянутого сравнения. Технический результат состоит в повышении точности определения критического размера путем нахождения наилучшего соответствия между зарегистрированными и вычисленными дефокусированными изображениями с учетом OTF оптической измерительной системы. 2 н. и 15 з.п. ф-лы, 4 ил.

Изобретение относится к устройству для размещения объектов, подлежащих медицинскому исследованию посредством продувки. Устройство содержит средство крепления контейнера, узел всасывания со средством выталкивания и всасывания воздуха, узел нагнетания воздуха для создания, средство перемещения фильтра к узлу всасывания и узлу нагнетания воздуха. Контейнер имеет первый фильтр крышки у отверстия и содержит смешанный раствор с исследуемыми объектами. Средство выталкивания и всасывания воздуха соединено с фильтром для обеспечения прохождения раствора и блокирования исследуемых объектов в состоянии, когда отверстие контейнера, содержащего смешанный раствор, соединено с верхним концом фильтра, выталкивая воздух к нижней стороне фильтра для обеспечения всплытия исследуемых объектов в контейнере, и всасывания для размещения исследуемых объектов внутри контейнера на фильтре. Когда предметное стекло расположено на верхнем конце фильтра, на котором размещены исследуемые объекты, узел нагнетания воздуха имеет возможность обеспечивать положительное давление в нижнем конце фильтра и размещение исследуемых объектов, находящихся на фильтре, на предметном стекле. Обеспечивается повышение точности проводимого исследования. 4 з.п. ф-лы, 11 ил.

Изобретение относится к области интерференционной оптики и может быть использовано для определения рельефа поверхности на основе фазового изображения, например, в интерференционных микроскопах. Согласно способу получения фазового изображения когерентный лазерный луч разделяют на два луча, первый из которых направляют на фазово-контрастный объект, а второй - на эталонное зеркало. Отраженный первый луч и отраженный второй луч совмещают и направляют на фотоприемник, после чего определяют фазу каждой области фазово-контрастного объекта. При этом предварительно определяют фазовый набег каждой области эталонного зеркала, который получают на основе многократного измерения фазы на каждом пикселе фотоприемника при случайном смещении тестовой поверхности в каждом измерении с последующим усреднением результатов измерений. Измеренная ранее фаза каждой области фазово-контрастного объекта является промежуточной фазой, а истинную фазу каждой области фазово-контрастного объекта получают путем корректировки промежуточной фазы на фазовый набег, соответствующей данному пикселю области эталонного зеркала. Достигается учет как систематической, так и случайной составляющей погрешности фазового изображения, возникающей вследствие неточного исполнения опорного зеркала. 3 з.п. ф-лы, 1 ил.

Оптический прибор для формирования оптического изображения, предназначенного для наблюдения наблюдателем, содержит оптическую систему для формирования оптического изображения объекта, видимого наблюдателю на выходном зрачке. Также прибор содержит дифракционный элемент, который обеспечивает формирование единого увеличенного выходного зрачка. При этом дифракционный элемент содержит набор дифракционных модулей, каждый из которых формирует один из выходных зрачков набора выходных зрачков. Также каждый дифракционный модуль содержит микролинзу, которая выполнена с возможностью обеспечения дифракционной интерференции света и формирования множества выходных зрачков, смещенных относительно друг друга в виде набора выходных зрачков. Дифракционные модули расположены последовательно в радиальном направлении наружу от оптической оси дифракционного элемента и выполнены в таком порядке, чтобы учитывать возрастающее угловое смещение для обеспечения возможности передачи света от принятого изображения в общую область на плоскости наблюдения напротив апертуры дифракционного элемента. Технический результат заключается в обеспечении высокой чёткости изображения при исключении из системы полевой линзы. 4 н. и 64 з.п. ф-лы, 4 ил.

Изобретение относится к технологиям количественной фазовой микроскопии и предназначено для измерения пространственного распределения фазовой задержки, вносимой прозрачным микрообъектом, в произвольных узких спектральных интервалах. Способ заключается в том, что прошедшее через микрообъект коллимированное широкополосное оптическое излучение фильтруется и поляризуется с помощью перестраиваемого монохроматора и поляризатора, и затем делится на два идентичных пучка, которые сводятся под углом и направляются на вход 4f-системы, в которой в плоскости промежуточного изображения осуществляется пространственная фильтрация одного из них с выделением в нем узконаправленного излучения в виде плоской волны, далее регистрируется картина их интерференции матричным приемником излучения. Процедура повторяется для всех требуемых спектральных компонент. Технический результат – возможность получения изображений фазовых микрообъектов в произвольных узких спектральных интервалах, упрощение конструкции, уменьшение габаритов. 2 н. и 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

Микроскоп может быть использован при юстировке оптических систем, а также для контроля погрешностей центрирования линз. Микроскоп содержит два измерительных канала. Первый канал содержит размещенные по ходу луча источник излучения с длиной волны λ1, первый коллимирующий объектив, первый светоделитель, в отраженных лучах которого расположены первый спектроделитель и фокусирующий объектив, в предметной плоскости которого расположена контролируемая поверхность. В преломленных лучах первого светоделителя в обратном ходе от контролируемой поверхности расположен первый объектив и первый многоэлементный приемник излучения. Второй канал состоит из источника излучения с длиной волны λ2 и размещенных по ходу луча второго коллимирующего объектива, второго спектроделителя, в отраженных лучах которого расположен второй светоделитель, а в преломленных лучах в обратном ходе от контролируемой поверхности расположен второй объектив и второй многоэлементный приемник излучения. В отраженных лучах второго светоделителя расположен первый спектроделитель. Технический результат - возможность высокоточных угловых и линейных измерений на одном приборе и минимизация габаритов. 22 з.п. ф-лы, 9 ил.
© Патентный поиск, поиск патентов на изобретения - FindPatent.RU 2012-2024
Политика конфиденциальности 2014-10-27 2014-10-26T17:23:23
Наверх