Патент ссср 263170

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОЬРЕтЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сова Свветских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 27.1.1969 (№ 1299085/25-28) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 28.Х.1971. Бюллетень ¹ 32

Дата опубликования описания 23,XII.1971

МПК G 01Ь 15i02

G 01п 23,20

Комитет ло делам иаобретений и открытий лри Совете Министров, СССР

УДК 620.179.152.2 (088.8) Автор изобретения

Ю. А. Скобло

Заявитель

РАДИАЦИОННЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ

Предмет изобретения

Известен способ измерения толщины с помощью обратно рассеянного гамма-излучения, заключающийся в том, что изделие облучается гамма-лучами и регистрируется обратно рассеянное излучение, по величине которого судят о толщине изделия, а прямое излучение задерживается защитным устройством, выполненным в виде конуса.

Недостатком известного способа является утяжеление массы датчика и невозможносгь 10 уменьшения погрешности при измерении толщин изделий из материалов с малым коэффициентом обратного рассеяния гамма-квантов.

Предлагаемый способ отличается от из- 15 вестного тем, что с целью повышения точности измерения за изделием со стороны, противоположной падению гамма-лучей, помещают подложку из материала, коэффициент обратного рассеяния гамма-квантов которого 20 больше, чем у материала изделия, а абсолютное значение отношения производной скорости счета от толщины к квадратному корню из полной скорости счета для измеряемой толщины при наличии подложки боль- 2s ше аналогичного отношения при отсутствии подложки.

Предлагаемый способ может быть реализован практически со всеми отражательными гамма-толщиномерами. При необходимости измерения толщины с постоянной точностью эффект от применения подложки может быть выра кен в уменьшении необходимой активности источника или времени измерения.

Радиационный способ измерения толщины, заключающийся в том, что изделие облучают гамма-лучами и регистрируют обратно рассеянное излучение, по величине которого судят о толщине изделия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, за изделием со стороны, противоположной паденшо гамма-лучей, помещают подложку из материала, коэффициент обратного рассеяния гаммаквантов которого больше, чем у материала изделия, а абсолютное значение отношения производной скорости счета от толщины к квадратному корню из полной скорости счета для измеряемой толщины при наличии подложки больше аналогичного отношения при отсутствии подложки.

Патент ссср 263170 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и предназначено для измерения толщины покрытий на подложках (в том числе и многослойных)

Изобретение относится к газо- и нефтедобыче и транспортировке, а именно к методам неразрушающего контроля (НК) трубопроводов при их испытаниях и в условиях эксплуатации

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного контроля уменьшения толщины реборды железнодорожных колес подвижных составов

Изобретение относится к бесконтактным методам определения толщины покрытий с помощью рентгеновского или гамма-излучений и может быть использовано в электронной, часовой, ювелирной промышленности и в машиностроении

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического бесконтактного измерения износа толщины реборды железнодорожных (ЖД) колес подвижных составов

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля, а именно к радиоизотопным приборам для измерения толщины или поверхностной плотности материала или его покрытия

Изобретение относится к области неразрушающего контроля тепловыделяющих элементов (твэлов) ядерных реакторов, изготовленных в виде трехслойных труб различного профиля и предназначено для автоматического измерения координат активного слоя, разметки границ твэлов, измерения равномерности распределения активного материала по всей площади слоя в процессе изготовления
Наверх