Способ определения центральной частоты симметричной оптической структуры (варианты) и устройство для его реализации

Изобретение относится к области оптических измерений, в частности к способам и устройствам для определения центральной частоты симметричной оптической структуры. При реализации способов определения центральной частоты симметричной оптической структуры генерируют одночастотное зондирующее излучение, преобразуют его в двухчастотное, подают его на вход и принимают с выхода симметричной оптической структуры. Далее перестраивают частоту зондирующего излучения в диапазоне измерений, лежащую в области полосы пропускания симметричной оптической структуры, регистрируют изменения его параметров, по которым вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры. При этом при реализации способа по первому варианту разностную частоту выбирают не превышающей полуширины склонов симметричной оптической структуры. В ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения запоминают первое значение коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m1 и фиксируют соответствующее ему значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения fCP = fCP1. Далее в ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения запоминают второе значение коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m2=m1 и фиксируют соответствующее ему значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения fCP = fCP2. После чего вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры по формуле fЦ = (fCP1 + fCP2)/2. При реализации способа по второму варианту в ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения регистрируют данные двух соседних измерений, в первом из которых коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m3<1, а во втором m=m4=1, и запоминают значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения fCP = fCP4 для второго из них. Далее в ходе перестройки регистрируют данные двух других соседних измерений, в первом из которых коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m5=1, а во втором m=m6<1, и запоминают значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения fCP = fCP5 для первого из них, по которым вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры как fЦ = (fCP4 + fCP5)/2. Устройство для определения центральной частоты симметричной оптической структуры состоит из последовательно соединенных перестраиваемого по частоте источника одночастотного оптического излучения, преобразователя одночастотного оптического излучения в двухчастотное, циркулятора, первого волоконно-оптического кабеля, один конец которого соединен с первым выходом циркулятора, а второй конец - с входом симметричной оптической структуры, второго волоконно-оптического кабеля, один конец которого соединен с выходом симметричной оптической структуры, а второй конец - со вторым входом циркулятора, детектора, перестраиваемого фильтра разностной частоты, а также контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур. Причем перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения, преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное, перестраиваемый фильтр разностной частоты и контроллер управления и измерения центральной частоты имеют входы/выходы управления, объединенные в шину управления. Технический результат изобретения заключается в повышении точности определения центральной частоты как узкополосной, так и широкополосной симметричной оптической структуры. 3 н.п. ф-лы, 4 ил.

 

Техническое решение относится к способам и устройствам оптических измерений, в частности, к способам и устройствам для определения центральной частоты симметричной оптической структуры, значение которой строго регламентируется ITU в телекоммуникационных системах и определяет качество связи, в сенсорных системах является величиной однозначно несущей информацию о величине внешнего воздействия некоторого физического поля или определяет центральное положение области частот радиосигналов обрабатываемых в оптическом диапазоне в радиофотонных системах. Объектом указанных измерений являются симметричные оптические структуры, условно имеющие при линейной аппроксимации трапецеидальную форму: два симметричных склона и плоскую вершину. При этом симметричные оптические структуры будем считать узкополосными, если спектральная протяженность вершины равна нулю, и широкополосными, если больше нуля. Примером первых являются классические волоконно-оптические решетки Брэгга, интерферометры Фабри-Перо, упорядоченные волоконные решетки, тонкопленочные фильтры и т.п., примером вторых - перестраиваемые оптические мультиплексоры ввода-вывода, чипированные решетки Брэгга, полосовые оптические фильтры и т.п.

Известны способы для определения центральной частоты симметричных оптических структур и устройства для их реализации, основанные на использовании широкополосного или одночастотного сканирующего излучения для зондирования оптических полосовых структур на базе оптических анализаторов спектра или векторных и скалярных анализаторов сетей. Данные способы и устройства позволяют определять центральную частоту как узкополосных, так и широкополосных симметричных оптических структур.

Недостатком указанных способов для определения центральной частоты симметричных оптических структур и устройств для их реализации является необходимость использования сложного дорогостоящего блока зондирования симметричных оптических структур и фотоприемного блока для регистрации спектрального смещения центральной частоты. Оптоэлектронная обработка сигналов с выделением центральной частоты из широкого спектра сигналов зондирования, также представляется сложной, и требует наличия либо перестраиваемых лазерных излучателей, либо сложных систем спектральной фильтрациии, либо нескольких фотоприемников, либо, как вариант, системы матричных ПЗС-приемников. Все это приводит к появлению дополнительных источников погрешностей измерения центральной частоты симметричных оптических структур, снижению их точности и невозможности использования указанных устройств в полевых условиях.

Известен способ для определения центральной частоты симметричных оптических структур (описанный в работе Wang Y, Zhang J, Coutinho О, Yao J. «Interrogation of a linearly chirped fiber Bragg grating sensor with high resolution using a linearly chirped optical waveform», Opt Lett. 2015 Nov 1; 40(21)), заключающийся в том, что генерируют одночастотное ЛЧМ оптическое излучение, подают его на вход и принимают с выхода оптической структуры, регистрируют параметры биений зондирующего и отраженного сигналов, по которым далее вычисляют центральную частоту оптической структуры fЦ.

Устройство, реализующее данный способ, содержит последовательно соединенные источник ЛЧМ оптического излучения, контроллер, преобразователь оптического излучения, циркулятор, фотоприемник, контроллер управления и измерения характеристик симметричных оптических структур, волоконно-оптический кабель и оптическую структуру.

Описанный выше способ для определения центральной частоты симметричных оптических структур и устройство для его реализации используют оборудование, применимое в полевых условиях. Данный способ и устройство позволяют определять центральную частоту как узкополосных, так и широкополосных симметричных оптических структур. Их использование позволяет избавиться от применения сложной дорогостоящей спектральной аппаратуры или аппаратуры для векторного или скалярного анализа. Кроме того, применение для анализа центральной частоты симметричных оптических структур биений зондирующего и отраженного сигналов, и перенос информации на частоту биений позволяет избавиться от флуктуаций низкочастотной природы.

Однако недостатком данного способа для определения центральной частоты симметричных оптических структур и устройства для его реализации является наличие паразитной амплитудной модуляции при формировании одночастотного ЛЧМ оптического излучения и малая величина частоты биений, на которой производится анализ центральной частоты, лежащей в области максимальных шумов фотоприемника, что снижает чувствительность, отношение сигнал/шум и точность измерений. Малая величина частоты биений определяется обязательным наличием второй, рядом расположенной опорной решетки, не подверженной воздействию внешних физических полей, что усложняет конструкцию устройства и требования к его эксплуатации в полевых условиях.

Прототипом технического решения для двух вариантов предлагаемого способа является способ для определения центральной частоты симметричных оптических структур (Патент РФ №2512616 С2 на изобретение «Способ измерения параметров физических полей и устройство для его осуществления», МПК G01K 11/32, 10.04.2014), заключающийся в том, генерируют одночастотное оптическое излучение с частотой , формируют из него двухчастотное зондирующее излучение с двумя составляющими равной амплитуды соответственно на частотах и , со средней и разностной частотами , лежащими в области полосы пропускания симметричной оптической структуры, подают его на вход и принимают с выхода симметричной оптической структуры, при этом частоту одночастотного оптического излучения перестраивают в диапазоне измерений, соответствующем полосе частот симметричного оптического фильтра, при чем в ходе перестройки оставляют неизменной, регистрируют изменения параметров двухчастотного зондирующего излучения, а именно, средней частоты двухчастотного зондирующего излучения и коэффициента модуляции т огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения на выходе симметричной оптической структуры, по которым далее определяют центральную частоту симметричной оптической структуры.

Устройство, выбранное в качестве прототипа и реализующее данный способ, содержит последовательно соединенные перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения, преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное, циркулятор, первый волоконно-оптический кабель, узкополосную симметричную оптическую структуру, второй волоконно-оптический кабель, выход которого через второй вход и второй выход циркулятора соединен с детектором, а также контроллер управления и измерения центральной частоты узкополосных симметричных оптических структур, причем перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения, преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное, циркулятор, контроллер управления и измерения центральной частоты узкополосных оптических структур имеют входы/выходы управления, объединенные в шину управления.

Описанный выше способ и устройство, выбранное в качестве прототипа, используют оборудование, применимое в полевых условиях. Его использование, также, как и в приведенном аналоге, позволяет избавиться от применения сложной дорогостоящей спектральной аппаратуры или аппаратуры для векторного или скалярного анализа, а также от шумов низкочастотной природы. Применение для анализа центральной частоты симметричных оптических фильтров биений компонент двухчастотного зондирующего излучения, и перенос информации на частоту биений, которая лежит в области минимальных шумов фотоприемника позволяет повысить чувствительность, отношение сигнал/шум и точность измерений по сравнению с аналогом.

Однако недостатком данного способа и устройства, выбранного в качестве прототипа, является использование широкополосного детектора, ширина полосы пропускания которого может достигать десятков ГГц и определяется полосой пропускания симметричного оптического фильтра и значением большей разностной частоты двухчастотного зондирующего излучения. Данная полоса пропускания больше чем у аналога, и в этом случае интегральный вклад шумов при обработке сигнала на выходе детектора будет значительным.

Вторым недостатком указанных способа и устройства, выбранного в качестве прототипа, является его фактическое назначение для работы с узкополосными симметричными оптическими структурами. Возможность работы с широкополосными оптическими структурами определяется ситуацией, когда разностная частота двухчастотного зондирующего излучения больше, чем спектральная ширина плоской вершины симметричной оптической структуры. В противном случае невозможно определение центральной частоты широкополосных симметричных оптических структур, поскольку при определенных разностной частоте и шаге сканирования возможна ситуация, при которой коэффициент модуляции огибающей биений между компонентами двухчастотного зондирующего излучения будет равен 1 неоднократно, также как и будут равны амплитуды принятых составляющих при ряде последовательных измерений, что противоречит условиям реализации способа.

Решаемая техническая задача (технический результат) для двух вариантов предлагаемого способа и предлагаемого устройства заключается в повышении точности измерений определения центральной частоты как узкополосной, так и широкополосной симметричной оптической структуры.

Решаемая техническая задача в способе для определения центральной частоты симметричной оптической структуры, по его первому варианту, заключающемся в том, что генерируют одночастотное оптическое излучение с частотой , формируют из него двухчастотное зондирующее излучение с двумя составляющими равной амплитуды соответственно на частотах и , со средней и разностной частотами , лежащими в области полосы пропускания симметричной оптической структуры, подают его на вход и принимают с выхода симметричной оптической структуры, при этом частоту одночастотного оптического излучения перестраивают в диапазоне измерений, соответствующем полосе частот симметричной оптической структуры, при чем в ходе перестройки оставляют неизменной, регистрируют изменения параметров двухчастотного зондирующего излучения, а именно, средней частоты двухчастотного зондирующего излучения и коэффициента модуляции m огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения на выходе симметричной оптической структуры, по которым далее определяют центральную частоту симметричной оптической структуры, достигается тем, что разностную частоту выбирают достаточно малой, чтобы не превысить полуширины склонов симметричной оптической структуры, в ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения запоминают некоторое значение коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m1, причем m∈[0,5;1] и фиксируют соответствующее ему значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения , далее в ходе перестройки запоминают значение коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m2=m1 и фиксируют соответствующее ему значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения , завершают перестройку частоты одночастотного оптического излучения вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры как .

Решаемая техническая задача в способе для определения центральной частоты симметричной оптической структуры, по его второму варианту, заключающемся в том, что генерируют одночастотное оптическое излучение с частотой , формируют из него двухчастотное зондирующее излучение с двумя составляющими равной амплитуды соответственно на частотах и , со средней и разностной частотами , лежащими в области полосы пропускания симметричной оптической структуры, подают двухчастотное зондирующее излучение на вход и принимают с выхода симметричной оптической структуры, при этом частоту одночастотного оптического излучения перестраивают в диапазоне измерений, соответствующем полосе частот симметричной оптической структуры, при чем в ходе перестройки разностную частоту оставляют неизменной, регистрируют изменения параметров двухчастотного зондирующего излучения, а именно, средней частоты двухчастотного зондирующего излучения и коэффициента модуляции m огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения на выходе симметричной оптической структуры, по которым далее определяют центральную частоту симметричной оптической структуры, достигается тем, что в ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения регистрируют данные двух соседних измерений, в первом из которых коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m3<1, а во втором m=m4=1, и запоминают значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения для второго из них, далее в ходе перестройки регистрируют данные двух других соседних измерений, в первом из которых коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m5=1, а во втором m=m6<1, и запоминают значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения для первого из них, по которым вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры как .

Решаемая техническая задача в устройстве для определения центральной частоты симметричной оптической структуры, содержащем последовательно соединенные перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения, преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное, циркулятор, первый волоконно-оптический кабель, один конец которого соединен с первым выходом циркулятора, а второй конец - с входом симметричной оптической структуры, второй волоконно-оптический кабель, один конец которого соединен с выходом симметричной оптической структуры, а второй конец - со вторым входом циркулятора, циркулятор вторым выходом соединен с детектором, а также контроллер управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур, причем перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения, преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное, контроллер управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур имеют входы/выходы управления, объединенные в шину управления, достигается тем, что в него дополнительно введен перестраиваемый фильтр разностной частоты, вход которого подключен к выходу детектора, а выход - к входу контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур, который выполнен как контроллер управления и измерения центральной частоты узкополосных и широкополосных симметричных оптических структур, при этом перестраиваемый фильтр разностной частоты имеет вход/выход управления, подключенный к шине управления.

На фиг. 1 изображена структурная схема устройства, реализующего предложенные способы для определения центральной частоты симметричной оптической структуры (по первому и второму вариантам).

На фиг. 2 и фиг. 3 показано спектральное расположение двухчастотного зондирующего излучения (для первого и второго вариантов предлагаемого способа соответственно) относительно симметричной оптической структуры в случае совпадения их средней частоты с резонансной частотой, где - частоты составляющих зондирующего излучения на выходе преобразователя одночастотного оптического излучения в двухчастотное, - средняя частота двухчастотного зондирующего излучения, - центральная (резонансная) частота, m - коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения

На фиг. 4 показана относительная обобщенная расстройка полосы пропускания симметричной оптической структуры, на которой отображена зависимость коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения, полученного на выходе преобразователя одночастотного оптического излучения в двухчастотное, прошедшего через симметричную оптическую структуру и зарегистрированного на выходе перестраиваемого фильтра разностной частоты, от относительной обобщенной расстройки полосы пропускания симметричной оптической структуры.

В приложении 1 и приложении 2 представлены алгоритмы работы контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур для осуществления измерений (для первого и второго варианта предлагаемого способа соответственно).

Устройство для определения центральной частоты симметричной оптической структуры (фиг. 1), содержит последовательно соединенные перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения 1, преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2, циркулятор 3, первый волоконно-оптический кабель 4, один конец которого соединен с первым выходом циркулятора 3, а второй конец - с входом симметричной оптической структуры 5, второй волоконно-оптический кабель 6, один конец которого соединен с выходом симметричной оптической структуры 5, а второй конец - со вторым входом циркулятора 3, циркулятор 3 вторым выходом соединен с детектором 7, а также контроллер управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8, причем перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения 1, преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2, контроллер управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8 имеют входы/выходы управления, объединенные в шину управления 9, достигается тем, что в него дополнительно введен перестраиваемый фильтр разностной частоты 10, вход которого подключен к выходу детектора 7, а выход - к входу контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8, который выполнен как контроллер управления и измерения центральной частоты узкополосных и широкополосных симметричных оптических структур, при этом перестраиваемый фильтр разностной частоты 10 имеет вход/выход управления, подключенный к шине управления.

Изображенными на фиг. 1 штриховыми линиями условно показаны первая 4 и вторая 6 линии передачи, выполненные на основе волоконно-оптического кабеля. Соединения между перестраиваемым по частоте источником одночастотного оптического излучения 1, преобразователем одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2, циркулятором 3 и детектором 7 также показаны штриховыми линиями, поскольку имеют отношения к оптическим блокам. Тип используемых соединений условно не показан, поскольку они могут быть выполнены в любом исполнении, в том числе и в интегральном виде при интегральном объединении всех блоков устройства для определения центральной частоты симметричной оптической структуры. Система электропитания блоков, входящих в состав, условно не показана.

На фиг. 2 и фиг. 3 показано спектральное расположение двухчастотного зондирующего излучения (для первого и второго вариантов предлагаемого способа соответственно) относительно симметричной оптической структуры в случае совпадения их средней частоты с резонансной частотой .

Изображенные на фиг. 2 составляющие двухчастотного зондирующего излучения и их расположение показаны в случае совпадения их средней частоты с резонансной частотой . Сигнал, зондирующий симметричную оптическую структуру, в отличие от существующих аналогов и прототипа, представляет собой двухчастотное зондирующее излучение соответственно с составляющими и , со средней и разностной частотами . Исходные амплитуды составляющих на выходе преобразователя одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 равны.

Изображенные на фиг. 3 составляющие двухчастотного зондирующего излучения и их расположение показаны в случае совпадения их средней частоты с резонансной частотой . Сигнал, зондирующий симметричную оптическую структуру, в отличие от существующих аналогов и прототипа, представляет собой двухчастотное зондирующее излучение соответственно с составляющими и , со средней и разностной частотами . Исходные амплитуды составляющих на выходе преобразователя одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 равны.

На фиг. 4 показана относительная обобщенная расстройка полосы пропускания симметричной оптической структуры 5, на которой отображена зависимость коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения, полученного на выходе преобразователя одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2, прошедшего через симметричную оптическую структуру 5 и зарегистрированного на выходе перестраиваемого фильтра разностной частоты 10, от относительной обобщенной расстройки полосы пропускания симметричной оптической структуры 5.

Изображенная на фиг. 4 зависимость коэффициента модуляции огибающей биений двухчастотного зондирующего излучения m на разностной частоте от относительной обобщенной расстройки полосы пропускания симметричной оптической структуры 5 представлена для случая, когда разностная частота достаточно мала, чтобы не превысить полуширины склонов симметричной оптической структуры 5. Характерной точкой данной зависимости является точка нулевой относительной обобщенной расстройки, которая соответствует равенству средней частоты зондирующего излучения резонансной частоте . В этом случае коэффициент модуляции m1 огибающей биений двухчастотного зондирующего излучения на разностной частоте , зарегистрированный на выходе перестраиваемого фильтра разностной частоты 10 будет равен значению «1».

Все сказанное выше относится и к зависимости коэффициента модуляции m2-m6 огибающей биений двухчастотного зондирующего излучения с разностной частотой .

Факт равенства коэффициентов модуляции m1 и m2 значения «1» для огибающей биений двухчастотного зондирующего излучения с разностной частотой , зарегистрированных на выходе перестраиваемого фильтра разностной частоты 10 используется для принятия решения об определении резонансной частоты .

Рассмотрим осуществление способов и работу устройства для определения центральной частоты симметричной оптической структуры (для первого и второго варианта предлагаемого способа).

Рассмотрим осуществление способа и работу устройства для определения центральной частоты симметричной оптической структуры для первого варианта предлагаемого способа.

Для начала работы с устройством производят включение блоков к сети электропитания согласно их нормируемому напряжению.

Для измерения характеристик симметричной оптической структуры с помощью перестраиваемого по частоте источника одночастотного оптического излучения в двухчастотное 1 генерируют исходное одночастотное оптическое излучение, из которого формируют двухчастотное зондирующее излучение с двумя составляющими равной амплитуды в преобразователе одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2.

Для этого с контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8 через шину управления 9 подается команда управления параметрами генерации перестраиваемого по частоте источника одночастотного оптического излучения 1, преобразования в преобразователе одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 и настройки перестраиваемого фильтра разностной частоты 10. Алгоритм работы контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8 для осуществления измерений представлен в Приложении 1 (по первому варианту предлагаемого способа).

В соответствии с алгоритмом работы с поданной командой зондирующий сигнал в преобразователе одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 формируют двухчастотным, состоящим из двух одночастотных сигналов равной амплитуды соответственно на частотах и . Для его формирования в перестраиваемом по частоте источнике одночастотного оптического излучения 1 генерируют среднюю частоту равную . Средняя частота поступает в преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2, в котором по полученной команде задают разностную частоту между формируемыми двухчастотного зондирующего излучения , лежащей в области полосы пропускания симметричной оптической структуры 5. При этом сама средняя частота подавляется. На сформированную разностную частоту производится настройка перестраиваемого фильтра разностной частоты 10, причем разностную частоту выбирают достаточно малой, чтобы не превысить полуширины склонов симметричной оптической структуры 5 и оставляют неизменной в ходе перестройки средней частоты .

Затем передают двухчастотное зондирующее излучение к симметричной оптической структуре 5 через циркулятор 3 и первый волоконно-оптический кабель 4. В двухчастотном зондирующем излучении, проходящем через симметричную оптическую структуру 5, происходит изменение амплитуд составляющих зондирующего излучения - они становятся равными в зависимости от взаимного положения его средней частоты и резонансной частоты симметричной оптической структуры 5.

Далее принимают двухчастотное излучение после воздействия на симметричную оптическую структуру 5 на детекторе 7. В соответствии с алгоритмом работы включают циркулятор 3 по команде с контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8 в режим «двойного Т-моста» так, что прошедшее через симметричную оптическую структуру 5 выходное двухчастотное излучение через второй волоконно-оптический кабель 6 и второй вход циркулятора 3 поступает на второй выход циркулятора 3 и потом на детектор 7.

На выходе детектора 7 образуется сигнал, прошедший через симметричную оптическую структуру 5, соответствующий биениям двухчастотного сигнала на разностной частоте , который выделяется перестраиваемым фильтром разностной частоты 10.

Далее в соответствии с алгоритмом работы подают команду по шине управления 9 с контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8 на перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения 1 для перестройки средней частоты двухчастотных излучений с заданным шагом в диапазоне измерений, соответствующем полосе частот симметричной оптической структуры 5 и на преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 для сохранения постоянной в ходе перестройки разностной частоты .

В ходе перестройки средней частоты одночастотного оптического излучения в контроллере управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8 запоминают некоторое значение коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного излучения m=m1, причем m∈[0,5;1] и фиксируют соответствующее ему значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения . Далее в ходе перестройки запоминают значение коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m2=m1 и фиксируют соответствующее ему значение средней частоты . После чего завершают перестройку частоты одночастотного оптического излучения и вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры как .

Алгоритм работы контроллера управления и измерения центральной частоты симметричной оптической структуры 8 для осуществления измерений для заявки на изобретение по первому варианту предлагаемого способа представлен в Приложении 1.

Рассмотрим осуществление способа и работу устройства для определения центральной частоты симметричной оптической структуры для второго варианта предлагаемого способа.

Для начала работы с устройством производят включение блоков к сети электропитания согласно их нормируемому напряжению.

Для измерения характеристик симметричной оптической структуры с помощью перестраиваемого по частоте источника одночастотного оптического излучения в двухчастотное 1 генерируют исходное одночастотное оптическое излучение, из которого формируют двухчастотное зондирующее излучение с двумя составляющими равной амплитуды в преобразователе одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2.

Для этого с контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8 через шину управления 9 подается команда управления параметрами генерации перестраиваемого по частоте источника одночастотного оптического излучения 1, преобразования в преобразователе одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 и настройки перестраиваемого фильтра разностной частоты 10. Алгоритм работы контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8 для осуществления измерений представлен в Приложении 2 (по второму варианту предлагаемого способа).

В соответствии с алгоритмом работы с поданной командой зондирующий сигнал в преобразователе одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 формируют двухчастотным, состоящим из двух одночастотных сигналов равной амплитуды соответственно на частотах и . Для его формирования в перестраиваемом по частоте источнике одночастотного оптического излучения 1 генерируют среднюю частоту равную . Средняя частота поступает в преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2, в котором по полученной команде задают разностную частоту между формируемыми двухчастотного зондирующего излучения , лежащей в области полосы пропускания симметричной оптической структуры 5. При этом сама средняя частота подавляется. На сформированную разностную частоту производится настройка перестраиваемого фильтра разностной частоты 10, причем разностную частоту выбирают достаточно малой, чтобы не превысить полуширины склонов симметричной оптической структуры 5 и оставляют неизменной в ходе перестройки средней частоты .

Затем передают двухчастотное зондирующее излучение к симметричной оптической структуре 5 через циркулятор 3 и первый волоконно-оптический кабель 4. В двухчастотном зондирующем излучении, проходящем через симметричную оптическую структуру 5, происходит изменение амплитуд составляющих зондирующего излучения - они становятся равными в зависимости от взаимного положения его средней частоты и резонансной частоты симметричной оптической структуры 5.

Далее принимают двухчастотное излучение после воздействия на симметричную оптическую структуру 5 на детекторе 7. В соответствии с алгоритмом работы включают циркулятор 3 по команде с контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8 в режим «двойного Т-моста» так, что прошедшее через симметричную оптическую структуру 5 выходное двухчастотное излучение через второй волоконно-оптический кабель 6 и второй вход циркулятора 3 поступает на второй выход циркулятора 3 и потом на детектор 7.

На выходе детектора 7 образуется сигнал, прошедший через симметричную оптическую структуру 5, соответствующий биениям двухчастотного сигнала на разностной частоте , который выделяется перестраиваемым фильтром разностной частоты 10.

Далее в соответствии с алгоритмом работы подают команду по шине управления 9 с контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур 8 на перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения 1 для перестройки средней частоты двухчастотных излучений с заданным шагом в диапазоне измерений, соответствующем полосе частот симметричной оптической структуры 5 и на преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 для сохранения постоянной в ходе перестройки разностной частоты .

В ходе перестройки средней частоты одночастотного оптического излучения регистрируют данные двух соседних измерений, в первом из которых коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m3<1, а во втором m=m4=1, и запоминают значение средней частоты зондирующего излучения для второго из них. Далее в ходе перестройки регистрируют данные двух других соседних измерений, в первом из которых коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m5=1, а во втором m=m6<1, и запоминают значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения для первого из них, по которым вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры как .

Алгоритм работы контроллера управления и измерения центральной частоты симметричной оптической структуры 8 для осуществления измерений для заявки на изобретение по второму варианту предлагаемого способа представлен в Приложении 2.

На фиг. 2 и фиг. 3 показано спектральное расположение двухчастотного зондирующего излучения (для первого и второго вариантов предлагаемого способа соответственно) относительно симметричной оптической структуры в случае совпадения их средней частоты с резонансной частотой .

Изображенные на фиг. 2 составляющие двухчастотного зондирующего излучения и их расположение показаны в случае совпадения их средней частоты с резонансной частотой . Исходные амплитуды составляющих на выходе преобразователя одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 равны.

Изображенные на фиг. 3 составляющие двухчастотного зондирующего излучения и их расположение показаны в случае совпадения их средней частоты с резонансной частотой . Исходные амплитуды составляющих на выходе преобразователя одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 равны.

Изображенная на фиг. 4 зависимость коэффициента модуляции огибающей биений двухчастотного зондирующего излучения m на разностной частоте от относительной обобщенной расстройки полосы пропускания симметричной оптической структуры 5 представлена для случая, когда разностная частота достаточно мала, чтобы не превысить полуширины склонов симметричной оптической структуры 5. Характерной точкой данной зависимости является точка нулевой относительной обобщенной расстройки, которая соответствует равенству средней частоты зондирующего излучения резонансной частоте . В этом случае коэффициент модуляции m1 огибающей биений двухчастотного зондирующего излучения на разностной частоте , зарегистрированный на выходе перестраиваемого фильтра разностной частоты 10 будет равен значению «1».

Все сказанное выше относится и к зависимости коэффициента модуляции m2-m6 огибающей биений двухчастотного зондирующего излучения с разностной частотой .

Факт равенства коэффициентов модуляции m1 и m2 значения «1» для огибающей биений двухчастотного зондирующего излучения с разностной частотой , зарегистрированных на выходе перестраиваемого фильтра разностной частоты 10 используется для принятия решения об определении резонансной частоты .

Перестраиваемый фильтр разностной частоты 10 выполнен перестраиваемым для выполнения условия по соответствию значения разностной частоты , которое должно быть достаточно малым, чтобы не превысить полуширины склонов симметричной оптической структуры.

Устройство для определения центральной частоты симметричной оптической структуры может быть реализовано на следующих элементах, рассчитанных на работу на длине волны 1550 нм (возможны и другие длины волн):

- перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения 1 - одночастотный лазерный перестраиваемый диод с диапазоном перестройки до 40 нм, определяемым шириной полосы пропускания симметричной оптической структуры, например, Phoenix-1000, фирмы Luna;

- преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное 2 - электрооптический модулятор Маха-Цендера, например, MX-LN-10, фирмы IXBLUE;

- циркулятор 3 - циркулятор РМОС-4-15, фирмы DK Photonics Technology Limited, на четыре вывода;

- первый и второй волоконно-оптический кабели 4 и 6 - эталонные шнуры или кабели на волокне SMF-28 фирмы Corning;

- симметричная оптическая структура 5 - исследуемые решетки и фильтры;

- детектор 7 - детектор огибающий ADL5511 или ADL6010 фирмы Analog Devices;

- контроллер управления и измерения спектральных характеристик оптических структур 8 - микропроцессорный контроллер на базе чипов фирм Atmel, Microchip и т.д.;

- шина управления 9 - шины реализующие передачу сигналов управления и данных по протоколам Modbus, RS и других.

- перестраиваемый фильтр разностной частоты 10 - фирма Agilent, K&L, Магнетон.

При реализации устройства для определения центральной симметричных оптических структур все указанные блоки генерации, приема и обработки сигналов могут быть выполнены на едином кристалле в интегральном исполнении.

По сравнению с существующими способами и устройствами (включая прототип) для определения центральной частоты симметричной оптической структуры, которая характеризуются изменениями коэффициента модуляции в зависимости от изменения электрофизических параметров материалов, предложенный способ (по двум вариантам предлагаемого способа) и устройство с двухчастотным зондированием и измерением коэффициентов модуляции указанного двухчастотного оптического излучения после прохождения через него с дальнейшим вычислением характеристик не требует применения широкополосного приема, а позволяет обрабатывать сигнал на частотах биений компонент двухчастотных сигналов, равных разностным частотам между ними, и выделенных перестраиваемым фильтром разностной частоты, что существенно сужает полосу пропускания приемной части устройства и, соответственно, повышает отношение сигнал/шум измерений. Кроме того полоса пропускания перестраиваемых фильтров разностной частоты находится в области минимальных шумов детектора, что, соответственно, также повышает отношение сигнал/шум измерений.

При прямом детектировании собственные шумы детектора излучения превалируют над внешними и определяют пороговую мощность принимаемого сигнала. Выигрыш по отношению сигнал/шум можно вычислить с помощью следующего выражения:

где - спектральная плотность шума детектора.

При этом выигрыш будет определяться в основном различной природой и уровнем шумов в различных частотных диапазонах, несмотря на некоторое увеличение требуемой полосы пропускания.

Для прямого детектирования диапазона в детекторе - это токовые шумы с распределением вида и другие мощные шумы и флуктуации низкочастотной природы.

Для диапазона детектора - это дробовой шум малой интенсивности, где - полоса пропускания детектора, необходимая для регистрации амплитуды зондирующего излучения после его взаимодействия с симметричной оптической структурой. Для измерений в оптическом диапазоне выигрыш может составить 1-2 порядка.

Кроме того, при реализации способа и устройства из алгоритмов работы его блоками и измерения характеристик резонансных структур, отраженных в Приложении 1 и Приложении 2, были исключены операции, связанные с перестройкой разностной частоты, что позволило упростить их структуру по сравнению с прототипом.

Испытания показали, что использование зондирования двухчастотными излучениями симметричной оптической структуры и регистрация средней частоты и коэффициентов модуляции огибающих биений его компонент на выходе перестраиваемого фильтра разностной частоты, позволило достичь отношения сигнал/шум измерений ~ 60 дБ.

Все это позволяет говорить о достижении решения поставленной технической задачи (технического результата) для двух вариантов предлагаемого способа - повышение точности измерений определения центральной частоты как узкополосной, так и широкополосной симметричной оптической структуры.

1. Способ определения центральной частоты симметричной оптической структуры, заключающийся в том, что генерируют одночастотное оптическое излучение с частотой , формируют из него двухчастотное зондирующее излучение с двумя составляющими равной амплитуды соответственно на частотах и , со средней и разностной частотами , лежащими в области полосы пропускания симметричной оптической структуры, подают двухчастотное зондирующее излучение на вход и принимают с выхода симметричной оптической структуры, при этом частоту одночастотного оптического излучения перестраивают в диапазоне измерений, соответствующем полосе частот симметричной оптической структуры, причем в ходе перестройки разностную частоту оставляют неизменной, регистрируют изменения параметров двухчастотного зондирующего излучения, а именно средней частоты двухчастотного зондирующего излучения и коэффициента модуляции m огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения на выходе симметричной оптической структуры, по которым далее определяют центральную частоту симметричной оптической структуры, отличающийся тем, что разностную частоту выбирают не превышающей полуширины склонов симметричной оптической структуры, в ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения запоминают первое значение коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m1, в пределах m∈[0,5; 1], и фиксируют соответствующее ему значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения , далее в ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения запоминают второе значение коэффициента модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m2=m1, и

фиксируют соответствующее ему значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения , завершают перестройку частоты одночастотного оптического излучения и вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры как .

2. Способ определения центральной частоты симметричной оптической структуры, заключающийся в том, что генерируют одночастотное оптическое излучение с частотой , формируют из него двухчастотное зондирующее излучение с двумя составляющими равной амплитуды соответственно на частотах и , со средней и разностной частотами , лежащими в области полосы пропускания симметричной оптической структуры, подают двухчастотное зондирующее излучение на вход и принимают с выхода симметричной оптической структуры, при этом частоту одночастотного оптического излучения перестраивают в диапазоне измерений, соответствующем полосе частот симметричной оптической структуры, причем в ходе перестройки разностную частоту оставляют неизменной, регистрируют изменения параметров двухчастотного зондирующего излучения, а именно средней частоты двухчастотного зондирующего излучения и коэффициента модуляции m огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения на выходе симметричной оптической структуры, по которым далее определяют центральную частоту симметричной оптической структуры, отличающийся тем, что в ходе перестройки частоты одночастотного оптического излучения регистрируют данные двух соседних измерений, в первом из которых коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m3<1, а во втором m=m4=1, и запоминают значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения для второго из них, далее в ходе перестройки регистрируют данные двух других соседних измерений, в первом из которых коэффициент модуляции огибающей биений между составляющими двухчастотного зондирующего излучения m=m5=1, а во втором m=m6<1, и запоминают значение средней частоты двухчастотного зондирующего излучения для первого из них, по которым вычисляют центральную частоту симметричной оптической структуры как .

3. Устройство для определения центральной частоты симметричной оптической структуры, содержащее последовательно соединенные перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения, преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное, циркулятор, первый волоконно-оптический кабель, один конец которого соединен с первым выходом циркулятора, а второй конец - с входом симметричной оптической структуры, второй волоконно-оптический кабель, один конец которого соединен с выходом симметричной оптической структуры, а второй конец - со вторым входом циркулятора, циркулятор вторым выходом соединен с детектором, а также контроллер управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур, причем перестраиваемый по частоте источник одночастотного оптического излучения, преобразователь одночастотного оптического излучения в двухчастотное, контроллер управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур имеют входы/выходы управления, объединенные в шину управления, отличающееся тем, что в него дополнительно введен перестраиваемый фильтр разностной частоты, вход которого подключен к выходу детектора, а выход - к входу контроллера управления и измерения центральной частоты симметричных оптических структур, который выполнен как контроллер управления и измерения центральной частоты узкополосных и широкополосных симметричных оптических структур, при этом перестраиваемый фильтр разностной частоты имеет вход/выход управления, подключенный к шине управления.



 

Похожие патенты:

Способ монтажной настройки элементов оптической системы содержит два этапа. Сначала путем перемещения настраиваемых элементов устанавливают их в соответствии с заданной геометрической осью и заданными расстояниями между элементами оптической системы.

Способ сборки оптико-механического блока космического аппарата относится к области космического оптического приборостроения и может быть использован при сборке, юстировке и калибровке крупногабаритных оптико-механических блоков, предназначенных для работы в космосе.

Изобретение относится к области испытаний оптико-электронных и оптико-механических устройств и касается вакуумно-криогенного стенда. Стенд включает в себя вакуумно-криогенную камеру, охлаждаемые радиационные экраны, универсальный и динамический источники излучения, коллиматор, поворотное и ломающие зеркала, спектрорадиометр, систему криогенного обеспечения, систему вакуумирования, модуль канала оптического фона и интерферометр сдвига.

Изобретение относится к области измерительной техники и касается многофункциональной оптико-электронной испытательной станции. Испытательная станция выполняется мобильной и включает в себя шину для подключения испытуемой оптико-электронной системы, блок выносных измерительных эталонов, блок выносных источников оптических помех, блок выносных метеорологических приборов, контрольно-измерительную аппаратуру (КИА), соединенную через вводно-выводное устройство с электронно-вычислительной машиной (ЭВМ) обработки сигналов и управления испытанием.

Изобретение относится к области оптических измерений и касается способа и датчика для измерения температуры и механических напряжений. Измерения осуществляются датчиком, который содержит первый путь распространения оптического излучения, который является конфигурируемым для взаимодействия со структурой, свойства которой должны быть измерены; второй путь распространения оптического излучения, который является конфигурируемым для взаимодействия со структурой, свойства которой должны быть измерены; третий путь распространения оптического излучения.

Изобретение относится к области контроля герметичности изделий. Способ масс-спектрометрического контроля герметичности моноблочных газовых лазеров включает создание замкнутых объемов с обеих сторон контролируемой оболочки лазера, откачку внутреннего объема вместе с анализатором пробного газа до высокого вакуума, накопление в контролируемой оболочке, соединенной с анализатором, пробного газа путем прекращения откачки пробного газа при откачке остальных газов и регистрацию изменения фоновой величины пика пробного газа за контрольное время Tк, выбираемое при выходе на линейный участок нарастания величины пика пробного газа, которое определяется до тех пор, пока зависимость интенсивности фонового потока пробного газа от времени при соседних измерениях не будет совпадать по крутизне и интенсивности с точностью до 10%, но не менее 3 раз.

Изобретение относится к лазерной технике. Способ контроля герметичности отсоединенных от вакуумного поста моноблочных газовых лазеров включает использование для оценки герметичности пробного газа, выбор аналитических пар спектральных линий пробного и рабочего газов, для оценки концентрации пробного газа, построение калибровочной зависимости относительной интенсивности выбранной аналитической пары от концентрации пробного газа, регистрацию спектра излучения тлеющего разряда контролируемого лазера, определение по калибровочной зависимости концентрации пробного газа, создание замкнутого объема вокруг контролируемой оболочки лазера, заполнение указанного замкнутого объема пробным газом, накопление в контролируемом лазере пробного газа, регистрацию линий пробного газа в спектре излучения тлеющего разряда после хранения в среде пробного газа, определение по калибровочной зависимости концентрации пробного газа и оценку герметичности изделия по разности измеренных концентраций пробных газов до и после контрольного времени хранения.

Изобретение может использоваться для работы с приборами, работающими в различных спектральных диапазонах. Устройство содержит коллиматор с установленным в его фокальной плоскости широкополосным излучателем со спектральным диапазоном в видимой и ИК-областях спектра, оптическую систему переноса изображения, оснащенную поворотным механизмом, позволяющим направлять излучение от коллиматора в каналы контролируемого прибора без изменения положения коллиматора, и механизм регулировки положения излучателя в фокальной плоскости коллиматора относительно его оптической оси.

Изобретение относится к способам оценки состояния контролируемого объекта, а именно к проектированию систем диагностики опасных объектов (ОО), подвергающихся аварийным воздействиям в процессе эксплуатации.

Изобретение относится к области измерительной техники и касается способа измерения фактора шума микроканальной пластины. Способ включает снятие сигнала со всей площади люминесцентного экрана, который осуществляется в процессе изготовления МКП, регистрацию сигнала каждого импульса с выхода МКП, его усиление и подачу на многоканальный амплитудный анализатор импульсов.

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к способам измерения сдвига частоты рассеяния Мандельштама-Бриллюэна. При реализации способа измерения сдвига частоты рассеяния Мандельштама-Бриллюэна на длине оптического волокна непрерывное оптическое излучение задающего лазера разделяют на две части. Первую часть модулируют последовательностью импульсов, затем усиливают и вводят в испытуемое оптическое волокно. Из второй части формируют опорный оптический сигнал одной поляризации, который подают на один вход балансного фотоприемника, а на другой вход балансного приемника подают сигнал обратного рассеяния, поступающий из испытуемого оптического волокна. На выходе балансного фотоприемника с помощью фильтра выделяют низкочастотную компоненту сигнала, которую подают на вход блока управления и обработки. Изменяют частоту опорного оптического сигнала с шагом менее 100 МГц и повторяют измерения для каждого шага при каждом значении частоты, затем изменяют состояние поляризации опорного оптического сигнала одной поляризации на ортогональное и повторяют измерения. Получают распределение сдвига частоты рассеяния Мандельштама-Бриллюэна на длине оптического волокна. Для формирования опорного оптического сигнала вторую часть непрерывного оптического излучения задающего лазера вводят в опорное оптическое волокно, из сигнала обратного рассеяния, поступающего из опорного оптического волокна с помощью оптического фильтра, выделяют сигнал обратного рассеяния Мандельштама-Бриллюэна, усиливают его, а затем модулируют с одной боковой полосой сигналом радиочастоты, которую изменяют с заданным шагом в диапазоне до нескольких сотен мегагерц. Далее выделяют компоненту с одним из двух устанавливаемых переключаемым поляризатором ортогональных состояний поляризации, а сдвиг частоты рассеяния Мандельштама-Бриллюэна определяют как значение суммы сдвига частоты рассеяния Мандельштама-Бриллюэна в оптическом волокне при отсутствии температурных и механических воздействий и частоте модулирующего радиочастотного сигнала, при которой значение суммы амплитуд сигналов биений на входе блока управления и обработки, измеренных при двух ортогональных состояниях опорного сигнала, превышает заданное пороговое значение. Техническим результатом изобретения является расширение области применения. 1 ил.

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к способам измерения сдвига частоты рассеяния Мандельштама-Бриллюэна. При реализации способа измерения сдвига частоты рассеяния Мандельштама-Бриллюэна на длине оптического волокна непрерывное оптическое излучение задающего лазера разделяют на две части. Первую часть модулируют последовательностью импульсов, затем усиливают и вводят в испытуемое оптическое волокно. Из второй части формируют опорный оптический сигнал одной поляризации, который подают на один вход балансного фотоприемника. На другой вход балансного приемника подают сигнал обратного рассеяния, поступающий обратно из испытуемого оптического волокна, причем измерения выполняют при двух ортогональных состояниях поляризации опорного оптического сигнала. Электрический сигнал с выхода балансного фотоприемника подают на один вход смесителя, на другой вход которого подают радиочастотный сигнал. Из комплексного сигнала на выходе смесителя выделяют низкочастотный сигнал биений и подают на вход блока управления и обработки, где результаты измерений запоминают для каждого шага при каждом значении частоты. Затем изменяют состояние поляризации опорного оптического сигнала одной поляризации на ортогональное и повторяют измерения. Сдвиг частоты рассеяния Мандельштама-Бриллюэна определяют как значение суммы сдвига частоты рассеяния Мандельштама-Бриллюэна в оптическом волокне при отсутствии температурных и механических воздействий и частоте радиочастотного сигнала, при которой значение суммы амплитуд сигналов биений на входе блока управления и обработки, измеренных при двух ортогональных состояниях опорного сигнала, превышает заданное пороговое значение. Техническим результатом изобретения является расширение области применения. 1 ил.

Способ включает установку линзы на плоский опорный буртик цилиндрического отверстия промежуточной части оправы, размещаемой фланцем на опорном буртике цилиндрического отверстия основной оправы. Вращают оправу вокруг ее базовой оси, измеряют биение центра кривизны первой поверхности линзы относительно центра кривизны второй поверхности линзы, радиально сдвигают линзу по плоскому опорному буртику промежуточной части оправы для совмещения центров кривизны первой и второй рабочих поверхностей линзы и фиксируют линзу в промежуточной части оправы. Измеряют биение центров кривизны первой и второй рабочих поверхностей с осью вращения, сдвигают промежуточную часть оправы по опорному буртику основной оправы для совмещения центров кривизны первой и второй рабочих поверхностей с осью вращения и фиксируют положение промежуточной части оправы в основной оправе. Оправа имеет наружную базовую цилиндрическую поверхность и плоский наружный базовый фланец, образующие базовую ось оправы, цилиндрическое отверстие с плоским опорным буртиком, на который плоским фланцем установлена с увеличенным зазором посадки промежуточная цилиндрическая часть оправы с опорным буртиком для установки линзы. Технический результат - повышение точности центрирования линзы при сохранении центрирования по обеим рабочим поверхностям линзы и упрощение изготовления основной оправы. 2 н. и 4 з.п. ф-лы, 5 ил.

Способ определения коэффициентов отражения зеркал, размещаемых в комбинацию параллельно друг другу, состоит из последовательности этапов измерений, связанных с заменой зеркал в комбинации, измерением мощности излучения после отражений от них в каждой из комбинаций. Процедуру определения коэффициентов отражения измеряемых зеркал проводят в три этапа; на каждом этапе выбирают два из трех зеркал из набора, образующих различные комбинации; при переходе от этапа к этапу производят замену и юстировку только одного из зеркал, составляющих комбинацию; дополнительно к измерению мощности излучения после отражения от зеркал измеряют исходную мощность излучения; определяют величину изменения мощности исходного излучения после отражения от комбинации зеркал на каждом этапе; используют значения величин изменения мощности на каждом из этапов для определения коэффициентов отражения измеряемых зеркал. Технический результат заключается в повышении точности измерений. 3 ил.
Наверх