Способ контроля и диагностики состояния сложных объектов



Способ контроля и диагностики состояния сложных объектов
Способ контроля и диагностики состояния сложных объектов
Способ контроля и диагностики состояния сложных объектов
Способ контроля и диагностики состояния сложных объектов
Способ контроля и диагностики состояния сложных объектов

Владельцы патента RU 2641322:

Государственное казённое образовательное учреждение высшего образования "Российская таможенная академия" (RU)

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматизированного контроля параметров и диагностики технического состояния объектов, функционирование которых состоит из периодически повторяющихся циклов. Способ контроля и диагностики состояния сложных объектов, функционирование которых состоит из периодически повторяющихся циклов, заключается в регистрации сигнала информационного параметра состояния объекта, создании из этого сигнала его искаженного заведомо известным методом образа (реплики), получении характеристической кривой путем подачи на вход X осциллографа сигнала информационного параметра состояния, а на вход У - его образа (реплики) и сравнении наблюдаемой характеристической кривой с предварительно созданным банком эталонных характеристических кривых дефектных состояний объекта и на основании совпадения этих кривых установлении наличия соответствующего дефекта. При этом внутри периода изменения информационного параметра стробоскопическим методом выделяется область, наиболее полно отражающая наличие имеющегося дефекта, которая при необходимости может перемещаться в пределах периода, а также изменяться по длительности, и для этой области формируется характеристическая кривая, которая сравнивается с предварительно созданными соответствующими характеристическими кривыми из банка эталонных характеристических кривых дефектных состояний объекта контроля. Предлагаемый способ позволяет реализовать возможность углубленного анализа состояния сложных объектов, процесс функционирования которых состоит из периодически повторяющихся циклов за счет повышения точности и достоверности результатов измерения и высокочувствительного алгоритма их обработки. 4 ил.

 

Предлагаемое изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для бесконтактного автоматизированного контроля и диагностики состояния сложных объектов, функционирование которых состоит из периодически повторяющихся циклов. К таким объектам можно отнести объекты на различных физических принципах функционирования, содержащие: вращающиеся узлы; элементы, совершающие возвратно-поступательное движение; функциональные узлы, работа которых сопровождается пульсациями или вибрациями; биологические объекты, в которых происходят сложные колебательные электрические процессы, регистрируемые при электроэнцефалографии, электрокардиографии и т.д.; электротехнические устройства, питаемые переменным током и т.п.

Определение технического состояния или физиологического состояния (для биологических объектов) представляет собой достаточно сложную задачу, без решения которой невозможно осуществить диагностику объекта и прогнозирование возникновения нештатных (аномальных, патологических) ситуаций. Процесс контроля и диагностирования состояния объекта обычно реализуется с помощью специальных измерителей-преобразователей (датчиков), фиксирующих изменение во времени выбранного информационного параметра и вырабатывающих соответствующий электрический сигнал. На основании анализа этого сигнала делают вывод о состоянии объекта. Чем сложнее объект и процессы в нем происходящие, тем сложнее регистрируемый сигнал, в том числе и для нормального состояния объекта. Еще более сложной является задача фиксации появления малых изменений сигнала, связанных с незначительным изменением состояния объекта, которые в дальнейшем могут явиться «предвестниками» возникновения существенных дефектов или патологий.

Известен способ диагностики состояния объекта на основании анализа спектра сигнала от датчика некоторого параметра состояния [1]. Объектами контроля здесь могут быть различные электрические машины, в частности, в качестве примера - асинхронный двигатель. Информационными параметрами диагностического контроля технического состояния в работающем асинхронном двигателе рассматриваются высшие гармонические спектральные составляющие сигнала датчика магнитного поля рассеяния в лобовой части обмотки статора, на изменения амплитуд которых оказывает существенное влияние появление неисправностей в виде межвитковых или межфазовых замыканий.

Недостатком этого способа является сложный вид спектра сигнала, содержащий большое число составляющих частот даже в том случае, когда объект находится в нормальном рабочем состоянии. Кроме того, в большинстве технических ситуаций спектр непрерывно меняется во времени. Это приводит к тому, что различить спектры сигнала для двух моментов времени (либо двух технических состояний объекта) достаточно сложно.

Известен способ контроля блоков питания, содержащих силовой трансформатор [2], заключающийся в измерении напряжения на первичной обмотке трансформатора блока питания и силы тока нагрузки в его вторичной обмотке, основанный на регистрации особым образом ориентированного относительно трансформатора магниточувствительного датчика временной зависимости магнитного поля рассеяния трансформатора блока питания.

Недостатком устройства, реализующего указанный способ, является необходимость ориентации особым образом оси чувствительности датчика, а также отсутствие возможности диагностирования состояния блока питания по результатам измерений.

Наиболее близким по совокупности существенных признаков заявляемому изобретению является способ визуального контроля параметров энергопотребления и диагностики технического состояния электрооборудования переменного тока [3], выбранный за прототип. Согласно этому способу сигнал информационного параметра состояния электрооборудования переменного тока, снимаемый с помощью магниточувствительного датчика, подключенного по схеме трансформатора тока к токоподводящим электрическую энергию проводам, преобразуют с помощью интегрирующего или дифференцирующего звеньев, т.е. создают из сигнала его искаженный заведомо известным методом «образ», названный «репликой». Затем информационный сигнал с выхода датчика подают на горизонтальные (вертикальные) отклоняющие пластины осциллографа, а сигнал-реплику с выхода интегрирующего (дифференцирующего) звена - на противоположные вертикальные (горизонтальные) отклоняющие пластины осциллографа. О режимах работы и техническом состоянии контролируемого электрооборудования судят на основании сравнения полученной на экране осциллографа фигуры Лиссажу для негармонических сигналов (характеристической кривой) с набором (банком) эталонных характеристических кривых дефектных состояний объекта.

На фиг. 1 представлены графические иллюстрации способа, выбранного за прототип, применительно к достаточно распространенному функциональному устройству - однофазному трансформаторно-выпрямительному преобразователю, содержащему мостовую схему выпрямления. На фиг. 1а представлены формы выходного сигнала магниточувствительного датчика, размещенного на токоподводящем проводе, питающем первичную обмотку трансформатора (кривые формы тока первичной обмотки), соответствующие двум техническим ситуациям - «преобразователь исправен» и «обрыв диода схемы выпрямления». Из фиг. 1а видно, что формы токов первичной обмотки отличаются незначительно, несмотря на то, что в схеме выпрямления имеет место явная неисправность - обрыв диода.

На фиг. 1б представлены соответствующие этим ситуациям характеристические кривые. Как следует из представленной иллюстрации, формы кривых существенно отличаются друг от друга, что позволяет однозначно различать технические ситуации и идентифицировать неисправность.

Однако в том случае, когда анализируется сигнал, содержащий большое число высокочастотных составляющих, получаемая характеристическая кривая (фигура Лиссажу) имеет достаточно сложную форму, затрудняющую однозначную и достоверную идентификацию состояния контролируемого объекта (фиг. 1в).

Целью предлагаемого изобретения является расширение технологических возможностей диагностики технического состояния на основе контроля параметров функционирования сложных объектов за счет повышения точности и достоверности результатов измерений, а также высокочувствительного алгоритма их обработки.

Как известно, неисправность (патология) в объекте (техническом, биологическом) представляет собой внезапное прекращение этим объектом процесса исполнения своего функционального назначения. Вместе с тем, у любой неисправности есть предшествующий ее окончательному проявлению период функционирования объекта, когда он работает с прогрессирующе ухудшающимися показателями. Например, в электроустановке ухудшение характеристик функциональных элементов, входящих в ее состав, приводит к изменению потребляемого тока как по величине, так и по форме. Для кривой же тока сложной формы, содержащей большое число высокочастотных составляющих, это изменение может происходить на небольшом интервале времени внутри периода кривой тока. В этой связи изменение кривой именно на этом интервале несет наиболее полную информацию об изменениях, происходящих в элементах объекта. Поэтому для повышения точности и достоверности результатов измерений представляется целесообразным анализировать информацию о состоянии объекта, преобразуя в характеристическую кривую не весь период кривой тока, а только выделенный интервал, на котором происходят наиболее существенные изменения. Кроме того, в анализируемой кривой тока таких интервалов может быть несколько, поэтому целесообразно иметь возможность формирования характеристических кривых на различных интервалах кривой тока внутри ее периода изменения.

Сущность изобретения состоит в том, что для контроля и диагностики состояния сложных объектов, характеризующихся сложной формой кривой, описывающей процесс их функционирования, из сигнала информационного параметра (выходного сигнала датчика) стробоскопическим методом (с использованием стробирующего импульса определенной длительности) внутри периода кривой изменения информационного параметра выделяют область, наиболее полно отражающую проявление выявляемого дефекта. Для этой области формируют текущую характеристическую кривую, которую сравнивают с предварительно созданным банком эталонных характеристических кривых дефектных состояний объекта (в том числе и для данной области). Кроме того, с целью расширения перечня выявляемых дефектов, обеспечивающих применение способа для диагностики дефектов различных элементов (узлов) объекта, осуществляют сканирование сигнала информационного параметра, т.е. выделяемую область перемещают в пределах периода сигнала информационного параметра, изменяя время задержки стробирующего импульса, а также его длительность.

По изменению кинетики информационного параметра на выделенном интервале за несколько периодов процесса функционирования объекта можно судить либо об исправности этого элемента, либо о появлении в нем дефекта, а по динамике развития дефекта прогнозировать изменение ситуации в объекте в целом.

В связи с тем, что на общее состояние объекта оказывают влияние все функциональные элементы и узлы, входящие в его состав, предусмотрена возможность как изменения длительности интервала времени сканирования информационного параметра, так и временной сдвиг этого интервала внутри периода кривой, описывающей процесс функционирования объекта. Это позволит определить интервал информационного параметра сигнала, наиболее информативный по отношению к выявляемому дефекту и диагностировать тот функциональный элемент (узел) объекта, в котором начинаются дефектные изменения.

Для обеспечения точности и достоверности результатов измерения информационного параметра интервал времени измерения (определяется длительностью стробирующего импульса) должен быть строго сфазирован с периодом кривой, описывающей процесс функционирования объекта. Интервал времени сканирования, а также величина временного сдвига стробирующего импульса относительно начала периода кривой изменения информационного параметра задаются оператором.

Как отмечалось выше, появление дефекта в функциональном элементе объекта на начальном этапе сопровождается малыми изменениями информационного параметра, фиксируемого датчиком. Использование предлагаемого способа позволяет регистрировать именно малые изменения кинетики измерительного сигнала датчика информационного параметра [4].

Для полноценного анализа ситуации необходимо использовать предварительно созданный банк эталонных характеристических кривых, соответствующих различным состояниям функциональных элементов (узлов) и данного объекта в целом.

На фиг. 2 и 3 представлены электрические сигналы и соответствующие характеристические кривые, поясняющие сущность заявляемого способа. Так, на фиг. 2 изображена периодическая кривая (Т - ее период) электрического сигнала, в интервалах периодов которой стробирующими импульсами (через постоянные отрезки времени τ1) выделяется фрагмент кривой - интервал времени измерения τ2, в котором происходит изменение, связанное с изменением ситуации (технической, биологической и т.п.) в контролируемом объекте. На фиг. 2 и 3 под выделенными фрагментами сигнала помещены характеристические кривые, позволяющие определить и идентифицировать изменения в состоянии (развитие дефекта) в функциональных элементах (узлах) объекта. Благодаря тому, что на устройстве отображения информации (например, мониторе компьютера) формируется характеристическая кривая одной и той же части кривой информационного параметра, она оказывается стабильной (подобно изображению в стробоскопическом осциллографе) в разных периодах изменения сигнала. На фиг. 3 изображены фрагменты сигналов информационного параметра, отражающего процесс функционирования объекта, в интервале периода которых стробирующими импульсами различной длительности (τ2) с различным временным сдвигом относительно начала периода кривых (τ1) выделяются различные фрагменты кривых, а ниже приведены характеристические кривые, соответствующие этим фрагментам. Эпюры на фиг. 3 иллюстрируют возможность выделения в периоде кривой, описывающей процесс функционирования объекта, необходимого интервала времени, связанного с изменением состояния объекта, путем изменения величины временного сдвига или длительности стробируюшего импульса (τ1 и τ2).

На фиг. 4 представлена структурная схема устройства, реализующего заявленный способ. Датчик 2, производящий измерение информационного параметра (например, магниточувствительный измерительный преобразователь напряженности внешнего магнитного поля объекта) размещается на объекте контроля 1 (например, на датчиках, используемых при снятии электрокардиограмм человека) либо вблизи объекта контроля (например, при реализации бесконтактного неразрушающего контроля, основанного на измерении электромагнитных, акустических или иных видов колебаний). Выход датчика подключен ко входу блока формирования выходного сигнала 3, выход которого подключен ко входу блока формирования выделенной части сигнала 6. Кроме того, выход датчика подключен ко входу блока формирования синхроимпульса 4, выход которого подключен ко входу блока формирования стробирующего импульса 7. Выход блока формирования стробирующего импульса подключен ко второму входу блока формирования выделенной части сигнала 6, а его выход подключен ко входу блока формирования характеристической кривой 5. Его выход соединен с вычислительным устройством (например, компьютером), содержащим блок сравнения 8, блок эталонных характеристических кривых 10 и блок вывода информации 9. Сформированную информацию воспринимает и обрабатывает оператор 11. Он же управляет работой устройства (задает временные интервалы τ1 и τ2).

Устройство работает следующим образом. Сигнал информационного параметра с выхода датчика 2 поступает на входы блока формирования выходного сигнала 3 и блока формирования синхроимпульса 4. Датчик может быть либо включен в электрическую схему объекта (например, в цепь токоподводящего провода), либо иным приспособлением (устройством) подключен к объекту (например, с помощью электродов электроэнцефалографа при снятии электроэнцефалограмм, электродов электрокардиографа при снятии электрокардиограмм и т.п.); датчик может осуществлять также бесконтактные измерения, путем регистрации параметров, например, электромагнитного (или иного) излучения, сопровождающего работу объекта. Блок формирования выходного сигнала 3 осуществляет выделение требуемого временного интервала из сигнала информационного параметра с выхода датчика 2. В блоке формирования синхроимпульса 4 осуществляется «жесткая» привязка выходного импульса блока к начальной («нулевой») фазе выделенного в блоке формирования выходного сигнала временного интервала. Выходные импульсы блока формирования синхроимпульса 4 поступают на вход блока формирования стробирующего импульса 7. В этом блоке происходит формирование стробирующего импульса, при этом оператором 11 задаются его длительность (τ2) и величина временного сдвига (τ1) относительно начальной («нулевой») фазы выделенного временного интервала, после чего эти полностью синхронизированные с сигналом датчика импульсы поступают на вход блока формирования выделенной части сигнала 6. В этом блоке стробирующим импульсом выделяется фрагмент периода (периодов) выделенного временного интервала, поступившего из блока формирования выходного сигнала 3. Далее выделенный фрагмент (группа фрагментов) поступает на вход блока формирования характеристической кривой (фигуры Лиссажу для негармонических сигналов) 5. Получение характеристической кривой осуществляется с использованием самого сигнала (выделенного фрагмента) и его искаженного заведомо известным методом (например, интегрированием либо дифференцированием и др.) образа (реплики) [3]. Полученная характеристическая кривая (группа кривых) поступает в блок сравнения 8 вычислительного устройства, где производится ее сопоставление с набором эталонных характеристических кривых, размещенных в блоке эталонных характеристических кривых 10, соответствующих различным состояниям объекта. Результаты сравнения представляются в блоке вывода информации 9. Информацию с этого блока считывает оператор 11.

Предлагаемый способ позволяет существенно повысить точность и достоверность результатов контроля параметров и диагностики состояния контролируемых объектов, а также реализовать возможность проведения углубленного анализа и расширения перечня диагностируемых дефектов (в том числе, на ранних стадиях появления) в сложных объектах, процесс функционирования которых состоит из периодически повторяющихся циклов.

Источники информации

1. Гаджиев Г.А. и др. Исследование магнитных полей рассеяния в электрических машинах для их диагностики в условиях работы. «Электротехника», №6, 2000, С. 22-27.

2. Сукиязов А.Г., Просянников Б.Н. Авт. свид. СССР №1335885. Способ контроля блоков питания, содержащих силовой трансформатор, 1987.

3. Сукиязов А.Г., Вербов В.Ф. и др. Патент РФ №2378656. Способ визуального контроля параметров энергопотребления и диагностики технического состояния электрооборудования переменного тока, 2010. (прототип)

4. Сукиязов А.Г., Нестеров В.В., Просянников Б.Н. О возможности реализации непрерывной диагностики технического состояния электрических машин переменного тока. «Вестник РГУПС», №1, 2009, С. 125-129.

Способ контроля и диагностики состояния сложных объектов, функционирование которых состоит из периодически повторяющихся циклов, заключающийся в регистрации сигнала информационного параметра состояния объекта, создании из этого сигнала его искаженного заведомо известным методом образа (реплики), получении характеристической кривой путем подачи на вход X осциллографа сигнала информационного параметра состояния, а на вход У - его образа (реплики) и сравнении наблюдаемой характеристической кривой с предварительно созданным банком эталонных характеристических кривых дефектных состояний объекта и на основании совпадения этих кривых установлении наличия соответствующего дефекта, отличающийся тем, что внутри периода изменения информационного параметра стробоскопическим методом выделяется область, наиболее полно отражающая наличие имеющегося дефекта, которая при необходимости может перемещаться в пределах периода, а также изменяться по длительности, и для этой области формируется характеристическая кривая, которая сравнивается с предварительно созданными соответствующими характеристическими кривыми из банка эталонных характеристических кривых дефектных состояний объекта контроля.



 

Похожие патенты:

Изобретения могут использоваться в электронной, космической, авиационной, военной и других отраслях промышленности. Способ измерения электрических параметров или характеристик объекта исследования, установленного в электронном устройстве или блоке без демонтажа объекта исследования с печатной платы, на которой он установлен, заключается в том, что посредством подключающего устройства измерительного оборудования или прибора подключают объект исследования - электрически соединяют его с таким оборудованием или прибором, согласно изобретению используют как минимум один специальный электронный компонент – Тест-ключ, который выполнен с возможностью замыкания и размыкания электрической цепи, подключенной к паре его выводов, при этом Тест-ключ электрически соединяют последовательно с объектом исследования, для чего его располагают непосредственно перед или за объектом исследования в соответствии с электрической схемой упомянутых устройства или блока, причем один из выводов пары электрически соединяют с заданным полюсом объекта исследования, в то время как другой - с тем местом или участком электрической цепи измеряемых устройства или блока, с которым этот полюс должен быть электрически соединен, при этом исключают соединение самого такого полюса с указанным местом посредством стационарно установленного проводника, причем обеспечивают возможность электрического соединения с таким полюсом подключающего устройства упомянутых оборудования или прибора, для чего обеспечивают возможность физического доступа извне к электрически соединенному с ним проводнику до, во время или после подключения объекта исследования к упомянутым оборудованию или прибору, но перед измерением, посредством управляющего состоянием Тест-ключа воздействия обеспечивают размыкание ключа, соответствующего упомянутому полюсу объекта исследования, за счет чего отключают объект исследования от электрической цепи упомянутых устройства или блока, после чего диагностируют объект исследования, электрически развязанный с электрической цепью упомянутых устройства или блока или с ее частью, причем не менее чем на время измерений или, по крайней мере, не менее чем на время тестирования объекта исследования упомянутым оборудованием или прибором поддерживают Тест-ключ в разомкнутом состоянии, тогда как по окончании измерений или тестирования объекта исследования непосредственно или отсрочено обеспечивают замыканием Тест-ключа подключение объекта исследования к указанной цепи для обеспечения возможности штатного функционирования диагностируемого устройства или блока.

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано для бесконтактного непрерывного контроля исправности электротехнических объектов переменного тока.

Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.

Изобретение относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.

Использование: для контроля тепловых свойств цифровых интегральных схем. Сущность изобретения заключается в том, что способ заключается в разогреве цифровой интегральной схемы ступенчатой электрической греющей мощностью известной величины и в измерении в определенные моменты времени в процессе разогрева цифровой интегральной схемы температурочувствительного параметра с известным температурным коэффициентом, по изменению которого рассчитывают приращение температуры активной области цифровой интегральной схемы, с целью упрощения способа и уменьшения погрешности измерения переходной тепловой характеристики для задания электрической греющей мощности нечетное число (n>1) логических элементов контролируемой цифровой интегральной схемы соединяют по схеме кольцевого генератора, подключают его к источнику питания, в заданные моменты времени ti измеряют мгновенную мощность, потребляемую цифровой интегральной схемой от источника питания, и частоту колебаний кольцевого генератора, а значение переходной тепловой характеристики в момент времени t находят по формуле: где и - частота колебаний кольцевого генератора в моменты времени t0=0 и ti соответственно, - температурный коэффициент частоты колебаний кольцевого генератора, Рср(ti)=[Р(0)+P(ti)]/2 - средняя мощность, потребляемая цифровой интегральной схемой за время от начала нагрева t0=0 до момента времени ti, а P(0) и P(ti) - мгновенная мощность, потребляемая цифровой интегральной схемой в моменты времени t0=0 и ti соответственно.

Использование: для определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода. Сущность изобретения заключается в том, что способ определения стойкости к радиационным и температурным воздействиям наноэлектронного резонансно-туннельного диода (РТД) на основе многослойных AlGaAs (алюминий, галлий, арсеникум) полупроводниковых гетероструктур заключается в последовательном приложении циклов радиационных воздействий на партию РТД, доза которых постепенно накапливается в каждом цикле, и температурных воздействий, время воздействия которых постепенно увеличивается, с тем, чтобы получить вызванное ими изменение вольт-амперной характеристики (ВАХ) в рабочей области не менее чем на порядок больше погрешности измерения, в определении количества циклов радиационных и температурных воздействий путем установления ВАХ, соответствующей параметрическому отказу для конкретного применения РТД, в построении семейства ВАХ, в определении на основе анализа кинетики ВАХ скорости деградации РТД и в определении стойкости к радиационным и температурным воздействиям РТД на основе полученной скорости деградации РТД.

Использование: для отбраковки полупроводниковых приборов. Сущность изобретения заключается в подаче на каждый прибор из группы однотипных приборов неизменные напряжения питания, приложении последовательности циклов ионизирующего излучения, доза которого накапливается в каждом цикле с тем, чтобы получить вызванное ею приращение интегрального низкочастотного шума прибора над шумами его исходного состояния, анализе приращений интегрального шума с ростом накопленной дозы, определении приращения интегрального шума, достигнутого к моменту окончания М-го цикла, с которого начинают уверенно фиксироваться изменения рабочего тока прибора, выбраковке приборов тех типов, у которых среднее значение приращения интегрального шума на единицу дозы, достигнутое к моменту окончания М-го цикла, оказывается больше, чем у приборов других типов.

Изобретение относится к встроенному логическому анализатору и, в частности, к программируемому встроенному логическому анализатору для анализа электронной схемы.

Использование: для выяснения причин отказов устройства или для оценки качества процесса производства внутренней части электронного устройства. Сущность изобретения заключается в том, что способ, в котором выполняют анализ образца электронного устройства посредством замера некоторого свойства в нескольких точках указанного образца и подвергают, до выполнения анализа, указанные несколько точек, по меньшей мере, одной обработке, увеличивающей различие указанного свойства, по меньшей мере, в двух элементах образца электронного устройства, представляющих собой, по меньшей мере, два слоя пакета слоев, включенного в электронное устройство, при этом указанная обработка включает резку пакета слоев таким образом, что создается различие морфологии в поверхности среза, по меньшей мере, между двумя из указанных слоев пакета.

Изобретение относится к технике измерения тепловых параметров полупроводниковых приборов и интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества и оценки температурных запасов цифровых интегральных микросхем на выходном и входном контроле.

Изобретение относится к электронной промышленности, в частности к средствам и методам тестирования электронных компонентов, в том числе при их производстве. Предложен способ тестирования электронных компонентов, включающий следующие этапы: осуществляют размещение по меньшей мере одного тестируемого электронного компонента на заданной позиции в емкости для тестирования; осуществляют опускание термогруппы, смонтированной над контактной поверхностью с контактными прессорами, расположенными в соответствии с расположением электронных компонентов, и содержащей по меньшей мере один элемент Пельтье, на указанный по меньшей мере один электронный компонент, причем прессоры соприкасаются с электронными компонентами без зазора; осуществляют управление питанием указанной термогруппы для достижения заданной температуры по меньшей мере одним указанным элементом Пельтье и по меньшей мере одним электронным компонентом, при этом изменение температуры при помощи прессоров происходит за счет теплопроводности; осуществляют тестирование параметров по меньшей мере одного электронного компонента при заданной температуре; прекращают тестирование электронных компонентов с последующим подъемом термогруппы и извлечением по меньшей мере одного электронного компонента из емкости для тестирования. Технический результат - повышение эффективности тестирования и снижение уровня механического стресса электронных компонентов. 12 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к электронной промышленности, в частности к средствам и методам тестирования электронных компонентов, в том числе при их производстве. Предложен способ тестирования электронных компонентов, включающий следующие этапы: осуществляют размещение по меньшей мере одного тестируемого электронного компонента на заданной позиции в емкости для тестирования; осуществляют опускание термогруппы, смонтированной над контактной поверхностью с контактными прессорами, расположенными в соответствии с расположением электронных компонентов, и содержащей по меньшей мере один элемент Пельтье, на указанный по меньшей мере один электронный компонент, причем прессоры соприкасаются с электронными компонентами без зазора; осуществляют управление питанием указанной термогруппы для достижения заданной температуры по меньшей мере одним указанным элементом Пельтье и по меньшей мере одним электронным компонентом, при этом изменение температуры при помощи прессоров происходит за счет теплопроводности; осуществляют тестирование параметров по меньшей мере одного электронного компонента при заданной температуре; прекращают тестирование электронных компонентов с последующим подъемом термогруппы и извлечением по меньшей мере одного электронного компонента из емкости для тестирования. Технический результат - повышение эффективности тестирования и снижение уровня механического стресса электронных компонентов. 12 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к технике испытаний и может быть использовано при наземной экспериментальной отработке и при приемочных испытаниях радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов на стойкость к инициированию вторичной дуги при работе аппаратуры на напряжениях, превышающих падение потенциала на дуге, в условиях имитации космического пространства, включая плазменное окружение, имитирующее плазму первичного разряда. Техническим результатом данного изобретения является устранение сквозных дефектов сплошности защитного покрытия путем восстановления полимерного покрытия на токоведущих проводниках испытываемой аппаратуры, что ведет к снижению риска повреждения радиоэлектронной аппаратуры в процессе испытания при сохранении достоверности испытаний. Способ испытания радиоэлектронной аппаратуры космических аппаратов на стойкость к вторичному дугообразованию заключается в воздействии плазмой, имитирующей плазму первичного разряда, на испытываемую аппаратуру в активном (рабочем) состоянии под напряжением, превышающим падение потенциала на дуге. Для достижения технического результата непосредственно перед испытанием работающей аппаратуры в плазменном окружении и в едином цикле с испытанием выполняется процедура осаждения полимера в местах нарушения защитного полимерного покрытия, при этом для осаждения полимера используется тот же источник плазмы, который используется для формирования плазменного окружения, имитирующего плазму первичного разряда. 3 з.п. ф-лы, 2 ил.

Изобретение относится к области электротехники и может быть использовано в лампах. Техническим результатом является обеспечение возможности питания от двух различных типов трансформаторов. Выходные схемы (1) для приема выходных сигналов из трансформаторов (2) содержат фильтры (11) и выключатели (12). В случае магнитных/электронных трансформаторов фильтры (11) активируются/деактивируются, например, для выполнения/не выполнения фильтрации посторонних сигналов, поступающих из преобразователей (4). Фильтры (11) могут содержать конденсаторы. Выключатели (12) могут содержать плавкие предохранители. Выходные сигналы магнитных/электронных трансформаторов содержат сигналы относительно низкой/высокой частоты, которые дают в результате токи относительно небольшой/большой силы, протекающие через конденсаторы; эти токи будут обуславливать перегорание/не перегорание плавких предохранителей. Конденсаторы при их активации формируют вместе с индуктивностями рассеяния магнитных трансформаторов фильтры подавления электромагнитных помех. Альтернативно, схемы (1) могут дополнительно содержать датчики (13) для обнаружения типов трансформаторов и для управления выключателями (12) в ответ на результаты обнаружения. В этом случае датчики (13) могут быть выполнены с возможностью обнаружения частотных сигналов в выходных сигналах и содержат устройства (15) сравнения для выполнения сравнения результатов (14) обнаружения с пороговыми значениями. 5 н. и 10 з.п. ф-лы, 6 ил.

Тест-купон погрешностей совмещения слоев многослойной печатной платы состоит из 2n пар печатных проводников, ориентированных вдоль стороны МПП. Причём каждую пару проводников располагают на соседних слоях металлизации МПП один под другим со смещением в направлении. Пары проводников образуют две группы по n пар, для каждой следующей пары в группе смещение увеличивается на величину дискретного смещения Δ относительно смещения предыдущей пары. Технический результат заключается в уменьшении сложности процесса измерений и обработки результатов контроля. 2 ил.

Тест-купон погрешностей совмещения слоев многослойной печатной платы состоит из 2n пар печатных проводников, ориентированных вдоль стороны МПП. Причём каждую пару проводников располагают на соседних слоях металлизации МПП один под другим со смещением в направлении. Пары проводников образуют две группы по n пар, для каждой следующей пары в группе смещение увеличивается на величину дискретного смещения Δ относительно смещения предыдущей пары. Технический результат заключается в уменьшении сложности процесса измерений и обработки результатов контроля. 2 ил.
© Патентный поиск, поиск патентов на изобретения - FindPatent.RU 2012-2024
Политика конфиденциальности 2016-02-04 2018-01-27T13:58:08
Наверх