Устройство для бесконтактного измерения деформации стеклянных образцов

 

О П И СА Н И Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

299788

Союз Соввтских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства .чо

Заявлено 07.Х.1968 (№ 1279350/29-33) с присоединением заявки Х

Приоритет

Опуоликовано 26.111,1971. Бюллетень М 12

Дата опубликования описания 23.1Ъ .1971

МПК G 01п 21!58

Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров

СССР

УДК 6 20.1.173(088.8) ! г- ъ Л . IJ Л Я

1г г " т

Г. С. Пугачев н Л. Д. Воловец ltd °

I t . .:

Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффт*—

Авторы изобретения

Заявитель

УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ

ДЕФОРМАЦИИ СТЕКЛЯННЫХ ОБРАЗЦОВ

Изобретение может быть использовано для измерения деформаций образцов при испытании на изгиб, растяжение или сжатие.

Известные устройства содержат рабочую камеру с нагружающим органом, проектор и измерительный механизм.

Цель изобретения — повысить точность измерения.

Это достигается тем, что |нагружающий орган жестко связан с объектом, а измерительный механизм выполнен с фотоэлектрическими преобразователями, включенным в мостовую схему с нуль-индикатором.

1Ia фиг. 1 изображено предлагаемое устройство; на фиг. 2 — фотоэлектрические преобразователи.

Предлагаемое устройство содержит осветитель 1 с лампой 2, нагружающий орган 8, который через осветитель 1 с помощью стоек

4 и гаек 5 жестко связан с кольцом 6 и объективом 7, рабочую камеру 8 с опорой 9, на которой испытывается образец 10, переходное кольцо 11 основания 12 и зеркало 18.

В нагружающем органе и рабочей камере предусмотрены герметичные иллюминаторы

14 и 15, снабженные уплотнительными прокладками 16 и 17. Поджимающие гайки 18 и

19 обеспечивают герметизацию иллюминаторов. Нагружающий орга|н соединен с крышкой

20 камеры 8 при помощи мембраны 21.

Герметизация камеры 8 позволяет создать в ней разрежение порядка 10- - тор.

В крышке камеры имеется направляющий стакан, по которому перемещается осветитель 1. Направляющий стакан создает строго осевое перемещение нагружающего органа, например, пуансона.

Образец с контрольными метками размещается на опоре таким образом, чтобы,в иллюминатор пуансона были видны контрольные мегки. Затем в рабочей камере создается ва. куум, после чего, пуансон нагружается по заданной программе.

Проектируемое теневое изоб ражсние контро lI III Ix меток на правляется |срез об ьектив с увеличением в 150 раз на измерительные фотоэлектрические преобразователи 22.

Фотоэлектрические преобразователи 22 ориентируются относительно изображения меток таким образом, что B мостовой схеме устанавливается баланс токоэ, который регистрируется индикатором нуль-баланса. Преобразователи укреплены на двух не связанных микрометрических винтах 28, установленных с возможностью перемещения,по направляю щпм 24 вдоль измерительной линейки 25.

Перемещая преобразователи 22 относительно проекций контрольных точек и добиваясь при этом установления в измерительных цебо пях балансов тока, фиксируют 4 — расстоя299788 ние между ои стемами фотопреобразователей.

При последующем нагружении в результате деформации образца прои сходит перемещение контрольных точек, что вызывает разбала нсировку схемы, Вращая ми крометрические винты, возвращают схему к балансу.

При этом перемещение преобразователей 22 пропорционально измеряемой деформации Л/, разности показаний на 2-х мищрометри веских винтах до и после нагружения.

Относительная деформация образца определяется ка к е= 100 .

Л(О è

Общая ошибка в измерении относительной деформации (при в=0,02) составляет около 4%.

5 Предмет изобретения

Устройспво для бесконтактного измерения деформации стеклянных образцов, содержащее рабочую камеру с .нагружающим органом, проектор и измерительный механизм, от10 личающееся тем, что, с целью повышения точности измерения, нагружающий орган жестко связан с объективом, а измерительный механизм .выполнен с фотоэлектрическими преобразователями, включенными в мост-схему

15 с нуль-индикатором.

299788

Фиг. 2

Составитель Ю. Калланова

Текред А. А. Камышникова Корректор Л. А. Царькова

Редактор С. Ежкова

Типография, пр. Сапунова, 2

Заказ 962/2 Изд. Хе 421 1ираж 473 Подписное

1 НИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров (. ССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4,5

Устройство для бесконтактного измерения деформации стеклянных образцов Устройство для бесконтактного измерения деформации стеклянных образцов Устройство для бесконтактного измерения деформации стеклянных образцов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к определению деформаций деталей и образцов оптическими методами
Изобретение относится к устройствам, используемым в электронной технике, при действии сильных электрических полей
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к области измерения деформации объектов

Изобретение относится к области контрольно-измерительной техники и может быть использовано для обнаружения неплоскостности свободной поверхности жидкости

Изобретение относится к области определения координат точек и ориентации участков поверхности тела сложной формы

Изобретение относится к горному и строительному делу и может использоваться при измерениях параметров напряженно-деформированного состояния горных пород и массивных строительных конструкций с использованием скважинных упругих датчиков, а также при оценке контактных условий в технических системах, содержащих соосные цилиндрические элементы

Изобретение относится к способам исследования и контроля напряженно-деформируемых состояний, дефектоскопии и механических испытаний материалов

Изобретение относится к средствам измерения сил и деформаций тел
Наверх