Способ измерения временной зависимости упругого когерентного рассеяния нейтронов в кристалле
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советских
Социалистических
Республик
Зависимое от авт. свидетельства ¹
Заявлено 24,111.1969 (№ 1316367/26-25) с присоединением заявки №
Приоритет
Опубликовано 04.V1.1971. Бюллетень № 18
Дата опубликования описания 29Л 11.1971
МПК Н Olj 39!10
Катоитет па делатв изобретений и открытий при Совете Министров
СССР
УДК 621.039(088.8) Автор изобретения
В. В, Нитц
Объединенный институт ядерных исследований
Заявитель
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕННОИ" ЗАВИСИМОСТИ УПРУГОГО
КОГЕРЕНТНОГО РАССЕЯНИЯ НЕЙТРОНОВ В КРИСТАЛЛЕ
25
Изобретение относится к методам изучения физики твердого тела, например кристаллов.
Известный способ измерения временной зависимости сечения упругого рассеяния нейтронов на кристалле при резком изменении внешнего поля осуществляют на импульсном источнике нейтронов и временном разрешении не менее 100 мксек.
Предлагаемый способ позволяет облучать кристалл непрерывно и уменьшить временное разрешение до десятых долей микросекунды.
На фиг. 1 представлена схема осуществления предлагаемого способа, на фиг. 2 — схема симметричного рассеяния нейтронов на вращающейся монокристаллической пластине толщиной m .
В случае импульсного реактора 1 (см. фиг. 1) тепловые нейтроны, испускаемые с поверхности замедлителя 2, рассеиваются на вращающемся монокристалле 8, расположенном на расстоянии L) от замедлителя 2, а рассеянные нейтроны, прошедшие через коллиматор 4, регистрируются детектором 5, удаленным на расстояние L> от образца 8 и связанным с многоканальным временным анализатором 6. Специальное устройство 7 используется для создания и воздействия на образец импульсов внешнего поля с прямоугольной временной зависимостью.
Вращение производится в таком направлении, что длина волны рассеиваемых в детекторе нейтронов увеличивается. Это приводит к тому, что нейтроны, рассеянные в течение време)и T переходного процесса, регистрируются в течеш е большего времени.
Выражение для временного разрешения предлагаемого способа при условии «идеаль)(ой» относительной синхронизации вращения
10 образца, воздействия на него импульсов поля, запуска временного анализатора и вспышки источника нейтронов, зaïèñûâàåòñÿ в виде:
„в
+() (nPa+m )+(Эююю ю(пО,), 2 (-,.ь) где у — коллимация рассеянного пучка; и — мозапчность монокристалла; в — число оборотов в единицу врем ни; с — скорость света; . — длина волны регистрируемых нейтронов; тс — размер образца в направлении рассеянного пучка; т„— толщина активного слоя детектора; т — размер образца в радиально.а направлении;
D=0,25 10 л(сек/лтА — коэффициент пропорциональности;
305522
j 1+eLdl, 1 коэффициент растяжки
Сост".вптель Е. Алешин
Тсхрсд Т. П. Курилко
Корректоры: В, Петрова и E. Л асто::ки и а
Редактор Е, Гончар
Заказ 2049/19 Изд М 355 Тира.к -!73 Под..,.снос
ЦНИИПИ Комитета по делам изоорстсннй и открытий прп Совет Министров ССГР
Москва, Х-35, Раушскап наб., д. ". 5
Типографии, нр. Сапунова, 2 информации;
Оо — средний угол дифракции.
Используется плоский источник тепловых нейтронов, наклоненный по отношению к направлению первичного пучка так, что рассеиваемые в детектор 5 нейтроны с большей длиной волны имеют меньшее пролетное расстояние до образца 8, чем нейтроны с меньшей длиной волны. Для максимальной интенсивности нейтронов необходимо при этом выполнение следующего условия: tgv.= (2tg8) где с — угол между нормалью к поверхности источника и средним направлением первичного пучка, 0 — средний угол дифракции.
В случае стационарного реактора изложенные требования к выбору L, и а отпадают.
Предмет изобретения
1. Способ измерения временной зависимости упругого когерентвого рассеяния нейтронов в кристалле с помоиf,ü!0 рассеяния «белого > пучка нейтронов па монокристаллическом образце, претерпева ощем переход от одного стационарного состояния к другому под действием периодического импульсного внешнего воздействия и периодического анализа рассеянных в детектор нейтронов многоканальным време ным анализ-.тором, отличающийся тем, что, с целью у.".учшечия временного разрешения и использования стационарных источников нейтронов, дифракцию на образце производят в течение вс го переходного проц сса и вращают монокристалл в плоскости рассеяния синхронно с импульсами внешнего поля.
2. Способ по п. 1, отличаощийся тем, что плоской изл 1:ча1ощей поверхностью, величину угла о. между нор,IQëûî к которой и средним направлением первичного пучка выбирают из соотношения
tgn= (2tg8) где 0 — средний угол дифракI1iI i.1.
