В. в. куйбышева

 

1 . 043,%трАу Ч

-C À-Й М

ОП И

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

354345

Союз Советских

Сониалистическик

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено ОЗ.Х1.1970 (№ 1491279/29-33) с присоединением заявки №

Пр иоритет

Опубликовано 09.Х.1972, Бюллетень ¹ 30

Дата опубликования описания 1".XI.1972

М. Кл, G Oln 33/38

G 01п 21/22

Комитет по делам нзооретений и открытий при Соеете Министров

СССР

УДК 620.18(088.8) Авторы изобретения К. И. Бахтияров, А. А. Лисов, Б. А. Черепашенец, Г. М. Легонькова, П. А. Шмелев и H. И. Марьянова

Заявитель Московский инженерно-строительный институт им. В. В. Куйбышева

СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА СТРУКТУРЬ! ОБРАЗЦА

СТРОИТЕЛЬНОГО МАТЕРИАЛА

Изобретение относится к области контроля качества структуры строительного и другого материала.

Известен способ контроля качества структуры образца строительного материала .путем сканирования его шлифа и,преобразования видеосигналов в эквивалентные электрические сигналы.

Цель изобретения — обеспечить объективный количественный контроль структуры.

Достигается это тем, что электрические сигналы моделируют по частоте, а затем вводят в вычислительную машину и получают статистические параметры, однозначно характеризующие качество структуры образца.

Сущность способа заключается в том, что производят сканирование шлифа образца или

его фотоотпечатка.

Электрический сигнал, полученный на выходе сканирующего устройства, кодируется по принципу поразрядного уравновешивания. Видеосигнал преобразуется из аналоговой формы в дискретный код, что позволяет осуществить заполнение оперативной памяти ЭВМ двоичным кодом. Ввод производится непосредственно в ЭВМ без промежуточного носителя информации, что обеспечивает быстродействие обработки и устраняет возможность искажений.

При структурном анализе электрический сигнал в зависимости от задачи модулируется по амплитуде или по частоте, При исследовании двухкомпонентных («черно-белых») изображе5 ний установки работают в режиме индикаторе. В этом случае они могут оценивать распределение элементов структуры по размерам и однородность их распределения. При исследовании многокомпонентных и полутоновых

1о изображений установки работают в режиме фотометра.

При статическом анализе значения флуктуаций электрического сигнала, полученного при сканировании изображения образца, рас15 сматривается как случайная функция и характеризуется либо законом распределения, либо законом числовых характеристик распределения. Однородность распределения элементов структуры определяется нахождением коэф20 фициента корреляции, функции дисперсии, а распределение элементов структуры по размерам — четырьмя центральными моментами (математического ожидания, дисперсия, асимметрия и эксцесс). Проведение корреляционного анализа позволяет выделить и шумовую и периодическую составляющую сигнала, специфичные для каждой структуры (автокорреляционная функция) или произвести оценку степени отличия исследуемой структуры от

3Q эталона (взаимокорреляционная функция), 354345

Предмет изобретен ия

Составитель Г. Кузьминова

Техред Л. Куклина

Корректор Е. Усова

Редактор С. Ежкова

Заказ 3755/16 Изд. Мв 1505 Тираж 406 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 5Ê-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

Способ контроля качества структуры образца строительного материала путем сканирования его шлифа и преобразования видеосигналов в эквивалентные электрические сигналы, отличаюи1ийся тем, что, с целью обеспечения объективного количественного контроля структуры, .электрические сигналы моделируют по частоте, а затем вводят в вычислительную машину, и получают статистические параметры, однозначно характеризующие качество структуры образца.