Способ определения терморельефа электронных

 

О П И С А Н И Е 390528

ИЗОЬЕЕТ ЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №вЂ”

Заявлено 22.!Ч.1971 (№ 1651555/18-24) с присоединением заявки №

Приоритет—

Опубликовано 11 VII.1973. Бюллетень № 30

Дата опубликования описания 16.1.1974.

М. Кл. б 06f 15/46

Государственный комитет

Совета Министров СССР па делам изобретений и открытий

УДК 620.179.1 3 (088.8) Авторы изобретения

Э. П. Исаев, А. К. Лебедев и Ф. Н. Окунев

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕРМОРЕЛЪЕФА ЭЛЕКТРОННЫХ

СХЕМ

Изобретение относится к области автоматики и контрольно-измерительной техники и может быть применено для инфракрасного контроля электронных схем.

Известен способ для определения терморельефа электронных схем путем сканирования их поверхности, заключающийся в регистрации инфракрасного излучения в рабочем и калибровочных режимах, сравнении рабочей и калибровочных теплограмм и определении распределения температуры по поверхности объекта.

Однако недостаток этого способа заключается в том, что сравнение записанных рабочей и калибровочных теплограмм после сканирования приводит к расходу большого количества материалов для записи (бумаги) и значительному времени на все операции контроля.

Предлагасмый способ определения терморельефа отличается от известного тем, что получаемые в процессе сканирования сигналы калибровочных теплограмм сравнивают с сигналом рабочей теплограммы, воспроизводимым с носителя информации одновременно со сканированием, и сигналы равенства ординат рабочей и acaлибровочных теплограмм используют для получения изотерм либо областей с заданной градацией по температуре.

Это позволяет повысить оперативность контроля и точность определения терморельефа электронных схем.

На фиг. 1 изображена блок-схема задания рабочего режима электрической нагрузки электронных схем; на фиг. 2 — блок-схема калибровочных режимов нагрева.

Исследуемый объект 1 (см. фиг. 1), соединенный с источником питания 2, размещен на столе 8, который, в свою очередь, связан с

10 блоком управления 4. Выход сканирующего

ИК-микроскопа 5 соединен со входом регистрирующего устройства б, два других входа которого подключены к двум выходам блока управления 4 столом.

15 Как видно по фиг. 1, первую операцию сканирования объекта 1 осуществляют с помощью стола 8, управляемого блоком управления 4. Источник питания 2 обеспечивает рабочий режим нагрева объекта с распределением температуры Тр (Х, Y).

Блок управления 4 совместно со столом обеспечивают сканирование объекта по всей его поверхности.

Уровень ИК-излучения рабочего режима нагрева объекта регистрируется устройством б.

Одновременно в том же устройстве регистрируются текущие координаты X(t) и Y(t) сканирующего пятна, получаемые с помощью

30 блока управления 4.

390528

По окончании процесса сканирования и регистрации в рабочем режиме записанную в устройстве-регистраторе б информацию воспроизводят и одновременно объект сканируют без регистрации, но уже в калибровочном режиме нагрева с помощью подогревательной печи 7 и блока задания 8, как .это показано на фиг. 2.

Также одновременно и синхронно сопоставляют с помощью устроиства сравнения 9 уровни ИК-излучения рабочего режима регистратора 6 и калибровочного режима микроскопа 5 и регистрируют результат сравнения уCTDOHCTBOM 10.

По окончании сканирования изменяют температуру калибровочного режима и повторяют сканирование, воспроизведение и сравнение с регистрацией результатов сравнения подобно тому, как это было описано выше.

Каждой температуре калибровочного режима соответствует на регистраторе 10 изотерма Тр (Х, У), где Tp — температура нагрева подогревательпой печи 7.

Температура, задаваемая блоком 8, может сыть зафиксирована и отмечена либо вручную оператором на изотерме, либо автоматически цветом-или знаком.

В качестве регистратора б может быть взят магнитофон с записью по одной или нескольким дорожкам. В случае однодорожечной записи сигнал ИК-уровня предварительно следует преобразовать по методу ЧМ-модуляции, а импульсы координат Х и У замещать. так, как это сделано в телевидении

5 (полый телевизионный сигнал с синхрострочными и синхрокадровыми импульсами).

B качестве устройства сравнения 9 может быть применен дифференциальный дискриминатор уровня, либо. цифровой реверсивный

10 сумматор.

Операцию регистрирования изотермы (регистратор 10) можно осуществить, к примеру, с помощью двухкоординатного цифрового самописца, либо электроннолучевой трубки.

Предмет изобретения

Способ определения терморельефа электронных схем путем сканирования их поверхности, регистрации инфракрасного излучения

20 в рабочем и калибровочных режимах и фиксации распределения температуры по поверхности, отличающийся тем, что, с целью увеличения скорости и точности контроля, получаемые в процессе сканирования сигналы

25 калибровочных теплограмм сравнивают с сигналом рабочей теплограммы, воспроизводимым с носителя информации отновременно со сканированием, и формируют сигналы равенства рабочей и калибровочных тепло30 грамм в виде изотерм. 390528

Редактор Б. Нанкина

Заказ 3302710 Изд. ¹ 1738 Тираж 647 Подписное

UHHHIIH Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

Москва, 5К-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2

За&них ноп ибро5очнпи

pP)lfLrKll И78ос Ь2

Составитель Г. Лебедев

Техред T. Курилко Корректор Т. Добровольская

Способ определения терморельефа электронных Способ определения терморельефа электронных Способ определения терморельефа электронных 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для бесконтактного неразрушающего контроля качества чипов полупроводниковых фотопреобразователей, в частности солнечных элементов

Изобретение относится к электроизмерительной технике и может быть использовано в электровакуумной промышленности, например, при изготовлении электронно-оптических систем (ЭОС) цветных кинескопов

Изобретение относится к микрозондовой технике

Изобретение относится к контролю изделий электронной техники, в частности может быть использовано для выявления микросхем (МС) со скрытыми дефектами

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано при контроле качества изготовления сложных электронных блоков, преимущественно с печатным монтажом

Способ определения терморельефа электронных

Наверх