Устройство для измерения термо-э.д.с. хрупких иглообразных кристаллов

 

(11} 463О53

ОПИСАН И Е

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Сввз Советских

Социглйтичвских

Ргспуолик (б1) Зависимое от авт. свидетельства (22) Заявлено 24.04.73 (21) 1910424/26-25 (51) М. Кл. G OIII 25/30 с присоединением заявки №

Гооудврстввнкый комитет

Совета Министров СССР (32) Приоритет

Опубликовано 05.03.75. Бюллетень ¹ 9 (53) УДК 620.181.4(088.8 } по RBJIBM изворетений и открытий

Дата опубликования описания 05.05.75 (72) Авторы изобретения

А. А. Кабанов и И. А. Придатко

Красноярский государственный университет (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕРМО-Э.Д.С. ХРУПКИХ

ИГЛООБРАЗНЫХ КРИСТАЛЛОВ

Изобретение относится к технике эксперимента в области физики и химии твердого тела и может быть использовано при исследовании электрофизических свойств монокристаллов полупроводников и твердых электролитов, а также электронных и ионных процессов, сопутствующих термическому разложению ионных солей.

Известно устройство для определения знака и ориентировочно величины термо-э.д.с. хрупких иглообразных кристаллов при комнатной температуре, в котором хрупкие иглообразные кристаллы помещают на оргстекло между двумя канавками со ртутью, ооеспечивающей электрический контакт. Перепад температуры в канавках со ртутью создают нагревом ртути паяльником в одной из канавок, а температуру контактов определяют по температуре ртути.

Недостатками устройства являются применение токсичного вещества (ртути), невозможность исследования зависимости термоэ.д.с. от температуры и одноосных деформаций.

Цель изобретения — разработка устройства, позволяющего измерять термо-э.д.с. при нагреве хрупких иглообразных кристаллов до

250 С и исследовать зависимость термо-э.д.с. от усилия зажатия кристаллов.

Согласно изобретению, указанная цель доСтигается созданием градиента температуры вдоль образца за счет разной скорости нагрева электродов с различающимися массами при помещении устройства в печь с постоянной скоростью нагрева. Для обеспечения легкости скольжения верхнего полого электрода с переменной массой. а также для электрической и тепловой изоляции электродов корпус устройства выполнен нз фторопласта-4 (тефлоHB) . Xop0IIIIIII электрический контакт крнсталт0 лов с электродами обеспечивается графитовыми вкладышами.

На чертеже показано предложенное устройство для измерения термо-э.д.с. кристаллов.

Иглообразный кристалл 1 закрепляют в уг15 лублениях графитовых стержней 2, установленных в электродах: верхнем алюминиевом

3 и нижнем латунном 4. Электроды имеют трубчатые отводы 5 для крепления и подведения термопар к торцам кристалла. Нижний

20 массивный сборный электрод имеет внутреннюю полость н трубчатые вводы б и 7 для подачи воды илн другой жидкости с целью изменения перепада температур контактов.

Электроды разделены цилиндрическим ди25 электриком 8 нз тефлона, который является корпусом устройства и обеспечивает электроизоляцию в любой атмосфере, даже при высокой концентрации паров воды, хорошую теплои золя цию вследствие низкой теплопро30 водности, легкое скольжение и центрирование электрода 3. Для установки кристалла изоляП Р с д I с . и 3 О 0 P Pс т с FI и Я (, ставится . Рзяиии

Текрс. 3. Таi аиеико

Редактор T. Срлогская

1 орректор Е. Рсгг!!1лииа

Заказ 1061, 14 Изд. М 530 Тирагк 002 По,д"писио

ЦНИИПИ Государстве и1oгo коз:птста Совета Ми1п1стров СССР по делам изобретениЙ и открв1тп!;.

Москва )"„мзз Ра !!т-,окая па о д 3 о

Типография, пр. Сгпупова, 2 таp 8 11iiiCCT ОКHG 9. оЛЕКТрад1.1 3 И 4:I,o10.,:

Отво",Îÿ j .l прпсасдп1, 1!Отся к 1;рибапу-p!;.; 1стрВТ0ру тср,10 э д с (па-!О11циотIО1p) -;,-,л1, ., Си лит";IIO настоянного така) .

pFITh термо-э.д.с. нс::.кальки:!1И способамп. i lp0стейшим из них, удойным для быстрой оценки знака термо-э.д.с. и из Iy ieFiия влияния -Ia нее атмосферы, является способ, при катаром создают перепад те1чператур проточной водой нли за счст разности масс элсIiTp0, !,OD при 110 стоянной скорости нагрева печи. Подбора;1 масс электродов, режима нагрсва пс п1 и пр:iменснием жидкостного охлаждения можно добиться постоянного градиента температуры вдоль образца. Если вместо тефлона применить кварцевую трубку, то можно значительно увеличить возможный нагрсв устройства.. Стаойство для измерения те1рма-эд.с. хруг1: Fix. Иглообразных кристаллов, отл и ч а ю щес с я тем, ч-о, с целью проведения измерений да 250 С и исследования зависимости термоэ.д.с. от усилия зажатия кристаллов, îíî состоит из цилиндрического тефлонового корпуса, в верхней части которого установлен подвижный электрод, выполненныи в виде скользягцсго в тсфлоновом цилиндре стакана из легкого метал".à с графитовым вкладышем, в нижней части которого установлен неподвижFII Ill;IBTóF1I1bø сборныи электрод с полостью для охлаждения водой, представляюший собой жесткое соединение, состоя1цее из матрицы, крышки и двух трубок. и так ке име10щий графитовьп".. вкладыш.

Устройство для измерения термо-э.д.с. хрупких иглообразных кристаллов Устройство для измерения термо-э.д.с. хрупких иглообразных кристаллов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к авиационной промышленности и может быть использовано при исследовании различных летательных аппаратов в гидродинамических трубах, а также в различных отраслях народного хозяйства, где необходимо исследовать турбулентности жидкостей в трубопроводах или замкнутых помещениях

Изобретение относится к авиационной промышленности и может быть использовано при исследовании различных летательных аппаратов в гидродинамических трубах, а также в различных отраслях промышленности народного хозяйства, где необходимо исследовать "возмущенный" поток жидкости
Наверх