Устройство для измерения изменений разности фаз световых колебаний

Авторы патента:

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (t0 505984

Союз Советскик

Социалистическик

Республик 7 г (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 03.08.70 (21) 1467931 26-25 с присоединением заявки № (51) М. Кл.е G 02F 1/21

Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 635.414(088.8) Опубликовано 05.03.76. Бюллетень № 9

Дата опубликования описания 27.04.76 (72) Автор изобретения

И. Ш. Эцин (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЙ

РАЗНОСТИ ФАЗ СВЕТОВЫХ КОЛЕБАНИЙ

ГасУдаРствениый комитет (23) Приоритет

Изобретение относится к оптическим измерительным приборам и может быть использовано для измерений весьма малых изменений показателя преломления, весьма малых смещений, малых изменений длины волны, света, для определения скорости распространения света в прозрачных средах.

Известные приборы для измерения малых изменений разности фаз световых колебаний, содержащие двухлучевой интерферометр, четыре фотоприемника, электронные блоки сложения, вычитания и умножения, генератор синусоидальных колебаний звуковой частоты, усилители и радиочастотный фазометр, имеют невысокую точность, что обусловлено погрешностями электронных аналоговых элементов, производящих операции вычитания, сложения, умно>кения.

В предло>кенном устройстве указанные недостатки устранены за счет установки поляризатора в осветительной системе интерферометра, и двух двулучепреломляющих фазовых пластинок в каждой ветви интерферометра.

"лавные оси пластинок составляют угол 45 с направлением пропускания поляризатора и

90 между собой, На чертеже изображена схема предложенного устройства.

Устройство содержит осветитель, состоящий пз спектральной лампы 1, светофильтра

2, конденсора 3, диафрагмы 4, объектива 5 и поляризационной призмы 6; интер ферометр Майкельсона, включающий зеркала 7, 8, разделительную и компенсационную пластины 9, 10, двулучепреломляющие фазовые пластинки 11, 12 в одну восьмую длины волны, расположенные в разных ветвях интерферометра, и выходной объектив 13.

Пластины 11, 12 ориентированы так, что их

10 оси составляют с направлением пропускания призмы 6 угол 45, а между собой вЂ” 90, За объективом 13 расположен поляроид 14, связанный с осью синхронного электродвигателя 15 и установленный перед фотоприемни15 ком 16. Ось вращения поляроида параллельна оси оптической системы интерферометра.

Перед поляроидом 14 помещена дополнительная оптическая система для получения опорного сигнала, состоящая из электриче20 ской лампы накаливания 17, конденсора 18 и поляроида 19. Фотоприемник опорного канала 20 и фотоприемник 16 подключены через усилители 21, 22 к радиочастотному фазометру 23.

25 Предварительное макетирование устройства показало, что погрешность измерений определяется фазометром и может быть дове2д дена до

104

30 В случае использования двухлучевых ин505984

1б

Составитель С. Соколова

Редактор T. Орловская Техред А. Камышникова Корректор Л. Денискина

Заказ 927, 15 Изд. № 273 Тираж 654 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, K-35, Раушская наб., д. 4/5

Типография, пр. Сапунова, 2 терферометров Майкельсона, Тваймана-Грина, Кестера, где после отражения от зеркала в каждой ветви лучи второй раз проходят один и тот же путь в противоложном направлении, нужно вводить в обе ветви интерферометра пластинки /,. В случае применения интерферометров Юнга, Релея, Маха-Цензера, где лучи проходят путь только в одном направлении, нужно вводить пластинки вЂ” четверть волны /,.

Предмет изобретения

Устройство для измерения изменений разности фаз световых колебаний, содержащее двухлучевой интерферометр с пространственно-разделенными ветвями, устройство для получения опорного сигнала, фотоприемники, усилители и радиочастотный фазометр, о тл и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения точности измерения малых изменений разности фаз световых колебаний, устройство содержит поляризатор, установленный в осветительной системе интерферометра, две дву10 лучепреломляющие фазовые пластинки, установленные в каждой ветви интерферометра, главные оси которых составляют угол 45 с направлением пропускания поляризатора и

90 между собой.

Способ интерференционной амплитудно модуляции h3js учения* аш1йо-т?\ш:-бнблиоте;: // 329409

Патент 285134 // 285134

Устройство для преобразования светового потока // 240301

Электрооптический интерференционный модуляторсвета // 206636

Патент 186770 // 186770

Патент 156716 // 156716

Патент 156176 // 156176

Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией // 127054

Спектрометр-интерферометр с селективной амплитудной модуляцией // 127053

Способ измерения параметров физических полей // 2178188

Изобретение относится к способам измерения параметров физических полей, предпочтительно динамических по характеру

Способ и устройство для управления цветом на дисплее // 2445661

Изобретение относится к микроэлектромеханическим системам и может быть использовано в дисплеях, содержащих интерференционные модуляторы

Интерференционный модулятор // 851321

Компаратор световых потоков // 853592

Модулятор света // 873197

Модулятор интенсивности лазерного излучения // 1500142

Способ спектральной фильтрации диффузного излучения // 2511036

Изобретение относится к способу спектральной фильтрации излучения с помощью интерференционных фильтров в условиях низкой интенсивности и высокой расходимости потока излучения. Спектральная фильтрация осуществляется с помощью многослойного интерференционного фильтра, содержащего слои с периодически меняющимся значением коэффициента преломления. Кроме того, интерференционный фильтр содержит проходящую по всей толщине фильтра ячеистую структуру с вертикальными светоизолирующими стенками, которая обеспечивает разделение проходящего через фильтр излучения на отдельные световые потоки. Каждый из световых потоков имеет сечение, не превышающее размера площадки пространственной когерентности при данной расходимости светового потока, и спектральная фильтрация осуществляется раздельно для каждого из этих световых потоков. Технический результат заключается в увеличении допустимой расходимости и регистрируемой интенсивности излучения. 2 ил.

Способ и устройство считывания, измерения или определения параметров дисплейных элементов, объединенных со схемой управления дисплеем, а также система, в которой применены такие способ и устройство // 2526708

Изобретение относится к микроэлектромеханическим системам дисплейных устройств. Техническим результатом является повышение эффективности определения рабочей характеристики дисплейного устройства за счет измерения электрического отклика этого устройства в ответ на сигнал, поданный через электроды этого устройства. Устройство содержит матрицу интерферометрических модуляторов, схему управления, подающую сигнал через первый и второй электроды одного из интерферометрических модуляторов, изменяющий состояние указанного модулятора из первого состояния во второе состояние и обратно в первое состояние, схему обратной связи, измеряющую электрический отклик указанного модулятора в ответ на сигнал, процессор, управляющий схемой формирователя, получения данных, характеризующих измеренный отклик, и определения на основе отклика рабочей характеристики модулятора, запоминающее устройство, взаимодействующее с процессором. 4 н. и 23 з.п. ф-лы, 27 ил.

Изобретение относится к средствам калибровки дисплейного устройства. Техническим результатом является обеспечение калибровки дисплейного элемента в ответ на поданный сигнал. В способе с помощью схемы управления подают управляющий сигнал с первым уровнем между первым и вторым электродами дисплейного устройства, линейно изменяют управляющий сигнал от первого уровня до второго уровня, отслеживают электрический отклик схемы управления, подают сигнал обратной связи на схему управления на основании электрического отклика, с помощью схемы управления прерывают линейное изменение управляющего сигнала в ответ на сигнал обратной связи. 4 н. и 20 з.п. ф-лы, 27 ил.

Способ компенсации температурного смещения полосы интерференционно-поляризационного фильтра // 2539113

Изобретение относится к оптическому приборостроению и касается способа компенсации температурного смещения полосы пропускания интерференционно-поляризационного фильтра. Фильтр содержит стопу регулируемых элементов с полуволновыми пластинками, вращением которых настраивают полосы пропускания регулируемых элементов фильтра на измеряемую спектральную линию объекта. Для компенсации температурного смещения полосы пропускания луч света от опорного источника направляют через каждый регулируемый элемент одновременно со светом измеряемой спектральной линии объекта. Пропущенный элементом луч опорного источника расщепляют на два луча, обыкновенный и необыкновенный, и используют изменение разности интенсивностей этих лучей, вызванное изменением температуры элемента, как сигнал обратной связи для поворота полуволновой пластинки, компенсирующего температурное смещение полосы пропускания элемента. Технический результат заключается в повышении точности и упрощении способа. 2 ил.