"бесконтактный способ измеренияконцентрации носителей заряда вполупроводниках на свч4

 

508760

3 где Н вЂ” напряженность магнитного поля; л — длина СВЧ-волны в свободном пр оспр ан.стае; в, — относительная .диэлектрическая проницаемость решетки; ео = диэлектрическая проницаемость вакуума; е — заряд элекпрона.

Эта формула справедлива при выполнении условий:

osðт. 3 нр/(» 3 Io,./<> ... 3 где ыр — плазменная частота; 1 тл ж, = — — циклотронная частота; с — скорость света; и": и и — эффективная масса проводимости и циклотронная масса; т — время релаксации импульса носител ей заряда.

В случае, когда первое,и трстье условия выполняются, а ю„ /о 1, то связь концент. рации с Н„находится из уравнения:

4 2 4 P где в„. — циклопронная частота при Н=Н,„

Минимум коэффициента отражения соответствует значению магнитного поля, при котором дейспвительная часть фогтовской диэлектрической проницаемости становится приблизительно равной диэлектрической проницаемости свободного пространства (фогтовская диэлектрическая проницаемость — диэлектрическая проницаемость в плоскости, перпендикулярной направлению напряженности магнитного поля). Нижний предел измерения концентраций ограничивается условием первым (т. е. ырт- 3), а верхний — величиной магнитного поля и длиной СВЧ-волны.

При использовании магнитных полей до

200 кэ и СВЧ-колебаний с длиной волны от

I мм до 3 см значения измеряемых концентраций при температуре 77 K в материалах и-типа лежат в интервале 10 " — 5. 10" см —" (для аппимонида и арсеннда и,дия и-типа в интервале 10 — 5 ° IO см "). В материалах р-типа интервал концентраций составляет

5 10 — 5 10 см — .

На фиг. 1 представлена блок-схема устаloBhH, реалнзукпцей этот способ; на фиг. 2— зависимость отраженной от образца мощности Р от напряженности магнитного поля Pl„, Установка состоит из генератора 1, аттенюатора 2, ответвителя 3, волновода 4, образца 5, детектора 6 видсоусилителя 7, осциллографа 8, усилителя 9, датчика 10, конденсаторной батарси 11, катушек Гельмгольца 12, дьюара 13 с жидким азотом, выпрямителя 13.

Работает установка следующим образом.

СВЧ-колебания от генератора 1 через ат5

4 тенюатор 2 н направленный ответвитель 3 поступает в-. измерительный волновод 4; изготовленный из- нержавеющей стали. К фланцу измерительного волновода 4 прижимается образец 5.

Мощность, отраженная от образца 5, фиксируется кристаллическим детектором 6. Сигнал с детектора 6 после усиления видеоусилителем 7 поступает на вертикальные пластины осциллографа 8. На горизонтальные пластины осциллографа 8 через усилитель 9 поступает сигнал, пропорциорнальный магнитному полю, снимаемый с датчика 10. В качестве датчика 10 может использоваться катушка диаметром 20 мм, имеющая 30 витков, подключенная к интегрирующей RC-цепочке.

Магнитное поле до 200 кв получается разрядом конденсатор ной батареи 11 емкостью

2 иф, собранной из двенадцаги конденсаторов ИМ-5-150, через катушки Гельмгольца 12.

Конденсаторная батарея 11 заряжается от выпрямителя 14. Длительность импульса магнитного поля составляет 3 мсек. Катушки

Гелымтольца 12, образец 5 и измерительный волновод 4 помещают в дьюар 13 с жидким азотом.

Локальность измероний концентрации описываемым способом в диапазоне длин волн

8 мм — 3 см достигает 2 мм", если измерительный волновод заменить суженным коаксиальньим; а в диапазоне длин волн 1 — 4:мм

0,2 — 0,3 мм2, если в качестве измерителыного использовать суженный волновод.

При использовании осциллографа с запоминающей трубкой и предварительной калибровке развертки значение измеряемой концентрации может непосредственно считываться с экрана осциллографа, что позволяет использовать способ для экспресс-измерений концентрации в заводских условиях. Время проведения измерений в этом случае составляет не более 2 — 3 ми,н.

Формула изобрегения

Бесконтактный способ измерения концентрации носителей заряда в полупроводниках на СВЧ путем помещения в магHHтное поле исследуемого образца, прижатого к открытому фланцу волновода, отлача)ощийся тем, что, с целью упрощения и повышения точности измерения, перпендикулярно направлению распространения волны и вектору напряжшшости электрического поля волны прикладывают импульсное магнитное лоле, измеряют его напряженность, при которой диэлектрическая проницаемость равна единице, что соответствует минимуму коэффициента отражения СВЧ-волны, а концентрацию носителей заряда определяют по формуле:

/ где Н вЂ” напряженность магнитного поля; — длина волны СВЧ ь свободном пр остр анстве;

5087760 е„— относительная диэлектрйческая проницаемость решетки, 6

ao — диэлектрическая проницаемость вакуума; е — заряд электрона.

508760

Е о

Составитель Е. Сафонова

Техрсд Т. Лященко

Корректор Е. Хмелева

Редактор В. Левятоа

МОТ, Загорский филиал

Заказ 5193 Изд, № 1246 Тираж 1029 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 7К-35, Раушская наб., д. 4/5

бесконтактный способ измеренияконцентрации носителей заряда вполупроводниках на свч4 бесконтактный способ измеренияконцентрации носителей заряда вполупроводниках на свч4 бесконтактный способ измеренияконцентрации носителей заряда вполупроводниках на свч4 бесконтактный способ измеренияконцентрации носителей заряда вполупроводниках на свч4 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике контроля параметров полупроводников и предназначено для локального контроля параметров глубоких центров (уровней)

Изобретение относится к технике контроля полупроводников

Изобретение относится к измерительной технике, применяемой для измерения электрофизических параметров полупроводниковых материалов с использованием зондирующего электромагнитного излучения сверхвысокой частоты (СВЧ), и может быть применено для определения времени жизни неравновесных носителей заряда в полупроводниковых пластинах и слитках бесконтактным СВЧ методом
Наверх