Способ ультразвукового контроля изделий
О П И C = "Ê-"ЕИЗОБРЕТЕН ИЯ
Союз Советских
Социалистических
Республик (») 523346
К АВТОРСКОМУ СВИ ЕТЕДЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 21.10.74 (21) 2066305/28 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 30.07.76.Бюллетень № 28 (45) Дата опубликования описания 11.11. 76 (51) Я. Кл >
G 01 N 29/04
Государственный комитет
Совета Министров СССР по делам изобретений и открытий (53) УДК 620.179.16 (088,8) (72) Авторы изобретения
А. Х, Вопилкин, И. Н. Ермолов и Л. С. Зенкова
11ентральный научноисследовательский институт технологии машиностроения (71) Заявитель (54) СПОСОБ УЛЬТРАЗВУКОВОГО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ
Изобретение относится к ультразвуковой дефектоскопии и может быть использовано для определения характера, размера и ориентации дефектов.
Известен способ ультразвукового контро- 5 ля изделий с помощью широкополосных искателей для определения характера дефектов по спектру принятых or дефектов сигналов.
B известном способе широкополосным искателем излучают ультразвуковые колебания 10 в широкой полосе частот, принимают и анализируют спектр сигналов, отраженных от дефекта и по огибающей судят о плоскосгном или объемном характере дефекта.
Бель изобретения — определение размеров1б и ориентации плоскостных дефектов.
Для этого излучение и прием колебаний осуществляют для каждого из искателей с переменными углами ввода ультразвука, затем измеряют для каждого искателя величи-20 ны частотных интервалов между спектральными максимумами, полученными от боковых лепестков индикатрисы рассеяния дефекта, и по полученным соотношениям определяют искомые параметры. 25
На фиг. 1 показаны два широкополосных искателя — прямой и наклонный, используемые для реализации предложенного способа; на фиг. 2 и 3 — спектрограммы эхо-сигналов для прямого и наклонного искателей; на фиг. 4 — два наклонных искателя; на фиг,5— спектрограммы эхо-сигналов для двух наклонных искателей.
Согласно предложенному способу при обнаружении в изделии 1 дефекта 2 с помошью широкополосного искателя 3 в изделии возбуждают ультразвуковые частотномодулированные колебания в достаточно широкой полосе частот. Затем исследуют спектральный состав эхо-сигналов, отраженных от дефекта 2, По огибаюшей спектра судят о характере дефекта.
По монотонному изменению спектра дефект классифицируют как объемный, а по осциллирующему периодическому изменениюкак плоскостной. Для плоскостного дефекта измеряют величину частотного интервалаа|„ в огибаюшей спектра 4 между двумя максимумами, образованными индикатрисой рассеяния дефекта, Затем вторым показателем 5
523346 с углом ввода, отличающимся от угла ввода первого искателя, возбуждают в иэделии ультразвуковые частотномодулированные ко» лебания ia вновь измеряют величину частот.. ного интервала и f> в огибающей спектра,, 6. Далее по известным значениям A f u
Ь | рассчитывают размер дефекта 25 н1 его ориентацию 8 с помощью системы уравнений. Для реализации предложенного способа прямым и йаклонным искателем (фиг. 1) система уравнений может иметь вид
4 1
4Ь|1п (P -9
1 с
4f
4Ьsin(P -6) С1 а, °
4Ьым & сг
4f
Х 45 $1 (p>9) Фиг.1
Фиг,2 где <1 - скорость продольных ультразвуковых волн в материале изделий; с скорость поперечных ультразвуковых волн в материале изделий;
2 Ъ - размер (диаметр) дефекта;
9 - угол наклона -(ориентациями дефекта;
Р - угол ввода наклонного искателя.
Для реализации предложенного способа двумя наклонными широкополосными искате4 лями (см. фиг. 4) система уравнений может иметь внд с и где - угол ввода первого искателя;
Р - угол ввода второго искателя.
Таким образом, предложенный способ позИ1,вопиет не только определять характер дефек« тов, но и измерять размеры и ориентацию этих дефектов.
Формула изобретения
)б
Способ ультразвукового контроля изделий а помощью широкополосных искателей для определения характера дефектов по спектру принятых от дефектов сигналов, о т л ич а ю ш и и с я тем, что, с целью определении размеров и ориентации плоскостных
34 с.1 к де тов, излучение н прием колебаний осуществляют для тсаждого иэ искателей с переменными углами .ввода:уюйьтраэвука, затем измеряют для каждо1;о-. искателя величины
35 частотных. интервалае между спектральными максимумами, полученными от боковых ле . пестков индикатрисы рассеяния дефекта, и по полученным соотношениям определяют искомые параметры.
523346
Фиг. 5
Составитель Г. Федоров
Редактор О. Юркова Техред,И. Ковач Корректор, Б. Вгас
Закаэ 5042/559 - Тираж 1028 Подписное
UHHHITH Государственного. комитета Совета Министров СССР о делам иэобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
