Микроскоп падающего света

 

Оп ИСА

Союз Соеетсиик

Социаписти чески к

Респубпми

ИЗОБЬЕТЕ Н

К АВТОРСКОМУ СВИДЙТВЛЬ (61) Дополнительное к авт. свил-ву (22) ЗаЯвлано 22.05.74 (21) 2028464/18с присоединением заявки № (23) Приоритет

Опубликовано 15.06.79. Бюллетен

Дата опубликования описания 15 г

) M. Кл.

G 02 В 27/ 8

ГееударствеккМ кематкт

СССР кк д1льм кзкбРВТВккй

N ITKPbITNN ъl

) УДК 535.824. .335:535.8 4.4 (088.8) (72) Авторы изобретения

Е. М. Брумберг и SI. A. Шифферс (71) Заявитель (54) МИКРОСКОП ПАДАЮШЕ1 О СВЕТА

Недостатком известного устройства является невозможность обеспечения поворота плоскости поляризации падающего света на любой угол.

Целью изобретения является повышение точности измерений азимутальпых характеристик наблюдаемых объектов.

Это доститается тем, что в предлагаемом микроскопе падающего света между опак-иллюминатором и объективом в плоскости, перпендикулярной оптической оси микроскопа, уста. новлена аннэотропная пластинка, вносящая разность хода в полдлнны волны для двух взаимно перпендикулярных поляризаций падающего на нее света. При этом пластинка имеет воэмож- ность поворота в плоскости, перпендикулярной оптической осн микроскопа.

Описываемый микроскоп падающего света изображен на чертеже.

Микроскоп содержит источник света 1, коллектор 2, поляризатор 3, опак-иллюминатор 4, анизотропную пластинку 5, объектив микроско-па 6, сигнапизатор 7 и окуляр микроскопа 8.

Изучаемый объект 9 изображен схематически.

Изобретение относится к области приборостроения и измерительной техники н применя ется, в частности, при поляриэационных исследованиях биологических нли минералогических объектов.

Известны микроскопы падающего света, которые наряду с объективом и окуляром содержат систему, состоящую из опак-иллюминатора, поляризатора и анализатора, обеспечивающих возможность исследования структуры наблюдаемого объекта в поляризованном свете. Для ис- 1в следования аэимутальных характеристик наблюдаемых объектов данные микроскопы снабжены предметными поворотными столиками 313, Недостаток известных микроскопов падающего света заключается в сложности точной центровки оси вращения поворотного столика относительно оптической оси микроскопа, что затрудняет проведение исследований.

Известны также устройства, которые, с целью компенсации поворота поляризации падающего светя, содержат поляризатор и фазовую пластинку,через которую свет проходит дважды (как йри прямом, так и при обратном ходе лучей.123.

Фс о.;.,н. я

МЗ з. 939

Ю I

1 ®Фф ч 6 ) уi ф» j Фф»

Микроскоп падающего света работает следуюшим образом.

Составитель А. Фомичев

Техред 3. Фанта Корректор Н. Стец

Редактор С. Хейриц Ф:С Ый а

Заказ 3463/42 Тираж 587 Подписное

ЦНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5.

Филиал ППП "Патент", r, Ужгород, ул. Проектная, 4

Свет от источника 1 проходит через коллектор 2, поляризатор 3 и опак-иллюминатор 4, попадает на анизотропную . пластинку 5. При. повороте пластинки 5 на угол а плоскость поляризации прошедшего света повернется на угол 2а. При обратном ходе лучей, отраженных от объекта, плоскость поляризации света восстанавливается независимо от угла поворота пластинки.

Благодаря введению поворотной аниэотропной пластинки обеспечена воэможность плавного изменения направления плоскости поляризации на исследуемом объекте. на любой заданный угол без изменения положения объекта и анализатора относительно друг друга.

6793

Формула изобретения

Микроскоп падающего света, солержаший объектив, поляризатор, опак-иллюминатор, анализатор и окуляр, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений аэимутальных характеристик наблюдаемых объектов, устройство содержит полуволновую фазовую пластинку, установленную между опакиллюминатором и объективом перпендикуляр10 но оптической оси микроскопа с возможностью поворота вокруг этой оси.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Скворцов и др. Микроскопы. Л., "Ma1 шиностроение",,1969.

2. Я1орб. Phys Lett1971, т. 18, М 1, с. 3 — 4.

Scott N. C. де Мй1- М „Виге г иделсе comРепъаОоп си с1 ТЕ Моо гтэоДе огг1эо гт ис Мд: ЧАЯ йпьег*,"

Микроскоп падающего света Микроскоп падающего света 

 

Похожие патенты:

Модулятор // 570003

Микроскоп // 377714

Изобретение относится к оптической технике и может быть использовано как элемент оптической развязки

Изобретение относится к выдвижным фильтрам для боковых зеркал, предназначенных для повышения безопасности движения и удобства пользования боковыми зеркалами транспортных средств

Изобретение относится к области физической оптики и может быть использовано в качестве средства исследования взаимодействия электромагнитного поля оптического диапазона волн с веществом, в частности, для исследования возбуждения вторичных электромагнитных волн в оптически прозрачных диэлектрических средах в процессе их нестационарного взаимодействия с электромагнитными волнами

Изобретение относится к оптике, в частности к устройствам для измерения длительности сверхкоротких лазерных импульсов методом регистрации автокорреляционной функции интенсивности

Изобретение относится к оптике, в частности к устройствам для измерения длительности сверхкоротких лазерных импульсов методом регистрации автокорреляционной функции интенсивности

Изобретение относится к оптическому приборостроению, а именно, к способам преобразования поляризации лазерного инфракрасного (ИК) излучения, и может быть использовано для преобразования линейно-поляризованного излучения мощных технологических CO2 лазеров в эллиптически- и циркулярно-поляризованное излучение

Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в поляризационных приборах для исследования напряжений методом фотоупругости
Наверх