Источник отрицательных ионов

 

ИСТОЧНИК ОТРИЦАТЕЛЬНЫХ ИОНОВ, содержещий газс^аарядную камеру с катодом и охватываюшнм его анодом с прямолинейной эмиссионной щелью, вытягивающий электрод и систему, для создания поперечного к емвссионной шели и нахфавлению вытягивания магнитного поля, отличающийся тем, что, с целью упрощения конструкции, анод Ш11полнен в виде двух герметично соеди- HeHHbtx вдоль образующей цилиндрических трубок, размешенных одна в другоА причем эмиссионная щель вьшолнена в упомянутом месте соединений трубок, а катод выполнен с цилиндрической наружной по ~ верхностью...с @00 00соО)

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕ(НИХ

РЕСПУБЛИН (l9) (И) Н 01 J 3/14:

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (2 1) 2840257/18 25 (22) 13. 1 1.79 (46) 07&0.83. Бюп, % 37 (72) Л. А, Мазурова и С. В. Удальцова," (53) 621.387.424 (088.8) (56) l. Бельченко Ю, М. н др. Физичес

1, кие основы поверхностноплазменного ме- тода получения пучков отрицательных ио нов. Препринт ИЯФ 77-56, Новосибирск, 1977.2. Бепьченко Ю. М. и цр. Поверхност« но-плазменный источник с разрядом без замкнутого дрейфа электронов. Пред-, .принт ИЯФ 78-95, Новосибирск, 1978,: (прототип) . л. (54) (57) ИСТОЧНИК ОТРИЦАТЕЛЬ

Hb1X ИОНОВ, содержащий газоразряцную камеру с катоцом и охватывающим ego анодом с прямолинейной эмиссионной щелью, вытягивающнй электрод и систему, цля создания поперечного к эмиссионной щели и направлению вытягивания магнитного поля, отличающийся тем, что, с целью упрощения. конструкции, аноц выполнен в виде двух герметично соециненных вдоль образукадей цилиндрических трубок, размещенных оцна в другой, причем эмиссионная щель выполнена в упомянутом месте соединений трубок, а «атоц . выполнен с цилиндрической наружной поверх ностью.

Ф

818360

Составитель В. Ким» .

Редактор Зубиетова Техред М.Тенер . Корректор А.Повх

Заказ 7991/1 Тираж 703 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР.по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, РФушская наб., д, 4/5 ..

Филиал ППП Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4,.

Изобретение относится к области технике получения ионов и может быть использовано при разработке источников отрицательных ионов.

Известны поверхностно плазменные 5 источники отрицательных ионов с планотР ронной и пеннинговской геометрией алектродов (lj .

Недостатком этих устройств являются большие затраты энергии на генерацию 10 отрицательных ионов, кроме того необходимость замыкания дрейфа существенно осложняет охлаждение электродов источникае

Наиболее близким к предложенному 15 является источник отрицательных ионов, содержащий газоразрядную камеру с катодом и охватывающим его анодом с. прямолинейной эмиссионной щелью, вытягивакщей электрод и систему для, 20 создания поперечного к амиссионной ще- . ли и направлению вытягивания магнитного поля 2

Известный источник обладает небольшим ресурсом, что обусловлено значитель- 25 ными температурными неравномерностями, приводящими к смещению пучка ионов и распылению электродов.

Целью изобретения является повышение ! ресурса источника. 30 . Эта цель достигается тем, что в исто чнике отрицательных ионов, содержащем газоразрядную камеру с катодом и охватывае1щим его. анодом с прямолинейной емиссионной щелью, вытягивающий электрод для создания поперечного к амиссион» ной щели и направлению вытягивания магнитного поля, .анод выполнен в виде двух герметично соединенных вдоль образук щей цилиндрических трубок, размещенных 40 одна в другой, причем эмиссионная щель выполнена в упомянутом месте соединения трубок, а катод выполнен с цилинри- ческой наружной поверхностью.

Сущность изобретения поясняетсячертежом, на котором представлена кон структивная схема устройства, Предлагаемое устройство содержит газоразрядную камеру (ГРК), образованную анодом 1, выполненным в виде двух разного диаметра соприкасающихся цилиндров 2 и 3, расположенных один,в другом так, что щель 4 расположена в месте их касания, а хладагент подается в полость5.

Внутри анода расположен катод 6, выпол»ненный цилиндрическим с желобом 7,рас положенным вдоль амиссионной щели. Охлаждение катода производится с помсвцью полости 8. На полюсах электромагнита 9 расположены пластины вьттягивающего электрода 10.

Источник работает следующим образом.

При подаче напряжения на промежуток катод-анод зажигается разряд в зазоре между катодом и охватывающим его анодом, В газоразрядную камеру вдоль желоба 7 подается водород и пары цезия.

При диффузионном движении потока плазмы через эмиссионную щель 4, расположенную поперек магнитного поля электромагнита, электроны уходят вдоль магнитного поля на стенки щели, а поток отри» нательных ионов проходит через вытягивающий электрод 10. Для охлаждения анода используется полость 5, для катода - полость 8, Преимуществом предлагаемого устроВства является упрощение конструкции за счет выполнения рабочей -поверхности алектродов анод -катод цилиндрической, облегчающих их технологию изготовления, юстировку, охлаждение, При атом увеличивается ресурс работы источника за счбт . улучшения охлаждения электродов ГРК. и уменьшения температурных деформаций.

Как .показали расчеты, предлагаемый поверхностно-плазменный источник отрицательных ионов позволяет подучить пучки отрицательных ионов даже с увеличенной длиной щели без локальных тепло-. вых перегрузок и, соответствено повыше -. нный ресурс,

Источник отрицательных ионов Источник отрицательных ионов 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к оптическому волокну, содержащему флюоресцентные стимулирующие добавки, обеспечивающие усиление передаваемого оптического сигнала, воспринимаемого этим волокном, и устраняющие излучения с желательной длиной волны, генерируемые внутри него в результате спонтанной эмиссии

Изобретение относится к телеметрии и радиотехнике и может найти широкое применение в космической и авиационной промышленности для проведения контроля параметров динамических процессов, а также при эксплуатации высотных зданий и сооружений

Изобретение относится к сканирующей зондовой микроскопии, а более конкретно к способам измерения отклонения консоли зонда сканирующего зондового микроскопа (СЗМ), оснащенного оптическим объективом для наблюдения исследуемой области образца
Наверх