Способ определения направленности расположения частиц в минеральных шлифах
Похожие патенты:
Способ измерения радиации // 45678
Способ дефектоскопии тонких пленок // 43760
Изобретение относится к средствам оптического контроля
Лазерное устройство для исследования поля микрообъектов с лучевым воздействием (варианты) // 2199729
Изобретение относится к измерительной технике и средствам воздействия на органические и неорганические материалы и может быть использовано в различных областях науки и техники от обработки деталей в микромеханике и микроэлектронике до фотолитографии, медицины, химии, биотехнологии и генной инженерии
Способ количественного определения клеток монослойных культур и устройство для его осуществления // 2217495
Изобретение относится к иммунологии, в частности к оценке результатов иммунологических анализов
Изобретение относится к иммунологии
Изобретение относится к иммунологии
Изобретение относится к средствам оптической диагностики пространственных динамических процессов, протекающих в различных многофазных средах, находящихся во множестве объемов, и может быть использовано в медицине, биологии, фармацевтической и химической промышленностях и т.д
