Электронные или ионные микроскопы, трубки с дифракцией электронов или ионов (H01J37/26)
H01J37/26 Электронные или ионные микроскопы, трубки с дифракцией электронов или ионов(189)
![](https://img.findpatent.ru/img_data/1387/13871476-s.jpg)
Изобретение относится к области растровой электронной микроскопии. В изобретении используется принцип фотограмметрической обработки изображений, полученных в растровом электронном микроскопе при различных углах наклона исследуемого образца.
![](https://img.findpatent.ru/img_data/1371/13712772-s.jpg)
Изобретение относится к медицине, а именно к офтальмологии, и может быть использовано для исследования угла оптического края и профиля задней поверхности интраокулярных линз (ИОЛ). Выделяют в водной среде параллельными разрезами из оптической части ИОЛ фрагменты толщиной 1 мм.
![](https://img.findpatent.ru/img_data/1227/12274943-s.jpg)
Способ визуализации ротационного искривления решетки нанотонких кристаллов включает получение электронно-микроскопического изображения нанотонкого кристалла в светлом и темном поле, получение электронограммы от кристалла, микродифракционное исследование, анализ картины изгибных экстинкционных контуров, присутствующих на электронно-микроскопическом изображении кристалла, расчет углов поворота решетки кристалла вокруг [001].
![](https://img.findpatent.ru/img_data/1206/12061510-s.jpg)
Изобретение относится к системам электронно-ионной оптики и предназначено для изучения структуры вещества путем просвечивания его мощным потоком заряженных частиц. Высокочастотный электронно-ионный микроскоп состоит из вакуумной камеры и находящихся в ней источника заряженных частиц, исследуемого объекта, апертурной диафрагмы, флуоресцирующего экрана.
![](https://img.findpatent.ru/img_data/1157/11578929-s.jpg)
Изобретение относится к области калибровки просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ) при измерениях в нано- и субнанометровом диапазонах. Тестовый объект выполнен в виде держателя образцов с несколькими местами крепления исследуемых объектов, в одном из которых расположена эталонная структура, выполненная в виде тонкого поперечного среза кремниевой структуры с периодической рельефной поверхностью, имеющей известное межплоскостное расстояние и известные размеры трапециевидных элементов рельефа.
![](https://img.findpatent.ru/img_data/1053/10530568-s.jpg)
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/1046/10461488-s.jpg)
Изобретение относится к вакуумной технике и предназначено для проведения операций по перемещению объектов внутри вакуумных систем. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/141/1412463-s.jpg)
Изобретение относится к микробиологии и может применяться при профилактике инфекционных болезней. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/137/1370457-s.jpg)
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию и предназначено для замкнутого цикла производства новых изделий наноэлектроники. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/130/1308278-s.jpg)
Изобретение относится к области научного приборостроения и может быть использовано при выпуске просвечивающих электронных микроскопов. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/107/1074054-s.jpg)
Изобретение относится к сканирующей туннельной спектроскопии и может быть использовано в зондовых микроскопах и приборах на их основе. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/45/456554-s.jpg)
Изобретение относится к способам получения изображений в растровой электронной микроскопии. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/39/392062-s.jpg)
Изобретение относится к ядерной технике, в частности к исследованию материалов, подвергающихся воздействию радиации. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/32/325281-s.jpg)
Изобретение относится к нанотехнологическому оборудованию, к устройствам, обеспечивающим транспортировку и установку зондов и образцов в позиции измерения и функционального воздействия. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/305/3058066-s.jpg)
Изобретение относится к электронным приборам, предназначенным для исследования физических свойств поверхностей твердых тел при сверхнизких температурах с разрешающей способностью порядка размеров атома.
![](https://img.findpatent.ru/img_data/773/7736432-s.jpg)
Изобретение относится к микроскопии и может быть использовано в растровой электронной и оптической микроскопии, а также в электроннои ионнолучевой литографии . .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/735/7357347-s.gif)
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано при исследованиях свойств и поверхности при низких температурах. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/725/7253303-s.jpg)
Изобретение относится к области электроннолучевой техники и может быть использовано в растровой электронной микроскопии. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/714/7146855-s.jpg)
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано для локального количественного контроля и анализа параметров сверхбольших интегральных схем при их изгртовлении„ Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение надежности о Устройство содержит зондовую карту 5, в которой установлено кольцо 6 с зондирующими иглами 7„ Подъемник выполнен в виде кольцевого элемента 9 с гофрированными стенками, наполненного жидкостью или газом, соединенного с терморегулирующим элементом 10„Элемент 9 может быть выполнен в виде полого кольца из материала, обладающего термомеханической памятью, стенки которого имеют по крайней мере один гофр.
![](https://img.findpatent.ru/img_data/713/7138762-s.jpg)
Изобретение относится к устройствам для исследования микроструктуры и топографии твердых тел. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/706/7065589-s.jpg)
Изобретение относится к области микрозондовой техники и может быть использовано в электронной микроскопии. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/703/7037311-s.jpg)
Изобретение относится к области электронной микроскопии и может быть использовано для микроанализа поверхности твердых тел методом катодолюминесценции. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/702/7026726-s.jpg)
Изобретение относится к электронным приборам, предназначенным для исследования физических свойств поверхностей твердых тел с разрешающей способностью порядка размеров атома. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/695/6951118-s.jpg)
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано для исследования доменной структуры и измерения статических магнитных характеристик тонких магнитных пленок. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/682/6824341-s.jpg)
Изобретение относится к технике измерений и может использоваться для контроля структуры поверхностей. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/682/6820093-s.jpg)
Изобретение относится к приборам для измерения концентрации легких ионов в воздухе производственных или общественных помещений и может быть применено в медицине, а также в различных отраслях народного хозяйства .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/678/6783994-s.jpg)
Изобретение относится к электронным приборам для исследования физических свойств поверхностей твердых тел. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/664/6641508-s.jpg)
Изобретение относится к области исследования материалов с помощью радиационных методов и может быть использовано для получения изображения доменносодержащих материалов. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/643/6432739-s.gif)
Изобретение относится к области электронной микроскопии и может быть использовано для исследования магнитных полей на магнитных лентах.Цель - расширение функциональных возможностей способа электронно-микроскопического анализа намагниченности магнитной ленты за счет визуализации изображения магнитной сигналограммы, записанной на магнитной ленте.
![](https://img.findpatent.ru/img_data/643/6432737-s.gif)
Изобретение относится к области микрозондовой техники и является усовершенствованием известного способа юстировки электромагнитной зондофор . .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/635/6352048-s.jpg)
Изобретение относится к области электронно-микроскопического приборостроения и может быть использовано для прецизионного перемещения образца . .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/634/6348045-s.jpg)
Изобретение относится к растровой электронной микроскопии. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/632/6321966-s.jpg)
Изобретение относится к области исследования физических и химических свойств веществ, в частности к технике препарирования объектов, и может быть использовано в просвечивающей электронной микроскопии при исследовании гигроскопических образцов .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/626/6269648-s.jpg)
Изобретение относится к электронно-оптическому приборостроению. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/626/6269646-s.jpg)
Изобретение относится к электрозондовым устройствам для наблюдения и регистрации изображения, в частности к электронным микроскопам просвечиваемого типа. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/622/6229562-s.jpg)
Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть исрользовано йрй разработке стробо4-4i---4f скопических электронных микроскопов для исследования быстропротекающих процессов в твердом теле. .
![](https://img.findpatent.ru/img_data/616/6168102-s.jpg)
Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано для анализа проводящих микрообъектов. .