Аппаратное обеспечение тестера, т.е. схемы обработки выходных данных (G01R31/319)
G Физика(403185)
G01 Измерение (счет G06M); испытание
(233827)
G01R Измерение электрических и магнитных величин (измерение физических величин любого вида путем преобразования их в электрические величины см. примечание 4 к кл. G01; измерение диффузии ионов в электрическом поле, например электрофорез, электроосмос G01N; исследование неэлектрических и немагнитных свойств материалов с помощью электрических и магнитных методов G01N; индикация точности настройки резонансных контуров H03J3/12; контроль электрических счетчиков H03K21/40; контроль работы системы связи H04)
(35008)
G01R31 Устройства для определения электрических свойств; устройства для определения местоположения электрических повреждений; устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах (измерительные провода, измерительные зонды G01R1/06; индикация электрических режимов в распределительных устройствах или в защитной аппаратуре H01H71/04,H01H73/12, H02B11/10,H02H3/04; испытание или измерение полупроводниковых или твердотельных приборов в процессе их изготовления H01L21/66; испытание линий передачи энергии H04B3/46)
(6575)
G01R31/319 Аппаратное обеспечение тестера, т.е. схемы обработки выходных данных(9)
Устройство для определения нагрузочной способности микросхем относится к области микроминиатюризации и технологии радиоэлектронной аппаратуры и может быть использовано для контроля параметров микросхем при их производстве.
Аппаратура для испытаний под нагрузкой // 2650360
Изобретение относится к области измерительной и испытательной техники, в частности к испытаниям электротехнической аппаратуры под нагрузкой с возможностью подходящим образом обнаруживать аномалии на основе сбоя реле.
Изобретение относится к калибровке инструментов, используемых для измерения поведения сигналов. Технический результат – получение характеристики сети и выполнение калибровки сети с неподдерживаемыми типами разъема, которые не отслеживают в соответствии с известными стандартами.
Изобретение относится к системам для калибровки интегральной схемы к электронному компоненту. .
Изобретение относится к генерации комбинаций тестовых данных для интегральных схем. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано в аппаратуре контроля параметров интегральных схем. .
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и служит для расширения функциональных возможностей устройства. .
