
Изобретение относится к радиофизике, а именно к дифракционной квазиоптике, и может быть использовано в качестве элемента объективов в устройствах дефектоскопии, радиовидения, ближнепольных микроскопах. Техническим результатом изобретения является повышение разрешения зонной пластины при обеспечении субволновой фокусировки излучения.