Способ определения фактической площади контакта поверхностей

 

X 110314

Класс 42 (), 12„

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

В. С. Тарасенко и К. И. Заблонский

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФАКТИЧЕСКОЙ ПЛО1ЦАДИ

КОНТАКТА ПОВЕРХНОСТЕЙ

Заявлено 13 )(!ая 1955 г. за М 7513/455759 в Министерство стаикостроителы о(1 и иистрт. (енталы о.; нро))в(и)леиности СССР

П р с д м с -,, 3 о 6 р (т с)..: i .

В промышленности pHcl(pocTрянсн способ определения площадок контакта поверхностей прп помощи рас i сртых ня минеральных маслах обычных расок (ся)ка, берлинская лазурь, кярмгн! и другие). При этом слой краски обычно имеет толщину порядка, 3--)) микрон и более в зависимости от окрашивающей спосоопости кр;(ски, Для поверхностей высоких классов чистоты необходимо применение более тонкого слоя краски. Тонкий же слой краски не дает необходимой контрастности границы краска †мета и поэтому и может служить для определения площадок контакта поверхности высоких клясс08 чистоты.

Согласно изобрстени!О, определепис фактичсскои площадli конT()êòII поверхностей любого класса чистоты осуществляют путем применения люминесцснтпых красок.

Примсненис л юм пнесцентной краски сделало возможным определение площадок контакта поверхностей высоких классов чистоты. Тончайшие слои флуоресцирующей краски на нелюх!инесциру(а(цем материале обозначают пл()(цядки к )нтяктя,;!оступные для обработки (Обмер(1, фотографирования) . (. ) м. 1 ipl!;Iя il, iо!ц!1дь и!)Сянllя ((!Ожет

obIT: замсрсня при помощи фот )У З l l () iI(I I T C . и .

В 1 1 сствс люминссцснтнОЙ к()(!ск)! мо;к.т быть использовано и

М1;, раствор кого,)ог ) в бс:i;i,)лс (1!лп толуолс) на IIOcl!TCI! (((я гхо:. кистью на поверхность одной пз проверяемых поверхностей, 1.0сле чего обе поверхности сжимаются с необхс..!1(м ым ус)(лисм.

Возб)уждсш;с с)луорссцснц((и„

От(!Оч()тк;1 li его (1)отОГР(1(,l(IP03;)ii!I(.

II!)0ii3В0ДПТСЯ 3!СТО;i 1Ъ(11 ООЫ П(нlМИ для, (Оминссцснтн01 О;11!ялllз!1.

Спо(об определения н)()кт((чс(,ой плош".äè контакта поверхностей, отличающийся тс.i что для окряшиванпя поверхностей примсняIOT;IK)ËIl4IICCLI, НТIIЬ!С К1)ЯСКИ.

Способ определения фактической площади контакта поверхностей 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к способам определения площади листьев растений и может быть использовано в сельскохозяйственных, биологических науках, лесоводстве и ботанике
Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для исследования контакта взаимодействующих поверхностей, например матриц и пуансонов, алмазного инструмента и детали, а также тел с эластичным покрытием

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения площадей фигур произвольного очертания

Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для определения площадей фигур произвольного очертания

Изобретение относится к технике измерений и предназначено для определения площадей фигур произвольного очертания

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения площади поперечного сечения в горных выработках, имеющих большое поперечное сечение неправильной формы

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения площади поверхности тела сложной формы, в частности для измерения площади поверхности образцов их хрупкого материала в сечении их разлома после испытания на изгибную прочность

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении объема круглого лесоматериала
Изобретение относится к измерительной технике и может быть применено для измерения площади поверхности тела сложной формы
Наверх