Способ выявления микроструктуры ферритных материалов

Авторы патента:

G01N1/32 - Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств (разделение материалов вообще B01D,B01J,B03,B07; аппараты, полностью охватываемые каким-либо подклассом, см. в соответствующем подклассе, например B01L; измерение или испытание с помощью ферментов или микроорганизмов C12M,C12Q; исследование грунта основания на стройплощадке E02D 1/00;мониторинговые или диагностические устройства для оборудования для обработки выхлопных газов F01N 11/00; определение изменений влажности при компенсационных измерениях других переменных величин или для коррекции показаний приборов при изменении влажности, см. G01D или соответствующий подкласс, относящийся к измеряемой величине; испытание

 

.№ 110591

K.ëàññ 421, Зв-„

СССР,,ф Ki i11

; (7

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

О. Б. Данилина

СПОСОБ ВЫЯВЛЕНИЯ МИКРОСТРУКТУРЫ

ФЕРРИТНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Заявлено 4 июня 1957 г. за ¹ 574210 в Ко!!! тот ио делаа!:!аоо; етеи!!и и открытий ири Совете Министров СССР

Изобретение относится к способам выявления микроструктуры изделий из ферритных материалов, например, неметаллических полупроводниковых материалов, состоящих из смеси окислов железа, никеля, цинка, марганца и других металлов.

Известные способы, предусматривающие изготовление шлифов путем шлифования. полирования и травления, характеризуются большой трудоемкостью. Для устранения этого недостатка предлагается. согласно изобретению, использовать при оформлении изделий полированные поверхности пуансона (х!атрицы), в случае прессования, или полированные поверхности формы, в случае литья, придаюшие заготовке гладкую зеркальную поверхность, на которой микроструктура выявляется при TcxHoлогическом обжиге. При этом в значительной степени повышается производительность и обеспечивается возможность массового контроля готовых изделий, изготовляемых методом прессования или литья.

Зьlяв,!! !111е !икр Острукlb ры на зерка.-ьной .!оверхности изделий осуц1ествлястся без дополнительных оп:рац 1й. Криста,1личсская структура фсрритов четко формируется во врс !я техно,!01 ичсского Обжига за счет сдвигов на поверхности, происход!ящих при ее ооразовапи и.

Предлагаемый способ Отли 1ается то" HocthIQ. з1а, 101! трмдосмкост1>IО и дешевизной.

I I:I c;I i: o г: Iç,о .! р е т е и и я

Способ выявлс!!!!я микроструктуры ферритных материалов. о т л ни и !Оц! и Йс я тем !то, с цел!10 устранения трудоемких операций, связанны.; с изготовлением микрош,.1ифов (ш,—.ифованпс, полирование и трав,!OHHtñI. и возможности исследования микроструктуры па готовых изделиях, полируют пуансон при прессовании или литейную форму при литье, которые при оформлении изделий придают материалу зеркальную поверхность. на которой при технологическом обжиге выявляется микроструктура материала.

Способ выявления микроструктуры ферритных материалов 

 

Похожие патенты:
Наверх