Погружной рефрактометр

 

% 112734

Клясс 42!., 36

С!.. (:1) „;!! )Яс:.:о l9 ъ)орт;). I: . ) Г. Яи .,; ..=. З7,:! 2÷ )! ),).!! - "- .; Т))о

))!)о).ы)))!)о!!!)оо-. I! ., î !î,Q";, ".:; ))ь к )во )))!! )Х . .Р

В сугцсству!01ци: -)игр;. ;кп1.1: р;-— !

1)ракто::c p

П,) с! ь I. ç Ã

Сн;1лст r>0: o)!Ii;0=TI произвсст . .Сл) гц)еиис тск:!о 0! !Iчс=кого процеса и об- "- пе:!:ть н:-.—. )Oць)вно=ть о-.— рслслс 1ия Г)логиост)1 ))а THOpà.

Суи!Ность и об )стс 11я закл)очаетСЯ В ТО))1, )1! О В О. IСЬIDЯС)СO I Рвфрак)омвтрг плот!ность растворл опрецсл:ьз г,.я про. 10)кайенне),1 света через приз.,!у в ра T),op

«!О-.ти)-ается это Tc!, что предлагас)1ь1 1! — рибор вы пол!!Сн в ви е т)) ),О:1и. и 51 0,11!0 I 0111;;ñ 1,OTОР э : ) станов,)сн исто!Н1:1к свсTë, а на

-,и Г!)..,1, 1 о: 1)!Гжас),!o)l в нсслс.т! e)i)-))" Р Л ) 30P )1ОЧТ i ) В:- Ч; CTC:::,:51!!и":5! трскгранная и!)изма, от котороЙ г:одвеле:l счетовод к 11)отоп!р. 1смни«У. ДЛЯ OOCCÏO!:СНИЯ ИС.ОСОЬ ВНГЦ! с)1гi .à ..Нзлц:1и:i рсгулированпя п ) 0Г!есса в рефрактс !стра п1)и)1енен пу)ь.-иру10ц!Н)! и: тонн ик света нл

:::," ".,;Си 10 ток! .:. ic зтоу.;!Но)китель C С:)! ). C P O);.1 Oi 0 ТОНЯ ДЛЯ! .1!;;;;", ... ГГС)Г)-1:0! О ВКЛ)ОЧСНИЯ ИСУ -, О.";с)во Оц:.: влс.:îl о прибоi;o ".c:-,л с;тс)ке, Гце 1—

„;; !; И;. И .1 тС! )I!)., " ) Tl! Т)а;1E .РС .,10 1io!)1 гс .! с, о — T!. л!! пиля т1)с ;Грян.)с). !.,1)3. i Л!. . — .. 3 . О .ОЛ. вс.. о:-о .í.-;.,r,рлв.чяст лу!! света по л с-:o и .—.-.::";;-I::ë в г.ризме 8 к ll)010!1 )."ñ)!I- !У:) I ÇllocTI!OTO ти -2 ..": .: .-.CËO )1 Г.)"-: ." "..!10; Î ТОКЯ Ь1Я

;, -.о Грс.:тв ч::)о: о вкл, очсиия сер,:С. . OTO! СЗ )) .I i !i И. ИОЛИ:.iTC,ii>1!OTO

СКЯ)1. З ) ):, ОС C ))IВЛ ) НСГО HO;: —.01: =- тп .:..1 тус.;о:о рас-воРл, 1 Ц.!51 Poi!. ".111)0: l п,)оиссса.

1:.: .,1Я)глс:).ь )! с!".р анто)встр ).10

) П р ";, . ., с т ц з о б р с т е н и я с:рс:слсния г;-!0Т !о тц )лствора ио

))1л) и;)С.-.о )!Лвн.!я в нс.)1:lучя светл, о гл)1 )а го и;,!i с. я тс .1 что с! сл:.;о нспрсрь!в ого оп елелен:!я г.. ".:Ocти. о:. в;--:-..Слнен в вице № 112734

: ii i 1ÈÇÌÎÂ.

Коъштет по делит! ппойрптсвпй и открытий пр!1 >поп те 1!Н5п! тров С(>2Р

Р" гактор Л. Г. Гол!>н >енпй

Подп. к печ.2! 3 III-1И58 г.

Ти пан! 200(!. 1!сна 2э коп.

Информапионно-издательский отдел.

Обьем о 17 л. .5ак. й78д.

Гор. Алатырь, типография № 2 Министерства культуры Чувашской АССР.

ТР, ОКИ, Па 0,1И01! КОНЦЕ КОТОРО!! устансг>лси и гоипп света, а на другом, погру7каемом в и следуемы11 1! QOTB013, к!Он гг!роВа па сте!ОпипНЯЯ ТРЕХГРЯ iklc!51 ПРИВМЯ, ОТ 1 ОТОРОИ подвсдсн СВстовод к (11отоприе 1;1ику известиого типа.

2. Фор!>!а г>ыполпен!>:! 1)ефр>акт< > iCTj1c1 ПО l! i, О Г 1 И с> Я 101ЦЯ >IС Я

ТСЬ1, !ТО, С ЦЕЛI>10 НСПРСР1>1ВНОЙ СИГНЯ1Л ПC c>i;ii>l И РСГ>>С1;1:) ОВИН!IИ П ЭОЦЕССа, В:i.", ПО:,,;С:-!C;I .> . 1>СИО >1огЦ!!Й

> i

: ..-,".;:. . с.cTЯ иа псрсмеппом токе

1: !iC O С У i1!О .;:iTC,!1> С т C!1ЛИ";СЛЕ: >! ПC— !.:."ого то ;;а;:.г!5! Пспосредстве-!ГГО !! >С!! .":Cil: 1 И ; ;,1:П! TBCll>!I > К т!С

Погружной рефрактометр Погружной рефрактометр 

 

Похожие патенты:

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам и устройствам для определения показателя преломления окружающей среды, находящейся в жидкой или газовой фазе, по изменению характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ)

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к способам определения оптических параметров (показателя преломления, показателя поглощения и толщины) проводящих образцов по значениям характеристик поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) и может быть использовано в металлооптике, при производстве металлодиэлектрических волноведущих структур, металлических зеркал и подложек, а также в других областях науки и техники

Изобретение относится к аналитическому приборостроению, в частности к способам осуществления массообменных процессов с применением оптоволоконных химических датчиков

Изобретение относится к области технической физики, а точнее, к рефрактометрическим приборам, предназначенным для измерения показателя преломления и других связанных с ним параметров твердых и жидких сред

Изобретение относится к области передачи и получения информации посредством поверхностных электромагнитных волн (ПЭВ) терагерцового (ТГц) диапазона (частота от 0,1 до 10 ТГц) и может найти применение в спектроскопии поверхности твердого тела, в электронно-оптических устройствах передачи и обработки информации, в инфракрасной (ИК) технике

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к, микроэлектронным датчикам - химическим и биосенсорам, предназначенным для одновременных акустических на поверхностно-акустических волнах (ПАВ) и оптических исследований физико-химических и (или) медико-биологических свойств тонких порядка 0.1 мкм (100 нм) и менее нанопленок

Изобретение относится к спектрофотометрии и может быть использовано для исследования пространственного распределения комплексного показателя преломления по поверхности сильно поглощающих материалов

Изобретение относится к модуляционным способам спектральных измерений, в частности оптических постоянных, и предназначено для определения параметров поверхности и слоев тонких пленок, например, полупроводниковых гетероструктур
Наверх